CN110956913A - 时序控制器验证系统及时序控制器验证方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种时序控制器验证系统及时序控制器验证方法。所述时序控制器验证系统包括算法寄存器、传输控制单元以及时序控制器；所述时序控制器包括：数据编排模块及处理模块；所述传输控制单元能从所述算法寄存器获取所述算法数据，并依据预设的第一校验算法及算法数据得出第一校验值，并将算法数据转换成传输数据，并将所述传输数据及第一校验值传输至数据编排模块；所述数据编排模块能依据预设的编排算法将所述传输数据编排成目标数据；所述处理模块能依据目标数据及预设的第二校验算法得出第二校验值，并比较所述第一校验值与第二校验值，以根据比较结果验证时序控制器的配置，从而快速准确地完成时序控制器的配置验证。
Description
技术领域
本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种时序控制器验证系统及时序控制器验证方法。
背景技术
随着显示技术的发展，液晶显示器(Liquid Crystal Display，LCD)等平面显示装置因具有高画质、省电、机身薄及应用范围广等优点，而被广泛的应用于手机、电视、个人数字助理、数字相机、笔记本电脑、台式计算机等各种消费性电子产品，成为显示装置中的主流。
通常液晶显示面板由彩膜基板(CF，Color Filter)、薄膜晶体管基板(TFT，ThinFilm Transistor)、夹于彩膜基板与薄膜晶体管基板之间的液晶(LC，Liquid Crystal)及密封胶框(Sealant)组成，其成型工艺一般包括：前段阵列彩膜制程、中段成盒(Cell)制程(TFT基板与CF基板贴合)及后段模组组装制程(驱动IC与印刷电路板压合)。
液晶显示面板工作时需要通过外部驱动电路进行驱动，所述外部驱动电路一般包括：设于一印刷电路板(Printed Circuit Board，PCB)上的时序控制器(TCON)、电源管理芯片(Power manage IC)及可编程伽马校正芯片(P-gamma IC)等，其中，所述时序控制器主要用于将低压差分(Low-Voltage Differential Signaling，LVDS)信号转化为低幅值传输频率高的Mini-LVDS信号以及产生驱动液晶面板的时序讯号，所述电源管理芯片主要用于产生驱动液晶显示面板各类电压，所述可编程伽马校正芯片主要用于产生伽马电压。
为了提升显示面板的画质，提高显示面板的竞争力，面板厂商会自主开发一系列改善面板画质的算法模块，这些算法模块会被整合到驱动面板的时序控制器中，但是时序控制器并非完全由面板厂商设计生产，一般是由合作的芯片厂商设计生产，面板厂商值负责提供算法模块，芯片厂商负责将算法模块整合到时序控制器中。当芯片厂商将时序控制器生产交付至面板厂商后，面板厂商要对其中的算法模块进行验证，以确定芯片厂商整合的算法模块有无错误。验证时，先将32bit的算法数据转换成8bit的传输数据，然后通过I2C接口发送给时序控制器，时序控制器再把这8bit数据重新编排(mapping)成32bit的算法数据，现有的验证，通常只是验证通信传输是否有问题，比如上述的I2C传输，传输数据通过I2C传输到时序控制器之后会做校验，看传输数据是否有错误，但是这只能保证数据传输没问题。而对于时序控制器重新编排后得到的算法数据并未进行验证，此时可能会出现数据虽然传输正确，但是编排出现错误，导致算法模块无法正常工作。
发明内容
本发明的目的在于提供一种时序控制器验证系统，能够快速准确地完成时序控制器的配置验证，避免因配置错误导致的工作异常。
本发明的目的还在于提供一种时序控制器验证方法，能够快速准确地完成时序控制器的配置验证，避免因配置错误导致的工作异常。
为实现上述目的，本发明提供一种时序控制器验证系统，包括算法寄存器、与所述算法寄存器连接的传输控制单元以及与所述传输控制单元连接的时序控制器；
所述时序控制器包括：与所述传输控制单元连接的数据编排模块及与所述数据编排模块及传输控制单元连接的处理模块；
所述算法寄存器用于存储算法数据；
所述传输控制单元用于从所述算法寄存器获取所述算法数据，并依据预设的第一校验算法及算法数据得出第一校验值，并将算法数据转换成传输数据，将所述传输数据及第一校验值传输至数据编排模块；
所述数据编排模块用于接收传输数据及第一校验值，并依据预设的编排算法将所述传输数据编排成目标数据，并将目标数据及第一校验值写入处理模块；
所述处理模块用于接收目标数据及第一校验值，并依据目标数据及预设的第二校验算法得出第二校验值，若所述第一校验值与第二校验值相等，则反馈第一结果值至传输控制单元，否则反馈第二结果值至传输控制单元。
所述传输控制单元利用I2C总线将所述传输数据及第一校验值传输至所述数据编排模块。
所述算法数据与所述目标数据的位数相同，所述算法数据的位数大于所述传输数据的位数。
所述算法寄存器存储N个32bit的算法数据，所述传输单元将N个32bit的算法数据转换为4N个20bit的传输数据，N为大于1的正整数。
所述传输控制单元还用于在接收到第一结果值时，判定所述时序控制器配置正确，在接收到第二结果值时，判定所述时序控制器配置错误。
所述算法数据为用于进行显示画质改善的算法数据。
所述预设的第一校验算法为累加多个算法数据，得出第一校验值，所述预设的第二校验算法为累加多个目标数据，得出第二校验值。
本发明还提供一种时序控制器验证方法，应用于上述的时序控制器验证系统，包括如下步骤：
步骤S1、所述传输控制单元从所述算法寄存器获取所述算法数据，并依据预设的第一校验算法及算法数据得出第一校验值；
步骤S2、所述传输控制单元将算法数据转换成传输数据，并将所述传输数据及第一校验值传输至数据编排模块；
步骤S3、所述数据编排模块接收传输数据及第一校验值，并依据预设的编排算法将所述传输数据编排成目标数据，并将目标数据及第一校验值写入处理模块；
步骤S4、所述处理模块接收目标数据及第一校验值，并依据目标数据及预设的第二校验算法得出第二校验值；
步骤S5、所述处理模块比较所述第一校验值及第二校验值，若所述第一校验值与第二校验值相等，则反馈第一结果值至传输控制单元，否则反馈第二结果值至传输控制单元。
发明的有益效果：本发明提供一种时序控制器验证系统，包括算法寄存器、与所述算法寄存器连接的传输控制单元以及与所述传输控制单元连接的时序控制器；所述时序控制器包括：与所述传输控制单元连接的数据编排模块及与所述数据编排模块及传输控制单元连接的处理模块；所述算法寄存器用于存储算法数据；所述传输控制单元用于从所述算法寄存器获取所述算法数据，并依据预设的第一校验算法及算法数据得出第一校验值，并将算法数据转换成传输数据，将所述传输数据及第一校验值传输至数据编排模块；所述数据编排模块用于接收传输数据及第一校验值，并依据预设的编排算法将所述传输数据编排成目标数据，并将目标数据及第一校验值写入处理模块；所述处理模块用于接收目标数据及第一校验值，并依据目标数据及预设的第二校验算法得出第二校验值，若所述第一校验值与第二校验值相等，则反馈第一结果值至传输控制单元，否则反馈第二结果值至传输控制单元，能够快速准确地完成时序控制器的配置验证，避免因配置错误导致的工作异常。本发明还提供一种时序控制器验证方法，能够快速准确地完成时序控制器的配置验证，避免因配置错误导致的工作异常。
附图说明
为了能更进一步了解本发明的特征以及技术内容，请参阅以下有关本发明的详细说明与附图，然而附图仅提供参考与说明用，并非用来对本发明加以限制。
附图中，
图1为本发明的时序控制器验证系统的示意图；
图2为本发明的时序控制器验证方法的流程图。
具体实施方式
为更进一步阐述本发明所采取的技术手段及其效果，以下结合本发明的优选实施例及其附图进行详细描述。
请参阅图1，本发明提供一种时序控制器验证系统，包括算法寄存器1、与所述算法寄存器1连接的传输控制单元2以及与所述传输控制单元2连接的时序控制器3；
所述时序控制器3包括：与所述传输控制单元2连接的数据编排模块10及与所述数据编排模块10及传输控制单元2连接的处理模块20；
所述算法寄存器1用于存储算法数据；
所述传输控制单元2用于从所述算法寄存器1获取所述算法数据，并依据预设的第一校验算法及算法数据得出第一校验值，并将算法数据转换成传输数据，将所述传输数据及第一校验值传输至数据编排模块10；
所述数据编排模块10用于接收传输数据及第一校验值，并依据预设的编排算法将所述传输数据编排成目标数据，并将目标数据及第一校验值写入处理模块20；
所述处理模块20用于接收目标数据及第一校验值，并依据目标数据及预设的第二校验算法得出第二校验值，并比较所述第一校验值及第二校验值，若所述第一校验值与第二校验值相等，则反馈第一结果值至传输控制单元2，否则反馈第二结果值至传输控制单元2。
具体地，所述传输控制单元2利用I2C总线将所述传输数据及第一校验值传输至所述数据编排模块10。
具体地，所述算法数据与所述目标数据的位数相同，所述算法数据的位数大于所述传输数据的位数。
进一步地，所述算法寄存器1存储N个32bit的算法数据，所述传输单元2将N个32bit的算法数据转换为4N个20bit的传输数据，N为大于1的正整数。
具体地，所述传输控制单元2还用于在接收到第一结果值时，判定所述时序控制器配置正确，在接收到第二结果值时，判定所述时序控制器配置错误。
具体地，所述算法数据为用于进行显示画质改善的算法数据。
值得一提的是，所述数据编排模块10及处理模块20共同组成一图像处理模块，由显示面板生产厂商进行研发，之后交由时序控制器生产厂商集成于时序控制器3中，所述图像处理装置用于接收目标数据并依据算法对显示面板的画质进行改善，典型的例如改善显示面板的大视角色偏等，时序控制器生产厂商完成时序控制器3的生成之后，交付给显示面板生产厂商验证，并设计传输控制单元2提供给显示面板生产厂商用于进行验证操作，所述传输控制单元2为一图形用户界面(Graphical User Interface，GUI)，所述显示面板生产厂商操作所述传输控制单元2进行算法数据的传输，以及传输之后的验证。
举例来说，在本发明的优选实施例中，所述时序控制器生产厂商提供传输控制单元2给显示面板生产厂商，显示面板生产厂商操作所述传输控制单元2获得算法寄存器1中的5个32bit的算法数据，并根据5个32bit的算法数据及预设的第一校验算法计算得出第一校验值，然后将5个32bit的算法数据转换成20个8bit的传输数据，再经由一双向二线制同步串行(Inter－Integrated Circuit，I2C)总线将20个8bit的传输数据及第一校验值传输至数据编排模块10，所述数据编排模块10接收20个8bit的传输数据及第一校验值，并根据预设的编排(Mapping)算法，将所述20个bit传输数据编排成5个32bit的目标数据，并将5个32bit的目标数据及第一校验值提供给处理模块20，所述处理模块20根据预设的第二校验算法及5个32bit的目标数据计算得到第二校验值，并对第一校验值和第二校验值进行比较，若第一校验值等于第二校验值，则反馈第一结果值至传输控制单元2，否则传输第二结果值至传输控制单元2，若传输控制单元2收到第一结果值，则可以确定目标数据与算法数据一致，算法数据的传输及编排均正确，时序控制器生产厂商提供的时序控制器的配置正确，若传输控制单元2收到第二结果值，可以确定目标数据与算法数据不一致，算法数据的传输或编排存在错误，时序控制器生产厂商提供的时序控制器的配置错误，从而能够快速准确地判断所述图像处理装置的配置是否正确，避免因配置错误导致的工作异常，提升校验效率。
优选地，若第一校验值等于第二校验值，则反馈结果值“1”至传输控制单元2，否则传输结果值“0”至传输控制单元2。
优选地，具体地，所述预设的第一校验算法为累加多个算法数据，得出第一校验值，所述预设的第二校验算法为累加多个目标数据，得出第二校验值。
当然，本发明并不限制所述第一校验算法和第二校验算法的选用，在本发明的其他实施例中，所述第一校验算法和第二校验算法好可以为循环冗余校验(CyclicRedundancy Check,CRC)校验算法，此时，第一校验值及第二校验值均为CRC值。
请参阅图2，本发明还提供一种时序控制器验证方法，应用于上述的时序控制器验证系统，包括如下步骤：
步骤S1、所述传输控制单元2从所述算法寄存器1获取所述算法数据，并依据预设的第一校验算法及算法数据得出第一校验值；
步骤S2、所述传输控制单元2将算法数据转换成传输数据，并将所述传输数据及第一校验值传输至数据编排模块10；
步骤S3、所述数据编排模块10接收传输数据及第一校验值，并依据预设的编排算法将所述传输数据编排成目标数据，并将目标数据及第一校验值写入处理模块20；
步骤S4、所述处理模块20接收目标数据及第一校验值，并依据目标数据及预设的第二校验算法得出第二校验值；
步骤S5、所述处理模块20比较所述第一校验值及第二校验值，若所述第一校验值与第二校验值相等，则反馈第一结果值至传输控制单元2，否则反馈第二结果值至传输控制单元2。
综上所述，本发明提供一种时序控制器验证系统，包括算法寄存器、与所述算法寄存器连接的传输控制单元以及与所述传输控制单元连接的时序控制器；所述时序控制器包括：与所述传输控制单元连接的数据编排模块及与所述数据编排模块及传输控制单元连接的处理模块；所述算法寄存器用于存储算法数据；所述传输控制单元用于从所述算法寄存器获取所述算法数据，并依据预设的第一校验算法及算法数据得出第一校验值，并将算法数据转换成传输数据，将所述传输数据及第一校验值传输至数据编排模块；所述数据编排模块用于接收传输数据及第一校验值，并依据预设的编排算法将所述传输数据编排成目标数据，并将目标数据及第一校验值写入处理模块；所述处理模块用于接收目标数据及第一校验值，并依据目标数据及预设的第二校验算法得出第二校验值，若所述第一校验值与第二校验值相等，则反馈第一结果值至传输控制单元，否则反馈第二结果值至传输控制单元，能够快速准确地完成时序控制器的配置验证，避免因配置错误导致的工作异常。本发明还提供一种时序控制器验证方法，能够快速准确地完成时序控制器的配置验证，避免因配置错误导致的工作异常。
以上所述，对于本领域的普通技术人员来说，可以根据本发明的技术方案和技术构思作出其他各种相应的改变和变形，而所有这些改变和变形都应属于本发明权利要求的保护范围。
Claims (8)
1.一种时序控制器验证系统，其特征在于，包括算法寄存器(1)、与所述算法寄存器(1)连接的传输控制单元(2)以及与所述传输控制单元(2)连接的时序控制器(3)；
所述时序控制器(3)包括：与所述传输控制单元(2)连接的数据编排模块(10)及与所述数据编排模块(10)及传输控制单元(2)连接的处理模块(20)；
所述算法寄存器(1)用于存储算法数据；
所述传输控制单元(2)用于从所述算法寄存器(1)获取所述算法数据，并依据预设的第一校验算法及算法数据得出第一校验值，并将算法数据转换成传输数据，将所述传输数据及第一校验值传输至数据编排模块(10)；
所述数据编排模块(10)用于接收传输数据及第一校验值，并依据预设的编排算法将所述传输数据编排成目标数据，并将目标数据及第一校验值写入处理模块(20)；
所述处理模块(20)用于接收目标数据及第一校验值，并依据目标数据及预设的第二校验算法得出第二校验值，若所述第一校验值与第二校验值相等，则反馈第一结果值至传输控制单元(2)，否则反馈第二结果值至传输控制单元(2)。
2.如权利要求1所述的时序控制器验证系统，其特征在于，所述传输控制单元(2)利用I2C总线将所述传输数据及第一校验值传输至所述数据编排模块(10)。
3.如权利要求1所述的时序控制器验证系统，其特征在于，所述算法数据与所述目标数据的位数相同，所述算法数据的位数大于所述传输数据的位数。
4.如权利要求3所述的时序控制器验证系统，其特征在于，所述算法寄存器(1)存储N个32bit的算法数据，所述传输单元(2)将N个32bit的算法数据转换为4N个20bit的传输数据，N为大于1的正整数。
5.如权利要求1所述的时序控制器验证系统，其特征在于，所述传输控制单元(2)还用于在接收到第一结果值时，判定所述时序控制器配置正确，在接收到第二结果值时，判定所述时序控制器配置错误。
6.如权利要求1所述的时序控制器验证系统，其特征在于，所述算法数据为用于进行显示画质改善的算法数据。
7.如权利要求1所述的时序控制器验证系统，其特征在于，所述预设的第一校验算法为累加多个算法数据，得出第一校验值，所述预设的第二校验算法为累加多个目标数据，得出第二校验值。
8.一种时序控制器验证方法，其特征在于，应用于如权利要求1至7任一项所述的时序控制器验证系统，包括如下步骤：
步骤S1、所述传输控制单元(2)从所述算法寄存器(1)获取所述算法数据，并依据预设的第一校验算法及算法数据得出第一校验值；
步骤S2、所述传输控制单元(2)将算法数据转换成传输数据，并将所述传输数据及第一校验值传输至数据编排模块(10)；
步骤S3、所述数据编排模块(10)接收传输数据及第一校验值，并依据预设的编排算法将所述传输数据编排成目标数据，并将目标数据及第一校验值写入处理模块(20)；
步骤S4、所述处理模块(20)接收目标数据及第一校验值，并依据目标数据及预设的第二校验算法得出第二校验值；
步骤S5、所述处理模块(20)比较所述第一校验值及第二校验值，若所述第一校验值与第二校验值相等，则反馈第一结果值至传输控制单元(2)，否则反馈第二结果值至传输控制单元(2)。
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
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| PB01 | Publication | ||
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| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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| GR01 | Patent grant | ||
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