CN111158994B - 一种压测性能测试方法及装置 - Google Patents
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Abstract
本申请适用于数据处理技术领域，提供了一种压测性能测试方法，包括：以预设数量并发递增压测接口的压测订单数据，以预设数据为分片键对基于分布式文件存储数据库进行分片；获取分片前、分片中及分片后压测接口的参数；判断分片前压测接口的参数，分片中压测接口的参数以及分片后压测接口的参数是否正常；若分片前、分片中以及分片后的压测接口的参数均为正常，则判定压测接口状态正常；获取预设时间段后的压测接口的参数；若预设时间段后压测接口的参数正常，则判定基于分布式文件存储数据库分片性能完好。本申请可以有效的测试出基于分布式文件存储数据库分片的性能问题，提高了基于分布式文件存储数据库分片的应用效果。
Description
技术领域
本申请属于数据处理技术领域，尤其涉及一种压测性能测试方法及装置。
背景技术
在基于分布式文件存储数据库的使用过程中，若应用系统的数据量大、并发量大，容易导致基于分布式文件存储数据库的资源占用不均衡，使得系统中某一台节点的压力过大，导致系统出现各种性能问题。
在上述场景中，通常采用分片存储来解决上述问题，然而由于分片的方法的不同，性能效果也会不同。如果分片性能不稳定，分片存储的应用过程中可能会出现各种性能问题，从而导致应用系统的不稳定。
发明内容
本申请实施例提供了一种压测性能测试方法及装置，可以解决由于分片性能不稳定，导致的各种性能问题，以及应用系统的不稳定的问题。
第一方面，本申请实施例提供了一种压测性能测试方法，包括：
以预设数量并发递增压测接口的压测订单数据，以预设数据为分片键对基于分布式文件存储数据库进行分片；
获取分片前压测接口的参数，分片中压测接口的参数以及分片后压测接口的参数；
判断所述分片前压测接口的参数，分片中压测接口的参数以及分片后压测接口的参数是否正常；
若所述分片前的压测接口的参数，分片中的压测接口的参数以及分片后的压测接口的参数均为正常，则判定压测接口状态正常；
获取预设时间段后的压测接口的参数；
若预设时间段后压测接口的参数正常，则判定基于分布式文件存储数据库分片性能完好。
在一个实施例中，所述判断所述分片前的压测接口的参数，分片中的压测接口的参数以及分片后的压测接口的参数是否正常，包括：
若任意一个分片前的压测接口的参数不正常，则判定分片前的压测接口的参数不正常；或者，
若任意一个分片中的压测接口的参数不正常，则判定分片中的压测接口的参数不正常；或者，
若任意一个分片后的压测接口的参数不正常，则判定分片后的压测接口的参数不正常。
在一个实施例中，所述判断所述分片前的压测接口的参数，分片中的压测接口的参数以及分片后的压测接口的参数是否正常之后，还包括：
若分片前压测接口的参数，分片中压测接口的参数以及分片后压测接口的参数中任意一个压测接口的参数不正常，则判定压测接口状态不正常，基于分布式文件存储数据库分片性能异常。
在一个实施例中，所述压测接口的参数包括压测接口的最大系统吞吐量，响应时间、错误率，与所述最大系统吞吐量对应的基于分布式文件存储数据库服务器的占用情况、内存的占用情况、进出口的占用情况中的至少一种。
在一个实施例中，所述压测订单数据包括压测订单详情、压测订单列表、待支付压测订单、订单写入数据中的至少一个。
第二方面，本申请实施例提供了一种压测性能测试装置，包括：
分片模块，用于以预设数量并发递增压测接口的压测订单数据，以预设数据为分片键对基于分布式文件存储数据库进行分片；
第一获取模块，用于获取分片前压测接口的参数，分片中压测接口的参数以及分片后压测接口的参数；
第一判断模块，用于判断所述分片前压测接口的参数，分片中压测接口的参数以及分片后压测接口的参数是否正常；
第二判断模块，用于若所述分片前的压测接口的参数，分片中的压测接口的参数以及分片后的压测接口的参数均为正常，则判定压测接口状态正常；
第二获取模块，用于获取预设时间段后的压测接口的参数；
第三判断模块，用于若预设时间段后压测接口的参数正常，则判定基于分布式文件存储数据库分片性能完好。
在一个实施例中，所述第一判断模块，包括：
第一判断单元，用于若任意一个分片前的压测接口的参数不正常，则判定分片前的压测接口的参数不正常；或者，
第二判断单元，用于若任意一个分片中的压测接口的参数不正常，则判定分片中的压测接口的参数不正常；或者，
第三判断单元，用于若任意一个分片后的压测接口的参数不正常，则判定分片后的压测接口的参数不正常。
在一个实施例中，所述装置，还包括：
第四判断模块，用于若分片前压测接口的参数，分片中压测接口的参数以及分片后压测接口的参数中任意一个压测接口的参数不正常，则判定压测接口状态不正常，基于分布式文件存储数据库分片性能异常。
第三方面，本申请实施例提供了一种终端设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上述第一方面中任一项所述的压测性能测试方法。
第四方面，本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上述第一方面中任一项所述的压测性能测试方法。
第五方面，本申请实施例提供了一种计算机程序产品，当计算机程序产品在终端设备上运行时，使得终端设备执行上述第一方面中任一项所述的压测性能测试方法。
可以理解的是，上述第二方面至第五方面的有益效果可以参见上述第一方面中的相关描述，在此不再赘述。
本申请实施例通过以预设数量并发递增压测接口的压测订单数据，以预设数据为分片键对压测订单数据进行分片，然后对分片前、分片中和分片后的压测接口的参数进行检测，在分片前、分片中和分片后压测接口的参数以及预设时间段后压测接口的参数正常的情况下，判定分片性能完好，提供了一种基于分布式文件存储数据库的分片性能测试的方案，可以有效的测试出基于分布式文件存储数据库分片的性能问题，避免了在生产应用上基于分布式文件存储数据库分片可能产生的各种性能风险，提高了基于分布式文件存储数据库分片的应用效果。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本申请一实施例提供的压测性能测试方法的流程示意图；
图2是本申请一实施例提供的压测性能测试方法的流程示意图；
图3是本申请一实施例提供的压测性能测试方法的流程示意图；
图4是本申请一实施例提供的压测性能测试装置的结构示意图；
图5是本申请实施例提供的终端设备的结构示意图。
具体实施方式
以下描述中，为了说明而不是为了限定，提出了诸如特定系统结构、技术之类的具体细节，以便透彻理解本申请实施例。然而，本领域的技术人员应当清楚，在没有这些具体细节的其它实施例中也可以实现本申请。在其它情况中，省略对众所周知的系统、装置、电路以及方法的详细说明，以免不必要的细节妨碍本申请的描述。
应当理解，当在本申请说明书和所附权利要求书中使用时，术语“包括”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在，但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。
还应当理解，在本申请说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合，并且包括这些组合。
如在本申请说明书和所附权利要求书中所使用的那样，术语“如果”可以依据上下文被解释为“当...时”或“一旦”或“响应于确定”或“响应于检测到”。类似地，短语“如果确定”或“如果检测到[所描述条件或事件]”可以依据上下文被解释为意指“一旦确定”或“响应于确定”或“一旦检测到[所描述条件或事件]”或“响应于检测到[所描述条件或事件]”。
另外，在本申请说明书和所附权利要求书的描述中，术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
在本申请说明书中描述的参考“一个实施例”或“一些实施例”等意味着在本申请的一个或多个实施例中包括结合该实施例描述的特定特征、结构或特点。由此，在本说明书中的不同之处出现的语句“在一个实施例中”、“在一些实施例中”、“在其他一些实施例中”、“在另外一些实施例中”等不是必然都参考相同的实施例，而是意味着“一个或多个但不是所有的实施例”，除非是以其他方式另外特别强调。术语“包括”、“包含”、“具有”及它们的变形都意味着“包括但不限于”，除非是以其他方式另外特别强调。
本申请实施例提供的压测性能测试方法可以应用于手机、平板电脑、可穿戴设备、车载设备、笔记本电脑、超级移动个人计算机(Ultra-Mobile Personal Computer，UMPC)、上网本、个人数字助理(Personal Digital Assistant，PDA)等终端设备上，本申请实施例对终端设备的具体类型不作任何限制。
图1示出了本申请提供的压测性能测试方法的示意性流程图，作为示例而非限定，该方法可以应用于上述任一终端设备中。
S101、以预设数量并发递增压测接口的压测订单数据，以预设数据为分片键对基于分布式文件存储数据库进行分片。
在具体应用中，预设数量是指压测接口的压测订单数据的增长量，其可根据实际情况进行具体设定。例如，设定预设数量为100，则可以100，200，300...并发递增的压测订单数据对压测接口进行测试。
预设数据是指用于对基于分布式文件存储数据库的数据进行分片的任意一种参数，也即分片键，其可根据实际情况进行具体设定，例如，设定预设数据为用户ID，则可以用户ID为分片键对基于分布式文件存储数据库(mongodb)的数据进行分片。
其中，分片(也叫数据分区)是一种物理数据库的设计技术，其目的是为了在特定的数据库(SQL)操作中减少数据读写的总量，以缩减数据库的响应时间。
需要说明的是，分片并不是生成新的数据表，而是将数据表中的数据均衡分摊到不同的硬盘、系统或是不同服务器存储介质中，实际上还是一张数据表。另外，分片可以做到将数据表的数据均衡到不同的地方，提高数据检索的效率，降低数据库的频繁的数据进出(IO)的压力值。
分片方式包括但不限于数据的垂直(纵向)切分或数据的水平(横向)切分。数据的垂直(纵向)切分是指按照不同的表(或者Schema)来切分到不同的数据库(主机)之上；数据的水平(横向)切分是指根据表中的数据的逻辑关系，将同一个表中的数据按照某种条件拆分到多台数据库(主机)上面。
在一个实施例中，压测订单数据可以设定为生产上的N倍，以对压测订单数据进行循环遍历，(包括对压测订单数据的页数进行遍历，对压测订单数据中某一页的订单内容进行遍历)，以模拟真实的订单应用场景，避免忽略真实应用过程中数据缓存问题造成的性能影响。其中，N为正整数，可根据实际情况进行具体设定，例如，设定N为3。
需要说明的是，以预设数据为分片键对基于分布式文件存储数据库进行分片之前，系统的资源消耗会集中在同一个节点上，其他节点无资源占用。
在预设数据为分片键对基于分布式文件存储数据库进行分片过程中，分片时间会根据数据量的大小的不同发生变化。
S102、获取分片前压测接口的参数，分片中压测接口的参数以及分片后压测接口的参数。
在具体应用中，获取在对基于分布式文件存储数据库进行分片之前压测接口的参数，对基于分布式文件存储数据库进行分片过程中压测接口的参数，以及对基于分布式文件存储数据库进行分片后压测接口的参数。其中，压测接口的参数主要是指压测接口的性能响应参数，例如压测接口的最大系统吞吐量(TPS)和响应时间。
通过获取分片后压测接口的参数可以观察基于分布式文件存储数据库集群服务器中每个节点的资源占用情况，分析每个节点的资源消耗情况是否相近，以及压测接口处理ops的数量是否高于分片前压测接口处理ops的数量，即分片后的接口性能是否有提升。
S103、判断所述分片前压测接口的参数，分片中压测接口的参数以及分片后压测接口的参数是否正常。
在具体应用中，可根据压测接口的参数的具体类型进行不同的判断的方法。
例如，若任意时刻的压测接口的参数为错误率，可预先根据实际情况设定一个错误率阈值，若该时刻测接口的错误率大于上述错误率阈值，则判定该时刻压测接口的错误率不正常。
例如，若任意时刻的压测接口的参数为响应时间，可预先根据实际情况设定一个响应时间阈值。若该时刻的压测接口的响应时间大于上述响应时间阈值，则判定该时刻的压测接口的响应时间不正常。
S104、若所述分片前的压测接口的参数，分片中的压测接口的参数以及分片后的压测接口的参数均为正常，则判定压测接口状态正常。
在具体应用中，若对基于分布式文件存储数据库进行分片前的压测接口的所有参数均正常、对基于分布式文件存储数据库进行分片中的压测接口的参数均正常，对基于分布式文件存储数据库进行分片后的压测接口的参数均为正常，才能判定压测接口的状态正常。
也就是说，当任意时刻下的压测接口的参数不正常，则判定压测接口状态不正常。例如，若分片前的压测接口的参数不正常，则判定压测接口状态不正常。
S105、获取预设时间段后的压测接口的参数。
在具体应用中，预设时间段是指预先设定的时间长度。例如，设定预设时间段为8个小时。则在判定压测接口状态正常的8小时后获取压测接口的参数。
S106、若预设时间段后压测接口的参数正常，则判定基于分布式文件存储数据库分片性能完好。
在具体应用中，若在预设时间段后压测接口的参数正常，则判定分片后负载均衡的情况下，服务器各项指标依然保证正常，压测接口的最大系统吞吐量、响应时间、错误率均处于正常状态，系统可以保持稳定运行，即可判定基于分布式文件存储数据库分片性能完好。
如图2所示，在一个实施例中，步骤S103，包括：
若任意一个分片前的压测接口的参数不正常，则判定分片前的压测接口的参数不正常；或者，
若任意一个分片中的压测接口的参数不正常，则判定分片中的压测接口的参数不正常；或者，
若任意一个分片后的压测接口的参数不正常，则判定分片后的压测接口的参数不正常。
在具体应用中，可设定任意时刻下的压测接口的任意一个参数不正常，则判定该时刻下压测接口的参数不正常。其中，任意时刻包括分片前、分片中或分片后。
例如，若分片前的压测接口的错误率大于预设的错误率阈值，则判定分片前压测接口的错误率不正常，也即判定分片前的压测接口的参数不正常。
如图3所示，在一个实施例中，步骤S103之后，还包括：
S107、若分片前压测接口的参数，分片中压测接口的参数以及分片后压测接口的参数中任意一个压测接口的参数不正常，则判定压测接口状态不正常，基于分布式文件存储数据库分片性能异常。
在具体应用中，在分片前压测接口的参数不正常、分片中压测接口的参数不正常以及分片后压测接口的参数不正常中的任意一种(或多种)情况下，均可判定压测接口状态不正常，则可判定基于分布式文件存储数据库分片性能异常。
例如，若分片前压测接口的参数不正常、分片中压测接口的参数不正常且分片后压测接口的参数不正常，则判定压测接口状态不正常，也即基于分布式文件存储数据库分片性能异常。
若分片前压测接口的参数和分片中压测接口的参数正常，分片后压测接口的参数不正常，则判定压测接口状态不正常，也即基于分布式文件存储数据库分片性能异常。
在一个实施例中，所述压测接口的参数包括压测接口的最大系统吞吐量，响应时间、错误率，与所述最大系统吞吐量对应的基于分布式文件存储数据库服务器的占用情况、内存的占用情况、进出口的占用情况中的至少一种。
在具体应用中，压测接口的参数包括但不限于压测接口的最大系统吞吐(TPS)，响应时间、错误率，与最大系统吞吐量(TPS)对应的基于分布式文件存储数据库服务器(CPU)的占用情况、内存的占用情况、进出口(IO)的占用情况中的至少一种。
在一个实施例中，所述压测订单数据包括压测订单详情、压测订单列表、待支付压测订单、订单写入数据中的至少一个。
在具体应用中，压测订单数据包括但不限于压测订单详情、压测订单列表、待支付压测订单、订单写入数据中的至少一个。
本实施例通过以预设数量并发递增压测接口的压测订单数据，以预设数据为分片键对压测订单数据进行分片，然后对分片前、分片中和分片后的压测接口的参数进行检测，在分片前、分片中和分片后压测接口的参数以及预设时间段后压测接口的参数正常的情况下，判定分片性能完好，提供了一种基于分布式文件存储数据库的分片性能测试的方案，可以有效的测试出基于分布式文件存储数据库分片的性能问题，避免了在生产应用上基于分布式文件存储数据库分片可能产生的各种性能风险，提高了基于分布式文件存储数据库分片的应用效果。
应理解，上述实施例中各步骤的序号的大小并不意味着执行顺序的先后，各过程的执行顺序应以其功能和内在逻辑确定，而不应对本申请实施例的实施过程构成任何限定。
对应于上文实施例所述的压测性能测试方法，图4示出了本申请实施例提供的压测性能测试装置的结构框图，为了便于说明，仅示出了与本申请实施例相关的部分。
参照图4，该压测性能测试装置100包括：
分片模块101，用于以预设数量并发递增压测接口的压测订单数据，以预设数据为分片键对基于分布式文件存储数据库进行分片；
第一获取模块102，用于获取分片前压测接口的参数，分片中压测接口的参数以及分片后压测接口的参数；
第一判断模块103，用于判断所述分片前压测接口的参数，分片中压测接口的参数以及分片后压测接口的参数是否正常；
第二判断模块104，用于若所述分片前的压测接口的参数，分片中的压测接口的参数以及分片后的压测接口的参数均为正常，则判定压测接口状态正常；
第二获取模块105，用于获取预设时间段后的压测接口的参数；
第三判断模块106，用于若预设时间段后压测接口的参数正常，则判定基于分布式文件存储数据库分片性能完好。
在一个实施例中，所述第一判断模块103，包括：
第一判断单元，用于若任意一个分片前的压测接口的参数不正常，则判定分片前的压测接口的参数不正常；或者，
第二判断单元，用于若任意一个分片中的压测接口的参数不正常，则判定分片中的压测接口的参数不正常；或者，
第三判断单元，用于若任意一个分片后的压测接口的参数不正常，则判定分片后的压测接口的参数不正常。
在一个实施例中，所述装置100，还包括：
第四判断模块，用于若分片前压测接口的参数，分片中压测接口的参数以及分片后压测接口的参数中任意一个压测接口的参数不正常，则判定压测接口状态不正常，基于分布式文件存储数据库分片性能异常。
本实施例通过以预设数量并发递增压测接口的压测订单数据，以预设数据为分片键对压测订单数据进行分片，然后对分片前、分片中和分片后的压测接口的参数进行检测，在分片前、分片中和分片后压测接口的参数以及预设时间段后压测接口的参数正常的情况下，判定分片性能完好，提供了一种基于分布式文件存储数据库的分片性能测试的方案，可以有效的测试出基于分布式文件存储数据库分片的性能问题，避免了在生产应用上基于分布式文件存储数据库分片可能产生的各种性能风险，提高了基于分布式文件存储数据库分片的应用效果。
需要说明的是，上述装置/单元之间的信息交互、执行过程等内容，由于与本申请方法实施例基于同一构思，其具体功能及带来的技术效果，具体可参见方法实施例部分，此处不再赘述。
图5为本申请一实施例提供的终端设备的结构示意图。如图5所示，该实施例的终端设备5包括：至少一个处理器50(图5中仅示出一个)处理器、存储器51以及存储在所述存储器51中并可在所述至少一个处理器50上运行的计算机程序52，所述处理器50执行所述计算机程序52时实现上述任意各个压测性能测试方法实施例中的步骤。
所述终端设备5可以是桌上型计算机、笔记本、掌上电脑及云端服务器等计算设备。该终端设备可包括，但不仅限于，处理器50、存储器51。本领域技术人员可以理解，图5仅仅是终端设备5的举例，并不构成对终端设备5的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件，例如还可以包括输入输出设备、网络接入设备等。
所称处理器50可以是中央处理单元(Central Processing Unit，CPU)，该处理器50还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(Digital Signal Processor，DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)、现成可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array，FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。
所述存储器51在一些实施例中可以是所述终端设备5的内部存储单元，例如终端设备5的硬盘或内存。所述存储器51在另一些实施例中也可以是所述终端设备5的外部存储设备，例如所述终端设备5上配备的插接式硬盘，智能存储卡(Smart Media Card，SMC)，安全数字(Secure Digital，SD)卡，闪存卡(Flash Card)等。进一步地，所述存储器51还可以既包括所述终端设备5的内部存储单元也包括外部存储设备。所述存储器51用于存储操作系统、应用程序、引导装载程序(BootLoader)、数据以及其他程序等，例如所述计算机程序的程序代码等。所述存储器51还可以用于暂时地存储已经输出或者将要输出的数据。
所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为了描述的方便和简洁，仅以上述各功能单元、模块的划分进行举例说明，实际应用中，可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能单元、模块完成，即将所述装置的内部结构划分成不同的功能单元或模块，以完成以上描述的全部或者部分功能。实施例中的各功能单元、模块可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中，上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。另外，各功能单元、模块的具体名称也只是为了便于相互区分，并不用于限制本申请的保护范围。上述系统中单元、模块的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。
本申请实施例还提供了一种终端设备，该终端设备包括：至少一个处理器、存储器以及存储在所述存储器中并可在所述至少一个处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述任意各个方法实施例中的步骤。
本申请实施例还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现可实现上述各个方法实施例中的步骤。
本申请实施例提供了一种计算机程序产品，当计算机程序产品在移动终端上运行时，使得移动终端执行时实现可实现上述各个方法实施例中的步骤。
所述集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本申请实现上述实施例方法中的全部或部分流程，可以通过计算机程序指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一计算机可读存储介质中，该计算机程序在被处理器执行时，可实现上述各个方法实施例的步骤。其中，所述计算机程序包括计算机程序代码，所述计算机程序代码可以为源代码形式、对象代码形式、可执行文件或某些中间形式等。所述计算机可读介质至少可以包括：能够将计算机程序代码携带到拍照装置/终端设备的任何实体或装置、记录介质、计算机存储器、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM，Random AccessMemory)、电载波信号、电信信号以及软件分发介质。例如U盘、移动硬盘、磁碟或者光盘等。在某些司法管辖区，根据立法和专利实践，计算机可读介质不可以是电载波信号和电信信号。
在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述或记载的部分，可以参见其它实施例的相关描述。
本领域普通技术人员可以意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、或者计算机软件和电子硬件的结合来实现。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本申请的范围。
在本申请所提供的实施例中，应该理解到，所揭露的装置/网络设备和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置/网络设备实施例仅仅是示意性的，例如，所述模块或单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通讯连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通讯连接，可以是电性，机械或其它的形式。
所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
以上所述实施例仅用以说明本申请的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本申请进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例技术方案的精神和范围，均应包含在本申请的保护范围之内。
Claims (8)
1.一种压测性能测试方法，其特征在于，包括：
以预设数量并发递增压测接口的压测订单数据，以预设数据为分片键对基于分布式文件存储数据库进行分片；
获取分片前压测接口的参数，分片中压测接口的参数以及分片后压测接口的参数；
判断所述分片前压测接口的参数，分片中压测接口的参数以及分片后压测接口的参数是否正常；
若所述分片前的压测接口的参数，分片中的压测接口的参数以及分片后的压测接口的参数均为正常，则判定压测接口状态正常；
获取预设时间段后的压测接口的参数；
若预设时间段后压测接口的参数正常，则判定基于分布式文件存储数据库分片性能完好；
其中，所述判断所述分片前的压测接口的参数，分片中的压测接口的参数以及分片后的压测接口的参数是否正常，包括：
若任意一个分片前的压测接口的参数不正常，则判定分片前的压测接口的参数不正常；或者，
若任意一个分片中的压测接口的参数不正常，则判定分片中的压测接口的参数不正常；或者，
若任意一个分片后的压测接口的参数不正常，则判定分片后的压测接口的参数不正常。
2.如权利要求1所述的压测性能测试方法，其特征在于，所述判断所述分片前的压测接口的参数，分片中的压测接口的参数以及分片后的压测接口的参数是否正常之后，还包括：
若分片前压测接口的参数，分片中压测接口的参数以及分片后压测接口的参数中任意一个压测接口的参数不正常，则判定压测接口状态不正常，基于分布式文件存储数据库分片性能异常。
3.如权利要求1所述的压测性能测试方法，其特征在于，所述压测接口的参数包括压测接口的最大系统吞吐量、响应时间、错误率，与所述最大系统吞吐量对应的基于分布式文件存储数据库服务器的占用情况、内存的占用情况、进出口的占用情况中的至少一种。
4.如权利要求1所述的压测性能测试方法，其特征在于，所述压测订单数据包括压测订单详情、压测订单列表、待支付压测订单、订单写入数据中的至少一个。
5.一种压测性能测试装置，其特征在于，包括：
分片模块，用于以预设数量并发递增压测接口的压测订单数据，以预设数据为分片键对基于分布式文件存储数据库进行分片；
第一获取模块，用于获取分片前压测接口的参数，分片中压测接口的参数以及分片后压测接口的参数；
第一判断模块，用于判断所述分片前压测接口的参数，分片中压测接口的参数以及分片后压测接口的参数是否正常；
第二判断模块，用于若所述分片前的压测接口的参数，分片中的压测接口的参数以及分片后的压测接口的参数均为正常，则判定压测接口状态正常；
第二获取模块，用于获取预设时间段后的压测接口的参数；
第三判断模块，用于若预设时间段后压测接口的参数正常，则判定基于分布式文件存储数据库分片性能完好；
其中，所述第一判断模块，包括：
第一判断单元，用于若任意一个分片前的压测接口的参数不正常，则判定分片前的压测接口的参数不正常；或者，
第二判断单元，用于若任意一个分片中的压测接口的参数不正常，则判定分片中的压测接口的参数不正常；或者，
第三判断单元，用于若任意一个分片后的压测接口的参数不正常，则判定分片后的压测接口的参数不正常。
6.如权利要求5所述压测性能测试装置，其特征在于，所述装置，还包括：
第四判断模块，用于若分片前压测接口的参数，分片中压测接口的参数以及分片后压测接口的参数中任意一个压测接口的参数不正常，则判定压测接口状态不正常，基于分布式文件存储数据库分片性能异常。
7.一种终端设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至4任一项所述的方法。
8.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至4任一项所述的方法。
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