CN110987373B - 干涉型光纤传感器相位调制深度的测量方法及测量装置 - Google Patents

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Abstract

本发明提供了一种干涉型光纤传感器相位调制深度的测量方法及测量装置，该测量方法包括以下步骤：步骤一，第一信号发生器生成第一调制信号，可调谐激光器根据第一调制信号生成调制后的激光信号；步骤二，调制后的激光信号经光纤起偏器生成线偏振光；步骤三，线偏振光经非平衡臂迈克尔逊干涉仪生成干涉信号；步骤四，通过光电探测器将干涉信号转换为电信号；步骤五，根据电信号解算相位调制深度以完成干涉型光纤传感器相位调制深度的测量。应用本发明的技术方案，能够解决现有技术中相位调制深度的测量结构组件和解算算法复杂、计算工作量大和实用性低的技术问题。

Description

干涉型光纤传感器相位调制深度的测量方法及测量装置
技术领域
本发明涉及光纤传感技术领域，尤其涉及一种干涉型光纤传感器相位调制深度的测量方法及测量装置。
背景技术
干涉型光纤传感器以其灵敏度高、耐腐蚀、体积小和抗电磁干扰等优点，在水声探测、自然灾害预测和能源勘探等各个领域中得到广泛应用。干涉型光纤传感器存在相位随机衰落的问题，相位生成载波(Phase Generated Carrier，PGC)技术的提出，很好的解决了这个问题。PGC调制技术分为内调制和外调制技术，内调制技术是对光源直接进行调制，由于光路简单和易于大规模成阵的优点而被广泛研究。PGC内调制技术中，相位调制深度是一个非常关键的参数，直接决定PGC解调算法实现和信号恢复的准确程度。相位调制深度受调制信号的频率和幅度影响，通常需要用实验的方法在实际的光路中对相位调制深度进行测量。而现有技术中通常采用干涉信号与调制信号的基频信号和倍频信号混频的方式，再通过解调对相位调制深度进行解算，而这样的解算方式需要的结构组件和解算算法较为复杂，解算过程的计算量也较大，实用性较低。
发明内容
本发明提供了一种干涉型光纤传感器相位调制深度的测量方法及测量装置，能够解决现有技术中相位调制深度的测量结构组件和解算算法复杂、计算工作量大和实用性低的技术问题。
根据本发明的一方面，提供了一种干涉型光纤传感器相位调制深度的测量方法，该干涉型光纤传感器相位调制深度的测量方法包括以下步骤：步骤一，第一信号发生器生成第一调制信号，可调谐激光器根据第一调制信号生成调制后的激光信号；步骤二，调制后的激光信号经光纤起偏器生成线偏振光；步骤三，线偏振光经非平衡臂迈克尔逊干涉仪生成干涉信号；步骤四，通过光电探测器将干涉信号转换为电信号；步骤五，根据电信号解算相位调制深度以完成干涉型光纤传感器相位调制深度的测量。
进一步地，步骤五具体包括：(5.1)采集电信号并将采集的电信号转换为数字信号；(5.2)对数字信号进行傅里叶变换得到频谱；(5.3)根据数字信号和频谱计算零阶第一类贝塞尔函数；(5.4)根据零阶第一类贝塞尔函数查表得到相位调制深度。
进一步地，零阶第一类贝塞尔函数根据
Figure BDA0002302207950000021
计算，其中，J0(C)为零阶第一类贝塞尔函数，M为第二调制信号的频率在频谱中对应的幅值，Umax为数字信号中的最大电压值，Umin为数字信号中的最小电压值。
进一步地，非平衡臂迈克尔逊干涉仪包括保偏光纤耦合器、光纤拉伸器、第二信号发生器、第一光纤反射镜和第二光纤反射镜，保偏光纤耦合器分别与光纤起偏器、光纤拉伸器和第二光纤反射镜连接，光纤拉伸器分别与第二信号发生器和第一光纤反射镜连接；第二信号发生器用于生成第二调制信号，保偏光纤耦合器将线偏振光分光生成第一路激光信号和第二路激光信号，光纤拉伸器在第二调制信号的调制下对第一路激光信号进行拉伸处理，第一光纤反射镜将经拉伸处理的第一路激光信号反射生成第一反射信号，第二光纤反射镜将第二路激光信号反射生成第二反射信号，保偏光纤耦合器根据第一反射信号和第二反射信号耦合生成干涉信号。
进一步地，步骤三具体包括：线偏振光经保偏光纤耦合器分光生成第一路激光信号和第二路激光信号；第一路激光信号在第二信号发生器生成的第二调制信号的调制下经光纤拉伸器处理后传递至第一光纤反射镜并经第一光纤反射镜反射生成第一反射信号；第二路激光信号经第二光纤反射镜反射后生成第二反射信号；保偏光纤耦合器根据第一反射信号和第二反射信号生成干涉信号。
进一步地，在步骤一中，可调谐激光器根据第一调制信号生成调制后的激光信号之后，干涉型光纤传感器相位调制深度的测量方法还包括：调制后的激光信号经过第一光纤隔离器传递至光纤起偏器。
进一步地，在步骤三中，线偏振光经非平衡臂迈克尔逊干涉仪生成干涉信号之后，干涉型光纤传感器相位调制深度的测量方法还包括：干涉信号经过第二光纤隔离器传递至光电探测器。
根据本发明的又一方面，提供了一种干涉型光纤传感器相位调制深度的测量装置，该干涉型光纤传感器相位调制深度的测量装置采用如上所述的干涉型光纤传感器相位调制深度的测量方法完成干涉型光纤传感器相位调制深度的测量。
进一步地，干涉型光纤传感器相位调制深度的测量装置包括：第一信号发生器，第一信号发生器用于生成第一调制信号；可调谐激光器，可调谐激光器与第一信号发生器连接，可调谐激光器根据第一调制信号生成调制后的激光信号；光纤起偏器，光纤起偏器与可调谐激光器连接，光纤起偏器对调制后的激光信号进行偏振处理以生成线偏振光；非平衡臂迈克尔逊干涉仪，非平衡臂迈克尔逊干涉仪与光纤起偏器连接，非平衡臂迈克尔逊干涉仪用于将线偏振光转换为干涉信号；光电探测器，光电探测器与非平衡臂迈克尔逊干涉仪连接，光电探测器用于将干涉信号转换为电信号；数据采集器，数据采集器与光电探测器连接，数据采集器用于采集电信号并将电信号转换为数字信号；数据处理器，数据处理器与数据采集器连接，数据处理器用于根据数字信号解算相位调制深度。
进一步地，干涉型光纤传感器相位调制深度的测量装置还包括：第一光纤隔离器和第二光纤隔离器，第一光纤隔离器分别与可调谐激光器和光纤起偏器连接，第二光纤隔离器分别与保偏光纤耦合器和光电探测器连接，第一光纤隔离器和第二光纤隔离器用于保证激光信号单向传输。
应用本发明的技术方案，提供了一种干涉型光纤传感器相位调制深度的测量方法及测量装置，该干涉型光纤传感器相位调制深度的测量方法依次将激光信号进行调制信号处理、线偏振处理和非平衡臂迈克尔逊干涉仪处理后，解算得到相位调制深度，该方法采用的结构组件简单，解算过程方便，可以测量不同调制信号下的相位调制深度，具有良好的实用性。与现有技术相比，本发明能够解决现有技术中相位调制深度的测量结构组件和解算算法复杂、计算工作量大和实用性低的技术问题。
附图说明
所包括的附图用来提供对本发明实施例的进一步的理解，其构成了说明书的一部分，用于例示本发明的实施例，并与文字描述一起来阐释本发明的原理。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1示出了根据本发明的具体实施例提供的干涉型光纤传感器相位调制深度的测量装置的结构示意图；
图2示出了根据本发明的具体实施例提供的零阶第一类贝塞尔函数曲线图。
具体实施方式
需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。以下对至少一个示例性实施例的描述实际上仅仅是说明性的，决不作为对本发明及其应用或使用的任何限制。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
需要注意的是，这里所使用的术语仅是为了描述具体实施方式，而非意图限制根据本申请的示例性实施方式。如在这里所使用的，除非上下文另外明确指出，否则单数形式也意图包括复数形式，此外，还应当理解的是，当在本说明书中使用术语“包含”和/或“包括”时，其指明存在特征、步骤、操作、器件、组件和/或它们的组合。
除非另外具体说明，否则在这些实施例中阐述的部件和步骤的相对布置、数字表达式和数值不限制本发明的范围。同时，应当明白，为了便于描述，附图中所示出的各个部分的尺寸并不是按照实际的比例关系绘制的。对于相关领域普通技术人员已知的技术、方法和设备可能不作详细讨论，但在适当情况下，所述技术、方法和设备应当被视为授权说明书的一部分。在这里示出和讨论的所有示例中，任何具体值应被解释为仅仅是示例性的，而不是作为限制。因此，示例性实施例的其它示例可以具有不同的值。应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步讨论。
如图1所示，根据本发明的具体实施例提供了一种干涉型光纤传感器相位调制深度的测量方法，该干涉型光纤传感器相位调制深度的测量方法包括以下步骤：步骤一，第一信号发生器生成第一调制信号，可调谐激光器根据第一调制信号生成调制后的激光信号；步骤二，调制后的激光信号经光纤起偏器生成线偏振光；步骤三，线偏振光经非平衡臂迈克尔逊干涉仪生成干涉信号；步骤四，通过光电探测器将干涉信号转换为电信号；步骤五，根据电信号解算相位调制深度以完成干涉型光纤传感器相位调制深度的测量。
应用此种配置方式，提供了一种干涉型光纤传感器相位调制深度的测量方法及测量装置，该干涉型光纤传感器相位调制深度的测量方法依次将激光信号进行调制信号处理、线偏振处理和非平衡臂迈克尔逊干涉仪处理后，解算得到相位调制深度，该方法采用的结构组件简单，解算过程方便，可以测量不同调制信号下的相位调制深度，具有良好的实用性。与现有技术相比，本发明能够解决现有技术中相位调制深度的测量结构组件和解算算法复杂、计算工作量大和实用性低的技术问题。
进一步地，在本发明中，为了实现干涉型光纤传感器相位调制深度的测量，首先利用第一信号发生器生成第一调制信号，可调谐激光器根据第一调制信号生成调制后的激光信号。作为本发明的一个具体实施例，第一调制信号可采用频率为fPGC和幅度为VPGC的正弦波信号，第一调制信号的频率和幅度可根据需要进行调整。
此外，在本发明中，在根据第一调制信号对激光信号进行调制之后，调制后的激光信号经光纤起偏器生成线偏振光。作为本发明的一个具体实施例，可配置调制后的激光信号经过第一光纤隔离器传递至光纤起偏器，其中，第一光纤隔离器的作用在于保证激光信号单向传输，即保证激光信号仅能够从可调谐激光器传递至光纤起偏器，避免了后续处理产生的反射信号返回可调谐激光器从而对激光器造成损伤。
进一步地，在本发明中，在对信号完成偏振处理之后，线偏振光经非平衡臂迈克尔逊干涉仪生成干涉信号。非平衡臂迈克尔逊干涉仪用于将信号的相位变化转换为信号的光强变化。作为本发明的一个具体实施例，非平衡臂迈克尔逊干涉仪包括保偏光纤耦合器、光纤拉伸器、第二信号发生器、第一光纤反射镜和第二光纤反射镜，保偏光纤耦合器分别与光纤起偏器、光纤拉伸器和第二光纤反射镜连接，光纤拉伸器分别与第二信号发生器和第一光纤反射镜连接。第二信号发生器用于生成第二调制信号。保偏光纤耦合器将线偏振光分光生成第一路激光信号和第二路激光信号，光纤拉伸器在第二调制信号的调制下对第一路激光信号进行拉伸处理。第一光纤反射镜将经拉伸处理的第一路激光信号反射生成第一反射信号，第二光纤反射镜将第二路激光信号反射生成第二反射信号，保偏光纤耦合器根据第一反射信号和第二反射信号耦合生成干涉信号。在本实施例中，保偏光纤耦合器包括保偏光纤2×2耦合器。第二调制信号可采用频率为f2的锯齿波信号。
在本实施例中，线偏振光经保偏光纤耦合器分光生成第一路激光信号和第二路激光信号；第一路激光信号在第二信号发生器生成的第二调制信号的调制下经光纤拉伸器处理后传递至第一光纤反射镜并经第一光纤反射镜反射生成第一反射信号；第二路激光信号经第二光纤反射镜反射后生成第二反射信号；保偏光纤耦合器根据第一反射信号和第二反射信号生成干涉信号。
此外，在本发明中，在经非平衡臂迈克尔逊干涉仪生成干涉信号之后，通过光电探测器将干涉信号转换为电信号。作为本发明的一个具体实施例，可配置干涉信号经过第二光纤隔离器传递至光电探测器。其中，第二光纤隔离器的作用在于保证激光信号单向传输，即保证激光信号仅能够从非平衡臂迈克尔逊干涉仪传递至光电探测器，避免了后续处理产生的反射信号返回非平衡臂迈克尔逊干涉仪从而影响信号的准确性。
进一步地，在本发明中，在光电探测器将干涉信号转换为电信号之后，采集电信号并将采集的电信号转换为数字信号。作为本发明的一个具体实施例，可通过数据采集设备采集电信号并将采集到的电信号转换为数字信号。
此外，在本发明中，当将采集到的电信号转换为数字信号之后，将数字信号传递至数据处理设备，数据处理设备记录数字信号中的最大电压值Umax和最小电压值Umin，并对数字信号进行傅里叶变换得到频谱。
进一步地，在本发明中，当对数字信号进行傅里叶变换得到频谱之后，数据处理设备根据
Figure BDA0002302207950000081
计算零阶第一类贝塞尔函数，其中，J0(C)为零阶第一类贝塞尔函数，M为第二调制信号的频率f2在频谱中对应的幅值，Umax为数字信号中的最大电压值，Umin为数字信号中的最小电压值。
此外，在本发明中，如图2所示，在获得零阶第一类贝塞尔函数J0(C)之后，可查表得到相位调制深度C，完成干涉型光纤传感器相位调制深度的测量。
本发明的干涉型光纤传感器相位调制深度的测量方法可以测量不同频率和幅度的第一调制信号下的相位调制深度，为干涉型光纤传感器的实际使用提供依据，具有良好的实用性。
根据本发明的又一方面，提供了一种干涉型光纤传感器相位调制深度的测量装置，该干涉型光纤传感器相位调制深度的测量装置采用如上所述的干涉型光纤传感器相位调制深度的测量方法完成干涉型光纤传感器相位调制深度的测量。
应用此种配置方式，提供了一种干涉型光纤传感器相位调制深度的测量装置，该干涉型光纤传感器相位调制深度的测量装置采用如上所述的干涉型光纤传感器相位调制深度的测量方法完成干涉型光纤传感器相位调制深度的测量，由于本发明的干涉型光纤传感器相位调制深度的测量方法能够解决现有技术中相位调制深度的测量结构组件和解算算法复杂、计算工作量大和实用性低的技术问题，因此，通过将干涉型光纤传感器相位调制深度的测量方法应用到干涉型光纤传感器相位调制深度的测量装置中，能够极大地提高干涉型光纤传感器相位调制深度的测量装置的工作性能。
进一步地，在本发明中，为了实现干涉型光纤传感器相位调制深度的测量，干涉型光纤传感器相位调制深度的测量装置可配置为包括第一信号发生器、可调谐激光器、光纤起偏器、非平衡臂迈克尔逊干涉仪、光电探测器、数据采集器和数据处理器。第一信号发生器用于生成第一调制信号。可调谐激光器与第一信号发生器连接，可调谐激光器根据第一调制信号生成调制后的激光信号。光纤起偏器与可调谐激光器连接，光纤起偏器对调制后的激光信号进行偏振处理以生成线偏振光。非平衡臂迈克尔逊干涉仪与光纤起偏器连接，非平衡臂迈克尔逊干涉仪用于将线偏振光转换为干涉信号。光电探测器与非平衡臂迈克尔逊干涉仪连接，光电探测器用于将干涉信号转换为电信号。数据采集器与光电探测器连接，数据采集器用于采集电信号并将电信号转换为数字信号。数据处理器与数据采集器连接，数据处理器用于根据数字信号解算相位调制深度。
作为本发明的一个具体实施例，可调谐激光器包括RIO可调谐激光器，中心波长为1550.15nm，光电探测器包括New Focus 125MHz光接收器，数据采集器包括NI USB6361数据采集卡，数据处理器包括计算机。
此外，在本发明中，为了避免信号在传输过程中生成的反射信号影响信号的准确性，干涉型光纤传感器相位调制深度的测量装置还可配置为包括第一光纤隔离器和第二光纤隔离器。第一光纤隔离器分别与可调谐激光器和光纤起偏器连接，第二光纤隔离器分别与保偏光纤耦合器和光电探测器连接。第一光纤隔离器和第二光纤隔离器用于保证激光信号单向传输。
本发明的干涉型光纤传感器相位调制深度的测量装置采用常见器件，结构简单，实施方便，成本较低，可广泛应用于干涉型光纤传感器的相位调制深度的测量中。
为了对本发明有进一步地了解，下面结合图1和图2对本发明的干涉型光纤传感器相位调制深度的测量方法进行详细说明。
如图1和图2所示，根据本发明的具体实施例提供了一种干涉型光纤传感器相位调制深度的测量方法，该方法具体包括以下步骤。
步骤一，第一信号发生器生成频率fPGC为10kHz和幅度VPGC为0.515V的正弦波信号用作第一调制信号，可调谐激光器根据第一调制信号生成调制后的激光信号。
步骤二，调制后的激光信号经第一光纤隔离器传递至光纤起偏器生成线偏振光。
步骤三，线偏振光经保偏光纤2×2耦合器分光生成第一路激光信号和第二路激光信号。第二信号发生器生成频率f2为500Hz的锯齿波信号用作第二调制信号。第一路激光信号在第二调制信号的调制下经光纤拉伸器处理后传递至第一光纤反射镜并经第一光纤反射镜反射生成第一反射信号，第二路激光信号经第二光纤反射镜反射后生成第二反射信号。保偏光纤2×2耦合器根据第一反射信号和第二反射信号生成干涉信号。
步骤四，干涉信号经过第二光纤隔离器传递至光电探测器，光电探测器将干涉信号转换为电信号。
步骤五，数据采集设备采集电信号并将采集到的电信号转换为数字信号，数字信号传递至数据处理设备，数据处理设备记录数字信号中的最大电压值Umax和最小电压值Umin，并对数字信号进行傅里叶变换得到频谱。数据处理设备根据
Figure BDA0002302207950000111
计算零阶第一类贝塞尔函数J0(C)。根据零阶第一类贝塞尔函数J0(C)可查表得到相位调制深度C为2.173rad，完成干涉型光纤传感器相位调制深度的测量。
综上所述，本发明提供了一种干涉型光纤传感器相位调制深度的测量方法及测量装置，该干涉型光纤传感器相位调制深度的测量方法依次将激光信号进行调制信号处理、线偏振处理和非平衡臂迈克尔逊干涉仪处理后，解算得到相位调制深度，该方法采用的结构组件简单，解算过程方便，可以测量不同调制信号下的相位调制深度，具有良好的实用性。与现有技术相比，本发明能够解决现有技术中相位调制深度的测量结构组件和解算算法复杂、计算工作量大和实用性低的技术问题。
为了便于描述，在这里可以使用空间相对术语，如“在……之上”、“在……上方”、“在……上表面”、“上面的”等，用来描述如在图中所示的一个器件或特征与其他器件或特征的空间位置关系。应当理解的是，空间相对术语旨在包含除了器件在图中所描述的方位之外的在使用或操作中的不同方位。例如，如果附图中的器件被倒置，则描述为“在其他器件或构造上方”或“在其他器件或构造之上”的器件之后将被定位为“在其他器件或构造下方”或“在其他器件或构造之下”。因而，示例性术语“在……上方”可以包括“在……上方”和“在……下方”两种方位。该器件也可以其他不同方式定位(旋转90度或处于其他方位)，并且对这里所使用的空间相对描述作出相应解释。
此外，需要说明的是，使用“第一”、“第二”等词语来限定零部件，仅仅是为了便于对相应零部件进行区别，如没有另行声明，上述词语并没有特殊含义，因此不能理解为对本发明保护范围的限制。
以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (7)

1.一种干涉型光纤传感器相位调制深度的测量方法，其特征在于，所述干涉型光纤传感器相位调制深度的测量方法包括以下步骤：
步骤一，第一信号发生器生成第一调制信号，可调谐激光器根据所述第一调制信号生成调制后的激光信号；
步骤二，所述调制后的激光信号经光纤起偏器生成线偏振光；
步骤三，所述线偏振光经非平衡臂迈克尔逊干涉仪生成干涉信号；所述非平衡臂迈克尔逊干涉仪包括保偏光纤耦合器、光纤拉伸器、第二信号发生器、第一光纤反射镜和第二光纤反射镜，所述保偏光纤耦合器分别与所述光纤起偏器、所述光纤拉伸器和所述第二光纤反射镜连接，所述光纤拉伸器分别与所述第二信号发生器和所述第一光纤反射镜连接；所述第二信号发生器用于生成第二调制信号，所述保偏光纤耦合器将所述线偏振光分光生成第一路激光信号和第二路激光信号，所述光纤拉伸器在所述第二调制信号的调制下对所述第一路激光信号进行拉伸处理，所述第一光纤反射镜将经所述拉伸处理的第一路激光信号反射生成第一反射信号，所述第二光纤反射镜将所述第二路激光信号反射生成第二反射信号，所述保偏光纤耦合器根据所述第一反射信号和所述第二反射信号耦合生成干涉信号；
步骤四，通过光电探测器将所述干涉信号转换为电信号；
步骤五，根据所述电信号解算相位调制深度以完成干涉型光纤传感器相位调制深度的测量；
所述步骤五具体包括：
(5.1)采集所述电信号并将采集的所述电信号转换为数字信号；
(5.2)对所述数字信号进行傅里叶变换得到频谱；
(5.3)根据所述数字信号和所述频谱计算零阶第一类贝塞尔函数；
(5.4)根据所述零阶第一类贝塞尔函数查表得到所述相位调制深度；所述零阶第一类贝塞尔函数根据
Figure FDA0003051488780000021
计算，其中，J0(C)为零阶第一类贝塞尔函数，M为所述第二调制信号的频率在所述频谱中对应的幅值，Umax为所述数字信号中的最大电压值，Umin为所述数字信号中的最小电压值。
2.根据权利要求1所述的干涉型光纤传感器相位调制深度的测量方法，其特征在于，所述步骤三具体包括：所述线偏振光经所述保偏光纤耦合器分光生成所述第一路激光信号和所述第二路激光信号；所述第一路激光信号在所述第二信号发生器生成的所述第二调制信号的调制下经所述光纤拉伸器处理后传递至所述第一光纤反射镜并经所述第一光纤反射镜反射生成所述第一反射信号；所述第二路激光信号经所述第二光纤反射镜反射后生成所述第二反射信号；所述保偏光纤耦合器根据所述第一反射信号和所述第二反射信号生成所述干涉信号。
3.根据权利要求1所述的干涉型光纤传感器相位调制深度的测量方法，其特征在于，在所述步骤一中，可调谐激光器根据所述第一调制信号生成调制后的激光信号之后，所述干涉型光纤传感器相位调制深度的测量方法还包括：所述调制后的激光信号经过第一光纤隔离器传递至所述光纤起偏器。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的干涉型光纤传感器相位调制深度的测量方法，其特征在于，在所述步骤三中，所述线偏振光经非平衡臂迈克尔逊干涉仪生成干涉信号之后，所述干涉型光纤传感器相位调制深度的测量方法还包括：所述干涉信号经过第二光纤隔离器传递至所述光电探测器。
5.一种干涉型光纤传感器相位调制深度的测量装置，其特征在于，所述干涉型光纤传感器相位调制深度的测量装置采用如权利要求1至4中任一项所述的干涉型光纤传感器相位调制深度的测量方法完成干涉型光纤传感器相位调制深度的测量。
6.根据权利要求5所述的干涉型光纤传感器相位调制深度的测量装置，其特征在于，所述干涉型光纤传感器相位调制深度的测量装置包括：
第一信号发生器，所述第一信号发生器用于生成第一调制信号；
可调谐激光器，所述可调谐激光器与所述第一信号发生器连接，所述可调谐激光器根据所述第一调制信号生成调制后的激光信号；
光纤起偏器，所述光纤起偏器与所述可调谐激光器连接，所述光纤起偏器对所述调制后的激光信号进行偏振处理以生成线偏振光；
非平衡臂迈克尔逊干涉仪，所述非平衡臂迈克尔逊干涉仪与所述光纤起偏器连接，所述非平衡臂迈克尔逊干涉仪用于将所述线偏振光转换为干涉信号；
光电探测器，所述光电探测器与所述非平衡臂迈克尔逊干涉仪连接，所述光电探测器用于将所述干涉信号转换为电信号；
数据采集器，所述数据采集器与所述光电探测器连接，所述数据采集器用于采集所述电信号并将所述电信号转换为数字信号；
数据处理器，所述数据处理器与所述数据采集器连接，所述数据处理器用于根据所述数字信号解算相位调制深度。
7.根据权利要求6所述的干涉型光纤传感器相位调制深度的测量装置，其特征在于，所述干涉型光纤传感器相位调制深度的测量装置还包括：
第一光纤隔离器和第二光纤隔离器，所述第一光纤隔离器分别与所述可调谐激光器和所述光纤起偏器连接，所述第二光纤隔离器分别与所述保偏光纤耦合器和所述光电探测器连接，所述第一光纤隔离器和所述第二光纤隔离器用于保证激光信号单向传输。
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