CN111190132A - 一种超高次谐波测量装置的幅值精度校准方法及系统 - Google Patents

一种超高次谐波测量装置的幅值精度校准方法及系统 Download PDF

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CN111190132A CN202010005113.6A CN202010005113A CN111190132A CN 111190132 A CN111190132 A CN 111190132A CN 202010005113 A CN202010005113 A CN 202010005113A CN 111190132 A CN111190132 A CN 111190132A
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Abstract

本发明涉及一种超高次谐波测量装置的幅值精度校准方法及系统。所述方法包括:根据待校准超高次谐波测量装置的量程及带宽,设置标准源输出的标准电压信号的幅值和频率;建立所述标准电压信号的模型,根据所述标准电压信号的模型对所述标准电压信号进行傅里叶分析,计算得到所述标准电压信号的基波及各次谐波分量的有效值;将所述标准电压信号输入所述待校准超高次谐波测量装置,得到所述标准电压信号的基波及所述各次谐波的测量值;根据所述基波及所述各次谐波分量的有效值和所述基波及所述各次谐波的测量值,计算得到超高次谐波测量的相对误差。

Description

一种超高次谐波测量装置的幅值精度校准方法及系统
技术领域
本发明涉及电能质量测量技术领域,特别是涉及一种超高次谐波测量装置的幅值精度校准方法及系统。
背景技术
近年来,随着电力系统电力电子化和电力载波通信的快速发展,配电网侧频率高于2kHz的谐波含量不断增加。以往以二极管、晶闸管为主构成的电力电子装置,其特征谐波为3、5、7、11、13等次,频率相对较低,随着全控型电力电子器件如IGBT等逐渐在电力电子变流器中占据重要与主导地位,由于其开关频率可达几千赫兹、上百千赫兹甚至更高,其工作时产生的主要谐波频率极大提高。超高次谐波造成设备工作异常(例如,导致电动汽车充电中断,干扰触摸式调光灯、影响扫描仪正常工作)、谐波超标、自动装置误动、变流器异常发热与部件烧毁、加速老化、寿命缩短、设备噪声增加、通信系统故障(电力线数据传送错误,导致电度计量误差)等问题,对电力用户及电力企业造成了极大损失。
为了防治超高次谐波对电网的污染,国内外研究机构学者也相继对超高次谐波进行深入的研究,而准确测量超高次谐波电压和电流是进行超高次谐波发射评估和制定超高次谐波限值标准等的基本前提和要求,目前现有标准IEC 61000-4-7、IEC 61000-4-30和CISPR 16-2-1中分别对超高次谐波2kHz~9kHz、9kHz~150kHz、9kHz~30MHz三种频带范围谐波测量进行了说明。
目前,FLUKE5520A,FLUKE6105A是国际上精度最高并且我国电力计量校准部门普遍采用的标准源设备,但这两种设备也不具备直接对超高次谐波幅值精度的校准功能。
发明内容
基于此,有必要提供一超高次谐波测量装置的幅值精度校准方法及系统,以实现对超高次谐波幅值精度的进行直接校准。
本发明实施例提供了一种超高次谐波测量装置的幅值精度校准方法,其特征在于,包括:
根据待校准超高次谐波测量装置的量程及带宽,设置标准源输出的标准电压信号的幅值和频率;
建立所述标准电压信号的模型,根据所述标准电压信号的模型对所述标准电压信号进行傅里叶分析,计算得到所述标准电压信号的基波及各次谐波分量的有效值;
将所述标准电压信号输入所述待校准超高次谐波测量装置,得到所述标准电压信号的基波及所述各次谐波的测量值;
根据所述基波及所述各次谐波分量的有效值和所述基波及所述各次谐波的测量值,计算得到超高次谐波测量的相对误差。
在其中一个实施例中,所述根据待校准超高次谐波测量装置的量程及带宽,设置标准源输出的标准电压信号的幅值和频率,包括:
根据所述待校准超高次谐波测量装置的量程设置所述标准电压信号的幅值;
根据所述待校准超高次谐波测量装置的最大频率设置所述标准电压信号的频率。
在其中一个实施例中,所述根据所述待校准超高次谐波测量装置的量程设置所述标准电压信号的幅值,包括:
根据预设公式计算所述标准电压信号的幅值,其中所述公式为
Figure BDA0002354974660000031
其中k为考虑谐波的修正系数,UM为所述标准电压信号的幅值,Umax为所述待校准超高次谐波测量装置的最大电压。
在其中一个实施例中,根据所述待校准超高次谐波测量装置的最大频率设置所述标准电压信号的频率,包括:
确定所述待校准超高次谐波测量装置的最高次谐波次数;
计算所述待校准超高次谐波测量装置的最大频率与所述待校准超高次谐波测量装置的最高次谐波次数的比值,得到多个待选频率;
从多个所述待选频率选取一个作为所述标准电压信号的频率。
在其中一个实施例中,所述确定所述待校准超高次谐波测量装置的最高次谐波次数,包括:
根据预设条件确定所述待校准超高次谐波测量装置的最高次谐波次数,其中所述预设条件为
Figure BDA0002354974660000032
Us,max>λUmin
其中,Us,max为所述待校准超高次谐波测量装置的最高次谐波的有效值,UM为所述标准电压信号的幅值,max为所述待校准超高次谐波测量装置的最高次谐波次数,Umin为所述待校准超高次谐波测量装置的最小分辨率,λ为频率调制系数,且λ≥1。
在其中一个实施例中,所述从多个所述待选频率中确定所述标准电压信号的频率,包括:
判断是否存在其为50的整数倍的所述待选频率;
若存在,则将所述待选频率作为所述标准电压信号的频率;
若不存在,则将其与50的比值最接近整数的所述待选频率最为所述标准电压信号的频率。
在其中一个实施例中,所述标准电压信号的基波及各次谐波分量的有效值为
Figure BDA0002354974660000041
其中,UM为所述标准电压信号的幅值,h为所述待校准超高次谐波测量装置的各次谐波次数。
在其中一个实施例中,所述超高次谐波测量的相对误差为
Figure BDA0002354974660000042
其中,Uc,所述标准电压信号的基波及所述各次谐波的测量值。
在其中一个实施例中,所述幅值精度校准方法还包括:
在设置所述标准源输出的标准电压信号的幅值和频率之前,建立所述标准电压信号,以及获取所述待校准超高次谐波测量装置的量程、带宽和测量精度。
在其中一个实施例中,所述幅值精度校准方法还包括:
根据所述超高次谐波测量的相对误差对所述待校准超高次谐波测量装置进行校准。
基于同一发明构思,本发明还提供了一种高次谐波测量装置的幅值精度校准系统,包括:
待校准超高次谐波测量装置;
标准源,与所述待校准超高次谐波测量装置电连接,用于为所述待校准超高次谐波测量装置提供所述标准电压信号,其中所述标准电压信号的幅值和频率是根据所述待校准超高次谐波测量装置的量程及带宽确定的;
检测电路,与所述待校准超高次谐波测量装置电连接,用于获取所述标准电压信号的基波及所述各次谐波的测量值;
数据处理电路,与所述检测电路电连接,用于建立所述标准电压信号的模型,根据所述标准电压信号的模型对所述标准电压信号进行傅里叶分析,计算得到所述标准电压信号的基波及各次谐波分量的有效值,以及根据所述基波及所述各次谐波分量的有效值和所述基波及所述各次谐波的测量值,计算得到超高次谐波测量的相对误差。
综上,本发明实施例提供了一种超高次谐波测量装置的幅值精度校准方法及系统。所述方法包括:根据待校准超高次谐波测量装置的量程及带宽,设置标准源输出的标准电压信号的幅值和频率;建立所述标准电压信号的模型,根据所述标准电压信号的模型对所述标准电压信号进行傅里叶分析,计算得到所述标准电压信号的基波及各次谐波分量的有效值;将所述标准电压信号输入所述待校准超高次谐波测量装置,得到所述标准电压信号的基波及所述各次谐波的测量值;根据所述基波及所述各次谐波分量的有效值和所述基波及所述各次谐波的测量值,计算得到超高次谐波测量的相对误差。本发明首先根据需要谐波测量装置的量程和带宽,设置标准源输出标准电压信号和电流信号的幅值和频率;然后,对该标准电压信号进行傅里叶分析,得到该标准电压信号的基波和各次谐波分量,并将这些基波和各次谐波分量作为标准值;其次,利用谐波测量装置测量标准电压信号,并利用测量和计算得到的基波和各次谐波分量计算超高次谐波测量的相对误差,从而得到谐波测量装置的测量准确度,为超高次谐波测量装置幅值校准提供一种切实可行有效的校准方法,有效解决了目前谐波标准源只能输出有限频率的谐波信号,无法满足超高次谐波测量装置校准方法的问题。
附图说明
图1为本发明实施例提供的一种超高次谐波测量装置的幅值精度校准方法的流程示意图;
图2为本发明实施例中所建立频率为100Hz标准电压信号的模型;
图3为本发明实施例中所建立频率为100Hz标准电压信号的模型;
图4为本发明实施例提供的频率为100Hz标准电压信号产生的基波及各次谐波信号标准源;
图5为本发明实施例提供的频率为50Hz标准电压信号产生的基波及各次谐波信号标准源;
图6为本发明实施例提供的一种超高次谐波测量装置的幅值精度校准系统的电气结构示意图。
具体实施方式
为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂,下面结合附图对本发明的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明。但是本发明能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施,本领域技术人员可以在不违背本发明内涵的情况下做类似改进,因此本发明不受下面公开的具体实施的限制。
请参见图1,本发明实施例提供了一种超高次谐波测量装置的幅值精度校准方法,包括:
步骤S110,根据待校准超高次谐波测量装置的量程及带宽,设置标准源输出的标准电压信号的幅值和频率;
步骤S120,建立所述标准电压信号的模型,根据所述标准电压信号的模型对所述标准电压信号进行傅里叶分析,计算得到所述标准电压信号的基波及各次谐波分量的有效值;
步骤S130,将所述标准电压信号输入所述待校准超高次谐波测量装置,得到所述标准电压信号的基波及所述各次谐波的测量值;
步骤S140,根据所述基波及所述各次谐波分量的有效值和所述基波及所述各次谐波的测量值,计算得到超高次谐波测量的相对误差。
本发明首先根据需要谐波测量装置的量程和带宽,设置标准源输出标准电压信号和电流信号的幅值和频率;然后,对该标准电压信号进行傅里叶分析,得到该标准电压信号的基波和各次谐波分量,并将这些基波和各次谐波分量作为标准值;其次,利用谐波测量装置测量标准电压信号,并利用测量和计算得到的基波和各次谐波分量计算超高次谐波测量的相对误差,从而得到谐波测量装置的测量准确度,为超高次谐波测量装置幅值校准提供一种切实可行有效的校准方法,有效解决了目前谐波标准源只能输出有限频率的谐波信号,无法满足超高次谐波测量装置校准方法的问题。
在其中一个实施例中,所述根据待校准超高次谐波测量装置的量程及带宽,设置标准源输出的标准电压信号的幅值和频率,包括:
根据所述待校准超高次谐波测量装置的量程设置所述标准电压信号的幅值;
根据所述待校准超高次谐波测量装置的最大频率设置所述标准电压信号的频率。
可以理解,根据所述待校准超高次谐波测量装置的量程设置所述标准电压信号的幅值,以及根据所述待校准超高次谐波测量装置的最大频率设置所述标准电压信号的频率,可使得标准源输出的标准电压信号在待校准超高次谐波测量装置的各个量程范围内,有利于提高待校准超高次谐波测量装置的校核精度。
在其中一个实施例中,所述根据所述待校准超高次谐波测量装置的量程设置所述标准电压信号的幅值,包括:
根据预设公式计算所述标准电压信号的幅值,其中所述公式为
Figure BDA0002354974660000081
其中k为考虑谐波的修正系数,UM为所述标准电压信号的幅值,Umax为所述待校准超高次谐波测量装置的最大电压。
在其中一个实施例中,根据所述待校准超高次谐波测量装置的最大频率设置所述标准电压信号的频率,包括:
确定所述待校准超高次谐波测量装置的最高次谐波次数;
计算所述待校准超高次谐波测量装置的最大频率与所述待校准超高次谐波测量装置的最高次谐波次数的比值,得到多个待选频率;
从多个所述待选频率选取一个作为所述标准电压信号的频率。
本实施例中,根据待校准超高次谐波测量装置的量程及带宽,设置标准源输出的标准电压信号的幅值和频率,具体包括:
1、根据被校准测量仪器量程Umax设置标准电压信号的幅值UM,设置方法如下:
Figure BDA0002354974660000082
其中k为考虑谐波的修正系数,可取值0.7。
2、根据待校准超高次谐波测量装置的最大频率fmax计算标准电压信号的频率。
标准电压信号的频率fs的设置需要满足最高次谐波电压幅值大于等于待校准超高次谐波测量装置的最小测量分辨率的条件:
Figure BDA0002354974660000091
其中,Us,max为所述待校准超高次谐波测量装置的最高次谐波的有效值,UM为所述标准电压信号的幅值,max为所述待校准超高次谐波测量装置的最高次谐波次数。
一般所述待校准超高次谐波测量装置的最高次谐波有效值应满足下述条件:
Us,max>λUmin
其中λ为频率调制系数,且λ≥1,可取值5~10,一般取值5。
故最高次谐波次数可以按照以下方法进行选取:
Figure BDA0002354974660000092
则标准电压信号的频率fs为:
Figure BDA0002354974660000093
在其中一个实施例中,根据所述待校准超高次谐波测量装置的最大频率设置所述标准电压信号的频率,包括:
确定所述待校准超高次谐波测量装置的最高次谐波次数;
计算所述待校准超高次谐波测量装置的最大频率与所述待校准超高次谐波测量装置的最高次谐波次数的比值,得到多个待选频率;
从多个所述待选频率选取一个作为所述标准电压信号的频率。
特别的方波频率fs选取为50的整数倍值,当计算结果不满足该条件时,选取最靠近计算结果的50的倍数值。在其中一个实施例中,所述从多个所述待选频率中确定所述标准电压信号的频率,包括:
判断是否存在其为50的整数倍的所述待选频率;
若存在,则将所述待选频率作为所述标准电压信号的频率;
若不存在,则将其与50的比值最接近整数的所述待选频率最为所述标准电压信号的频率。
在其中一个实施例中,所述标准电压信号的基波及各次谐波分量的有效值为
Figure BDA0002354974660000101
其中,UM为所述标准电压信号的幅值,h为所述待校准超高次谐波测量装置的各次谐波次数。
在其中一个实施例中,所述超高次谐波测量的相对误差为
Figure BDA0002354974660000102
其中,Uc,所述标准电压信号的基波及所述各次谐波的测量值。
在其中一个实施例中,所述幅值精度校准方法还包括:
在设置所述标准源输出的标准电压信号的幅值和频率之前,建立所述标准电压信号,以及获取所述待校准超高次谐波测量装置的量程、带宽和测量精度。
在其中一个实施例中,所述幅值精度校准方法还包括:
根据所述超高次谐波测量的相对误差对所述待校准超高次谐波测量装置进行校准。
为了更好的介绍本发明,以下通过一个具体的实例进行详细说明:
1)待校准超高次谐波测量装置的量程为143V,待校准超高次谐波测量装置的带宽为0-20kHz,仪器测量精度为0.1V。
2)建立标准电压信号,本实施例中所述标准电压信号为方波信号,请参见图2和图3:
①根据待校准超高次谐波测量装置的量程Umax设置标准方波电压的幅值UM
Figure BDA0002354974660000111
②根据被校准测量仪器带宽计算方波频率。
最高次谐波有效值满足下述条件:
Us,max=5×0.1=0.5V
最高次谐波次数为:
Figure BDA0002354974660000112
则方波信号的频率fs为:
Figure BDA0002354974660000113
根据上述方波信号的选择规则,该方波信号的频率fs选取为100Hz。
3)对所建方波信号进行傅里叶分析,分析结果如图4所示,图5为频率为50Hz的方波所产生的谐波信号,对比可以看出提高方波频率,可以提高超高次谐波的幅值。
4)将上述方波信号输入被校准超高次谐波测量装置,记录测量装置分析结果。
6)根据所述基波及所述各次谐波分量的有效值和所述基波及所述各次谐波的测量值,计算得到超高次谐波测量的相对误差,计算结果如下:
Figure BDA0002354974660000121
7)根据高次谐波测量的相对误差0.2%对超高次谐波测量装置的幅值精度进行校准,以使幅值精度达到理想状态。
基于同一发明构思,本发明实施例还提供了一种超高次谐波测量装置的幅值精度校准系统,请参见图6,所述超高次谐波测量装置的幅值精度校准系统包括待校准超高次谐波测量装置610、标准源620、检测电路630和数据处理电路640。
所述标准源620与所述待校准超高次谐波测量装置610电连接,用于为所述待校准超高次谐波测量装置提供所述标准电压信号,其中所述标准电压信号的幅值和频率是根据所述待校准超高次谐波测量装置的量程及带宽确定的;
所述检测电路630与所述待校准超高次谐波测量装置610电连接,用于获取所述标准电压信号的基波及所述各次谐波的测量值;
所述数据处理电路640与所述检测电路630电连接,用于建立所述标准电压信号的模型,根据所述标准电压信号的模型对所述标准电压信号进行傅里叶分析,计算得到所述标准电压信号的基波及各次谐波分量的有效值,以及根据所述基波及所述各次谐波分量的有效值和所述基波及所述各次谐波的测量值,计算得到超高次谐波测量的相对误差。
本发明首先根据需要谐波测量装置的量程和带宽,设置标准源输出标准电压信号和电流信号的幅值和频率;然后,对该标准电压信号进行傅里叶分析,得到该标准电压信号的基波和各次谐波分量,并将这些基波和各次谐波分量作为标准值;其次,利用谐波测量装置测量标准电压信号,并利用测量和计算得到的基波和各次谐波分量计算超高次谐波测量的相对误差,从而得到谐波测量装置的测量准确度,为超高次谐波测量装置幅值校准提供一种切实可行有效的校准方法,有效解决了目前谐波标准源只能输出有限频率的谐波信号,无法满足超高次谐波测量装置校准方法的问题。
本实施例中,根据待校准超高次谐波测量装置的量程及带宽,设置标准源输出的标准电压信号的幅值和频率,具体包括:
1、根据被校准测量仪器量程Umax设置标准电压信号的幅值UM,设置方法如下:
Figure BDA0002354974660000131
其中k为考虑谐波的修正系数,可取值0.7。
2、根据待校准超高次谐波测量装置的最大频率fmax计算标准电压信号的频率。
标准电压信号的频率fs的设置需要满足最高次谐波电压幅值大于等于待校准超高次谐波测量装置的最小测量分辨率的条件:
Figure BDA0002354974660000132
其中,Us,max为所述待校准超高次谐波测量装置的最高次谐波的有效值,UM为所述标准电压信号的幅值,max为所述待校准超高次谐波测量装置的最高次谐波次数。
一般所述待校准超高次谐波测量装置的最高次谐波有效值应满足下述条件:
Us,max>λUmin
其中λ为频率调制系数,且λ≥1,可取值5~10,一般取值5。
故最高次谐波次数可以按照以下方法进行选取:
Figure BDA0002354974660000133
则标准电压信号的频率fs为:
Figure BDA0002354974660000141
在其中一个实施例中,根据所述待校准超高次谐波测量装置的最大频率设置所述标准电压信号的频率,包括:
确定所述待校准超高次谐波测量装置的最高次谐波次数;
计算所述待校准超高次谐波测量装置的最大频率与所述待校准超高次谐波测量装置的最高次谐波次数的比值,得到多个待选频率;
从多个所述待选频率选取一个作为所述标准电压信号的频率。
特别的方波频率fs选取为50的整数倍值,当计算结果不满足该条件时,选取最靠近计算结果的50的倍数值。在其中一个实施例中,所述从多个所述待选频率中确定所述标准电压信号的频率,包括:
判断是否存在其为50的整数倍的所述待选频率;
若存在,则将所述待选频率作为所述标准电压信号的频率;
若不存在,则将其与50的比值最接近整数的所述待选频率最为所述标准电压信号的频率。
在其中一个实施例中,所述数据处理电路640还用于在设置所述标准源输出的标准电压信号的幅值和频率之前,根据所述待校准超高次谐波测量装置的量程、带宽,建立所述标准电压信号的模型。
综上,本发明实施例提供了一种超高次谐波测量装置的幅值精度校准方法及系统。所述方法包括:根据待校准超高次谐波测量装置的量程及带宽,设置标准源输出的标准电压信号的幅值和频率;建立所述标准电压信号的模型,根据所述标准电压信号的模型对所述标准电压信号进行傅里叶分析,计算得到所述标准电压信号的基波及各次谐波分量的有效值;将所述标准电压信号输入所述待校准超高次谐波测量装置,得到所述标准电压信号的基波及所述各次谐波的测量值;根据所述基波及所述各次谐波分量的有效值和所述基波及所述各次谐波的测量值,计算得到超高次谐波测量的相对误差。本发明首先根据需要谐波测量装置的量程和带宽,设置标准源输出标准电压信号和电流信号的幅值和频率;然后,对该标准电压信号进行傅里叶分析,得到该标准电压信号的基波和各次谐波分量,并将这些基波和各次谐波分量作为标准值;其次,利用谐波测量装置测量标准电压信号,并利用测量和计算得到的基波和各次谐波分量计算超高次谐波测量的相对误差,从而得到谐波测量装置的测量准确度,为超高次谐波测量装置幅值校准提供一种切实可行有效的校准方法,有效解决了目前谐波标准源只能输出有限频率的谐波信号,无法满足超高次谐波测量装置校准方法的问题。
以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合,为使描述简洁,未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述,然而,只要这些技术特征的组合不存在矛盾,都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本发明的保护范围。因此,本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (11)

1.一种超高次谐波测量装置的幅值精度校准方法,其特征在于,包括:
根据待校准超高次谐波测量装置的量程及带宽,设置标准源输出的标准电压信号的幅值和频率;
建立所述标准电压信号的模型,根据所述标准电压信号的模型对所述标准电压信号进行傅里叶分析,计算得到所述标准电压信号的基波及各次谐波分量的有效值;
将所述标准电压信号输入所述待校准超高次谐波测量装置,得到所述标准电压信号的基波及所述各次谐波的测量值;
根据所述基波及所述各次谐波分量的有效值和所述基波及所述各次谐波的测量值,计算得到超高次谐波测量的相对误差。
2.如权利要求1所述的幅值精度校准方法,其特征在于,所述根据待校准超高次谐波测量装置的量程及带宽,设置标准源输出的标准电压信号的幅值和频率,包括:
根据所述待校准超高次谐波测量装置的量程设置所述标准电压信号的幅值;
根据所述待校准超高次谐波测量装置的最大频率设置所述标准电压信号的频率。
3.如权利要求2所述的幅值精度校准方法,其特征在于,所述根据所述待校准超高次谐波测量装置的量程设置所述标准电压信号的幅值,包括:
根据预设公式计算所述标准电压信号的幅值,其中所述公式为
Figure FDA0002354974650000011
其中k为考虑谐波的修正系数,UM为所述标准电压信号的幅值,Umax为所述待校准超高次谐波测量装置的最大电压。
4.如权利要求3所述的幅值精度校准方法,其特征在于,根据所述待校准超高次谐波测量装置的最大频率设置所述标准电压信号的频率,包括:
确定所述待校准超高次谐波测量装置的最高次谐波次数;
计算所述待校准超高次谐波测量装置的最大频率与所述待校准超高次谐波测量装置的最高次谐波次数的比值,得到多个待选频率;
从多个所述待选频率选取一个作为所述标准电压信号的频率。
5.如权利要求4所述的幅值精度校准方法,其特征在于,所述确定所述待校准超高次谐波测量装置的最高次谐波次数,包括:
根据预设条件确定所述待校准超高次谐波测量装置的最高次谐波次数,其中所述预设条件为
Figure FDA0002354974650000021
Us,max>λUmin
其中,Us,max为所述待校准超高次谐波测量装置的最高次谐波的有效值,UM为所述标准电压信号的幅值,max为所述待校准超高次谐波测量装置的最高次谐波次数,Umin为所述待校准超高次谐波测量装置的最小分辨率,λ为频率调制系数,且λ≥1。
6.如权利要求4所述的幅值精度校准方法,其特征在于,所述从多个所述待选频率中确定所述标准电压信号的频率,包括:
判断是否存在其为50的整数倍的所述待选频率;
若存在,则将所述待选频率作为所述标准电压信号的频率;
若不存在,则将其与50的比值最接近整数的所述待选频率最为所述标准电压信号的频率。
7.如权利要求1所述的幅值精度校准方法,其特征在于,所述标准电压信号的基波及各次谐波分量的有效值为
Figure FDA0002354974650000031
其中,UM为所述标准电压信号的幅值,h为所述待校准超高次谐波测量装置的各次谐波次数。
8.如权利要求1所述的幅值精度校准方法,其特征在于,所述超高次谐波测量的相对误差为
Figure FDA0002354974650000032
其中,Uc,所述标准电压信号的基波及所述各次谐波的测量值。
9.如权利要求1所述的幅值精度校准方法,其特征在于,还包括:
在设置所述标准源输出的标准电压信号的幅值和频率之前,建立所述标准电压信号,以及获取所述待校准超高次谐波测量装置的量程、带宽和测量精度。
10.如权利要求1所述的幅值精度校准方法,其特征在于,还包括:
根据所述超高次谐波测量的相对误差对所述待校准超高次谐波测量装置进行校准。
11.一种超高次谐波测量装置的幅值精度校准系统,其特征在于,包括:
待校准超高次谐波测量装置;
标准源,与所述待校准超高次谐波测量装置电连接,用于为所述待校准超高次谐波测量装置提供所述标准电压信号,其中所述标准电压信号的幅值和频率是根据所述待校准超高次谐波测量装置的量程及带宽确定的;
检测电路,与所述待校准超高次谐波测量装置电连接,用于获取所述标准电压信号的基波及所述各次谐波的测量值;
数据处理电路,与所述检测电路电连接,用于建立所述标准电压信号的模型,根据所述标准电压信号的模型对所述标准电压信号进行傅里叶分析,计算得到所述标准电压信号的基波及各次谐波分量的有效值,以及根据所述基波及所述各次谐波分量的有效值和所述基波及所述各次谐波的测量值,计算得到超高次谐波测量的相对误差。
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