CN111130518A - 一种SiC MOSFET快速短路保护电路 - Google Patents

一种SiC MOSFET快速短路保护电路 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种SiC MOSFET快速短路保护电路,包括依次串联的驱动电路、电压采样电路和脉冲产生电路。本发明实施的SiC MOSFET短路保护电路通过电压采样电路等效检测SiC MOSFET运行过程中漏极电流,由脉冲产生电路产生脉冲信号,控制第一三极管和第二三极管,当SiC MOSFET无短路故障时,驱动电路正常运行,当SiC MOSFET发生短路故障时,保护电路强制关断第一三极管,导通第二三极管,以关断SiC MOSFET,保护其安全运行。

Description

一种SiC MOSFET快速短路保护电路
技术领域
本发明属于电力电子领域,涉及一种SiC MOSFET快速短路保护电路。
技术背景
碳化硅(SiC)金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)由于其优越的特性,例如工作温度高,导热系数高,开关和传导损耗较低等,正广泛应用于电机驱动器、功率转换器和可再生能源等领域,但是SiC MOSFET由于开关速度快,其du/dt能够轻松达到100V/ns,因此短路耐受时间更短,大多数SiC MOSFET的短路耐受时间仅有2~5μs,这对SiC MOSFET短路保护电路提出了更高的要求。
目前针对该问题的主要解决方式有几种。一方面,可以在SiC MOSFET源极串联一个电流传感器,当电流传感器测得的电流值大于预设电流值时,关断SiC MOSFET,但是电流传感器价格昂贵,且延时时间较长,当发生短路故障时,无法快速关断SiC MOSFET以保护其安全运行。另一方面,可以通过测量SiC MOSFET漏源极两端电压值来判断其是否发生短路故障,但该测量方法存在测量盲区,无法在SiC MOSFET运行的全时间段内进行保护。
发明内容
为了克服现有技术的不足,本发明的目的在于提供一种SiC MOSFET快速短路保护电路,以解决现有技术中存在的短路故障时无法快速关断的问题。
为了解决上述技术问题,本发明的技术方案如下:
一种SiC MOSFET快速短路保护电路,包括驱动电路、电压采样电路和脉冲产生电路;所述电压采样电路的输出端与脉冲产生电路的输入端相连,所述脉冲产生电路的输出端与驱动电路的输入端相连。
进一步的,所述驱动电路包括第一三极管T1、第二三极管T2、第一电阻R1、第二电阻R2;所述第一三极管T1的基极连接有第一节点,所述第一三极管T1的发射极与第一电阻R1的一端相连,所述第一电阻 R1的另一端连接有第二节点,所述第二三极管T2的发射极与第二电阻 R2的一端相连,所述第二电阻R2的另一端与第二节点相连,所述第二三极管T2的基极与第一节点相连。
进一步的,所述第一三极管T1的集电极与供电电压Vcc相连;所述第二三极管T2的集电极与供电电压Vee相连。
进一步的,所述第一三极管T1为NPN型三极管;所述第二三极管T2为PNP型三极管。
进一步的,所述第一电阻R1和第二电阻R2的阻值相等。
进一步的,所述电压采样电路包括第三电阻R3、第一二极管D1,第二钳位二极管D2、第四电阻R4、第五电阻R5、第六电阻R6、第七电阻R7;所述第三电阻R3的一端连接有第三节点,所述第三电阻R3的另一端连接有第四节点,所述第一二极管D1的阳极与第三节点相连,所述第一二极管D1的阴极与第四电阻R4的一端相连,所述第四电阻R4的另一端连接有第五节点,所述第五电阻R5的一端与第五节点相连,所述第五电阻R5的另一端与第四节点相连,所述第二钳位二极管 D2的阴极与第五节点相连,所述第二钳位二极管D2的阳极与第四节点相连,所述第六电阻R6的一端与第五节点相连,所述第六电阻R6的另一端连接有第六节点,所述第七电阻R7的一端与第六节点相连,所述第七电阻R7的另一端与第四节点相连。
进一步的,所述脉冲产生电路包括第一电压跟随器Q1、第三二极管D3、第八电阻R8、第一电容C1、第一比较器COM1、第一D型触发器M1、第一逻辑与门AND;所述第一电压跟随器Q1的正输入端与第六节点相连,所述第一电压跟随器Q1的负输入端与所述第一电压跟随器Q1的输出端相连,所述第一电压跟随器Q1的输出端连接有第七节点,所述第三二极管D3的阴极与第七节点相连,所述第三二极管D3的阳极连接有第八节点,所述第八电阻R8的一端与第七节点相连,所述第八电阻R8的另一端与第八节点相连,所述第一电容C1的一端与第八节点相连,所述第一比较器COM1的正极输入端与第八节点相连,所述第一比较器COM1输出端与第一D型触发器M1的CLK输入端相连,所述第一D型触发器M1
Figure BDA0002300161400000031
输出端与第一逻辑与门AND的一输入端相连,所述第一逻辑与门AND的输出端与第一节点相连。
进一步的,所述第一电容C1的另一端与地相连,所述第一比较器 COM1的负极输入端与第一参考电压Vref相连,所述第一逻辑与门AND 的另一输入端与外接PWM信号相连,所述第一D型触发器M1的D输入端与地相连。
进一步的,所述第一比较器COM1的型号为MAX9203ESA型;所述第一逻辑与门AND的型号为NLVVHC1GT08DTT1G。
与现有技术相比,本发明所达到的有益效果是:
本发明SiC MOSFET快速短路保护电路,通过电压采样电路检测SiC MOSFET源极串联电阻两端的电压,以此等效检测流过SiC MOSFET的电流大小,当检测电压值大于预设参考电压时,表明SiC MOSFET发生短路故障,此时脉冲产生电路发出低电平脉冲,关断第一三极管,导通第二三极管,强迫关断SiC MOSFET,以保护SiC MOSFET的安全运行,实现短路故障时的快速关断。
附图说明
图1为根据本发明一个实施例的SiC MOSFET快速短路保护电路结构示意图;
图2为根据本发明一个实施例的SiC MOSFET快速短路保护电路双脉冲测试电路示意图;
图3为根据本发明一个实施例的SiC MOSFET快速短路保护电路未进行保护动作时的实验波形示意图;
图4为根据本发明一个实施例的SiC MOSFET快速短路保护电路进行保护动作时的实验波形示意图。
具体实施方式
为使本发明的目的,技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例对本发明进行进一步的详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施方式仅仅用以解释本发明,并不限定本发明的保护范围。
如图1所示,所提出的SiC MOSFET快速短路保护电路包括:驱动电路,电压采样电路和脉冲产生电路;其中,驱动电路输出端与 SiC MOSFET栅极相连,电压采样电路输入端与SiC MOSFET源极相连,电压采样电路输出端与脉冲产生电路输入端相连,脉冲产生电路输出端与驱动电路输入端相连。
其中,所述的驱动电路包括第一三极管T1,第二三极管T2,第一电阻R1,第二电阻R2,其中,所述第一三极管T1集电极与供电电压 Vcc相连,所述第一三极管T1基极与所述第一节点相连,所述第一三极管T1发射极与所述第一电阻R1一端相连,所述第一电阻R1另一端与所述第二节点相连,所述第二三极管T2发射极与所述第二电阻R2一端相连,所述第二电阻R2另一端与所述第二节点相连,所述第二三极管 T2基极与所述第一节点相连,所述第二三极管T2集电极与所述供电电压Vee相连。
所述的电压采样电路,包括第三电阻R3,第一二极管D1,第二钳位二极管D2,第四电阻R4,第五电阻R5,第六电阻R6,第七电阻R7,其中,第三电阻R3一端与所述第三节点相连,所述第三电阻R3另一端与所述第四节点相连,所述第一二极管D1阳极与所述第三节点相连,所述第一二极管D1阴极与所述第四电阻R4一端相连,所述第四电阻 R4另一端与所述第五节点相连,所述第五电阻R5一端与所述第五节点相连,所述第五电阻R5另一端与所述第四节点相连,所述第二钳位二极管D2阴极与所述第五节点相连,所述第二钳位二极管D2阳极与所述第四节点相连,所述第六电阻R6一端与所述第五节点相连,所述第六电阻R6另一端与所述第六节点相连,所述第七电阻R7一端与所述第六节点相连,所述第七电阻R7另一端与所述第四节点相连。
所述的脉冲产生电路,包括第一电压跟随器Q1,第三二极管D3,第八电阻R8,第一电容C1,第一比较器COM1,第一D型触发器M1,第一逻辑与门AND,其中,所述第一电压跟随器Q1的正输入端与第六节点相连,所述第一电压跟随器Q1的负输入端与所述第一电压跟随器 Q1的输出端相连,所述第一电压跟随器Q1的输出端与第七节点相连,所述第三二极管D3阴极与所述第七节点相连,所述第三二极管D3阳极与所述第八节点相连,所述第八电阻R8一端与所述第七节点相连,所述第八电阻R8另一端与所述第八节点相连,所述第一电容C1一端与所述第八节点相连,所述第一电容C1另一端与地相连,所述第一比较器COM1正极输入端与所述第八节点相连,所述第一比较器COM1负极输入端与第一参考电压Vref相连,所述第一比较器COM1输出端与所述第一D型触发器M1的CLK输入端相连,所述第一D型触发器M1的D 输入端与地相连,所述第一D型触发器M1
Figure BDA0002300161400000061
输出端与所述第一逻辑与门AND一输入端相连,所述第一逻辑与门AND另一输入端与外接 PWM信号相连,所述第一逻辑与门AND输出端与所述第一节点相连。
下面将通过具体实施例对SiC MOSFET快速短路保护电路进行进一步阐述。
在本发明的一个实施例中,Vcc和Vee驱动电压值的选取由SiC MOSFET的选型而定,本实施例中Vcc取值+20V,Vee取值-5V,本领域技术人员可以根据实际情况具体选择,在此不做具体限定。
在本发明的一个实施例中,第一电阻R1和第二电阻R2的阻值相等,第五电阻R5和第二钳位二极管D2组成电压钳位电路,保证采样电压值不会超过第一电压跟随器的限定输入电压,第八电阻R8、第一电容C1和第三二极管D3组成延时电路。
在本发明的一个实施例中,第一比较器COM1和第一逻辑与门 AND选型不做限定,本次示例选用MAX9203ESA型比较器, NLVVHC1GT08DTT1G型逻辑与门。
在本发明的一个实施例中,第一参考电压Vref值的确定与所选用的SiC MOSFET和分压电阻取值相关。
在本发明的一个实施例中,第一三极管T1为NPN型三极管,第二三极管T2为PNP型三极管。第一三极管T1和第二三极管T2的选型不做限定。
本发明实施例提供的SiC MOSFET快速短路保护电路能够在1μs 内检测出短路故障,并快速关断SiC MOSFET以保护其安全运行,具体工作原理为:
在SiC MOSFET运行过程中,电压采样电路检测源极串联电阻两端电压,将流过SiCMOSFET的电流转换为电压值,并通过分压电阻,电压跟随器和延时电路输入比较器,若采样电压值小于预设参考电压值,则SiC MOSFET没有发生短路故障,此时比较器发出低电平至D型触发器,D型触发器输出高电平至逻辑与门,此时驱动电路和SiC MOSFET均正常工作,若采样电压值大于预设参考电压值,则SiC MOSFET发生短路故障,此时比较器发出高电平至D型触发器,D型触发器输出低电平至逻辑与门,此时驱动电路驱动电压至被强制拉低至-5V,SiC MOSFET被强制关断,保证了SiC MOSFET的安全运行。
图2所示为双脉冲测试电路,用于测试本发明实施例的SiC MOSFET快速短路保护电路,图3可以看出,当外接电源电压为150V 时,保护电路未动作,驱动脉冲宽度为160μs,图4可以看出,当外接电源电压为160V时,保护电路动作,在驱动脉冲宽度为150.9μs处强制关断SiC MOSFET,由理论计算知150μs时,保护电路开始动作,故实施例的SiC MOSFET快速短路保护电路可以在1μs内完成保护动作。
综上,本发明实施例的SiC MOSFET快速短路保护电路,能够在SiC MOSFET发生短路故障时快速检测出故障并关断SiC MOSFET,以保证SiC MOSFET的安全运行。
本发明能够在SiC MOSFET运行过程中检测漏极电流,当SiC MOSFET发生短路故障时,能够在1μs内关断SiC MOSFET,以保证其安全运行。
以上对本申请进行了详细介绍,本发明中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐释,以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的方法及核心思想,在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处,综上所述,本说明不应理解为对本申请的限制。

Claims (9)

1.一种SiC MOSFET快速短路保护电路,其特征在于,包括驱动电路、电压采样电路和脉冲产生电路;所述电压采样电路的输出端与脉冲产生电路的输入端相连,所述脉冲产生电路的输出端与驱动电路的输入端相连。
2.根据权利要求1所述的一种SiC MOSFET快速短路保护电路,其特征在于,所述驱动电路包括第一三极管T1、第二三极管T2、第一电阻R1、第二电阻R2;所述第一三极管T1的基极连接有第一节点,所述第一三极管T1的发射极与第一电阻R1的一端相连,所述第一电阻R1的另一端连接有第二节点,所述第二三极管T2的发射极与第二电阻R2的一端相连,所述第二电阻R2的另一端与第二节点相连,所述第二三极管T2的基极与第一节点相连。
3.根据权利要求2所述的一种SiC MOSFET快速短路保护电路,其特征在于,所述第一三极管T1的集电极与供电电压Vcc相连;所述第二三极管T2的集电极与供电电压Vee相连。
4.根据权利要求2所述的一种SiC MOSFET快速短路保护电路,其特征在于,所述第一三极管T1为NPN型三极管;所述第二三极管T2为PNP型三极管。
5.根据权利要求2所述的一种SiC MOSFET快速短路保护电路,其特征在于,所述第一电阻R1和第二电阻R2的阻值相等。
6.根据权利要求2所述的一种SiC MOSFET快速短路保护电路,其特征在于,所述电压采样电路包括第三电阻R3、第一二极管D1,第二钳位二极管D2、第四电阻R4、第五电阻R5、第六电阻R6、第七电阻R7;所述第三电阻R3的一端连接有第三节点,所述第三电阻R3的另一端连接有第四节点,所述第一二极管D1的阳极与第三节点相连,所述第一二极管D1的阴极与第四电阻R4的一端相连,所述第四电阻R4的另一端连接有第五节点,所述第五电阻R5的一端与第五节点相连,所述第五电阻R5的另一端与第四节点相连,所述第二钳位二极管D2的阴极与第五节点相连,所述第二钳位二极管D2的阳极与第四节点相连,所述第六电阻R6的一端与第五节点相连,所述第六电阻R6的另一端连接有第六节点,所述第七电阻R7的一端与第六节点相连,所述第七电阻R7的另一端与第四节点相连。
7.根据权利要求6所述的一种SiC MOSFET快速短路保护电路,其特征在于,所述脉冲产生电路包括第一电压跟随器Q1、第三二极管D3、第八电阻R8、第一电容C1、第一比较器COM1、第一D型触发器M1、第一逻辑与门AND;所述第一电压跟随器Q1的正输入端与第六节点相连,所述第一电压跟随器Q1的负输入端与所述第一电压跟随器Q1的输出端相连,所述第一电压跟随器Q1的输出端连接有第七节点,所述第三二极管D3的阴极与第七节点相连,所述第三二极管D3的阳极连接有第八节点,所述第八电阻R8的一端与第七节点相连,所述第八电阻R8的另一端与第八节点相连,所述第一电容C1的一端与第八节点相连,所述第一比较器COM1的正极输入端与第八节点相连,所述第一比较器COM1输出端与第一D型触发器M1的CLK输入端相连,所述第一D型触发器M1的Q输出端与第一逻辑与门AND的一输入端相连,所述第一逻辑与门AND的输出端与第一节点相连。
8.根据权利要求7所述的一种SiC MOSFET快速短路保护电路,其特征在于,所述第一电容C1的另一端与地相连,所述第一比较器COM1的负极输入端与第一参考电压Vref相连,所述第一逻辑与门AND的另一输入端与外接PWM信号相连,所述第一D型触发器M1的D输入端与地相连。
9.根据权利要求7所述的一种SiC MOSFET快速短路保护电路,其特征在于,所述第一比较器COM1的型号为MAX9203ESA型;所述第一逻辑与门AND的型号为NLVVHC1GT08DTT1G。
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