CN110928443A - 一种触控位置的检测方法及电子设备 - Google Patents
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Abstract
本发明实施例公开了一种触控位置的检测方法及电子设备,涉及通信技术领域,以解决采用跳频降低干扰的方式无法准确识别触控位置的问题。该方法包括:在采样周期内,分别对触控屏进行第一采样、第二采样和干扰采样,获取第一采样数据、第二采样数据和干扰采样数据;根据第一采样数据、第二采样数据和干扰采样数据,确定用户在触控屏上的触控位置;其中,第一采样数据为按照第一频点对触控屏的驱动信号进行第一采样得到的数据,第二采样数据为按照第二频点对触控屏的驱动信号进行第二采样得到的数据,干扰采样数据为对触控屏的干扰信号进行干扰采样得到的数据。该方法可以应用于受到干扰的电子设备识别触控位置的场景中。
Description
技术领域
本发明实施例涉及通信技术领域,尤其涉及一种触控位置的检测方法及电子设备。
背景技术
随着通信技术和终端技术的发展,耗电量成为影响电子设备的重要因素。如果电子设备的耗电量较快,那么用户可以选择边充电边使用电子设备。
在用户使用正在充电的电子设备的过程中,由于电子设备的触摸屏通常会受到充电过程引起的共模干扰的干扰,因此,当共模干扰影响到触摸屏的工作频点时,这可能会导致该工作频点错误响应或无响应等,从而使得电子设备无法准确识别用户的触控位置,进而影响用户正常使用电子设备。
目前,电子设备可以采用跳频的方式,降低共模干扰所导致的工作频点错误响应或无响应。然而,由于电子设备检测共模干扰需要时间,判定工作频点是否被干扰需要时间,以及计算新的工作频点需要时间,因此在完成跳频之前,触摸屏的工作频点可能已受到了干扰,即影响对触屏操作的正常识别。如此,采用跳频降低干扰的方式仍无法准确识别用户的触控位置。
发明内容
本发明实施例提供一种触控位置的检测方法及电子设备,以解决采用跳频降低干扰的方式仍无法准确识别用户的触控位置的问题。
为了解决上述技术问题,本发明实施例是这样实现的:
第一方面,本发明实施例提供了一种触控位置的检测方法。该方法包括:在采样周期内,分别对触控屏进行第一采样、第二采样和干扰采样,获取第一采样数据、第二采样数据和干扰采样数据;根据该第一采样数据、该第二采样数据和该干扰采样数据,确定用户在该触控屏上的触控位置;其中,该第一采样数据为按照第一频点对该触控屏的驱动信号进行第一采样得到的数据,该第二采样数据为按照第二频点对该触控屏的驱动信号进行第二采样得到的数据,该干扰采样数据为对该触控屏的干扰信号进行干扰采样得到的数据。
第二方面,本发明实施例提供了一种电子设备。该电子设备包括采样模块和确定模块。采样模块,用于在采样周期内,分别对触控屏进行第一采样、第二采样和干扰采样,获取第一采样数据、第二采样数据和干扰采样数据。确定模块,用于根据采样模块获取的该第一采样数据、该第二采样数据和该干扰采样数据,确定用户在该触控屏上的触控位置。其中,该第一采样数据为按照第一频点对该触控屏的驱动信号进行第一采样得到的数据,该第二采样数据为按照第二频点对该触控屏的驱动信号进行第二采样得到的数据,该干扰采样数据为对该触控屏的干扰信号进行干扰采样得到的数据。
第三方面,本发明实施例提供了一种电子设备,包括处理器、存储器及存储在该存储器上并可在该处理器上运行的计算机程序,该计算机程序被该处理器执行时实现第一方面提供的触控位置的检测方法的步骤。
第四方面,本发明实施例提供了一种计算机可读存储介质,该计算机可读存储介质上存储计算机程序,该计算机程序被处理器执行时实现第一方面提供的触控位置的检测方法的步骤。
在本发明实施例中,在采样周期内,分别对触控屏进行第一采样、第二采样和干扰采样,获取第一采样数据、第二采样数据和干扰采样数据;并根据该第一采样数据、该第二采样数据和该干扰采样数据,确定用户在该触控屏上的触控位置;其中,该第一采样数据为按照第一频点对该触控屏的驱动信号进行第一采样得到的数据,该第二采样数据为按照第二频点对该触控屏的驱动信号进行第二采样得到的数据,该干扰采样数据为对该触控屏的干扰信号进行干扰采样得到的数据。通过该方案,在电子设备的屏幕受到干扰信号的干扰的情况下,由于针对屏幕的每个采样周期,电子设备可以按照第一频点对屏幕的驱动信号采样得到第一采样数据,并按照第二频点对屏幕的驱动信号采样得到第二采样数据,以及对屏幕的干扰信号采样得到干扰采样数据,因此当用户触模屏幕时,电子设备可以根据该第一采样数据、该第二采样数据和该干扰采样数据,确定出用户在屏幕中的触控位置,从而可以避免因跳频需要一定时间所导致的调频过程中屏幕会受到干扰,因此,本发明实施例检测到的触控位置更准确。
附图说明
图1为本发明实施例提供的一种安卓操作系统的架构示意图;
图2为本发明实施例提供的一种触控位置的检测方法的示意图之一;
图3为本发明实施例提供的一种采样时序的示意图之一;
图4为本发明实施例提供的一种采样时序的示意图之二;
图5为本发明实施例提供的一种确定重叠区域为触控位置的示意图;
图6为本发明实施例提供的一种触控位置的检测方法的示意图之二;
图7为本发明实施例提供的电子设备的结构示意图;
图8为本发明实施例提供的电子设备的硬件示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
本文中术语“和/或”,是一种描述关联对象的关联关系,表示可以存在三种关系,例如,A和/或B,可以表示:单独存在A,同时存在A和B,单独存在B这三种情况。本文中符号“/”表示关联对象是或者的关系,例如A/B表示A或者B。
本发明的说明书和权利要求书中的术语“第一”和“第二”等是用于区别不同的对象,而不是用于描述对象的特定顺序。例如,第一触控区域和第二触控区域等是用于区别不同的触控区域,而不是用于描述区域的特定顺序。
在本发明实施例中,“示例性的”或者“例如”等词用于表示作例子、例证或说明。本发明实施例中被描述为“示例性的”或者“例如”的任何实施例或设计方案不应被解释为比其它实施例或设计方案更具优势。确切而言,使用“示例性的”或者“例如”等词旨在以具体方式呈现相关概念。
在本发明实施例的描述中,除非另有说明,“多个”的含义是指两个或者两个以上,例如,多个元件是指两个或者两个以上的元件等。
下面对本发明实施例中涉及的一些术语/名词进行解释说明。
报点率:在电子设备中,电子设备的检测模块每秒钟向电子设备的主机(host)上报触点信息的次数,其中,触点信息可以为关于电子设备的屏幕上的触点坐标、触点时长等信息。屏幕的采样周期与报点率负相关,屏幕的采样周期越长,报点率越低;屏幕的采样周期越短,报点率越高。通常情况下,当电子设备的报点率大于64赫兹(Hz),用户不会感知到屏幕的响应延迟,因此若电子设备采用双频点对屏幕扫描,则报点率为128Hz左右,例如120Hz。目前触控行业最大报点率已达到240Hz。
触控电路板(integrated circuit,IC):也可以称为触控单片机或触控芯片,其可以用于检测用户在屏幕中的触控位置。在本发明实施例中可以为支持高报点率的触控IC。
自电容:是指在屏幕中设置的电容。电子设备可以通过检测自电容的X扫描电极、Y扫描电极与地或人体之间的电势差,确定用户在屏幕中的触控位置。
自电容采样:是指在电子设备的屏幕的触摸检测时,依次分别检测横向与纵向电容阵列,根据触摸前后电容数值的变化,分别确定横向坐标和纵向坐标,然后将确定的横向坐标和纵向坐标组合成触摸坐标。本发明实施例中自电容采样可以用于检测用户对电子设备的屏幕的触控操作,而排除例如水滴等其他物体对电子设备的屏幕的触控操作。
本发明实施例提供一种触控位置的检测方法及电子设备,在采样周期内,分别对触控屏进行第一采样、第二采样和干扰采样,获取第一采样数据、第二采样数据和干扰采样数据;并根据该第一采样数据、该第二采样数据和该干扰采样数据,确定用户在该触控屏上的触控位置;其中,该第一采样数据为按照第一频点对该触控屏的驱动信号进行第一采样得到的数据,该第二采样数据为按照第二频点对该触控屏的驱动信号进行第二采样得到的数据,该干扰采样数据为对该触控屏的干扰信号进行干扰采样得到的数据。通过该方案,在电子设备的屏幕受到干扰信号的干扰的情况下,由于针对屏幕的每个采样周期,电子设备可以按照第一频点对屏幕的驱动信号采样得到第一采样数据,并按照第二频点对屏幕的驱动信号采样得到第二采样数据,以及对屏幕的干扰信号采样得到干扰采样数据,因此当用户触模屏幕时,电子设备可以根据该第一采样数据、该第二采样数据和该干扰采样数据,确定出用户在屏幕中的触控位置,从而可以避免因跳频需要一定时间所导致的调频过程中屏幕会受到干扰,因此,本发明实施例对检测到的触控位置更准确。
本发明实施例中的电子设备可以为具有操作系统的电子设备。该操作系统可以为安卓(Android)操作系统,可以为ios操作系统,还可以为其他可能的操作系统,本发明实施例不作具体限定。
下面以安卓操作系统为例,介绍一下本发明实施例提供的触控位置的检测方法所应用的软件环境。
如图1所示,为本发明实施例提供的一种安卓操作系统的架构示意图。在图1中,安卓操作系统的架构包括4层,分别为:应用程序层、应用程序框架层、系统运行库层和内核层(具体可以为Linux内核层)。
其中,应用程序层包括安卓操作系统中的各个应用程序(包括系统应用程序和第三方应用程序)。
应用程序框架层是应用程序的框架,开发人员可以在遵守应用程序的框架的开发原则的情况下,基于应用程序框架层开发一些应用程序。
系统运行库层包括库(也称为系统库)和安卓操作系统运行环境。库主要为安卓操作系统提供其所需的各类资源。安卓操作系统运行环境用于为安卓操作系统提供软件环境。
内核层是安卓操作系统的操作系统层,属于安卓操作系统软件层次的最底层。内核层基于Linux内核为安卓操作系统提供核心系统服务和与硬件相关的驱动程序。
以安卓操作系统为例,本发明实施例中,开发人员可以基于上述如图1所示的安卓操作系统的系统架构,开发实现本发明实施例提供的触控位置的检测方法的软件程序,从而使得该触控位置的检测方法可以基于如图1所示的安卓操作系统运行。即处理器或者电子设备可以通过在安卓操作系统中运行该软件程序实现本发明实施例提供的触控位置的检测方法。
本发明实施例中的电子设备可以为终端设备。该电子设备可以为移动电子设备,也可以为非移动电子设备。示例性的,移动电子设备可以为手机、平板电脑、笔记本电脑、掌上电脑、车载电子设备、可穿戴设备、超级移动个人计算机(ultra-mobile personalcomputer,UMPC)、上网本或者个人数字助理(personal digital assistant,PDA)等,非移动电子设备可以为个人计算机(personal computer,PC)、电视机(television,TV)、柜员机或者自助机等,本发明实施例不作具体限定。
本发明实施例提供的触控位置的检测方法的执行主体可以为上述的电子设备,也可以为该电子设备中能够实现触控位置的检测方法的功能模块和/或功能实体,具体的可以根据实际使用需求确定,本发明实施例不作限定。
本发明实施例中,电子设备可以采用双频点扫描方式对屏幕进行周期性扫描,即针对每个扫描周期,电子设备可以分别采用两个频点对屏幕进行扫描。由于相对于单频点扫描的采样周期,双频点扫描的采样周期较长,因此为了不影响用户对屏幕的操作体验,本发明实施例可以采用报点率较高的触控IC,即本发明实施例提供的触控位置的检测方法可以适用于报点率高的触控IC。例如:触控IC的报点率可以大于120Hz。下面对本发明实施例提供的触控位置的检测方法进行示例性的说明。
如图2所示,本发明实施例提供一种触控位置的检测方法。该方法可以包括下述的S101和S102。
S101、在采样周期内,电子设备分别对触控屏进行第一采样、第二采样和干扰采样,获取第一采样数据、第二采样数据和干扰采样数据。
其中,上述第一采样数据为按照第一频点对触控屏的驱动信号进行第一采样得到的数据。第二采样数据为按照第二频点对该触控屏的驱动信号进行第二采样得到的数据。干扰采样数据为对该触控屏的干扰信号进行干扰采样得到的数据。
需要说明的是,本发明实施例中,电子设备的触控屏也可以称为电子设备的屏幕。
可以理解的是,本发明实施例中,由于电子设备的触控屏会受到干扰信号的干扰,因此,第一采样数据可以是按照第一频点,对该触控屏上的驱动信号和干扰信号叠加后的信号采样得到的数据,第二采样数据可以是按照第二频点,对触控屏上的驱动信号和干扰信号叠加后的信号采样得到的数据。干扰采样数据是按照干扰频谱,对干扰信号采样后得到的数据,其中干扰频谱为干扰频段。
此外,本发明实施例中,第一频点和第二频点为电子设备的两个不同的工作频点。其中,第一频点可以大于第二频点,或者第一频点可以小于第二频点。
示例性的,以每个采样周期内均包括第一采样、第二采样和干扰采样为例进行示例性说明。如图3所示,在第一个采样周期内,在t0时刻至t1时刻,电子设备可以按照第一频点,对电子设备的触控屏上的驱动信号进行第一采样,并获取第一采样数据;在t1时刻至t2时刻,电子设备可以按照第二频点,对电子设备的触控屏上的驱动信号采样进行第二采样,并获取第二采样数据;在t2时刻至t3时刻,电子设备可以按照干扰频谱,对电子设备的触控屏上的干扰信号进行干扰采样并获取干扰采样数据;在t3时刻至t4时刻,电子设备可以不进行采样,即t3时刻至t4时刻为空闲采样时间。
本发明实施例中,上述驱动信号可以用于驱动触控屏中的元器件,以检测用户在触控屏中的触控位置,其中,该元器件可以为电容等。例如,当用户接触某个位置的电容时,该位置的电容的数值发生变化,从而可以确定该位置为用户的触控位置。
本发明实施例中,上述干扰信号为电子设备的触控屏中存在的除驱动信号外的其他非有用信号,其可以对驱动信号造成损伤。
示例性的,干扰信号可以为在使用电源适配器为电子设备充电的过程中,充电电流导致电子设备产生的共模信号;或者,当电子设备处于噪声区域时,由外部环境导致电子设备产生的噪声信号。
需要说明的是,本发明实施例中,在电子设备的触控屏中存在干扰信号的情况下,干扰信号可以随着时间发生变化,或者保持不变,本发明实施例不作限定。
可选的,干扰频谱可以包括M个频点,一个频点对应干扰采样数据中的一个子干扰采样数据,即干扰采样数据由M个子干扰采样数据组成。第一频点和第二频点可以为该多个频点中两个不同频点,并且该第一频点和第二频点对应的两个子干扰采样数据在M个子干扰采样数据中较小。其中,M为大于或等于2的整数。
可选的,针对每个采样周期,在电子设备获取第一采样数据、第二采样数据和干扰采样数据的过程中,本发明实施例提供的触控位置的检测方法还可以包括:电子设备获取自电容采样数据。
示例性的,以每个采样周期内均包括自电容采样、第一采样、第二采样和干扰采样为例进行示例性说明。如图4所示,在第一个采样周期内,在t0时刻至t1时刻,电子设备可以对电子设备的触控屏进行自电容采样,在t1时刻至t2时刻,电子设备可以按照第一频点,对电子设备的触控屏上的驱动信号进行第一采样,并获取第一采样数据;在t2时刻至t3时刻,电子设备可以按照第二频点,对电子设备的触控屏上的驱动信号进行第二采样,并获取第二采样数据;在t3时刻至t4时刻,电子设备可以按照干扰频谱,对干扰信号进行干扰采样,并获取干扰采样数据;在t4时刻至t5时刻,电子设备可以不进行采样,即t4时刻至t5时刻为空闲采样时间。
需要说明的是,本发明实施例中,电子设备可以周期性进行采样。S101和S102是以一个周期为例进行示例性说明的,其并不对本发明实施例形成限定。可以理解,各个周期的长度可以相同,也可以不同;对每个采样周期中的第一采样、第二采样、干扰采样和自电容采样的采样时序不做限定,具体可根据实际的情况确定。
S102、电子设备根据该第一采样数据、该第二采样数据和该干扰采样数据,确定用户在触控屏上的触控位置。
可选的,上述S102可以通过下述S102A和S102B实现。
S102A、电子设备根据干扰采样数据,确定第一频点的干扰等级和第二频点的干扰等级。
本发明实施例中,干扰采样数据是按照干扰频谱,对干扰信号采样后得到的数据。由于该干扰频谱可以包括第一频点和第二频点,因此干扰采样数据可以包括:与第一频点对应的第一干扰采样数据、与第二频点对应的第二干扰采样数据。电子设备具体可以根据第一频点对应的第一干扰采样数据,确定第一频点的干扰等级;并根据与第二频点对应的第二干扰采样数据,确定第二频点的干扰等级。
可选的,电子设备中可以预先存储有N个干扰等级,一个干扰等级对应一个阈值区间。在电子设备获取第一干扰采样数据和第二干扰采样数据的情况下,电子设备可以先确定第一干扰采样数据所属的阈值区间为第一阈值区间,并确定第二干扰采样数据所属的阈值区间为第二阈值区间;再将第一阈值区间对应的第一干扰等级,确定为第一频点的干扰等级,并将第二阈值区间对应的第二干扰等级,确定为第二频点的干扰等级。然后,电子设备可以比较第一干扰等级和第二干扰等级,以确定用户的触控位置。其中,N为大于或等于2的正整数。
下面分别通过下述表1和表2对干扰等级进行示例性说明。
示例性的,如表1所示,为本发明实施例提供的频点和干扰等级的对应关系表。
电子设备中可以预先存储有第一干扰等级A和第二干扰等级B,第一干扰等级A可以高于第二干扰等级B,第一干扰等级A对应于第一阈值区间,第二干扰等级B对应于第二阈值区间。假设第一干扰采样数据用u1表示,第二干扰采样数据用u2表示,第一阈值区间的最大值用u3表示,第二阈值区间的最小值用u3表示,即第一阈值区间的最大值等于第二阈值区间的最小值。
表1
组合 | 频点1 | 频点2 |
1 | 干扰等级A | 干扰等级A |
2 | 干扰等级A | 干扰等级B |
3 | 干扰等级B | 干扰等级A |
4 | 干扰等级B | 干扰等级B |
(a)针对组合1:若u1<u3,且u2<u3,则电子设备可以确定第一干扰采样数据u1和第二干扰采样数据u2所属的阈值区间均为第一阈值区间,并将第一阈值区间对应的第一干扰等级A,确定为第一频点和第二频点的干扰等级。如此,电子设备可以确定第一频点和第二频点的采样数据均未受到干扰。
(b)针对组合2:若u1<u3<u2,则电子设备可以确定第一干扰采样数据u1所属的阈值区间为第一阈值区间、第二干扰采样数据u2所属的阈值区间为第二阈值区间;并将第一阈值区间对应的第一干扰等级A确定为第一频点的干扰等级,第二阈值区间对应的第二干扰等级B确定为第二频点的干扰等级。如此,电子设备可以确定第二频点的采样数据受到干扰。
(c)针对组合3:若u2<u3<u1,则电子设备可以确定第一干扰采样数据u1所属的阈值区间为第二阈值区间、第二干扰采样数据u2所属的阈值区间为第一阈值区间;并将第二阈值区间对应的第二干扰等级B确定为第一频点的干扰等级,第二阈值区间对应的第一干扰等级A确定为第二频点的干扰等级。如此,电子设备可以确定第一频点的采样数据受到干扰。
(d)针对组合4:若u1>u3,且u2>u3,则电子设备可以确定第一干扰采样数据u1和第二干扰采样数据u2所属的阈值区间均为第二阈值区间,并将第二阈值区间对应的第二干扰等级B,确定为第一频点和第二频点的干扰等级。如此,电子设备可以确定第一频点和第二频点的采样数据均受到干扰。
示例性的,如表2所示,为本发明实施例提供的频点和干扰等级的对应关系表。
电子设备中可以预先存储有第一干扰等级A、第二干扰等级B和第三干扰等级C,第一干扰等级A高于第二干扰等级B,第二干扰等级B高于第三干扰等级C,第一干扰等级A对应于第一阈值区间,第二干扰等级B对应于第二阈值区间,第三干扰等级C对应于第三阈值区间。
表2
组合 | 频点1 | 频点2 |
1 | 干扰等级A | 干扰等级A |
2 | 干扰等级A | 干扰等级B |
3 | 干扰等级A | 干扰等级C |
4 | 干扰等级B | 干扰等级A |
5 | 干扰等级B | 干扰等级B |
6 | 干扰等级B | 干扰等级C |
7 | 干扰等级C | 干扰等级A |
8 | 干扰等级C | 干扰等级B |
9 | 干扰等级C | 干扰等级C |
(e)针对组合1:第一干扰采样数据和第二干扰采样数据所属的阈值区间均为第一阈值区间,即第一频点和第二频点的干扰等级均为A。如此,电子设备可以确定第一频点和第二频点的采样数据均未受到干扰。
(f)针对组合2:第一干扰采样数据所属的阈值区间为第一阈值区间,即第一频点的干扰等级为A;第二干扰采样数据所属的阈值区间为第二阈值区间,即第二频点的干扰等级为B。如此,电子设备可以确定第一频点的采样数据未受到干扰,而第二频点的采样数据受到较小干扰。
(g)针对组合3:第一干扰采样数据所属的阈值区间为第一阈值区间,即第一频点的干扰等级为A;第二干扰采样数据所属的阈值区间为第三阈值区间,即第二频点的干扰等级为C。如此,电子设备可以确定第一频点的采样数据未受到干扰,而第二频点的采样数据受到较大干扰。
(h)针对组合4:第一干扰采样数据所属的阈值区间为第二阈值区间,即第一频点的干扰等级为B;第二干扰采样数据所属的阈值区间为第一阈值区间,即第二频点的干扰等级为A。如此,电子设备可以确定第一频点的采样数据受到较小干扰,而第二频点的采样数据未受到干扰。
(i)针对组合5:第一干扰采样数据和第二干扰采样数据所属的阈值区间均为第二阈值区间,即第一频点和第二频点的干扰等级均为B。如此,电子设备可以确定第一频点和第二频点的采样数据均受到较小干扰。
(j)针对组合6:第一干扰采样数据所属的阈值区间为第二阈值区间,即第一频点的干扰等级为B;第二干扰采样数据所属的阈值区间为第三阈值区间,即第二频点的干扰等级为C。如此,电子设备可以确定第一频点的采样数据受到较小干扰,第二频点的采样数据受到较大干扰,即第一频点的采样数据相比第二频点的采样数据受到的干扰较小。
(k)针对组合7:第一干扰采样数据所属的阈值区间为第三阈值区间,即第一频点的干扰等级为C;第二干扰采样数据所属的阈值区间为第一阈值区间,即第二频点的干扰等级为A。如此,电子设备可以确定第一频点的采样数据受到较大干扰,而第二频点的采样数据未受到干扰。
(l)针对组合8:第一干扰采样数据所属的阈值区间为第三阈值区间,即第一频点的干扰等级为C;第二干扰采样数据所属的阈值区间为第二阈值区间,即第二频点的干扰等级为B。如此,电子设备可以确定第一频点的采样数据受到较大干扰,第二频点的采样数据受到较小干扰,即第一频点的采样数据相比第二频点的采样数据受到的干扰较大。
(m)针对组合9:第一干扰采样数据和第二干扰采样数据所属的阈值区间均为第三阈值区间,即第一频点和第二频点的干扰等级均为C。如此,电子设备可以确定第一频点和第二频点的采样数据均受到较大干扰。
S102B、电子设备根据第一采样数据、第二采样数据、该第一频点的干扰等级和该第二频点的干扰等级,确定用户在触控屏上的触控位置。
可选的,上述S102B可以通过下述的(1)至(3)任意一项实现。
(1)若第一频点的干扰等级高于第二频点的干扰等级,则电子设备根据第一采样数据,确定用户在触控屏上的触控位置。
需要说明的是,由于频点的干扰等级越高,按照该频点获取的采样数据受干扰的程度越小,因此电子设备根据该频点获取的采样数据,可以更为精准地确定用户的触控位置,即根据该频点获取的采样数据确定的触控位置的可靠性更高。
示例性的,以上述表2为例进行示例性说明。若第一频点的干扰等级为A,第二频点的干扰等级为B,即第一频点的干扰等级高于第二频点的干扰等级,则电子设备根据第一采样数据,确定触控位置;若第一频点的干扰等级为B,第二频点的干扰等级为C,即第一频点的干扰等级高于第二频点的干扰等级,则电子设备根据第一采样数据,确定触控位置。
(2)若第一频点的干扰等级低于第二频点的干扰等级,则电子设备根据述第二采样数据,确定用户在触控屏上的触控位置。
示例性的,以上述表2为例进行示例性说明。若第一频点的干扰等级为B,第二频点的干扰等级为A,即第一频点的干扰等级低于第二频点的干扰等级,则电子设备根据第二采样数据,确定触控位置;若第一频点的干扰等级为C,第二频点的干扰等级为A,即第一频点的干扰等级低于第二频点的干扰等级,则电子设备根据第二采样数据,确定触控位置;若第一频点的干扰等级为C,第二频点的干扰等级为B,即第一频点的干扰等级低于第二频点的干扰等级,则电子设备根据第二采样数据,确定触控位置。
(3)若第一频点的干扰等级等于第二频点的干扰等级,则电子设备根据第一采样数据和/或第二采样数据,确定触控位置。
本发明实施例中,若第一频点的干扰等级等于第二频点的干扰等级,则电子设备可以根据第一采样数据,确定用户在触控屏上的触控位置;或者,根据第二采样数据,确定用户在触控屏上的触控位置;或者,根据第一采样数据和第二采样数据,确定用户在触控屏上的触控位置。
需要说明的是,频点的干扰等级越高,按照该频点获取的采样数据受干扰的程度越小;而频点的干扰等级越低,按照该频点获取的采样数据受干扰的程度越大。在第一频点的干扰等级等于第二频点的干扰等级,且第一频点的干扰等级和第二频点的干扰等级均为较高等级的情况下,由于按照较高等级的频点获取的采样数据可以更为精准地确定用户的触控位置,因此电子设备可以根据第一采样数据或第二采样数据,确定用户的触控位置;在第一频点的干扰等级等于第二频点的干扰等级,且第一频点的干扰等级和第二频点的干扰等级均为较低等级的情况下,由于仅按照一个较低等级的频点获取的采样数据无法精准地确定用户的触控位置,因此电子设备可以根据第一采样数据和第二采样数据,确定用户的触控位置。
示例性的,以上述表2为例进行示例性说明。若第一频点的干扰等级为A,第二频点的干扰等级为A,即第一频点的干扰等级等于第二频点的干扰等级,则电子设备可以根据第一采样数据或第二采样数据,确定用户的触控位置;若第一频点的干扰等级为B,第二频点的干扰等级为B,即第一频点的干扰等级等于第二频点的干扰等级,则电子设备根据第一采样数据或第二采样数据或目标采样数据(目标采样数据包括第一采样数据和第二采样数据),确定触控位置;若第一频点的干扰等级为C,第二频点的干扰等级为C,即第一频点的干扰等级等于第二频点的干扰等级,则电子设备根据第一采样数据和第二采样数据,确定用户的触控位置。
可选的,上述(3)中“根据第一采样数据和第二采样数据,确定触控位置”,具体可以通过下述(3a)、(3b)和(3c)任意一项或多项实现。
(3a)电子设备根据第一采样数据,确定第一触控区域。
(3b)电子设备根据第二采样数据,确定第二触控区域。
(3c)电子设备将该第一触控区域和该第二触控区域的重叠区域作为用户在触控屏上的触控位置。
示例性的,以上述表2为例进行示例性说明。假设第一频点的干扰等级为C,第二频点的干扰等级为C。如图5所示,电子设备根据按照第一频点获取的第一采样数据,确定第一触控区域01;并根据按照第二频点获取的第二采样数据,确定第二触控区域02。然后,电子设备可以确定第一触控区域01和该第二触控区域02的重叠区域为区域03,并将区域03作为用户的触控位置。
本发明实施例提供一种触控位置的检测方法,在电子设备的屏幕受到干扰信号的干扰的情况下,由于针对屏幕的每个采样周期,电子设备可以按照第一频点对屏幕的驱动信号采样得到第一采样数据,并按照第二频点对屏幕的驱动信号采样得到第二采样数据,以及对屏幕的干扰信号采样得到干扰采样数据,因此当用户触模屏幕时,电子设备可以根据该第一采样数据、该第二采样数据和该干扰采样数据,确定出用户在屏幕中的触控位置,从而可以避免因跳频需要一定时间所导致的调频过程中屏幕会受到干扰,因此,本发明实施例检测到的触控位置更准确。
可选的,本发明实施例提供的触控位置的检测方法可以应用于使用电源适配器为电子设备充电的过程中。结合图2,如图6所示,在S101之前,本发明实施例提供的方法还可以包括下述的S103;并且,S101可以具体通过S101A实现。在S103之后,本发明实施例提供的触控位置的检测方法还可以包括下述的S104。
S103、在检测到电源适配器与电子设备连接的情况下,电子设备获取电源适配器的标识。
可选的,上述电源适配器可以为电子设备出厂时配置的、与电子设备匹配的原装电源适配器;或者,上述电源适配器也可以不是电子设备出厂时配置的。
可以理解的是,电子设备存在固定的频点,当与电子设备连接的电源适配器不同时,电源适配器对电子设备产生的干扰不同。为了降低干扰,电子设备可以在检测到电源适配器与电子设备连接的情况下,获取该电源适配器的标识,以根据该标识判断电源适配器是否为电子设备出厂时配置的电源适配器,从而可以执行下述的S101A或S104。
S101A、在电子设备连接的电源适配器的标识和预设标识匹配的情况下,在采样周期内,电子设备按照第一频点对触控屏的驱动信号进行第一采样,按照第二频点对触控屏的驱动信号进行第二采样,并对触控屏的干扰信号进行干扰采样,获取第一采样数据、第二采样数据和干扰采样数据。
可选的,第一频点和第二频点可以为电子设备中预先设置的两个频点,即双频点。
可以理解的是,在电源适配器的标识与预设标识匹配的情况下,由于电源适配器是电子设备出厂时配置的电源适配器,因此采用该电源适配器为电子设备充电的过程中的干扰较小。如此,电子设备按照第一频点和第二频点依次对屏幕采样,确定的触控位置较为准确。
S104、在电子设备连接的电源适配器的标识和预设标识不匹配的情况下,在采样周期内,按照第三频点对触控屏的驱动信号进行第三采样,按照目标频点对触控屏的驱动信号进行第四采样,并对触控屏的干扰信号进行干扰采样。
其中,上述目标频点可以为第一频点、第二频点或第四频点。该第一频点、该第二频点、第三频点和该第四频点各不相同。
可选的,上述第三频点和目标频点可以为电子设备采用预设算法,从干扰频谱中选择的与第一频点和第二频点相比较对电子设备的触控屏的干扰较小的两个频点。
可以理解的是,在电源适配器的标识与预设标识不匹配的情况下,由于电源适配器不是电子设备出厂时配置的电源适配器,因此若仍采用第一频点和第二频点依次对屏幕采样,则确定的用户在触控屏上的触控位置不准确。如此,电子设备可以重新选择第三频点和目标频点,并按照第三频点和目标频点依次对屏幕采样,从而可以较为准确地确定出用户在触控屏上的触控位置。
需要说明的是,在执行S103和S104之后,本发明实施例提供的触控位置的检测方法还可以包括:根据按照第三频点对触控屏的驱动信号进行第三采样得到的数据,按照目标频点对触控屏的驱动信号进行第四采样得到的数据,以及对触控屏的干扰信号进行干扰采样得到的数据,确定用户在触控屏上的触控位置。对于电子设备根据按照第三频点和目标频点获取的采样数据以及干扰采样数据,确定用户在触控屏上的触控位置的具体方法,可以参照上述S101和S102中的相关描述,此处不再赘述。
本发明实施例提供的触控位置的检测方法,在电子设备检测到电源适配器与电子设备连接的情况下,由于电子设备会根据获取的该电源适配器的标识,以确定按照哪两个频点对屏幕依次进行采样,因此可以避免在该电源适配器的标识与预设标识不匹配的情况下,干扰信号对触控位置的影响,从而可以增加屏幕的抗干扰能力。
如图7所示,本发明实施例提供一种电子设备700。该电子设备可以包括采样模块701和确定模块702。其中,采样模块701,可以用于在采样周期内,分别对触控屏进行第一采样、第二采样和干扰采样,获取第一采样数据、第二采样数据和干扰采样数据。确定模块702,可以用于根据采样模块701获取的该第一采样数据、该第二采样数据和该干扰采样数据,确定触控位置。其中,该第一采样数据可以为按照第一频点对触控屏的驱动信号进行第一采样得到的数据,该第二采样数据可以为按照第二频点对触控屏的驱动信号进行第二采样得到的数据,该干扰采样数据可以为对触控屏的干扰信号进行干扰采样得到的数据。
可选的,确定模块702,具体可以用于根据干扰采样数据,确定第一频点的干扰等级和第二频点的干扰等级;并根据第一采样数据、第二采样数据、该第一频点的干扰等级和该第二频点的干扰等级,确定用户在触控屏上的触控位置。
可选的,确定模块702,具体可以用于若第一频点的干扰等级高于第二频点的干扰等级,则根据第一采样数据,确定用户在触控屏上的触控位置。
可选的,确定模块702,具体可以用于若第一频点的干扰等级低于第二频点的干扰等级,则根据第二采样数据,确定用户在触控屏上的触控位置。
可选的,确定模块702,具体可以用于若第一频点的干扰等级等于第二频点的干扰等级,则根据第一采样数据和/或第二采样数据,确定用户在触控屏上的触控位置。
可选的,确定模块702,具体可以用于根据第一采样数据,确定第一触控区域;并根据第二采样数据,确定第二触控区域;以及将该第一触控区域和该第二触控区域的重叠区域作为用户在触控屏上的触控位置。
可选的,采样模块701,具体可以用于在电子设备连接的电源适配器的标识和预设标识匹配的情况下,在采样周期内,按照第一频点对触控屏的驱动信号进行第一采样,按照第二频点对触控屏的驱动信号进行第二采样,并对触控屏的干扰信号进行干扰采样。
可选的,采样模块701,还可以用于还用于在电子设备连接的电源适配器的标识和预设标识不匹配的情况下,在采样周期内,按照第三频点对触控屏的驱动信号进行第三采样,按照目标频点对触控屏的驱动信号进行第四采样,并对触控屏的干扰信号进行干扰采样。其中,该目标频点可以为该第一频点、该第二频点或第四频点,该第一频点、该第二频点、该第三频点和该第四频点可以各不相同。
本发明实施例提供的电子设备能够实现上述方法实施例中电子设备实现的各个过程,为避免重复,这里不再赘述。
本发明实施例提供一种电子设备,在电子设备的屏幕受到干扰信号的干扰的情况下,由于针对屏幕的每个采样周期,电子设备可以按照第一频点对屏幕的驱动信号采样得到第一采样数据,并按照第二频点对屏幕的驱动信号采样得到第二采样数据,以及对屏幕的干扰信号采样得到干扰采样数据,因此当用户触模屏幕时,电子设备可以根据该第一采样数据、该第二采样数据和该干扰采样数据,确定出用户在屏幕中的触控位置,从而可以避免因跳频需要一定时间所导致的调频过程中屏幕会受到干扰,因此,本发明实施例提供的电子设备检测到的触控位置更准确。
图8为实现本发明各个实施例的一种电子设备的硬件结构示意图。该电子设备可以为终端设备,例如手机。如图8所示,该电子设备200包括但不限于:射频单元201、网络模块202、音频输出单元203、输入单元204、传感器205、显示单元206、用户输入单元207、接口单元208、存储器209、处理器210、以及电源211等部件。本领域技术人员可以理解,图8中示出的电子设备结构并不构成对电子设备的限定,电子设备可以包括比图示更多或更少的部件,或者组合某些部件,或者不同的部件布置。在本发明实施例中,电子设备包括但不限于手机、平板电脑、笔记本电脑、掌上电脑、车载电子设备、可穿戴设备、以及计步器等。
其中,处理器210,用于在采样周期内,分别对触控屏进行第一采样、第二采样和干扰采样,获取第一采样数据、第二采样数据和干扰采样数据;以及根据该第一采样数据、该第二采样数据和该干扰采样数据,确定用户在触控屏上的触控位置。其中,该第一采样数据为按照第一频点对触控屏的驱动信号进行第一采样得到的数据,该第二采样数据为按照第二频点对触控屏的驱动信号进行第二采样得到的数据,该干扰采样数据为对触控屏的干扰信号进行干扰采样得到的数据。
本发明实施例提供一种电子设备,在电子设备的屏幕受到干扰信号的干扰的情况下,由于针对屏幕的每个采样周期,电子设备可以按照第一频点对屏幕的驱动信号采样得到第一采样数据,并按照第二频点对屏幕的驱动信号采样得到第二采样数据,以及对屏幕的干扰信号采样得到干扰采样数据,因此当用户触模屏幕时,电子设备可以根据该第一采样数据、该第二采样数据和该干扰采样数据,确定出用户在屏幕中的触控位置,从而可以避免因跳频需要一定时间所导致的调频过程中屏幕会受到干扰,因此,本发明实施例提供的电子设备检测到的触控位置更准确。
应理解的是,本发明实施例中,射频单元201可用于收发信息或通话过程中,信号的接收和发送,具体的,将来自基站的下行数据接收后,给处理器210处理;另外,将上行的数据发送给基站。通常,射频单元201包括但不限于天线、至少一个放大器、收发信机、耦合器、低噪声放大器、双工器等。此外,射频单元201还可以通过无线通信系统与网络和其他设备通信。
电子设备200通过网络模块202为用户提供了无线的宽带互联网访问,如帮助用户收发电子邮件、浏览网页和访问流式媒体等。
音频输出单元203可以将射频单元201或网络模块202接收的或者在存储器209中存储的音频数据转换成音频信号并且输出为声音。而且,音频输出单元203还可以提供与电子设备200执行的特定功能相关的音频输出(例如,呼叫信号接收声音、消息接收声音等等)。音频输出单元203包括扬声器、蜂鸣器以及受话器等。
输入单元204用于接收音频或视频信号。输入单元204可以包括图形处理器(graphics processing unit,GPU)2041和麦克风2042,图形处理器2041对在视频捕获模式或图像捕获模式中由图像捕获装置(如摄像头)获得的静态图片或视频的图像数据进行处理。处理后的图像帧可以显示在显示单元206上。经图形处理器2041处理后的图像帧可以存储在存储器209(或其它存储介质)中或者经由射频单元201或网络模块202进行发送。麦克风2042可以接收声音,并且能够将这样的声音处理为音频数据。处理后的音频数据可以在电话通话模式的情况下转换为可经由射频单元201发送到移动通信基站的格式输出。
电子设备200还包括至少一种传感器205,比如光传感器、运动传感器以及其他传感器。具体地,光传感器包括环境光传感器及接近传感器,其中,环境光传感器可根据环境光线的明暗来调节显示面板2061的亮度,接近传感器可在电子设备200移动到耳边时,关闭显示面板2061和/或背光。作为运动传感器的一种,加速计传感器可检测各个方向上(一般为三轴)加速度的大小,静止时可检测出重力的大小及方向,可用于识别电子设备姿态(比如横竖屏切换、相关游戏、磁力计姿态校准)、振动识别相关功能(比如计步器、敲击)等;传感器205还可以包括指纹传感器、压力传感器、虹膜传感器、分子传感器、陀螺仪、气压计、湿度计、温度计、红外线传感器等,在此不再赘述。
显示单元206用于显示由用户输入的信息或提供给用户的信息。显示单元206可包括显示面板2061,可以采用液晶显示器(liquid crystal display,LCD)、有机发光二极管(organic light-emitting diode,OLED)等形式来配置显示面板2061。
用户输入单元207可用于接收输入的数字或字符信息,以及产生与电子设备的用户设置以及功能控制有关的键信号输入。具体地,用户输入单元207包括触控面板2071以及其他输入设备2072。触控面板2071,也称为触摸屏,可收集用户在其上或附近的触摸操作(比如用户使用手指、触笔等任何适合的物体或附件在触控面板2071上或在触控面板2071附近的操作)。触控面板2071可包括触摸检测装置和触摸控制器两个部分。其中,触摸检测装置检测用户的触摸方位,并检测触摸操作带来的信号,将信号传送给触摸控制器;触摸控制器从触摸检测装置上接收触摸信息,并将它转换成触点坐标,再送给处理器210,接收处理器210发来的命令并加以执行。此外,可以采用电阻式、电容式、红外线以及表面声波等多种类型实现触控面板2071。除了触控面板2071,用户输入单元207还可以包括其他输入设备2072。具体地,其他输入设备2072可以包括但不限于物理键盘、功能键(比如音量控制按键、开关按键等)、轨迹球、鼠标、操作杆,在此不再赘述。
进一步的,触控面板2071可覆盖在显示面板2061上,当触控面板2071检测到在其上或附近的触摸操作后,传送给处理器210以确定触摸事件的类型,随后处理器210根据触摸事件的类型在显示面板2061上提供相应的视觉输出。虽然在图8中,触控面板2071与显示面板2061是作为两个独立的部件来实现电子设备的输入和输出功能,但是在某些实施例中,可以将触控面板2071与显示面板2061集成而实现电子设备的输入和输出功能,具体此处不做限定。
接口单元208为外部装置与电子设备200连接的接口。例如,外部装置可以包括有线或无线头戴式耳机端口、外部电源(或电池充电器)端口、有线或无线数据端口、存储卡端口、用于连接具有识别模块的装置的端口、音频输入/输出(I/O)端口、视频I/O端口、耳机端口等等。接口单元208可以用于接收来自外部装置的输入(例如,数据信息、电力等等)并且将接收到的输入传输到电子设备200内的一个或多个元件或者可以用于在电子设备200和外部装置之间传输数据。
存储器209可用于存储软件程序以及各种数据。存储器209可主要包括存储程序区和存储数据区,其中,存储程序区可存储操作系统、至少一个功能所需的应用程序(比如声音播放功能、图像播放功能等)等;存储数据区可存储根据手机的使用所创建的数据(比如音频数据、电话本等)等。此外,存储器209可以包括高速随机存取存储器,还可以包括非易失性存储器,例如至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他易失性固态存储器件。
处理器210是电子设备的控制中心,利用各种接口和线路连接整个电子设备的各个部分,通过运行或执行存储在存储器209内的软件程序和/或模块,以及调用存储在存储器209内的数据,执行电子设备的各种功能和处理数据,从而对电子设备进行整体监控。处理器210可包括一个或多个处理单元;可选的,处理器210可集成应用处理器和调制解调处理器,其中,应用处理器主要处理操作系统、用户界面和应用程序等,调制解调处理器主要处理无线通信。可以理解的是,上述调制解调处理器也可以不集成到处理器210中。
电子设备200还可以包括给各个部件供电的电源211(比如电池),可选的,电源211可以通过电源管理系统与处理器210逻辑相连,从而通过电源管理系统实现管理充电、放电、以及功耗管理等功能。
另外,电子设备200包括一些未示出的功能模块,在此不再赘述。
可选的,本发明实施例还提供一种电子设备,包括如图8所示的处理器210,存储器209,存储在存储器209上并可在处理器210上运行的计算机程序,该计算机程序被处理器210执行时实现上述方法实施例的各个过程,且能达到相同的技术效果,为避免重复,这里不再赘述。
本发明实施例还提供一种计算机可读存储介质,计算机可读存储介质上存储有计算机程序,该计算机程序被处理器执行时实现上述方法实施例的各个过程,且能达到相同的技术效果,为避免重复,这里不再赘述。其中,计算机可读存储介质,如只读存储器(read-only memory,ROM)、随机存取存储器(random access memory,RAM)、磁碟或者光盘等。
需要说明的是,在本文中,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者装置不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者装置所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者装置中还存在另外的相同要素。
通过以上的实施方式的描述,本领域的技术人员可以清楚地了解到上述实施例方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现,当然也可以通过硬件,但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解,本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品存储在一个存储介质(如ROM/RAM、磁碟、光盘)中,包括若干指令用以使得一台电子设备(可以是手机,计算机,服务器,空调器,或者网络设备等)执行本发明各个实施例描述的方法。
上面结合附图对本发明的实施例进行了描述,但是本发明并不局限于上述的具体实施方式,上述的具体实施方式仅仅是示意性的,而不是限制性的,本领域的普通技术人员在本发明的启示下,在不脱离本发明宗旨和权利要求所保护的范围情况下,还可做出很多形式,均属于本发明的保护之内。
Claims (10)
1.一种触控位置的检测方法,其特征在于,所述方法包括:
在采样周期内,分别对触控屏进行第一采样、第二采样和干扰采样,获取第一采样数据、第二采样数据和干扰采样数据;
根据所述第一采样数据、所述第二采样数据和所述干扰采样数据,确定用户在所述触控屏上的触控位置;
其中,所述第一采样数据为按照第一频点对所述触控屏的驱动信号进行第一采样得到的数据,所述第二采样数据为按照第二频点对所述触控屏的驱动信号进行第二采样得到的数据,所述干扰采样数据为对所述触控屏的干扰信号进行干扰采样得到的数据。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述第一采样数据、所述第二采样数据和所述干扰采样数据,确定用户在所述触控屏上的触控位置,包括:
根据所述干扰采样数据,确定所述第一频点的干扰等级和所述第二频点的干扰等级;
根据所述第一采样数据、所述第二采样数据、所述第一频点的干扰等级和所述第二频点的干扰等级,确定用户在所述触控屏上的所述触控位置。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据所述第一采样数据、所述第二采样数据、所述第一频点的干扰等级和所述第二频点的干扰等级,确定用户在所述触控屏上的所述触控位置,包括:
若所述第一频点的干扰等级高于所述第二频点的干扰等级,则根据所述第一采样数据,确定用户在所述触控屏上的所述触控位置;
若所述第一频点的干扰等级低于所述第二频点的干扰等级,则根据所述第二采样数据,确定用户在所述触控屏上的所述触控位置;
若所述第一频点的干扰等级等于所述第二频点的干扰等级,则根据所述第一采样数据和/或所述第二采样数据,确定用户在所述触控屏上的所述触控位置。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,根据所述第一采样数据和所述第二采样数据,确定用户在所述触控屏上的所述触控位置,包括:
根据所述第一采样数据,确定第一触控区域;
根据所述第二采样数据,确定第二触控区域;
将所述第一触控区域和所述第二触控区域的重叠区域作为用户在所述触控屏上的所述触控位置。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的方法,其特征在于,所述在采样周期内,分别对触控屏进行第一采样、第二采样和干扰采样,包括:
在电子设备连接的电源适配器的标识和预设标识匹配的情况下,在采样周期内,按照所述第一频点对所述触控屏的驱动信号进行第一采样,按照所述第二频点对所述触控屏的驱动信号进行第二采样,并对所述触控屏的干扰信号进行干扰采样;
所述方法还包括:
在电子设备连接的电源适配器的标识和预设标识不匹配的情况下,在采样周期内,按照第三频点对所述触控屏的驱动信号进行第三采样,按照目标频点对所述触控屏的驱动信号进行第四采样,并对所述触控屏的干扰信号进行干扰采样;
其中,所述目标频点为所述第一频点、所述第二频点或第四频点,所述第一频点、所述第二频点、所述第三频点和所述第四频点各不相同。
6.一种电子设备,其特征在于,所述电子设备包括采样模块和确定模块;
所述采样模块,用于在采样周期内,分别对触控屏进行第一采样、第二采样和干扰采样,获取第一采样数据、第二采样数据和干扰采样数据;
所述确定模块,用于根据所述采样模块获取的所述第一采样数据、所述第二采样数据和所述干扰采样数据,确定用户在所述触控屏上的触控位置;
其中,所述第一采样数据为按照第一频点对所述触控屏的驱动信号进行第一采样得到的数据,所述第二采样数据为按照第二频点对所述触控屏的驱动信号进行第二采样得到的数据,所述干扰采样数据为对所述触控屏的干扰信号进行干扰采样得到的数据。
7.根据权利要求6所述的电子设备,其特征在于,所述确定模块,具体用于根据所述干扰采样数据,确定所述第一频点的干扰等级和所述第二频点的干扰等级;并根据所述第一采样数据、所述第二采样数据、所述第一频点的干扰等级和所述第二频点的干扰等级,确定用户在所述触控屏上的所述触控位置。
8.根据权利要求7所述的电子设备,其特征在于,所述确定模块,具体用于若所述第一频点的干扰等级高于所述第二频点的干扰等级,则根据所述第一采样数据,确定用户在所述触控屏上的所述触控位置;
所述确定模块,具体用于若所述第一频点的干扰等级低于所述第二频点的干扰等级,则根据所述第二采样数据,确定用户在所述触控屏上的所述触控位置;
所述确定模块,具体用于若所述第一频点的干扰等级等于所述第二频点的干扰等级,则根据所述第一采样数据和/或所述第二采样数据,确定用户在所述触控屏上的所述触控位置。
9.一种电子设备,其特征在于,包括处理器、存储器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序,所述计算机程序被所述处理器执行时实现如权利要求1至5中任一项所述的触控位置的检测方法的步骤。
10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质上存储计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至5中任一项所述的触控位置的检测方法的步骤。
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