CN110785656B - 用于检测分析物的纳米级电化学界面 - Google Patents

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Abstract

一种传感器可以经由隧穿电流选择性地检测电荷转移过程中的量子性质。所述传感器可以被设计成优先检测所述隧穿电流的某些调制，所述调制可以指示预定分析物的极化模式或极化模式范围。一方面，所述传感器可以包括具有第一表面和第二表面的金属电极。所述传感器还可以包括具有第一厚度、第一表面积和第一表面化学物质的绝缘体膜。所述绝缘体膜可以经由所述第一表面耦合到所述金属电极。所述传感器还可以包括具有第二厚度、第二表面积和第二表面化学物质的功能化膜。所述功能化膜可以经由所述第二表面耦合到所述金属电极。

Description

用于检测分析物的纳米级电化学界面
相关申请的交叉引用
本专利申请要求于2017年6月22日提交的题为“用于检测分析物的纳米级电化学界面(NANOSCALE ELECTROCHEMICAL INTERFACE FOR DETECTION OF ANALYTES)”的美国临时专利申请号62/523,729的优先权，所述美国临时专利申请通过引用以其全文并入本文。
关于联邦政府赞助的研究或开发的声明
本发明是在美国国防高级研究计划署授予的N66001-11-1-4111合同下利用政府支持完成的。美国政府享有本发明中的某些权利。
技术领域
本文所描述的主题涉及对分析物的检测。
背景技术
在电化学实验中，常常使用恒电势器来探测物理系统的特性，例如固相与液相之间的电化学界面。恒电势器采用三电极系统，包括参考电极、工作电极和对电极。恒电势器可以通过维持工作电极与参考电极之间的固定电势差并测量流经电解液且经由对电极在工作电极-电解液界面上流动的电流来操作。例如，在大部分电解实验中，可以使用恒电势器来测量在固定电势差下跨电化学界面转移的总电荷。所测量的电荷可以指示界面处的还原/氧化反应。
恒电势器所探测的物理系统(例如电极-电解液界面)可以包括表现出量子特性的一个或多个系统，所述量子特性例如是与中等规模现象(介于经典力学与量子力学行为状况之间的现象)相关联的输送特性。传统的恒电势器在电化学系统中在室温下检测量子特性的能力是有限的。另外，传统的恒电势器无法选择性地检测物理系统的量子性质(signature)。例如，传统的恒电势器尚未被设计成选择性地检测可以指示检测时的现象或目标(例如目标分析物)的量子特性的预定值范围。选择性地检测量子特性对于新的感测、定时和通信范例而言会很重要。因此，期望开发出可以选择性地检测物理系统(例如电极-电解液界面)的量子特性的恒电势器。
发明内容
本申请提供了一种允许在电化学界面处选择性地检测电荷转移过程中的量子性质的纳米级电化学界面(也称为“传感器”)。例如，由于电化学界面处的电荷转移过程而产生的隧穿电流可以与界面处的各种分析物的极化模式相互作用。这些相互作用可以产生对隧穿电流的调制。纳米级电化学界面可以被设计成优先检测隧穿电流的某些调制，所述调制可以指示在界面处预定分析物的极化模式或极化模式范围。设计用于优先检测隧穿电流的预定调制的纳米级电化学界面可以改善分析物检测的准确性和效率。例如，被配置成选择性地检测预定分析物的极化模式(或极化模式范围)的纳米级电化学界面不太可能错误地检测与电化学界面处的不同分析物相关联的极化模式。这样可以改善分析物检测的准确性。选择性地检测分析物极化模式可以改善用于依据检测到的隧穿电流确定极化电流信息的分析例程的准确性和效率。例如，如果纳米级界面被配置成选择性地检测预定极化模式，则分析例程可以被编程为查找与隧穿电流的预定极化模式相关联的信息。这样可以改善分析处理时间并且因此提供对分析物的快速检测。
因此，一方面，提供了一种被配置成检测一种或多种分析物的传感器。所述传感器至少包括：(a)金属电极，所述金属电极具有第一表面和第二表面；(b)绝缘体膜，所述绝缘体膜具有第一厚度、第一表面积和第一表面化学物质，所述绝缘体膜经由所述第一表面耦合到所述金属电极；以及(c)功能化膜，所述功能化膜具有第二厚度、第二表面积和第二表面化学物质，所述功能化膜经由所述第二表面耦合到所述金属电极。所述绝缘体膜和所述功能化膜被配置成将所述金属电极与包括所述分析物的电化学溶液分离。另一方面，所述传感器包括经由分子接头耦合到所述金属电极的纳米颗粒。另一方面，所述分子接头的厚度小于所述功能化膜的所述第二厚度。
在上文和本文的各方面中的任何方面，所述绝缘体膜具有第一介电常数并且所述功能化膜具有不同于所述第一介电常数的第二介电常数。在上文和本文的各方面中的任何方面，所述第一表面积、所述第一厚度、所述第一介电常数和所述第一表面化学物质中的一个或多个是基于与所述金属电极和所述电化学溶液相关联的阈值特征电容来确定的。在上文和本文的各方面中的任何方面，所述第二表面积、所述第二厚度、所述第二介电常数和所述第二表面化学物质中的一个或多个是基于所述传感器与所述电化学溶液之间的界面处的特征电荷分布来确定的，其中，所述界面被配置成在所述传感器与所述电化学溶液之间转移电流，所转移的电流指示所述分析物。在上文和本文的各方面中的任何方面，所述电化学溶液包括一个或多个氧化还原活性物种。在上文和本文的各方面中的任何方面，所述一个或多个氧化还原物种是基于所述一个或多个氧化还原物种的特征重组能来确定的。在上文和本文的各方面中的任何方面，电荷的转移经由所述功能化膜的一部分发生在所述氧化还原活性物种与所述金属电极之间，其中，所述金属电极相对于所述电化学溶液偏置。在上文和本文的各方面中的任何方面，所述绝缘体膜包括屏蔽机构，所述屏蔽机构被配置成为所述金属电极屏蔽掉与所述电化学溶液相关联的寄生电容。在上文和本文的各方面中的任何方面，所述第二表面积是基于所述电化学溶液中氧化还原物种的一个或多个极化模式的特征频率来确定的，其中，所述氧化还原物种被配置成将电荷经由所述功能化膜转移到所述金属电极。
一方面，提供了一种用于检测一种或多种分析物的系统。所述系统至少包括：(a)第一电极，所述第一电极被配置成电耦合到电化学溶液；(b)第二电极，所述第二电极被配置成电耦合到所述电化学溶液；(c)第三电极，所述第三电极包括被配置成检测所述电化学溶液中的分析物的传感器，所述传感器至少包括：(i)金属电极，所述金属电极具有第一表面和第二表面；(ii)绝缘体膜，所述绝缘体膜具有第一厚度、第一表面积和第一表面化学物质，所述绝缘体膜经由所述第一表面耦合到所述金属电极；以及(iii)功能化膜，所述功能化膜具有第二厚度、第二表面积和第二表面化学物质，所述功能化膜经由所述第二表面耦合到所述金属电极，其中，所述绝缘体膜和所述功能化膜被配置成将所述金属电极与所述电化学溶液分离。所述系统还包括反馈机构，所述反馈机构耦合到所述第一电极、所述第二电极和所述第三电极，所述反馈机构被配置成在所述第三电极处向所述电化学溶液提供激励控制。另一方面，所述传感器还包括经由分子接头耦合到所述金属电极的纳米颗粒。另一方面，所述分子接头的厚度小于所述功能化膜的所述第二厚度。
在上文和本文的各方面中的任何方面，所述绝缘体膜具有第一介电常数并且所述功能化膜具有不同于所述第一介电常数的第二介电常数。在上文和本文的各方面中的任何方面，所述第一表面积、所述第一厚度、所述第一介电常数和所述第一表面化学物质中的一个或多个是基于与所述金属电极和所述电化学溶液相关联的阈值特征电容来确定的。在上文和本文的各方面中的任何方面，所述第二表面积、所述第二厚度、所述第二介电常数和所述第二表面化学物质中的一个或多个是基于所述传感器与所述电化学溶液之间的界面处的特征电荷分布来确定的，其中，所述界面被配置成在所述传感器与所述电化学溶液之间转移电流，所转移的电流指示所述分析物。在上文和本文的各方面中的任何方面，所述电化学溶液包括一个或多个氧化还原活性物种。在上文和本文的各方面中的任何方面，所述一个或多个氧化还原物种是基于所述一个或多个氧化还原物种的特征重组能来确定的。在上文和本文的各方面中的任何方面，电荷的转移经由所述功能化膜的一部分发生在所述氧化还原活性物种与所述金属电极之间，其中，所述金属电极相对于所述电化学溶液偏置。在上文和本文的各方面中的任何方面，所述绝缘体膜包括屏蔽机构，所述屏蔽机构被配置成为所述金属电极屏蔽掉与所述电化学溶液相关联的寄生电容。在上文和本文的各方面中的任何方面，所述第二表面积是基于所述电化学溶液中氧化还原物种的一个或多个极化模式的特征频率来确定的，其中，所述氧化还原物种被配置成将电荷经由所述功能化膜转移到所述金属电极。
在上文和本文的各方面中的任何方面，所述反馈机构被配置成经由所述第一电极检测与所述电化学溶液相关联的电势并且经由所述第二电极向所述电化学溶液提供反馈信号。在上文和本文的各方面中的任何方面，所述第一电极、所述第二电极和所述第三电极分别是恒电势器的参考电极、对电极和工作电极。在上文和本文的各方面中的任何方面，所述反馈机构包括被配置成基于检测到的电势与设定的电势值之间的差生成第一信号的第一负反馈放大器。在上文和本文的各方面中的任何方面，所述反馈机构包括被配置成接收所述第一信号并且生成所述反馈信号的第二负反馈放大器。在上文和本文的各方面中的任何方面，所述激励控制减少了所述电化学溶液中氧化还原物种的一个或多个电子振动能级与外浴(external bath)的耗散性耦合。在上文和本文的各方面中的任何方面，所述系统包括被配置成检测与所述第二电极相关联的电流的电流检测系统。在上文和本文的各方面中的任何方面，所检测到的电流指示分子级电荷转移系统中的分析物。
一方面，提供了一种用于检测一种或多种分析物的方法。所述方法至少包括：(a)由反馈机构经由多个电极中的第一电极检测与电化学溶液相关联的电势，其中，所述多个电极电耦合到所述电化学溶液；(b)由所述反馈机构生成反馈信号；以及(c)经由所述多个电极中的第二电极向所述电化学溶液提供所述反馈信号，所述反馈信号被配置成在所述多个电极中的第三电极处提供对样本的激励控制，其中，所述第三电极包括被配置成检测所述电化学溶液中的分析物的传感器，所述传感器至少包括：(i)金属电极，所述金属电极具有第一表面和第二表面；(ii)绝缘体膜，所述绝缘体膜具有第一厚度、第一表面积和第一表面化学物质，所述绝缘体膜经由所述第一表面耦合到所述金属电极；以及(iii)功能化膜，所述功能化膜具有第二厚度、第二表面积和第二表面化学物质，所述功能化膜经由所述第二表面耦合到所述金属电极，其中，所述绝缘体膜和所述功能化膜被配置成将所述金属电极与所述电化学溶液分离。
附图说明
图1展示了具有高增益和低噪声反馈控制系统的恒电势器的实施方式；
图2A展示了示例性电荷转移界面；
图2B展示了图2A中的电荷转移界面的电路表示；
图2C展示了在限制下图2B的电路表示；
图3A展示了纳米级电化学传感器的示例性电荷转移界面；
图3B展示了可以调制电荷转移界面处的隧穿能量势垒的示例性纳米颗粒功能化；
图4A展示了描绘当氧化还原状态与电极费米能级之间的偏置充分为负时氧化还原物种与电极之间的电荷转移的示例性能量图；
图4B展示了描绘当氧化还原状态与电极费米能级之间的偏置几乎为零时氧化还原物种与电极之间的电荷转移的示例性能量图；
图4C展示了描绘当氧化还原状态与电极费米能级之间的偏置充分为正时氧化还原物种与电极之间的电荷转移的示例性能量图；
图5展示了纳米颗粒功能化的示例性电荷转移界面；
图6展示了具有图5中描述的电荷转移界面的示例性恒电势器；
图7A展示了图5中描述的电荷转移界面的示例性电流-电压特性；
图7B展示了图7A中的电流-电压特性的正向扫描的示例性采样电导率；
图7C展示了图7A中的电流-电压特性的反向扫描的示例性采样电导率；
图7D展示了图7A中的电流-电压轨迹的对应于60分钟数据采集的示例性区段；
图7E展示了在60分钟的时间段内DC偏置200mV的示例性计时安培分析法测量；
图8A-D展示了各种纳米颗粒大小、孔径大小和重组能的示例性电流-电压轨迹；
图9A展示了高增益和低噪声反馈电路对电压噪声的功率谱密度(PSD)的示例性影响；
图9B展示了在具有和没有低电压噪声PSD的情况下40纳米厚的SiO2绝缘膜的示例性电流-电压轨迹；
图9C展示了在具有和没有低电压噪声PSD的情况下40纳米厚的HfO2绝缘膜的示例性电流-电压轨迹；
图10A展示了当电解液是100mM磷酸一氢钾和磷酸二氢钾并且金属底物是蚀刻成尖端的Pt(80％)-Ir(20％)时的电流-电压轨迹；
图10B和图10C描述了由二氧化铪涂覆的绝缘体中的由50nm铣削的孔组成的界面的电流-电压轨迹和电导率-电压轨迹，其通过单层组成物而功能化，所述单层组成物包括1，2-乙二硫醇、10nm金纳米颗粒和具有可变端基化学物的三碳链烷硫醇单层，并且所用的氧化还原物种是氰化物亚铁/铁对；
图10D和图10E描述了在40nm厚的二氧化铪介电体中包括50nm孔的界面的电流-电压轨迹和电导率-电压轨迹，其中下面的金属被1，2-乙二硫醇、10nm纳米颗粒和不同厚度的膜功能化(图10D中的插图展示1-己硫醇和1-丙硫醇的I-V轨迹的特写)，并且所用的氧化还原物种是氰化物亚铁/铁对；
图10F和10G描述了在40nm厚的二氧化铪介电体中包括50nm孔的界面的电流-电压轨迹和电导率-电压轨迹，其中下面的金属被1，2-乙二硫醇、10nm纳米颗粒以及氘化和氢化的烷硫醇单层膜(三个碳原子厚)功能化，并且所使用的氧化还原物种是氰化物亚铁/铁对；
图11A展示了界面的电流-电压曲线图；
图11B展示了电导率轨迹的对应于图11A和11C中的电流-电压曲线图的区段；
图11C展示了图11A中的界面的电流-电压曲线图；并且
图12展示了基于等式3.1-3.3的总界面电容的各个分量的示例性值表。
具体实施方式
纳米级电化学界面(“界面”)可以被设计成检测电化学溶液中存在的分析物。界面可以与恒电势器整合，所述恒电势器可以经由各种金属或半金属电极测量电化学溶液的电气性质(例如，电化学溶液的电势、流过电化学溶液的电流等)。例如，界面可以与恒电势器的工作电极整合，其中，电化学溶液与界面之间可以发生电子交换。电子交换可以产生穿过界面的隧穿电流，所述隧穿电流可以包括与界面相邻的电化学溶液的各种分量/现象的量子性质。例如，隧穿电流可以包括与电化学溶液中的各种分析物的极化模式相关的信息。
隧穿电流可以通过恒电势器中的检测系统进行检测并且通过分析例程进行分析以破译量子性质。分析检测到的隧穿电流可能需要将复杂的多尺度空间和时间物理模型用于电荷转移过程以及多个潜在的分析物与界面之间的伴随的表面相互作用。用于分析这些界面所生成的信号的替代性方法可以利用来自‘纯’分析物的性质的参考数据集来进行图案匹配和特征识别，如通常在像光谱学一样的应用中进行的。
破译隧穿电流中编码的信息会具有挑战性。例如，生成隧穿电流的电子转移机制可以确定可以从隧穿电流提取的信息。电子转移过程例如本质上可以是绝热的或非绝热的。电子转移过程可能受到各种因素(例如，电子从电化学溶液中的氧化还原物种跃迁到界面的动力学、电化学溶液中的分析物的极化模式、极化环境、介电环境等)的相互作用的影响。界面可以被设计成像抑制电化学溶液对隧穿电流的不期望影响的过滤器一样起作用，所述不期望影响会妨碍分析物检测的准确性和/或效率。不期望影响可以包括例如来自在电荷转移过程(所述过程产生隧穿电流)附近的介电体的噪声、来自不期望的分析物的极化模式的影响等。
本申请提供了用于将界面设计成检测预定分析物的技术。设计考虑可以是基于例如垂直于电荷转移通量的界面的横向尺寸、界面上的功能化膜的厚度和化学物质、用于寻址界面节点的电极引线上的绝缘体的厚度和介电率、电极引线的面积、电解液相中的氧化还原化学物质、界面处的电压噪声、用于偏置界面的仪表化恒电势反馈回路的增益等。这些标准可以通过表征界面的等效电路模型的宏观集总阻抗元件来表示。本申请描述了模型在典型的极限下可以减小到公知的Randles等效电路。本申请还描述了由传统电化学测量装置引入的对量子电化学系统上的扰动和用于使这些干扰最小化的设计标准。
电化学溶液可以包括电解液(例如水溶剂、有机溶剂等)、缓冲盐、测试样本(例如复合物基质)的组分、一个或多个分析物物种、可以用作电荷源或阱(sink)以便与电极进行电荷交换的氧化还原物种等。氧化还原物种可以包括例如氰化物亚铁/铁对、二茂铁离子和钌六胺络合物。分析物可以包括例如整体微生物或其组分(包括DNA、RNA低聚物、肽片段、蛋白质、聚糖、多糖、代谢物等)或像小分子一样的其他非生物实体。
界面可以基于上述设计考虑被设计成检测电化学溶液中的分析物。如前所述，界面可以耦合到恒电势器(也称为恒电势装置)的电极(例如工作电极)。本申请描述了可以包括界面并且可以例如基于反馈电路、电极的布置、电流/电压检测系统等而有所不同的恒电势器的各种实施方案。本申请还描述了可以与恒电势器的各种实施方案相互作用的各种电化学溶液和分析物(例如上述电化学溶液和分析物)。恒电势器的各种实施方案以及各种电化学溶液和分析物不限制界面的设计或用途。
图1展示了具有耦合到电化学系统的反馈控制系统的恒电势装置100的实施方式。电化学系统150可以包括分子级电荷转移系统(例如电化学溶液112和电极104)和系统的电解液相中含有的分析物(未示出)。恒电势装置100和电化学系统150可以经由对电极102、工作电极104和参考电极106中的一个或多个电耦合。恒电势装置100可以跨电化学系统150(例如在参考电极106与工作电极104之间)施加电势偏置。所施加的偏置会引起在电化学溶液112中的氧化还原活性物种与纳米级工作电极104之间的电荷转移。电极与氧化还原物种之间的电子交换会引起能量交换，并且被称为电子能量转移(EET)。氧化还原物种在电化学系统150中的输送可以补充恒电势装置100中的电子流并完成电荷流动电路。
例如，当对电极的面积远远大于工作电极的面积并且流入参考电极106的电流较小(例如为零)时，流入(或流出)对电极102的电流可以和氧化还原物种与工作电极104之间的电子交换有关。因此，测量流入(或流出)对电极的电流可以指示工作电极104(或对电极102)处的电子交换的速率和本质。可以例如通过测量电耦合到对电极102的阻抗(例如Xm)两端的电压差来检测电流。可以例如通过使用低噪声伏特计或跨阻抗放大器链来测量电压差。在一些实施方式中，工作电极104处的电子交换速率可以通过测量工作电极104处的电流来检测(例如通过测量电耦合到工作电极104的阻抗两端的电压差)。
氧化还原物种中的电子可以处于经振动修饰的电子能态(也称为电子振动态)。在氧化还原物种的电子振动态与电极中的能态之间的电子交换可能受环境或热力学浴(例如溶剂的介电环境)影响。电子交换过程可能还受分析物的存在(例如存在于工作电极的表面上或附近的分析物)和正被测试的样本的本底基质的影响。分析物的极化模式(例如分析物物种的缓慢移动振动模式)与氧化还原物种的电子振动态之间的相互作用可能扰乱电子交换过程。在一些情况下，分析物的可用电子模式甚至可以直接参与氧化还原物种与工作电极之间的电子交换过程。通过测量工作电极(104)与电化学溶液(112)之间的界面处的电荷交换电流，可以检测分析物对电子交换过程的影响，所述电荷交换电流可以如上所述在对电极(102)(或工作电极104)处测得。通过测量各个输入电压V设定下的电流，可以生成电化学界面150的电流vs电压(I-V)轨迹(其可以包括分析物的影响)。通过对由这些分析物对界面处的所测量电荷转移通量引入的扰动进行量化，可以对电化学系统150中的分析物进行指纹提取(例如，其确定的I-V轨迹)。
对工作电极104附近的电场能量的热干扰会影响工作电极104处的电子交换过程。热干扰会影响氧化还原物种与电极之间的电子交换过程，并因此妨碍对电化学系统中的分析物的确定。例如，电场中的波动可以与作用于电子交换过程的耗散力成比例地相关，这会使电化学系统中存在的任何谐振相互作用模糊。电场中的热干扰可能是由于电化学界面处的固有静电环境或由于从耦合到电化学系统的偏置和电流检测电路系统(如从参考电极106、对电极102等)注入的电子噪声而引起的。热干扰会随着系统的温度而变大变小，使得难以在环境条件(例如高于50K)下对分析物进行检测。
恒电势装置100中的反馈控制系统可以减轻热干扰和耗散的影响，并因此允许例如在室温下经由电子交换过程中的谐振性质来检测分析物。反馈控制系统可以利用负反馈跨电化学溶液112与工作电极104之间的电化学界面施加期望的偏置，并且可以抑制内在热干扰源并减少(例如最小化)外在热干扰源。
如图1所示，反馈控制系统包括经由对电极102和参考电极106电耦合到电化学系统150的一对超低噪声放大器110和120。反馈控制系统在参考电极106处检测电化学溶液112中的氧化还原活性物种的电势V参考。V参考可以代表电化学溶液112中的氧化还原物种的电子振动能。
在一些实施方式中，反馈控制系统可以包括具有高阻抗的低噪声电压缓冲器160，并且可以检测对电化学溶液112具有最小扰动的电势V参考。如图1所示，电压缓冲器包括级联的场效应晶体管162和164(例如pMOS晶体管、nMOS晶体管)。电压缓冲器160可以生成电压信号V测量(在晶体管164的漏极处)，所述电压信号表示在参考电极106处由电压缓冲器160检测到的电压V参考。所述一对级联放大器110和120(分别具有增益A1和A2)被配置成经由对电极102向电化学系统150传递高增益低噪声校正信号。校正信号与电势V设定(与电化学系统150的期望电势相关)和所检测到的电势V测量之差成比例。
级联的放大器可以控制对电极102的电势和/或流入(或流出)所述对电极102的电流。放大器120的输出(校正反馈信号)可以经由阻抗XM电连接到对电极102。校正反馈信号可以例如将对电极102的电势设为期望的电势(例如与V设定成比例)、向电化学系统150中注入电流等。通过测量阻抗XM两端的电势VTIA(例如由伏特计)并将所测量的电势VTIA除以阻抗XM，可以检测流入(或流出)对电极的校正电流信号。如前所述，通过测量在各个输入电压V设定下流入(或流出)对电极的校正电流，可以生成电流vs电压(I-V)曲线图。此I-V轨迹可以包含电化学系统中的分析物的“指纹(fingerprint)”，并且通过将检测到的I-V数据与其他分析物的I-V数据进行比较可以检测分析物的身份(identity)。
通过将电化学系统(分析物和电解液)经由对电极102、参考电极106和工作电极104电耦合到恒电势装置100，可以检测电解液中的分析物(或多种分析物)。用户可以设定第一放大器110的反相输入处的电压(例如通过使用低噪声可调谐的电压源)。电压缓冲器160可以在不添加外在噪声的情况下检测参考电极处的电压并且向第一放大器的非反相输入110发送具有电压值(与检测到的电压有关)的信号。基于这两个输入，级联的高增益低噪声负反馈放大器(例如110和120)经由对电极向电化学系统发送校正反馈信号(例如电流信号)。恒电势装置100中的反馈检测系统(例如伏特计、安培计等)可以检测反馈信号。反馈检测系统可以与控制系统(例如计算设备)通信，所述控制系统可以记录与检测到的反馈有关的信息。控制系统还可以控制设定电压V设定的值。例如，控制系统可以扫过设定电压V设定的一系列值，并且记录相应的反馈信号。控制系统可以生成多个设定电压值的数据集和相应的反馈信号(例如电流)。控制系统可以将生成的数据集与其他电化学系统(具有不同的电解液、分析物等)的反馈响应数据集进行比较，并且确定当前电化学系统中的分析物的身份。
在其他实施方案中，恒电势器可以包括两个反馈回路(例如高增益低噪声反馈回路)。第一反馈回路可以控制参考电极处的电势，并且第二反馈回路可以控制工作电极处的电势。第一反馈回路和第二反馈回路可以检测流入(或流出)工作电极或对电极的电流。可以独立地控制第一反馈回路和第二反馈回路。
工作电极处的这种能量交换可以由施主物种和受主物种周围(例如电化学溶液112中的氧化还原物种与工作电极104之间)的介电环境介导。环境在能量转移过程中的参与程度可以取决于电子转移机制的本质。在绝热电子转移的情况下，从施主态到受主态的电子跃迁(例如沿着具有势垒的等能表面)可以通过例如介入的介电体的时间波动来促进，使得处于施主态和受主态的电子的能量相当(例如在跃迁时相等)。转移过程的动力学可以通过在施主态与受主态之间电子波函数的迅速振荡之后各个核振动模式(例如反应坐标)的伴随性弛豫来确定。迅速振荡可能是例如由于跃迁电子和较慢的参与的核振动模式的动力学之间的时间尺度的分离而发生的。另一方面，非绝热电荷转移可以通过电子跨多个能态跃迁来表征。电子转移可以涉及例如经由散射过程在电子与环境之间的若干能量量子交换，所述散射过程可以伴随环境模式迅速弛豫。能量耗散所涉及的浴振动模式可以基于其不同频率来进行区分。在绝热反应的情况下，被一起称为反应坐标向量的具体且有限数量的模式由于其直接参与了过程的有限动力学而可以共同映射系统的状态的演进。电子和核时间尺度在非绝热极限下是不可分离的，并且测量的电荷转移速率可以表示卷积动力学。
提出了内插于绝热电荷转移极限与非绝热电荷转移极限之间的微观理论，其中，基于极性的相互作用和摩擦效应分别可以影响静态反应能量学和动力学。使参与的溶剂反应坐标的纵向弛豫减慢或加速的对分析物的极化模式(例如反应坐标模式)与周围浴之间的摩擦耦合的修改和/或电子耦合矩阵元素的变化可以被示出为诱导了这两个领域之间的交叉，其中，确定坐标模式的弛豫时间是施主态与受主态之间的介电极化能量差的函数。可以独立地处理确定环境与跃迁的电子波函数之间的相互作用的本质的参数(例如电子耦合元素、驰豫时间常数等)。取决于电化学界面的固相和液相的材料特性，可以根据经验规定参数。
本申请还规定了表征电荷转移反应的本质的两个参数，这两个参数确定了隧穿电子与反应坐标之间以及具体的反应坐标模式与其周围环境之间的静电相互作用的强度。这两个变量可以对将这两个物种(金属/半金属电极与氧化还原活性物种)分离的界面处的固有电荷具有基本且相反的依赖性，并且实际上不是独立的。此外，这两个参数可以表征为可以适于表示为界面的经过修改的Randles电路模型内的等效电路元件的等效长度尺度。通过一系列模型电路元件将电荷转移过程表征为电流流动可以为基于电荷转移机制的本质设定界面的大小提供定性规则。
当描述电子态-反应坐标相互作用和反应坐标-浴相互作用的假定长度尺度彼此相当时，具体的转移机制可以描述隧穿电荷与具体坐标模式之间的谐振能量交换，出于在测量的电子转移速率内转换振动模式信息的目的，所述坐标模式可以是感兴趣的。利用上述参数，可以描述电化学界面的几何结构。‘最佳’界面的实验原型可以制造并以电化学方式表征以证明所提出的设计规则的适用性。
这里提出了电解液特定的氧化还原物种的分子模型：电解液溶解的分子氧化还原活性物种的电子振动结构的基本1D模型，从所述模型导出了分别描述氧化还原活性分子的电子态与反应坐标的谐波状态之间的相互作用以及浴与反应坐标自由度之间的相互作用的两个长度尺度。这些长度尺度可以被示出为基于其所描述的这两个相互作用模态的相对重要性来表征电荷转移过程的本质。
氧化还原活性物种的电子态与包括溶剂极化模式和其他带电荷物种的周围静电环境之间的相互作用的电势能以1D方式通过常规的闭联集静电学公式描述，如下所述：
其中，ρ和P是与周围静电环境相关联的自由电荷和反应坐标极化密度。等式(1.1)的R.H.S.中存在的波函数项将电势能耦合到薛定谔波动等式(SWE)的解，这需要迭代程序来估计波函数。对于解的形式的一阶确定，我们设定∫dx”|ψ(x”)|＝α，其中，α是输入到用于求解SWE的迭代算法的初始猜测值并且是介于0与1之间的参数。在金属-电解液界面处应用高斯定律和边界条件产生了(1.1)的简化公式
其中，Q界面是溶解于电解液的金属与氧化还原活性物种之间的隧穿路径中的界面电荷，并且∑qi表示在隧穿电荷的转移路径之外的氧化还原物种的直接环境中的一系列电荷。R.H.S.上的第一项表示到附近的反应坐标极化密度的耦合对电子态的电势能的贡献，并且第二项表示库仑耦合对氧化还原分子周围的静电环境中的附近电荷的贡献。在等式(1.2)中，将界面设为x＝0。以下描述了对具有如(12)中描述的简化电势能函数的SWE的求解
是以与确定氢原子的能态的问题类似的方式获得的。UN-N([Pi])表示反应系统的所有极化状态Pi的自身能量，并且这个自身能量项相比于V(x)以显著更慢的时间尺度变化。因此，认为氧化还原系统的极化和电子自由度根据波恩-欧本海默逼近(Born-Oppenheimer approximation)是可分离的，并且基于这一考虑，估计极化修饰的电子态的能量为
其中，UN-N限定了由于与极化模式耦合而产生的氧化还原系统的‘偏移的’基态。
依据对等式(1.4)中的电子态能的表达的量纲分析，提出了描述氧化还原部分的电子态与其外部静电环境之间的相互作用的长度尺度，所述相互作用包括极化密度谐波振荡器状态：
大的λe-Ω可以对应于反应坐标与电子态之间的强耦合并且将会暗示氧化还原电子态对扰乱来自在电子态子系统外部的源的电势的响应性增强。依据对极化修饰的氧化还原电子态的SWE描述可以表征反应坐标模式的自身能量的另一个长度尺度由下式给出：
其中，Ωm是参与的反应坐标模式的最大模式频率。参数λΩ-n可以表示包括相关反应坐标的一系列振荡自由度的含能量。大的λΩ-n可以指示在电荷转移过程期间经由耗散力转移到坐标模式的能量增加。最大模式频率可以表示坐标模式频率并且可以产生对λΩ-n的保守估计。
电荷转移系统的集总等效电路表示：电子自由度与反应坐标自由度之间以及反应系统的坐标自由度之间的相互作用也可以通过利用上一节中描述的现象学长度尺度来表示为等效电容。我们定义
和
作为单位面积的‘量子’电容和‘核’电容。如等式(3.1)所定义的，量子电容是对二维导体的Luryi量子电容的电化学模拟并且是反应坐标极化模式对氧化还原电子态的屏蔽程度的量度。核电容是对反应坐标极化模式的自我屏蔽的估计并且是与经典电容非常类似但单独由于Q界面而特定于场的物理实体。另外，界面的几何结构有助于电荷的分布，所述电荷不同于Q界面并且定位于物理电荷转移路径中不存在的表面上或者由于叠加在转移路径上的经典场而出现。
图2A展示了电极-电解液界面(例如恒电势器的工作电极)处的电荷分布。因此，电荷转移界面的等效电路表示描绘于图2B中，其中，C几何和C寄生是分别由电荷转移路径中的几何结构依赖性场和界面的不包括电荷转移隧穿路径的几何结构产生的经典电容。另外，非线性耗散元素Z耗散表征一系列谐波反应坐标振荡器的浴耦合动力学，并且Warburg型阻抗元素ZW可以对反应物向界面的扩散性和场驱动性电迁移输送进行建模。对于后续分析，可以忽略对测量的电荷转移速率的输送相关限制，而可以关注电荷转移过程所伴随的跃迁动力学。
图2B中对电化学界面的等效电路描述在典型极限下减小到公知的常用Randles等效电路(图2C)。类似地，典型的Randles电路描述也可以恢复为大大小小的Q界面，从而表明Q界面的量值可以用作电化学界面处的量子行为程度的度量，像普朗克常数或其他物理系统的温度一样。系统的本质对界面电荷的依赖性可以是非单调的(例如，Q界面可以有最佳量值，此时，电化学界面表现出量子行为。在这一上下文中，“量子”电化学界面可以通过Q界面进行门控(gate)并且可以通过分子电子态与和反应坐标相关联的谐波极化态之间以及反应坐标极化态本身之间相当强度的相互作用来表征。
λe-Ω＝λΩ-n或cq＝cn (3.3a)
从物理上讲，等式(3.3a)、(3.3b)可以暗示在从施主构型跃迁为受主构型之后电子自由度与极化自由度之间的能量相干交换。
量子电化学界面的几何尺寸确定规则：将分子相互作用表示为集总电路元件可以实现对电荷转移界面的三维几何结构的定性估计。可以将相互作用电容cq和cn与由电化学界面处的微米级结构和纳米级结构产生的几何结构依赖性电容进行比较。这种比较可以确保由这些结构处的静电场引起的经典屏蔽效应不限制电子态与反应坐标极化态之间的相互作用。界面的几何结构包含：面积AS，在所述面积中，电极耦合到电化学溶液(例如通过功能化膜)，并且跨所述面积，有源电荷转移发生；以及厚度为t绝缘并且介电率为ε绝缘的绝缘膜，所述绝缘膜覆盖导电金属表面的面积A寄生并使其绝缘。另外，面积AS可以通过厚度为δ并且介电率为εm的分子膜来功能化以向电荷转移界面赋予特定的电子特性和/或表面化学物质(图3A)。
对于分子薄膜，要求量子相互作用起作用(如量子极限(等式3.3)中的cq或cn所描述的)在对浴极化进行经典屏蔽方面占主导地位，并且整个薄膜上的电荷产生了
对由于电解液与下面的金属电极之间的绝缘体而引起的电容的类似考虑描述了AS/A寄生比的下限
可以依据对在谐波极化密度中包含等效热扩散所需的体积的估计来确定AS的横向尺寸，此时扩散具有足够大的量值(约Q界面 量子)以仅通过热激发来促进相关极化态之间的跃迁事件时。面积AS可以在反应坐标态下引入空间极限，所述空间极限可以维持热化电荷转移所必需的极化密度变化，这进而规定了可以有助于所测量的跃迁动力学的反应模式数量的上限。对于相干极化态，极化态的不确定度由以下等式给出：
其中，(5.1)中的时间依赖性发生在与像γ一样的整体取平均参数相关联的整个较慢时间尺度上。用于假设极化的相干性的基本原理预先假定了在外部偏置场的影响下较重的核模式的经典轨迹。VΩ是电解液的有效体积(ASt绝缘，如由界面的几何结构定义的)，所述有效体积‘包含’等式(5.1)中的极化模式。因此，用于对频率小于Ωm的模式的贡献进行门控所需的横向尺寸由以下等式给出
来自更高频率的坐标模式的贡献的跃迁概率会趋于热化到AS，如根据5.2)估计的。
根据呈静态平衡核构型的界面从施主态跃迁到受主态所需的或所消耗的等效电子能，可以确定用于重组电子跃迁中的坐标模式的总能量。在这一上下文中，如根据先前提及的氧化还原系统模型估计的反应重组能可以根据等式(1.4)由以下等式描述：
其中，在确定电子跃迁所需的等效能量时考虑了反应坐标极化对氧化还原电子态的势能的贡献。使用氧化还原对的重组能Δr在量值上可以接近但小于Er的标准，可以选择电解液相的适合的氧化还原化学物质。用于选择的这种基本原理可以暗示，采用所选的氧化还原化学物质，隧穿路径中存在更小量值的界面电荷，即隧穿路径电荷与最佳值之间的差异是由使传感器接口功能化的分子薄膜的适合的化学物质和厚度造成的。跨薄膜发生电子跃迁需要克服的隧穿势垒取决于薄膜与施主之间的耦合(hD-f)、膜与受主物种之间的耦合(hf-A)以及包括薄膜的分子单元之间的耦合(hf-f)，假设它们相等。
可以将隧穿带隙定义为
在等式(6.2)中，Δε是隧穿能隙，所述隧穿能隙是将空穴从受主物种中释放并将其定位在薄膜价带上所需的能量，并且ζ、ζf-A分别是与薄膜和端基功能化化学物质相关联的各个分子单元的厚度，所述端基功能化化学物质与电解液接触。对于特定的氧化还原化学物质并且对于特定的功能化和分子膜化学物种，以热能为单位无量纲表达的总电荷转移势垒为
其中，βf-f、βf-A是薄膜的电子跳变矩阵元素和功能端基，并且δf-f、δf-A分别是与膜和功能化化学物质相关联的厚度。根据(6.2)，电子跳变矩阵元素为
所述电子跳变矩阵元素取决于几何结构和通过各自的耦合能归一化的隧穿能隙。等式(5.2)和(6.1)与(6.3)结合可以定义适于在量子状态下操作的电化学界面的架构，但受(4.1)和(4.2)所规定的限制。
可以在界面处引入另外的结构以减小隧穿能隙，这进而可以实现使用更厚的功能化膜。更厚的膜在结构上更稳定、可用于现成的(off-shelf)功能化、具有多种功能化化学物质，并且可以自组装到较小的感测面积AS上。这些另外的结构还可以提供防止在纳米级界面处形成非理想膜的公差。利用分子接头使带负电的金属纳米颗粒功能化到AS上(图3B)可以使纳米颗粒的费米能级与下面的宏观电极解耦。这会在界面处产生内置场，所述内置场可以减小与较厚膜中的限速隧穿路径相关联的有效隧穿能隙。用于束缚纳米颗粒桥的分子接头可以比功能化膜的厚度薄，以确保宏观的电极-接头-纳米颗粒组装在隧穿路径中不会变得限速。同样，对于与供金属原子簇存在的显著态密度相关联的费米能级，纳米颗粒的直径可以大于2nm。减小的隧穿能量势垒可以产生更厚的膜，所述膜满足了限速路径的等式(6.3)中的能量平衡。然而，这些更厚的膜会受到等式(4.1)中概述的等效厚度约束。在较高能量下利用增加的态密度使纳米颗粒功能化可被认为等同于在金属电极表面存在表面态，在界面处伴随有费米能量的能带弯曲。界面处费米能级的畸变会降低用于跨分子膜输送的有效隧穿势垒，从而使膜具有更大的β值。在界面设计中并入这些另外的自由度允许在制造电化学构造时使用更大范围的材料化学物质并且允许具有防止界面处产生非理想结构的设计公差。
图4A-C展示了示例性能量图，其描绘了氧化还原物种与具有各种费米能级的电极之间的电荷转移。跃迁电流的阶跃变化与在施主和受主之间的另外的电子跃迁通道的打开相关联，其中，进入新通道不受活化势垒和随机热力约束，所述随机热力会潜在地干扰和削弱最小化的无势垒跃迁。打开的通道对应于谐振高能反应坐标态的可用性，所述谐振高能反应坐标态可以与隧穿电子交换能量，从而促进转移事件。相同模态频率的多个声子态的存在或新坐标模式的存在导致新通道打开，所述新通道表现为当前电压轨迹中的另外的阶梯状特征，前提是用于通过这些新通道进行电子跃迁的机制保持低势垒。
(i)当对于所有Ω，并且(ii)当对反应坐标的运动的阻尼效应小到可以忽略不计时，从施主到受主的电荷跃迁速率可以由以下等式描述：
其中，Ω表示反应坐标模式，和γ分别表示由于反应坐标模式与浴之间的相互作用而引起的反应坐标模式和有效粘度的变化，并且表示反应坐标振荡器能级的热化占用。λΩ表示反应坐标模式的谐波势能表面之间的偏移的无量纲量度并且由下等式给出
其中，Pi Ω是谐波反应坐标模式Ω处于其基态时的极化密度并且与构型i相关联，并且VΩ是维持模态振荡所需的空间体积。
当在下面的金属电极中的可用状态带上求积分时，等式(6.5)将会在纳米电化学界面的I-V轨迹中产生阶梯状构造，所述阶梯状构造描述了用于实现跃迁的另外的高频模式的可用性。阶梯状特征的宽度根据由于反应坐标极化模式与周围浴态相互作用而作用于所述反应坐标极化模式上的阻尼核的量值来确定。等式(6.5)在描述跃迁时的效用适用于低当量浴温并且适用于消除阻尼和重组能势垒。
图4A-C的示意图中展示了对低势垒跃迁和其对所施加的偏置的依赖性的概念性描述。金属电极和纳米颗粒桥的电子能态构成可用能带，定义为Ei M和Ei NP，i＝1、2等，并且P浴是指包含失真的正常浴模式Pk的线性组合的浴坐标。氧化还原分子的能量表面还通过其电子能Er以及电子基态下周围的相应浴畸变进行表征。然而，通过由于重组能在电荷转移时耗散，介电极化态驰豫，氧化还原态下的浴畸变偏置。从概念上讲，金属电极、纳米颗粒接头和氧化还原分子的能量表面分别由以下等式给出：
其中，kp是物种p与其电子态之间的耦合的量度，ΔER是电荷转移反应的重组能，并且α是量纲常数。示意图表示三个不同的偏置范围，即φr＜0(图4A)、φr～0(图4B)和φr＞0(图4C)的能量表面，其中，偏置φr经由参考电极施加到氧化还原态并且相对于接地的一组金属电子态被施加。如可以从图4A中观察到的，对于φr＜0，经由纳米颗粒接头从氧化还原态跃迁到金属电极的路径没有势垒。具体地，纳米颗粒桥中的可用电子态的多样化允许从氧化还原基态直接跃迁到纳米颗粒元件上的电子振动态，如路径a所示。随后，在纳米颗粒接头的基态与下面的金属电极之间发生低势垒电荷转移事件(路径b)。所施加的偏置必须小于供第一通道打开的阈值，所述第一通道实现了从氧化还原基态转移到最低的纳米颗粒电子振动态。对于金属费米能级与氧化还原分子的电子振动基态之间的近谐振条件，氧化还原物种与纳米颗粒桥之间的跃迁被热激活(图4B中的路径a')，并且对于非谐振情况，在φr＞0的情况下，从纳米颗粒元件的最高能量电子振动态到电解液中的氧化还原部分的基态的跃迁(图4C中的路径“a”)没有超过阈值正偏压的势垒。因此，在以金属电极与氧化还原活性物种之间的电子谐振为中心的偏置窗之外，用于输送的另外的通道是可用的，如同样在图7B和7C中观察到的。
电荷转移界面可以包括电极(也称为“金属微引线”)，所述电极可以通过绝缘体和功能化膜中的一种或多种与电化学溶液分离。例如，金属微引线可以在微引线的一个或多个暴露表面上被一个或多个绝缘层包围。绝缘层的一部分可以被功能化膜层代替。通过功能化膜层，可以在金属微引线与电化学溶液之间发生电荷交换(例如隧穿电流)。
在一些方面，金属微引线可以通过分子接头层耦合到纳米颗粒。绝缘层的一部分可以被分子接头层代替。可以通过功能化膜层将纳米颗粒与电化学溶液分离。通过功能化层、纳米颗粒和分子接头层，金属微引线与电化学溶液之间可以发生电荷交换(例如隧穿电流)。
图5展示了纳米颗粒功能化的示例性电荷转移界面400。界面400包括金属微引线424，所述金属微引线可以分别通过顶表面和底表面耦合到绝缘体层414和418。微引线424还可以通过暴露的表面耦合到分子接头层422。电荷转移界面400还可以包括纳米颗粒426，所述纳米颗粒可以通过分子接头422耦合到微引线424。分子接头层422和绝缘体414可以防止电子在氧化还原物种(例如电化学溶液430中的氧化还原物种)与微引线424之间直接交换。功能化层428可以将纳米颗粒426和电化学溶液430分离。通过功能化膜428、纳米颗粒426和分子接头422，电化学溶液430与微引线424之间可以出现隧穿电流。
图5中概述了界面几何结构的示例性定性展示：(a)有机烷硫醇单层，作为功能化薄膜；(b)二氧化硅(SiO2)，作为绝缘膜；(c)电解液水相，包括100mM磷酸盐缓冲液；以及(d)截止最大频率Ωm，考虑到设计规则(4.2)、(5.2)和(6.3)以及强耦合极限下的跃迁速率，其分别在1.5×1014rad/s下给出。对于界面的材料和模式频率特性的上述选择，功能化膜厚度的上限δ为约0.5×10-9m，并且最适于界面的氧化还原化学物质是氰化物亚铁/铁氧化还原对。
上述长度尺度λe-Ω和λΩ-n可以表示氧化还原物种的经过修饰的电子状态与反应坐标模式之间以及反应坐标模式本身之间的相互作用强度。长度尺度可以表征输送状态的本质。小λe-Ω和大λΩ-n可以暗示独立的电子和反应坐标自由度以及从施主态到受主态的耗散性电荷转移，从而指示绝热跃迁事件。具有大λe-Ω和小λΩ-n的界面可以表征通过与核模式的强耦合进行的电子跃迁，这可以描述时的非绝热跃迁。这两个特征长度尺度之间的反比关系源于其各自对隧穿路径电荷Q界面的依赖性，如等式(2.1)和(2.2)所见。高增益反馈作用的施加导致阻尼效应和作用于量子电化学界面处的电荷转移反应的热干扰衰减，这会产生更小的λΩ-n和随之而来更大的λe-Ω，这两个值进而由更小的Q界面产生。
这里呈现了电化学界面处的阻尼效应和热噪声的机械学表征及其与Q界面的关系，所述关系使用线性地耦合到谐波自由度的较大集合的单个反应坐标模式的能量的哈密顿描述(Hamiltonian description)来估计与反应坐标模式相关联的极化密度的动态演进。作为线性耦合的结果，反应坐标极化模式可以经受浴诱导的阻尼和随机热化力。
哈密顿量可以描述为：
其中，假设了电荷转移系统的单峰一维反应坐标极化密度，并且浴自由度为多峰，尽管其本质上也是一维的。在评估极化动力学时，可以考虑反应坐标与浴模式之间的线性耦合。可以用模态隧穿路径电荷密度σk表示整个隧穿路径中的电荷，其中，
为了通过更加简单直观的描述来展示反馈的影响并且不损失相关物理事实，可以对反应坐标极化模式进行半经典处理。等效阻尼系数和作用于反应坐标极化密度的热场的幅度分别由以下等式给出：
其中，和分别是随机确定的隧穿路径界面电荷密度值和隧穿路径电荷通量值。作用于反应坐标极化的浴场中的热波动与隧穿路径界面电荷的波动直接相关，即
因此，电化学界面处的场波动的功率谱密度与频率无关，直至截止频率由浴模式的最大频率确定，所述功率谱密度的量值是由隧穿路径电荷密度的各个模式分量的贡献确定的：
其中，(7.3)中所有浴自由度的总和由通过可用模式空间中的态密度加权的各个模态电荷密度贡献的积分代替。当参考偏置反馈网络的输入时，浴场中的波动可以描述电化学系统的等效热噪声源。
测得的波动可以描述为：
其中，G(ω)是反馈的频率相关性闭环增益。等式(7.5)预先假定了由伴随的电子设备施加在物理界面上的理想的无噪声反馈作用，如果根据反馈仪表化添加了波动源，则可以通过另外的加性噪声源对所述反馈作用进行修改。增益还使作用于反应坐标极化密度的阻尼力衰减，即
其中，
增益的施加以及施加到量子电化学界面上的场波动的随后衰减导致Q界面减小，如根据(7.3)和(7.5)和所见。从反馈回路的输入来看，减小的程度是由反馈系统的增益带宽特性以及外部信号链赋予物理系统的波动确定的，其中，更大数量的另外的噪声源使Q界面增大。
另外，在半经典极限下，通过波动-耗散关系将如通过与反应坐标相关联的极化模式“看到”的有效浴温描述为
。有效浴温还可以表示为T＝1.13×1048×(C界面.PSD)2其中，PSD表示电压噪声功率谱密度并且C界面是界面电容。界面电容应当由依赖于Q界面的量子机械项，即cq和cn主导。在理想情况下，浴温因闭环反馈带宽和增益相关因子而衰减ReG(ω)/|1+G(ω)|2，此时伴随的偏置网络是无噪声的。在非理想情形下，在仪表化电子设备中的噪声源的影响下，浴温会相应地更高。场波动对Q界面的潜在依赖性会使隧穿路径电荷成为有效浴温的替代。在有多个独立且相互垂直的坐标极化状态参与跃迁过程而不仅仅是如上所述的单一模式的场景中，
反馈会影响线性耦合的浴模式k对Q界面(t)的贡献，所述线性耦合浴模式对热噪声以及跃迁系统所经历的阻尼有贡献。因此，随着有助于观察到的跃迁速率的坐标极化态的数量的增加，反馈在调制跃迁的动力学方面效果不佳，从而当反馈作用可能证明无效时，最终达到非绝热电荷转移极限。
上文提供的关于高增益低噪声反馈作用对物理纳米电化学界面的影响的描述假设了在量子状态下操作并且不受经典现象(如通过界面几何电容的电荷输送或者输送相关效应)限制的界面。阻尼力和作用于反应坐标极化动力学上的热波动的衰减是反馈系统保持界面的量子本质的基本功能，并且界面的几何结构可能需要按照先前描述的规则进行调整以适应电子设备对Q界面的影响。
图6展示了示例性恒电势器500，所述恒电势器包括电荷转移界面550(例如图5中描述的电荷转移界面400)。图6中描述的恒电势器500可以通过对电极502、工作电极504和参考电极506与电化学系统512电耦合。恒电势器500还可以包括高增益低噪声反馈电路，所述电路包括缓冲器560以及级联放大器510和520。恒电势器500和电化学系统512可以相互作用，例如，如图1所描述的。
工作电极504可以包括电荷转移界面550。电荷转移界面550可以包括金属微引线524，所述金属微引线可以耦合到绝缘体层514和518(例如分别通过顶表面和底表面)。微引线524还可以通过暴露的表面(例如微引线524的表面，其中，绝缘体层514或518的一部分被分子接头层代替)耦合到分子接头层522。电荷转移界面550还可以包括纳米颗粒526，所述纳米颗粒可以通过分子接头层522耦合到微引线524。分子接头层522和绝缘体层514/518可以防止电子在电化学溶液512中的氧化还原物种与微引线524之间直接交换。功能化层528可以将纳米颗粒526和电化学溶液512分离。
通过功能化膜层528、纳米颗粒526和分子接头层522，电化学溶液512(例如，电化学溶液512中的一种或多种氧化还原物种)与微引线524之间可以出现隧穿电流。
可以基于电化学溶液(例如电化学溶液中的氧化还原物种和分析物等)来确定绝缘体514和518、微引线524、纳米颗粒526、功能化膜528和分子接头层522的特性。所述性质可以包括工作电极504的各种组分的几何结构(例如尺寸、表面积、厚度、暴露于电化学溶液的面积、电导率、介电常数等)。
实施例1：
对于传感器接口结构的制造，已经考虑了一种快速原型制作方法，以便能够快速完成对界面I-V特性的测试，以验证上一节中介绍的理论结果。将直径为0.25mm的铂(0.8)-铱(0.2)导线(维吉尼亚州亚历山大市的纳米科学仪器公司(Nanoscience InstrumentsInc.))切成2cm长的小段，并在标准SC-1溶液(100ml去离子水：10ml H2O2:1ml NH4OH)清洗。然后，可以将清洗后的导线段安装在Z形台上的定制固定器中。所述台可以将较短的导线段降到电化学蚀刻浴中，所述电化学蚀刻浴由35g氯化钠(密苏里州圣路易斯的西格玛奥德里奇公司(Sigma Aldrich))和200ml去离子水中的2.9ml高氯酸(密苏里州圣路易斯的西格玛奥德里奇公司)组成，在环形铜对电极中间也浸入蚀刻剂浴池中。当通过降低Z形台将导线浸入浴池中时，可以在导线段与对电极之间施加频率为1kHz、振幅为60Vpp的AC波形。蚀刻过程的终点可以通过在蚀刻剂浴池中停止产生氢气泡以及通过在终点处的导线尖端处产生火花来在视觉上进行检测。导线-蚀刻剂-空气界面处的弯液面和蚀刻装置的径向几何形状会在短导线段的断点处产生尖锐的尖端状轮廓。蚀刻完成后，可以缩回固定器，并取回蚀刻的导线段以进行清洗。可以用去离子水冲洗蚀刻后的导线，然后将其浸入SC-1溶液中一分钟，然后再用去离子冲洗，然后用干燥的N2吹干。
可以使用原子层沉积(ALD)工具在电化学蚀刻线上沉积40nm厚的绝缘氧化膜。沉积之前，如果蚀刻后的导线存储超过24小时，则可以将其小心地在乙醇中超声处理，并用干燥的N2吹干。可以特别选择ALD作为沉积方法，以确保氧化物在尖端导线上的蚀刻表面上的保形性，并避免在膜中形成针孔缺陷，所述针孔缺陷可能导致测量中出现电化学漏电流的不良本底。ALD工艺的自限制性质可以确保铂铱表面上的氧化物膜的逐层生长。例如，已经对两种类型的绝缘氧化物膜进行了实验研究：二氧化铪((HfO2)和二氧化硅(SiO2)。使用萨凡纳热沉积工具(马萨诸塞州沃尔瑟姆市的Ultratech公司)和斐济等离子体沉积系统(马萨诸塞州沃尔瑟姆市的Ultratech公司)来分别沉积40nm的HfO2和SiO2。使用定制的固定器来以分批的方式将蚀刻的导线安装在反应室中。还将处理晶片同时装载到反应室中，随后用M2000 Woollam光谱椭圆仪在处理晶片上测量沉积膜的厚度。在沉积初级氧化物材料之前，可以在铂铱金属上沉积5A的Al2O3籽晶层，以确保HfO2和SiO2前体与表面的粘附。氧化物的沉积之后，绝缘膜可以在炉中、在形成气体(例如，按体积流率20％H2、80％N2)环境中(例如，在300℃下持续30分钟)中进行退火，以去除氧化物膜上的、可能有助于界面上的寄生电荷转移的任何表面状态。
随后可以通过在日立双束235SEM/FIB(Hitachi Dual Beam 235SEM/FIB)系统上聚焦的镓离子束在退火的绝缘体膜中铣出直径可变的孔。使用定制固定器将退火的导线以10批为单位安装到双束工具的负载锁中。可以将导线段手动且顺序地对准用于成像的电子束光学器件和用于铣削的离子束光学器件。可以在乙醇中冲洗离子铣削的导线段，并在例如a)1mM 1,2-乙二硫醇乙醇溶液(密苏里州圣路易斯的西格玛奥德里奇公司)中培养24小时，b)直径不同的金纳米颗粒水溶液(密苏里州圣路易斯的西格玛奥德里奇公司)中培养24小时，以及c)具有不同功能化化学物质的合适的链烷硫醇单层的1mM乙醇溶液(密苏里州圣路易斯的西格玛奥德里奇公司)中培养48小时。培养后，可以用乙醇冲洗尖端，并用干燥的N2吹干，以准备装入电化学电池单元。可以将冲洗后的尖端穿过预先准备好的聚二甲基硅氧烷(PDMS)垫圈，使用精密的z形台手动将尖端(钝端首先)拉过垫圈上的孔，同时观察尖锐尖端距离垫圈顶表面的高度。可以将尖端拉过垫圈，直到尖锐的尖端从PDMS垫圈的上表面伸出1微米(um)或更小。例如，可以通过将100:10体积份的单体和固化剂(密歇根州米特兰市的Sylgard Dow Corning公司)混合，在真空中对混合物脱气并在50℃下固化来制成垫片。可以从尺寸为3cm×3cm×1cm的PDMS材料的固化块上切出垫圈，并用30规格内径的钝针注射器针头将容纳导线的孔芯装在垫圈的中间。一旦将功能化的离子铣削尖端装在PDMS垫圈中，就可以通过挠性电线连接器将其连接到与恒电势器上的工作电极节点相关的鳄齿夹。带有嵌入导线尖端底物的垫圈安装在特氟隆电化学电池单元的下半部分，可通过螺钉将其固定到上半部分，O形圈在垫圈与铁氟龙电池的上半部分之间形成防漏压缩密封。液体电解液是一种水性缓冲液，其组成是：磷酸一氢钾和磷酸二氢钾(密苏里州圣路易斯的西格玛奥德里奇公司)在去离子水中的总浓度为100mM的混合物，其比例应使溶液缓冲为pH7.5。另外，水性电解液可以在1mM的浓度下包含由实验性质决定的特定氧化还原对。根据手头实验的要求，可以将所需浓度的其他分析物物种添加到电解液中。可以将2.5ml的电解溶液移入电化学电池单元的孔中。可以将金导线(马萨诸塞州Ward Hill市的阿法埃莎公司(AlfaAesar))和Ag/AgCl参考电极(印第安纳州西拉法叶市BASi公司)分别固定到对应于对电极节点和参考电极节点的鳄齿夹上，并分别浸入电化学孔以使其与电解溶液接触。
实施例2：
通过在界面与Ag/AgCl参考电极之间施加扫掠的低压噪声偏置获得按照上述规格制造的纳米电化学界面的电流-电压轨迹，并且跨对电极-电解液界面所产生的电流通过低噪声跨阻放大器链被测量为对电极节点处串联电阻器两端的压降。上一节中描述的定制低压噪声恒电势器用于信号施加和电流测量。对于循环伏安法实验，偏置电压在±0.3V之间循环，其扫描速率远低于集成电化学界面仪器系统的特征时间尺度所规定的最大极限。对于本文中描述的所有纳米级电化学界面，用于确定最大扫描速率的集成系统的极限电容与参考电极节点处的缓冲器输入电容器(约1pF)相关。最快的允许扫描速度为约1mV/s，假设在±0.3V偏置范围之间以每mV间隔进行采样，并且超出最大扫描速率时，缓冲电容的放电在瞬态电流测量中占主导地位，使与施主到受主的跃迁相关联的任何信号模糊。
实施例3：
量子电化学界面的典型I-V特性在图7A中示出，对于50nm的界面区域，通过单层纳米颗粒单层夹层进行功能化，所述夹层结构包括在暴露的80-20铂-铱底物上依次自组成的1,2-乙二硫醇、10nm金纳米颗粒和1-巯基-3-丙酸。电解液包含100mM磷酸一氢钾和磷酸二氢钾，其比例将电解液的pH设置为7.5。电解液还包含浓度为1mM的六氰合钾(II和III)高铁酸根氧化还原对。箭头表示正向(-0.3V到0.3V)和反向(0.3V到-0.3V)扫描的采集电流轨迹，其扫描速率为1mV/分钟。在每1mV电压增量上测量的电流是在30秒间隔内采样的一千个采集数据点的平均值，在采集之前设置了30秒延迟，以使瞬态效应在测量之前充分消散。图7A中的I-V演示了正向扫描轨迹与反向扫描轨迹之间的非经典滞后，所述滞后在缓慢的扫描速度下持续存在，并为测量电流提供了明确定义的“导通”和“关断”偏置点。此处看到的滞后归因于存在电子隧穿跃迁的路径中的界面电荷Q界面，它使正向扫描与反向扫描之间的参与分子氧化还原态的能量偏向，类似于电子输送的极化子模式。由于在纳米级电化学界面上发生的电荷转移事件使得存在可计数的电子电荷量，这会影响电子态与核极化密度的耦合，并导致电解液参与态的电子能发生移动，而这种移动是与界面电荷最强耦合的，其数量与将界面充电至Q界面所需的能量成比例。因此，利用滞后来估算量子电化学界面的等效界面电容，该量子电化学界面设计为之前概述的规格，其中Q界面的大小根据等式(3.3b)计算得出。由测得的滞后确定的等效界面电容用作健全性检查，以确保界面处的几何结构和经典电容性阻抗不支配由cq和cn确定的量子特性。这样计算出的等效电容还提供了对参数的粗略估计，否则该参数将无法在由现成组成部分组成的定制仪器的限制内通过实验进行测量。表1列出了根据等式(3.1-3.3)计算的总界面电容的不同组成部分的值，以及根据测得的滞后计算得出的界面电容。量子界面电容的理论值和估计值的接近收敛表明，经典电容在界面充电中没有限制。在图7A中还观察到，针对不同的施加偏压范围，跃迁电流存在阶梯状增加。在正向扫描(图7B)和反向扫描(图7C)的差分电导率vs施加电压的关系图中，可以清楚地观察到所述测量电流的这些准离散变化，它们表现为特定偏置范围内的峰值集合。平均跃迁电流是在200mV的电压偏置下在60分钟的时间段内获取的计时安培分析法测量实现了将测量电流随时间的变化(图7E)与I-V特性中电流的准离散增加的幅度(图7D)进行比较，以确定所观察到的离散特征不是由界面处的反应通量随时间的输送特定振荡引起的。
实施例4：
如图8A-D所见，滞后的本质和I-V轨迹中无势垒通道的出现可以通过修改纳米电化学界面处的几何结构和氧化还原化学物质来调节。对于图8A-D所示的所有轨迹，下面的金属电极是铂(80％)-铱(20％)，金属与金纳米颗粒接头是1，2-乙二硫醇，并且纳米颗粒上的单层是1-巯基-3-丙酸。除非另有说明，否则直径为10nm的金纳米颗粒和所用的氧化还原化学物质是氰化物亚铁-铁对。涂覆刻蚀后的尖端的默认绝缘体为40nm厚的二氧化铪，并且铣削的孔为50nm宽。将纳米颗粒尺寸缩减到5nm会产生具有较大滞后的电流-电压特性，具有更明显的导通和关断电压，并且不存在电子振动传导通道。具有较小纳米颗粒的界面的功能化增加了有效的电荷转移通量面积，同时也减小了由于金属1，2-乙二硫醇界面处的费米能级畸变增加引起的有效隧穿能隙Δε。减小的隧穿能隙导致较大的跃迁电流，并补偿了由于面积增加引起的增加的跃迁电流Q界面。增大界面面积至1μm×1μm并减小纳米颗粒尺寸至5nm(图8B-D)产生Q界面的进一步增加，从而导致较小的整体跃迁速率和较不明显的电子谐振特征。如理论部分(D)中所述，较大的界面面积会导致高频模式的热贡献增加，还产生降低的跃迁率(等式5.4)，其中低势垒的谐振转移通道不可用于电荷转移。使用六胺氯化钌(II和III)作为界面氧化还原对代替氰化物亚铁/铁氧化还原化学物质会导致滞后完全消失(图8C)，并出现电化学界面的经典的I-V特性。钌基氧化还原化学物质的重组能几乎是氰化物亚铁/铁对的重组能的两倍。所以，由于钌化学物质的cq足够大，使得该系统受到阻抗经典成分的限制，从而使电荷转移过程在本质上很大程度非绝热。
实施例5：
在界面处施加低压噪声信号以及在纳米级界面处施加高增益反馈以减弱电荷转移中的阻尼效应的效果在图9A-C中通过对比两种不同恒电势器在同一界面类型上得到的测量值得以展示，所述两种不同恒电势器中的第一种仪器是我们定制的低噪声板，而第二种是可商购的GAMRY型号的现成仪器。这里考虑的纳米级界面包括在40nm绝缘体膜中的50nm离子铣削孔，该孔覆盖了电化学蚀刻的铂(80％)-铱(20％)尖端。除非另有说明，否则界面由包含1,2-乙二硫醇、5nm金纳米颗粒和1丙硫醇的异质自组成膜功能化。参考电极节点(参考反馈回路的输入端)处的等效电压噪声由针对GAMRY Ref.600恒电势器以及针对我们的在图9A中示出的仪器的低噪声放大器测量，展示了定制板的卓越噪声性能。在参考节点处增加的电压噪声会导致纳米电化学界面的准经典I-V轨迹受到GAMRY仪器上的反馈网络的偏置，其中电子谐振和由于离散充电效应引起的滞后都被抑制，并且I-V轨迹尤其是在具有二氧化铪涂覆的界面(图9C)的情况下本质上是典型绝热的，正如人们期望的那样高Q界面界面无阻尼衰减。特别是当GAMRY用于循环伏安法测量时，图8B和图8C中的二氧化硅与二氧化铪界面之间的I-V特性的差异表明如先前提出的模型所预期的那样来自涂层氧化物的几何电容确定界面电荷转移是处于量子态还是经典态。对于由二氧化硅绝缘体引起的较小的寄生电容，电荷转移过程似乎在谐振特征中具有量子特性，并且存在滞后，而在具有二氧化铪涂覆的绝缘体的IV轨迹中则没有这种现象。当界面遭受低电压噪声、高增益反馈时，两种氧化物的I-V特性之间的差异仍然存在，这表明氧化物材料的化学性质在确定与反馈作用无关的经典的寄生贡献中继续发挥重要作用，其中二氧化铪介电涂层界面表现出较低的总电流和更弥漫的导通和关断跃迁。
实施例6：
图10A展示了氧化还原化学物质对转移动力学的影响。这些测量考虑了氧化还原对Fe[CN]6 3-,4-，Ru[NH3]6 2+,3+，二茂铁氧化还原体系和无氧化还原电解液，其中界面为二氧化铪涂覆的绝缘体中的50nm铣削节点，该绝缘体通过包含1,2-乙二硫醇、10nm金纳米颗粒和3-氨基-1-丙硫醇的单层组成物进行功能化。电解液溶解的氧化还原部分显示I-V行为，范围从纯量化/离散到纯经典，以与电荷转移系统相关联的重组能量的递增顺序排列(Fe[CN]6 3-,4-<二茂铁<Ru[NH3]6 2+,3+<无氧化还原电解液)。图9B和图9C演示了末端化学物质在纳米颗粒上的功能化单层上的影响。在这组实验中始终使用的氧化还原化学物质是Fe[CN]6 3-，4-偶联对，单层末端化学物质在-NH2、-COOH和-CH3之间旋转。端基上的电荷与带负电的氧化还原实体之间的相互作用会影响隧穿能隙，这进而确定了如从等式(6.4)可以看出的Q界面值、以及在转换与可用于电荷转移过程的振动通道有关的信息时隧穿跃迁的效率。图10C描绘了不同单层端基的正向扫描电导率，描绘了在离散通道性质中按-CH3<-COOH<-NH2的顺序提高的分辨率。功能化单层厚度的效果在图10D和图10E中进行了演示。界面由40nm厚二氧化铪膜中的50nm铣削孔组成，并且下面的金属被1,2-乙二硫醇、10nm金纳米颗粒异质膜功能化。然后将纳米颗粒保持裸露或被1-丙硫醇或1-己硫醇功能化以产生图10D中记录的I-V轨迹。裸露的纳米颗粒界面的特征是接近经典的I-V图，而单层功能化的纳米颗粒界面的特征是具有如插图所示的明确定义的滞后和导通/关断电压的离散/量化的电荷I-V。来自正向扫描的电导率(图10E)表明，对于较厚的功能化膜，振动通道的转换分辨率降低，因为较厚的膜将导致隧穿路径中存在的大量反应极化模式与氧化还原电子振动状态之间的相互作用增加。在给定的偏压下，提供给隧穿电子的模式通道数量增加，导致极化模式与电子态之间的谐振损失，从而使极化模式与浴自由度模糊不清。然而，对于较厚的单层，电子谐振的离散性更加明显，并且所测量的电流幅度也更高。纳米颗粒电极与电解液溶解的氧化还原活性物种之间的较厚膜使施主状态与受主状态之间的电子自由度解偶联，从而定性地使跃迁本质上更加非绝热。所以，较厚膜的Q界面低于较薄膜，但前提是膜厚度低于(4.1)所规定的阈值，而在量子状态下，如等式(6.1)和(7.3)分别所示的，较低的Q界面将产生较大的跃迁速率和与跃迁动力学相关的降低的阻尼。定性地，可用于跃迁的振动通道数量的增加导致转移速率更大，只要由界面几何形状引起的经典场不成为速率限制即可。在图10F和图10G中探索了在量子状态下对电荷转移反应的质量影响。在这些实验中，与之前的测量一样，所述界面是40nm厚二氧化铪绝缘体中的50nm铣削孔，该绝缘体被1,2-乙二硫醇接头和10nm金纳米颗粒功能化。纳米颗粒上的功能化单层在1-丙硫醇与1-丙烷-d7-硫醇之间变化，其中所有氢原子均被较重的同位素氘取代。由于被较重的同位素取代，降低的反应极化模式频率导致较小的Q界面 量子，如从等式(3.3b)所见。因此，在现有的对氧化还原化学物质(氰化物亚铁/铁对)、功能化单层厚度和化学物质的选择下，实际Q界面值的大小可能会比最佳值Q界面 量子大，从本质上讲使转移过程定性地更加绝热。对于非最佳界面的所得I-V轨迹具有减小的滞后，并且在电子谐振处具有不太明显的导通和关断跃迁，如图10F所见。然而，正向扫描电导率(图10G)继续表现出参与跃迁过程的谐振振动通道的存在。
实施例7：
图11A-C展示了纳米电化学界面对电解液溶解的分析物的敏感性。在每个例子中，传感器(例如，恒电势器的纳米工作电极)是40nm厚的二氧化铪绝缘体中的50nm离子铣削孔，所述孔覆盖了电化学蚀刻的铂(80％)-铱(20％)导线，并且裸露的金属通过包含1，2-乙二硫醇接头、10nm金纳米颗粒和1-巯基-3-丙酸的异质膜被功能化。每种情况下使用的氧化还原化学物质是浓度为1mM的氰化物亚铁/铁对，其中与所有先前的实验一样，本底电解液是浓度为100mM的磷酸盐缓冲液。对于这里所描述的每个实验，所述分析物自身以1μM的浓度溶解，并且在同位素和氨基酸亮氨酸的同分异构体之间变化。图11A比较了当电解液溶解的分析物物种是亮氨酸或2-d-亮氨酸的情况下纳米级电化学界面的I-V轨迹，其中亮氨酸分子的羧基附近的碳上的氢原子被氘取代。图11C比较了当溶解的分析物是亮氨酸与其结构异构体异亮氨酸时的I-V特性。如图11A中所见，氘化分析物的I-V轨迹显示出较大的滞后，而如图11C所观察的，异亮氨酸对低电压噪声扫描偏压具有准经典响应。纳米电化学界面对分析物的质量和结构的响应多样性表明了如从电化学电荷转移电流测量的跃迁通量对分析物固有振动模式的敏感性以及将这些模式表示为单层功能化化学过程。尽管对通过氢键和范德华相互作用使分析物在端基化学过程上取向的精确方式的机械描述超出了本文的范围，但在端基-电解液界面处存在分析物使得它在电子的直接隧穿路径中，并且因此，分析物的极化状态可能会为发生跃迁事件贡献额外的通道。图11B对比了以下情况下的电导率数据：当分析物是1μM亮氨酸相对1μM 2-d-亮氨酸并且对于2-d-亮氨酸分析物的振动通道都被看到已经平均偏移20mV的较低偏压值，其标准偏差为3mV。通道能量几乎均匀地偏移到减小的偏压，这与与氘代分析物相关的降低的模式频率是一致的。

Claims (30)

1.一种被配置成检测分析物的传感器，所述传感器包括：
金属电极，所述金属电极具有表面；
绝缘体膜，所述绝缘体膜具有第一厚度、第一表面积和第一表面化学物质，所述绝缘体膜经由所述表面的第一部分耦合到所述金属电极；
纳米颗粒；以及
功能化膜，所述功能化膜具有第二厚度、第二表面积和第二表面化学物质，所述功能化膜沿着所述表面的第二部分经由分子接头层和纳米颗粒耦合到所述金属电极并被配置成在电化学溶液与所述金属电极之间转移隧穿电流，
其中，所述绝缘体膜的一部分被所述功能化膜代替，
其中，所述分子接头层和所述绝缘体膜防止电子在所述电化学溶液与所述金属电极之间直接交换，
其中，所述绝缘体膜被配置成接触所述电化学溶液，以及
其中，所述功能化膜被配置成将纳米颗粒与所述电化学溶液分离。
2.根据权利要求1所述的传感器，其中，所述绝缘体膜具有第一介电常数并且所述功能化膜具有不同于所述第一介电常数的第二介电常数。
3.根据权利要求2所述的传感器，其中，所述第一表面积、所述第一厚度、所述第一介电常数和所述第一表面化学物质中的一个或多个是基于与所述金属电极和所述电化学溶液相关联的阈值特征电容来确定的。
4.根据权利要求2所述的传感器，其中，所述第二表面积、所述第二厚度、所述第二介电常数和所述第二表面化学物质中的一个或多个是基于所述传感器与所述电化学溶液之间的界面处的特征电荷分布来确定的，其中，所述界面被配置成在所述传感器与所述电化学溶液之间转移电流，所转移的电流指示所述分析物。
5.根据权利要求1所述的传感器，其中，所述电化学溶液包括一个或多个氧化还原活性物种。
6.根据权利要求5所述的传感器，其中，所述一个或多个氧化还原物种是基于所述一个或多个氧化还原物种的特征重组能来确定的。
7.根据权利要求5所述的传感器，其中，电荷的转移经由所述功能化膜的一部分发生在所述氧化还原活性物种与所述金属电极之间，其中，所述金属电极相对于所述电化学溶液偏置。
8.根据权利要求1所述的传感器，其中，所述绝缘体膜包括屏蔽机构，所述屏蔽机构被配置成为所述金属电极屏蔽掉与所述电化学溶液相关联的寄生电容。
9.根据权利要求1所述的传感器，其中，所述第二表面积是基于所述电化学溶液中氧化还原物种的一个或多个极化模式的特征频率来确定的，其中，所述氧化还原物种被配置成将电荷经由所述功能化膜转移到所述金属电极。
10.一种系统，其包括：
第一电极，所述第一电极被配置成电耦合到电化学溶液；
第二电极，所述第二电极被配置成电耦合到所述电化学溶液；
第三电极，所述第三电极包括被配置成检测所述电化学溶液中的分析物的传感器，所述传感器包括：
金属电极，所述金属电极具有表面；
绝缘体膜，所述绝缘体膜具有第一厚度、第一表面积和第一表面化学物质，所述绝缘体膜经由所述表面的第一部分耦合到所述金属电极；
纳米颗粒；以及
功能化膜，所述功能化膜具有第二厚度、第二表面积和第二表面化学物质，所述功能化膜沿着所述表面的第二部分经由分子接头层和纳米颗粒耦合到所述金属电极并被配置成在电化学溶液与所述金属电极之间转移隧穿电流，
其中，所述绝缘体膜的一部分被所述功能化膜代替，
其中，所述分子接头层和所述绝缘体膜防止电子在所述电化学溶液与所述金属电极之间直接交换；
其中，所述绝缘体膜被配置成接触所述电化学溶液，以及
其中，所述功能化膜被配置成将纳米颗粒与所述电化学溶液分离；以及
反馈机构，所述反馈机构耦合到所述第一电极、所述第二电极和所述第三电极，所述反馈机构被配置成在所述第三电极处向所述电化学溶液提供激励控制。
11.根据权利要求10所述的系统，其中，所述绝缘体膜具有第一介电常数并且所述功能化膜具有不同于所述第一介电常数的第二介电常数。
12.根据权利要求11所述的系统，其中，所述第一表面积、所述第一厚度、所述第一介电常数和所述第一表面化学物质中的一个或多个是基于与所述金属电极和所述电化学溶液相关联的阈值特征电容来确定的。
13.根据权利要求11所述的系统，其中，所述第二表面积、所述第二厚度、所述第二介电常数和所述第二表面化学物质中的一个或多个是基于所述传感器与所述电化学溶液之间的界面处的特征电荷分布来确定的，其中，所述界面被配置成在所述传感器与所述电化学溶液之间转移电流，所转移的电流指示所述分析物。
14.根据权利要求10所述的系统，其中，所述电化学溶液包括一个或多个氧化还原活性物种。
15.根据权利要求14所述的系统，其中，所述一个或多个氧化还原物种是基于所述一个或多个氧化还原物种的特征重组能来确定的。
16.根据权利要求14所述的系统，其中，电荷的转移经由所述功能化膜的一部分发生在所述氧化还原活性物种与所述金属电极之间，其中，所述金属电极相对于所述电化学溶液偏置。
17.根据权利要求10所述的系统，其中，所述绝缘体膜包括屏蔽机构，所述屏蔽机构被配置成为所述金属电极屏蔽掉与所述电化学溶液相关联的寄生电容。
18.根据权利要求10所述的系统，其中，所述第二表面积是基于所述电化学溶液中氧化还原物种的一个或多个极化模式的特征频率来确定的，其中，所述氧化还原物种被配置成将电荷经由所述功能化膜转移到所述金属电极。
19.根据权利要求10所述的系统，其中，所述反馈机构被配置成经由所述第一电极检测与所述电化学溶液相关联的电势并且经由所述第二电极向所述电化学溶液提供反馈信号。
20.根据权利要求10所述的系统，其中，所述第一电极、所述第二电极和所述第三电极分别是恒电势器的参考电极、对电极和工作电极。
21.根据权利要求10所述的系统，其中，所述反馈机构包括被配置成基于检测到的电势与设定的电势值之间的差生成第一信号的第一负反馈放大器。
22.根据权利要求21所述的系统，其中，所述反馈机构包括被配置成接收所述第一信号并且生成反馈信号的第二负反馈放大器。
23.根据权利要求10所述的系统，其中，所述激励控制减少了所述电化学溶液中氧化还原物种的一个或多个电子振动能级与外浴的耗散性耦合。
24.根据权利要求10所述的系统，其包括被配置成检测与所述第二电极相关联的电流的电流检测系统。
25.根据权利要求24所述的系统，其中，所检测到的电流指示分子级电荷转移系统中的分析物。
26.一种分析物检测方法，其包括：
由反馈机构经由多个电极中的第一电极检测与电化学溶液相关联的电势，其中，所述多个电极电耦合到所述电化学溶液；
由所述反馈机构生成反馈信号；以及
经由所述多个电极中的第二电极向所述电化学溶液提供所述反馈信号，所述反馈信号被配置成在所述多个电极中的第三电极处提供对分析物的激励控制，
其中，所述第三电极包括被配置成检测所述电化学溶液中的分析物的传感器，所述传感器包括：
金属电极，所述金属电极具有表面；
绝缘体膜，所述绝缘体膜具有第一厚度、第一表面积和第一表面化学物质，所述绝缘体膜经由所述表面的第一部分耦合到所述金属电极；
纳米颗粒；以及
功能化膜，所述功能化膜具有第二厚度、第二表面积和第二表面化学物质，所述功能化膜沿着所述表面的第二部分经由分子接头层和纳米颗粒耦合到所述金属电极并被配置成在电化学溶液与所述金属电极之间转移隧穿电流，
其中，所述绝缘体膜的一部分被所述功能化膜代替，
其中，所述分子接头层和所述绝缘体膜防止电子在所述电化学溶液与所述金属电极之间直接交换，以及
其中，所述绝缘体膜被配置成接触所述电化学溶液，以及
其中，所述功能化膜被配置成将纳米颗粒与所述电化学溶液分离。
27.一种被配置成检测分析物的传感器，所述传感器包括：
金属电极，所述金属电极具有第一表面和第二表面；
绝缘体膜，所述绝缘体膜具有第一厚度、第一表面积和第一表面化学物质，所述绝缘体膜经由所述第一表面耦合到所述金属电极；
纳米颗粒，所述纳米颗粒通过分子接头耦合到所述金属电极，其中所述分子接头具有第二厚度、第二表面积和第二表面化学物质，所述分子接头经由所述第二表面耦合到所述金属电极；以及
功能化膜，所述功能化膜具有第三厚度、第三表面积和第三表面化学物质，所述功能化膜经由分子接头层和纳米颗粒耦合到所述金属电极并被配置成在电化学溶液与所述金属电极之间转移隧穿电流，
其中，所述绝缘体膜的一部分被所述功能化膜代替，
其中，所述分子接头层和所述绝缘体膜防止电子在所述电化学溶液与所述金属电极之间直接交换，
其中，所述绝缘体膜被配置成接触所述电化学溶液，以及
其中，所述功能化膜被配置成将纳米颗粒与所述电化学溶液分离。
28.根据权利要求27所述的传感器，其中，所述分子接头的所述第二厚度小于所述功能化膜的所述第三厚度。
29.根据权利要求10所述的系统，还包括电耦合到所述第二电极的阻抗，其中所述阻抗两端的压降指示在所述电化学溶液与所述金属电极之间的隧穿电流。
30.根据权利要求1所述的传感器，还包括反馈机构，所述反馈机构被配置为经由第一电极检测与所述电化学溶液相关联的电势并且经由第二电极向所述电化学溶液提供反馈信号。
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