CN110847898A - 一种建立双介质储层分类标准的方法 - Google Patents
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Abstract
本申请提供了一种建立双介质储层分类标准的方法,包括:将研究区内测试的储层按照产能由大到小的顺序划分为M个等级;获取每个产能等级的储层在坐标系中的特征点集合;根据特征点集合建立储层产能大小—储层孔隙度—裂缝测井响应综合指数交汇图版;根据交汇图版分别确定每个产能等级的储层的储层孔隙度阈值和裂缝测井响应综合指数阈值,并通过储层孔隙度阈值获得对应的储层渗透率阈值;根据每个产能等级的储层的储层孔隙度阈值、裂缝测井响应综合指数阈值和储层渗透率阈值对目标双介质储层进行分类。方法解决了裂缝难以表征发育程度对储层影响大小的问题,通过与产能紧密结合,更客观地反应了储层质量和级别。
Description
技术领域
本发明涉及油气勘探开发技术领域,并且更具体地,涉及一种建立双介质储层分类标准的方法。
背景技术
随着油气勘探开发程度的提高,有裂缝发育的致密复杂储层日益成为重要的研究目标。在该类储层中,裂缝往往既可以是油气的储集空间,又是油气渗流的重要通道,因此裂缝的发育程度对储层的储集性能和产能大小具有重大的影响。调研发现,裂缝的定量评价主要是指各类裂缝参数的确定和计算,主要包括裂缝孔隙度、裂缝渗透率、裂缝密度、裂缝张开度、裂缝宽度等,这些参数从不同角度反映出裂缝的发育特征和程度。在储层评价中的裂缝评价中往往是综合利用多个参数从不同的方面一起说明裂缝对储层的影响大小。
在裂缝发育的双介质储层的评价中裂缝因素鲜有定量参数参与,偶见根据成像数据计算的裂缝孔隙度和裂缝渗透率等参与储层评价,但参数越多储层评价标准的研究和确定越困难,因此需要一个综合参数来定量反映裂缝对储层的影响大小。
然而,由于储层分类标准一般依据储层物性结合沉积相进行分类,分类参数也主要是根据孔隙度和渗透率数据,有些精细分类会参考储层微观参数,如孔喉数据等,却并未见到裂缝发育综合参数参与到储层分类评价中,并少有依据产能分级的储层分类方法。
发明内容
针对上述现有技术中的问题,本申请提出了一种建立双介质储层分类标准的方法,包括以下步骤:步骤1,将研究区内的测试的储层按照产能由大到小的顺序划分为M个等级,其中,M为大于2的正整数;步骤2,获取每个产能等级的储层在坐标系中的特征点集合,该特征点的横坐标和纵坐标分别为储层所对应的储层孔隙度和用于反映裂缝发育程度的裂缝测井响应综合指数;步骤3,根据该特征点集合建立储层产能大小—储层孔隙度—裂缝测井响应综合指数交汇图版;步骤4,根据该交汇图版分别确定该每个产能等级的储层的储层孔隙度阈值和裂缝测井响应综合指数阈值,并通过该储层孔隙度阈值获得对应的储层渗透率阈值;步骤5,根据该每个产能等级的储层的储层孔隙度阈值、裂缝测井响应综合指数阈值和储层渗透率阈值对目标双介质储层进行分类。
在一个实施方式中,步骤2具体包括:步骤21,根据测井专业计算的单井储层物性参数,获取第i产能等级的每个储层所对应的储层孔隙度,其中,i为小于或等于M的正整数;步骤22,计算该第i产能等级的每个储层的裂缝响应综合指数;步骤23,分别将该储层孔隙度和该裂缝响应综合指数作为横坐标和纵坐标,形成该第i产能等级的每个储层在坐标系中的特征点。
在一个实施方式中,步骤22包括:步骤221,将研究目标层的裂缝分为低角度裂缝和高角度裂缝两种类型,其中根据裂缝产状,该低角度裂缝为倾角小于45°的裂缝,该高角度裂缝为倾角大于或等于45°的裂缝;步骤222,利用该研究目标层的岩芯、成像和常规测井曲线来识别低角度裂缝测井响应特征和高角度裂缝测井响应特征;步骤223,基于低角度裂缝测井响应特征和高角度裂缝测井响应特征建立裂缝测井响应识别模式;步骤224,根据裂缝测井响应识别模式,通过叠加放大裂缝测井响应信息来建立反映裂缝孔隙性和渗透性的裂缝测井响应综合指数模型;步骤225,对该裂缝测井响应综合指数模型进行校正,使其精度满足预设条件。
在一个实施方式中,S222包括以下步骤;S2221,利用岩心、成像资料来刻度常规测井曲线,从中确定对裂缝响应敏感的测井曲线,该对裂缝响应敏感的测井曲线包括声波曲线、密度曲线、深侧向电阻率曲线和浅侧向电阻率曲线;S2222,将声波曲线和密度曲线分别转换为相应的声波孔隙度曲线和密度孔隙度曲线;S2223,根据声波孔隙度曲线和密度孔隙度曲线以及深侧向电阻率曲线和浅侧向电阻率曲线确定低角度裂缝测井响应特征和高角度裂缝测井响应特征。
在一个实施方式中,该裂缝测井响应综合指数模型为:
式中,Fr为裂缝测井响应综合指数,PAC为声波孔隙,PDEN为密度孔隙度,RT为深侧向电阻率,RS为浅侧向电阻率,a、k、c为待确定参数,a为声波孔隙与密度孔隙度在干层处重合的校正量;k为深侧向电阻率与浅侧向电阻率步骤的差异所反映的裂缝信息的放大倍数;c为声波孔隙度与密度孔隙度经干层重叠校正后的差值的放大倍数。
在一个实施方式中,在步骤4中,该“通过该储层孔隙度阈值获得对应的储层渗透率阈值”包括:结合该单井储层物性参数的计算结果,根据每个产能等级的储层的储层孔隙度阈值,匹配出对应的储层渗透率阈值。
在一个实施方式中,在步骤1之前,该方法还包括:步骤11,确定该研究区内进行了测试的该多个测试井;步骤12,确定该多个测试井中每个测试井的测试深度段,其中,所述测试深度段所对应的储层为所述测试的储层。
在一个实施方式中,M=3。
在一个实施方式中,步骤5包括:步骤51,确定目标双介质储层的目标储层孔隙度、目标储层渗透率和目标裂缝测井响应综合指数;步骤52,根据该每个产能等级的储层的储层孔隙度阈值、裂缝测井响应综合指数阈值和储层渗透率阈值,判断该目标双介质储层的产能层等级。
在一个实施方式中,当第i产能等级的储层的裂缝发育综合指数为单向阈值时,该第i产能等级的储层的储层渗透率为同向的单向阈值,且该第i产能等级的储层的储层渗透率为该第i产能等级的储层的最小孔隙度所对应的储层渗透率,其中,i为小于或等于M的正整数。
本申请在研究计算出能够用以定量刻画裂缝对储层的储集能力和渗流能力大小的裂缝测井响应综合指数的基础上,在双介质储层开发中,结合产能大小,形成了一种建立双介质储层分类标准的方法,具有如下的有益效果:
(1)解决了裂缝难以表征裂缝发育程度对储层影响大小的难题,为双介质的储层评价奠定重要基础;
(2)本发明与储层产能大小紧密结合,更客观的反应了储层质量和级别;
(3)本发明的应用前景广阔,其方法步骤可以很方便的推广应用到各种地层的勘探开发中。
上述技术特征可以各种适合的方式组合或由等效的技术特征来替代,只要能够达到本发明的目的。
附图说明
在下文中将基于实施例并参考附图来对本发明进行更详细的描述。其中:
图1显示了根据本发明实施例的建立双介质储层分类标准的方法的示意性流程图;
图2显示了根据本发明又一个实施例的储层产能大小—储层孔隙度—裂缝测井响应综合指数交汇图版。
在附图中,相同的部件使用相同的附图标记。附图并未按照实际的比例。
具体实施方式
下面将结合附图对本发明作进一步说明。
图1为本申请提出的一种建立双介质储层分类标准的方法100的示意性流程图。如图1所示,该方法100包括:
S110,将研究区内测试的储层层按照产能由大到小的顺序划分为M个等级,其中,M为大于2的正整数;
S120,获取每个产能等级的储层在坐标系中的特征点集合,该特征点的横坐标和纵坐标分别为储层所对应的储层孔隙度和用于反映裂缝发育程度的裂缝测井响应综合指数;
S130,根据该特征点集合建立储层产能大小—储层孔隙度—裂缝测井响应综合指数交汇图版;
S140,根据该交汇图版分别确定该每个产能等级的储层的储层孔隙度阈值和裂缝测井响应综合指数阈值,并通过该储层孔隙度阈值获得对应的储层渗透率阈值;
S150,根据该每个产能等级的储层的储层孔隙度阈值、裂缝测井响应综合指数阈值和储层渗透率阈值对目标双介质储层进行分类。
在S110中,需要对测试井的储层进行产能分级。S110可以分为以下一个步骤进行:
S111,确定双介质储层研究区内的每个测试井,即需要先确定研究区内每个需要进行测试的井,明确每个测试井的测试段和测试结论。具体地,在双介质储层的研究区内存在多个钻井,但不是每一个井都进行测试,然后根据收集的研究区资料,确定具体哪些井进行了测试。
S112,确定这多个测试井中的每个测试井进行测试的测试深度段。具体地,根据收集的研究区资料,确定每个测试井的测试位置,即进行了测试的深度段。根据测试的数据,明确每口井每个测试段的测试结论,即该测试段测试产出的流体的多少。
S113,根据上述产能结果,将这多个测试井的测试的储层按照产能由大到小的顺序划分为M个等级。例如,根据测试井的测试产能将储层分为第一产能等级储层、第二产能等级储层…第M产能等级储层,这些产能层的产能依次减小。其中,相邻两个产能等级储层之间存在产能阈值,例如,第一产能等级储层为产出流体量大于n1的储层,第二产能等级储层为储层产出流体量小于n1而大于n2的储层…第M产能等级储层为产出流体量小于nM的储层。
在S120中,特征点集合为多个测试井中的每个测试井对应测试深度段储层的特征点集合。具体地,每个测试井对应测试深度段储层对应了一种产能层等级,其具有一个特征参数对,该特征参数对包括每个测试井对应测试深度段储层的储层孔隙度和裂缝测井响应综合指数,其中,裂缝测井响应综合指数用于反映裂缝发育程度,即表征裂缝因素对储层的影响,值越大,则裂缝发育越好。将第i产能等级储层的每个储的储层孔隙度和裂缝测井响应综合指数分别作为横坐标和纵坐标,形成第i产能等级储层的每个储层的在坐标系中的特征点,其中,i为小于或等于M的整数。
应理解,测试井测试深度段对应储层的储层孔隙度可以通过测井专业计算的单井储层物项参数提供。
在S120中,每个产能等级储层的裂缝测井响应综合指数可以通过如下的步骤来计算:
S121,将研究目标层的裂缝分为低角度裂缝和高角度裂缝两种类型,该研究目标层即为每个测试井测试深度段所对应的储层。
根据研究目标层的裂缝产状,可以将裂缝分为低角度裂缝和高角度裂缝两种类型。由于受测井测量原理的影响,不同产状的裂缝的测井响应特征会各不相同,因此为了能够更加充分地分析裂缝测井响应特征和提取裂缝测井响应信息,在此特将研究目标层的裂缝分为低角度裂缝和高角度裂缝两种类型。当裂缝的倾角小于给定的角度阈值时为低角度裂缝,当裂缝的倾角大于等于给定的角度阈值时为高角度裂缝。在本实施例中,给定的角度阈值为45°。换言之,倾角小于45°的裂缝为低角度裂缝,倾角大于等于45°的裂缝为高角度裂缝。
在此需要说明的是,储层裂缝的发育形态往往非常复杂,例如会出现多条裂缝或者不同产状的裂缝交织发育在一起而构成网状裂缝的现象。对于类似这种网状裂缝的情况,当裂缝以高角度裂缝发育为主(超过一定百分比)时,技术人员会视其为高角度裂缝,反之为低角度裂缝。
S122,利用研究目标层的岩芯、成像和常规测井曲线来识别低角度裂缝测井响应特征和高角度裂缝测井响应特征。该步骤又可以分为以下小步骤:
S1221,利用岩心、成像资料来刻度常规测井曲线,从中确定对裂缝响应敏感的测井曲线。
利用岩心、成像资料来刻度常规测井曲线是指将有裂缝发育的岩心和裂缝发育段的成像数据以同样的深度对应到常规测井曲线上。所述常规测井曲线通常包括以下九条曲线:主要反映岩性信息的GR曲线;反映地层渗透性的SP曲线;反映地层孔隙度大小的声波AC曲线、密度DEN曲线、中子CNL曲线;反映地层电阻率的深侧向电阻率RT、浅侧向电阻率RS和微球聚焦RSMF曲线。通过初步分析这些曲线的响应特征可以发现对裂缝响应最为敏感的是声波AC曲线、密度DEN曲线、深侧向电阻率RT曲线和浅侧向电阻率RS曲线。
在此需要说明的是,岩心是地下地层特征最真实的反映,成像测井垂向分辨率高,显示直观,不仅能够揭示裂缝产状、发育程度,还能够提供裂缝方向、发育规律等信息,因此利用岩心、成像资料来识别裂缝是目前分辨率最高、最有效的技术手段。然而,由于受成本限制,不可能对每口井都取芯和成像,因此本发明需要基于有限的岩心、成像资料和常规测井曲线推广出适用于整个研究目标层的裂缝识别模式。
S1222,将声波AC曲线和密度DEN曲线分别转换为相应的声波孔隙度PAC曲线和密度孔隙度PDEN曲线。
由于裂缝发育的储层往往致密低渗,因此其测井曲线主要反映岩石骨架信息,孔隙信息普遍很弱。为了提高孔隙的响应信息,本发明提出将声波AC曲线和密度DEN曲线按照理想模型(例如下面的威力时间公式)分别转换为相应的声波孔隙度PAC曲线和密度孔隙度PDEN曲线。这在一定程度上剥离了岩性信息,同时更加突出了孔隙信息,便于后续分析和提取裂缝响应特征。
式中:ACma是纯岩石地层声波骨架值180,ACf是纯岩石地层空隙中全为水时的声波值620,DENma是纯岩石地层密度骨架值2.65,DENf是纯岩石地层孔隙中全为水时的密度值1。
S1223,根据声波孔隙度PAC曲线和密度孔隙度PDEN曲线以及深侧向电阻率RT曲线和浅侧向电阻率RS曲线确定低角度裂缝测井响应特征和高角度裂缝测井响应特征。
经过一定数量的岩心、成像资料刻度常规测井曲线,发现:低角度裂缝具有声波孔隙度PAC增大、深侧向和浅侧向电阻率(也称双侧向电阻率)降低且重合的特征,高角度裂缝具有声波孔隙度PAC和密度孔隙度PDEN均有增大、深侧向和浅侧向电阻率(也称双侧向电阻率)降低且具有收敛性正差异的特征。
如此,利用研究目标层的岩芯、成像和常规测井曲线就获得了低角度裂缝测井响应特征和高角度裂缝测井响应特征。
然而,为了进一步提高后续裂缝测井响应综合指数模型以及分析结果的精度,本发明提出在上述步骤的基础上进一步采用三孔隙度重叠法(参见专利申请CN104977617A)来识别裂缝测井响应特征。即,所述步骤S2还包括以下小步骤:
S1224,将声波孔隙度PAC曲线和密度孔隙度PDEN曲线以及常规测井曲线中的中子CNL曲线放入同样的刻度空间中,
S1225,以中子CNL曲线为参考曲线,分别调节声波孔隙度PAC曲线和密度孔隙度PDEN曲线的左右刻度值,使这两条曲线在干层处与中子CNL曲线重合;
S1226,根据与中子CNL曲线重合的声波孔隙度PAC曲线和密度孔隙度PDEN曲线确定低角度裂缝测井响应特征和高角度裂缝测井响应特征。
通过分析与中子CNL曲线重合的声波孔隙度PAC曲线和密度孔隙度PDEN曲线,发现:低角度裂缝发育的地层具有声波孔隙度曲线高于密度孔隙度曲线的特征;高角度裂缝发育的地层具有密度孔隙度曲线高于声波孔隙度曲线的特征。
在此需要说明的是,干层是指成像中表现为高亮白的深度位置的地层,或者在双侧向电阻率曲线中表现为高阻且重合的深度位置的地层。“高亮白”和“高阻”,其取值范围可以由本领域技术人员根据实际情况来定义。
S123,基于低角度裂缝测井响应特征和高角度裂缝测井响应特征建立如表1所示的裂缝测井响应识别模式。
表1裂缝类型和测井特征的对应关系
S124,根据裂缝测井响应识别模式,通过叠加放大裂缝测井响应信息来建立反映裂缝孔隙性和渗透性的裂缝测井响应综合指数模型。
依据步骤S123中建立的适用于整个研究目标层的裂缝识别模式,通过数学方法叠加放大所有裂缝测井响应信息来建立裂缝测井响应综合指数模型。所述裂缝测井响应综合指数Fr的值能够定量表征裂缝对储层的影响大小。
步骤S123中的裂缝识别模式主要是基于孔隙度曲线和双侧向电阻率曲线的信息,因此形成的裂缝测井响应综合指数模型为:
式中:a、k、c为待确定常数,a为声波孔隙度PAC与密度孔隙度PDEN在干层处重合的校正量;k为深侧向电阻率RT与浅侧向电阻率RS的差异所反映的裂缝信息的放大倍数;c为声波孔隙度PAC与密度孔隙度PDEN经干层重叠校正后差值的放大倍数。
下面逐步确定模型中的待确定参数a、k、c。
在上述模型中(PAC-PDEN-a)是孔隙度重叠效应后裂缝因素的刻度,通过重叠可以消除掉地层骨架和部分流体的影响因素,从而提高孔隙度曲线反映裂缝信息的程度。(RT-RS)/RS则是双侧向电阻率曲线对裂缝因素的刻度。
a值为声波孔隙度PAC与密度孔隙度PDEN在干层处重合的校正量,也即步骤S2.5中“分别调节声波孔隙度曲线、密度孔隙度曲线的左右刻度值,使上述两曲线在干层处与中子CNL曲线重合”中两条孔隙度曲线刻度值的调整量差值的绝对值。
k值为双侧向电阻率曲线反映裂缝信息的放大倍数,其取值要使(RT-RS)/RS值放大到大于1的程度。k在一个研究区内是一个固定的值,一般为10的幂次方,具体几次方取决于地层电阻率的大小。
c值是放大孔隙度差异的倍数,其取值要使仅仅发育低角度裂缝的储层以及高、低角度裂缝均有发育的储层的Fr值控制在一个数量级内,因此c在一个研究区内也是一个固定值。
上述待确定参数a、k、c的设置会导致裂缝测井响应综合指数模型及其结果存在一定的偏差,因此还需要根据实际勘探数据对裂缝测井响应综合指数模型进行校正。
S125,对裂缝测井响应综合指数模型进行校正,使其精度满足预设条件。
在步骤S123中的裂缝识别模式中,无论利用孔隙度的差异还是利用双侧向电阻率的差异来反映裂缝,归根结底反映的都是裂缝对地层孔隙度和渗透率的影响的大侠,因此本发明优选利用成像中最能反映单条裂缝孔隙性和渗透性的裂缝宽度与反映裂缝发育多少的裂缝密度的乘积对裂缝测井响应综合指数模型及其计算结果进行校正。具体实施时可以按照以下步骤进行:
选取一定数量的对储层有效的裂缝(即VD>0)发育位置的点,做Fr与VD交会图,在交会图中对Fr与VD进行拟合,确定二者之间的相关参数R。若相关参数R未达到给定阈值,调整裂缝测井响应综合指数模型中的待确定参数,尤其是关键的待定参数c,然后重新计算裂缝测井响应综合指数Fr并重新计算Fr与VD之间的相关系数R,直至相关系数R达到预先给定的阈值。在实际应用中,此阈值通常不小于0.7。在图2所示的实施例中,该阈值为0.7,最终待定参数c为2.2。换言之,当指数模型的计算结果与成像测井的计算结果的相关系数R大于等于0.7时,此时的模型为最终的裂缝测井响应综合指数模型。
如此最终获得了满足一定精度条件的裂缝测井响应综合指数模型,而其计算结果裂缝测井响应综合指数体现了裂缝对储层影响的大小。
通过S120,能够获得多个储层的全部特征点的集合,其中,同一产能等级的储层的特征点在坐标系中应当彼此靠近。
在S130中,通过在S120中获得的多个储层的特征点集合,建立储层产能大小—储层孔隙度—裂缝测井响应综合指数交汇图版。具体地,将第i产能等级的每个储层(i为小于或等于M的整数)的特征点在坐标系中标出,其中,例如将第一产能等级储层的特征点以三角形图例标出,将第二产能等级储层的特征点以正方形图例标出…确定不同产能等级储层的特征点的分布区域以后,即可得到储层产能大小—储层孔隙度—裂缝测井响应综合指数交汇图版。
在S140中,根据得到的交汇图版,确定每个产能等级的储层的储层孔隙度阈值和裂缝测井响应综合指数阈值,从而确定储层孔隙度分布范围和裂缝测井响应综合指数分布范围。例如可以根据上述不同产能层的特征点的分布,确定边界线(如图2中的虚线),然后确定上述边界阈值,从而确定上述分布范围。然后,根据第i产能等级储层的储层孔隙度阈值,对照前期测井阶段获得的测井专业计算的单井储层物性参数计算结果,匹配出对应的储层渗透率阈值。
然而,当储层裂缝发育时,主要是改善的储层的渗流空间,即提高了储层的渗透率,因此,当第i产能等级的储层的裂缝发育综合指数为单向阈值时,所述第i产能等级的储层的储层渗透率为同向的单向阈值,且所述第i产能等级的储层的储层渗透率为所述第i产能等级的储层的最小孔隙度所对应的储层渗透率,其中,i为小于或等于M的正整数。
由此,每个产能等级储层在坐标系中均对应了一个储层孔隙度分布范围、裂缝测井响应综合指数分布范围和储层渗透率分布范围。
在S150中,根据上述分布范围对目标双介质储层进行分类。具体地,首先确定目标双介质储层的目标储层孔隙度、目标储层渗透率和目标裂缝测井响应综合指数;然后,根据所述每个产能等级储层的储层孔隙度阈值、裂缝测井响应综合指数阈值和储层渗透率阈值,判断所述目标双介质储层的产能层属性,为后续储层的开发奠定良好的基础。
在本发明的另一个实施例中,优选地,当M=3时,即将多个测试井的多个测试储层按照产能大小划分为3个等级:高产层、中产层和低产层,其中,高产层即储层产出流体量大于n1的储层,中产层即储层产出流体量小于n1而大于n2之间的储层,低产层即储层产出流体量小于n2而大于n3的储层。
通过测井计算的单相储层物性参数计算结果和Fr计算公式获取高产层、中产层和低产层的各自储层的储层孔隙度和裂缝测井响应综合指数;
将二者作为横坐标和纵坐标形成高产层、中产层和低产层在坐标系中的特征点;
在坐标系中,确定每个特征点的分布区域,其中,将高产层的多个特征点均以三角形图例标识,将中产层的多个特征点以正方形图例标识,将低产层的多个特征点以圆形图例标识,由此,形成区别了不同产能等级储层的储层产能大小—储层孔隙度—裂缝测井响应综合指数交汇图版;
根据该交汇图版,确定双介质储层的高产层、中产层和低产层的储层孔隙度分布范围和裂缝测井响应综合指数分布范围,并通过储层孔隙度分布范围匹配出储层渗透率分布范围;
根据高产层、中产层和低产层的上述参数分布范围,对双介质储层进行分类,例如,判断储层孔隙度大、储层渗透率大且裂缝发育好的储层为Ⅰ类储层(即好储层,如高产层);而Ⅱ类储层(即中等储层,如中产层)包括两种储层类型储层,其一为储层孔隙度较小而储层渗透率大、裂缝比较发育的储层,其二为储层孔隙度较大而裂缝不太发育、储层渗透率较小的储层;Ⅲ类储层(即差储层,如低产层)也包括两种类型的储层,其一为储层孔隙度小而储层渗透率大、裂缝比较发育的储层,其二为裂缝发育差、储层渗透率小而储层孔隙度大的储层,如表2所示。
表2不同储层类别的参数特征
本申请的建立双介质储层分类标准的方法已经在某气田进行了应用,取得了很好的效果。
在应用中,该气田将产气量大于8万方的储层定义为高产层,将产气量介于8万方~3万方之间的储层定义为中产层;将产气量介于3万方~1万方之间的储层定义为低产层。
在步骤S123中,该气田目的层的Fr计算公式为:
其中偏移值a每口井一个值,以干层处PAC与PDEN重合为原则。
图2示出了储层产能大小—储层孔隙度—裂缝测井响应综合指数的交汇图。根据图2中不同产能层的特征点的分布范围可知,高产层:Fr>40、por>10%;中产层:Fr>25、por>8%;低产层:Fr>0、por>6%。利用储层孔隙度por匹配出对应的储层渗透率perm的阈值。如表3所示,在该实施例中,Ⅰ类储层:Fr>40、perm>0.2md、por>10%;Ⅱ类储层:Fr>25、perm>0.15md、10%>por>8%或者40>Fr>25、0.2>perm>0.15md、por>10%;Ⅲ类储层:Fr>0、perm>0.05md、8%>por>6%或者25>Fr>0、0.15>perm>0.05md、por>8%。
表3Ⅰ、Ⅱ和Ⅲ类储层的参数特征
通过本申请的建立双介质储层分类标准的方法,能够解决裂缝难以表征裂缝发育程度对储层影响大小的难题,为双介质的储层评价奠定重要基础;本发明与储层产能大小紧密结合,更客观的反应了储层质量和级别;本发明的应用前景广阔,其方法步骤可以很方便的推广应用到各种地层的勘探开发中。
在本发明的描述中,需要理解的是,术语“上”、“下”、“底”、“顶”、“前”、“后”、“内”、“外”、“左”、“右”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本发明和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本发明的限制。
虽然在本文中参照了特定的实施方式来描述本发明,但是应该理解的是,这些实施例仅仅是本发明的原理和应用的示例。因此应该理解的是,可以对示例性的实施例进行许多修改,并且可以设计出其他的布置,只要不偏离所附权利要求所限定的本发明的精神和范围。应该理解的是,可以通过不同于原始权利要求所描述的方式来结合不同的从属权利要求和本文中所述的特征。还可以理解的是,结合单独实施例所描述的特征可以使用在其他所述实施例中。
Claims (10)
1.一种建立双介质储层分类标准的方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤1,将研究区内测试的储层按照产能由大到小的顺序划分为M个等级,其中,M为大于2的正整数;
步骤2,获取每个产能等级的储层在坐标系中的特征点集合,所述特征点的横坐标和纵坐标分别为储层所对应的储层孔隙度和用于反映裂缝发育程度的裂缝测井响应综合指数;
步骤3,根据所述特征点集合建立储层产能大小—储层孔隙度—裂缝测井响应综合指数交汇图版;
步骤4,根据所述交汇图版分别确定所述每个产能等级的储层的储层孔隙度阈值和裂缝测井响应综合指数阈值,并通过所述储层孔隙度阈值获得对应的储层渗透率阈值;
步骤5,根据所述每个产能等级的储层的储层孔隙度阈值、裂缝测井响应综合指数阈值和储层渗透率阈值对目标双介质储层进行分类。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,步骤2具体包括:
步骤21,根据测井专业计算的单井储层物性参数,获取第i产能等级的每个储层的储层孔隙度,其中,i为小于或等于M的正整数;
步骤22,计算所述第i产能等级的每个储层的裂缝响应综合指数;
步骤23,分别将所述储层孔隙度和所述裂缝响应综合指数作为横坐标和纵坐标,形成所述第i产能等级的每个储层在坐标系中的特征点。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,步骤22包括:
步骤221,将研究目标层的裂缝分为低角度裂缝和高角度裂缝两种类型,其中根据裂缝产状,所述低角度裂缝为倾角小于45°的裂缝,所述高角度裂缝为倾角大于或等于45°的裂缝;
步骤222,利用所述研究目标层的岩芯、成像和常规测井曲线来识别低角度裂缝测井响应特征和高角度裂缝测井响应特征;
步骤223,基于低角度裂缝测井响应特征和高角度裂缝测井响应特征建立裂缝测井响应识别模式;
步骤224,根据裂缝测井响应识别模式,通过叠加放大裂缝测井响应信息来建立反映裂缝孔隙性和渗透性的裂缝测井响应综合指数模型;
步骤225,对所述裂缝测井响应综合指数模型进行校正,使其精度满足预设条件。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,S222包括以下步骤;
S2221,利用岩心、成像资料来刻度常规测井曲线,从中确定对裂缝响应敏感的测井曲线,所述对裂缝响应敏感的测井曲线包括声波曲线、密度曲线、深侧向电阻率曲线和浅侧向电阻率曲线;
S2222,将声波曲线和密度曲线分别转换为相应的声波孔隙度曲线和密度孔隙度曲线;
S2223,根据声波孔隙度曲线和密度孔隙度曲线以及深侧向电阻率曲线和浅侧向电阻率曲线确定低角度裂缝测井响应特征和高角度裂缝测井响应特征。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述裂缝测井响应综合指数模型为:
式中,Fr为裂缝测井响应综合指数,PAC为声波孔隙,PDEN为密度孔隙度,RT为深侧向电阻率,RS为浅侧向电阻率,a、k、c为待确定参数,a为声波孔隙与密度孔隙度在干层处重合的校正量;k为深侧向电阻率与浅侧向电阻率步骤的差异所反映的裂缝信息的放大倍数;c为声波孔隙度与密度孔隙度经干层重叠校正后的差值的放大倍数。
6.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,在步骤4中,所述“通过所述储层孔隙度阈值获得对应的储层渗透率阈值”包括:
结合所述单井储层物性参数的计算结果,根据所述每个产能等级的储层的储层孔隙度阈值,匹配出对应的储层渗透率阈值。
7.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,在步骤1之前,所述方法还包括:
步骤11,确定所述研究区内进行了测试的所述多个测试井;
步骤12,确定所述多个测试井中每个测试井的测试深度段,其中,所述测试深度段所对应的储层为所述测试的储层。
8.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,M=3。
9.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,步骤5包括:
步骤51,确定目标双介质储层的目标储层孔隙度、目标储层渗透率和目标裂缝测井响应综合指数;
步骤52,根据所述每个产能等级的储层的储层孔隙度阈值、裂缝测井响应综合指数阈值和储层渗透率阈值,判断所述目标双介质储层的产能层等级。
10.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,当第i产能等级的储层的裂缝发育综合指数为单向阈值时,所述第i产能等级的储层的储层渗透率为同向的单向阈值,且所述第i产能等级的储层的储层渗透率为所述第i产能等级的储层的最小孔隙度所对应的储层渗透率,其中,i为小于或等于M的正整数。
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