CN110782782B - 阵列基板的修补方法、修补系统 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种阵列基板的修补方法、修补系统。阵列基板的修补方法包括：通过检测装置获取阵列基板的待测区域的第一图像；通过修补装置获取阵列基板的待测区域的第二图像；根据第二图像，对第一图像校准，得到校准图像；通过检测装置在校准图像上标注缺陷位置；以及根据包含缺陷位置的校准图像，通过修补装置对阵列基板进行修补。根据本发明实施例的阵列基板的修补方法，根据修补装置获取的第二图像，对检测装置获取的第一图像校准，得到校准图像，使得该校准图像能够被修补装置直接识别，进一步地，修补装置能够直接根据包含缺陷位置的校准图像对阵列基板进行修补，提升对阵列基板修补的效率。

Description

阵列基板的修补方法、修补系统

技术领域

本发明涉及显示面板制造领域，具体涉及一种阵列基板的修补方法、修补系统。

背景技术

在显示面板的制造过程中，显示面板或其包括的阵列基板可能产生的短路和断路等缺陷，使得最终产品出现显示异常，影响产品的良率。通过检测装置和修补装置可以对制程中的短路和断路缺陷进行修补，使异常产品可以正常显示，对生产良率改善具有重要的意义。

现有技术中，检测装置获取的图像与修补装置获取的图像存在色差，检测装置产生的包含缺陷信息的图像不能被修补装置直接识别，降低了对阵列基板进行修补的效率。

发明内容

本发明提供一种阵列基板的修补方法、修补系统，提高修补效率。

一方面，本发明实施例提供一种阵列基板的修补方法，其包括：通过检测装置获取阵列基板的待测区域的第一图像；通过修补装置获取阵列基板的待测区域的第二图像；根据第二图像，对第一图像校准，得到校准图像；通过检测装置在校准图像上标注缺陷位置；以及根据包含缺陷位置的校准图像，通过修补装置对阵列基板进行修补。

根据本发明一方面的上述任一实施方式，根据第二图像，对第一图像校准，得到校准图像包括：根据第一图像获得与预设基色组合中的各基色分别对应的多个第一灰阶分布图；根据第二图像获得与预设基色组合中的各基色分别对应的多个第二灰阶分布图；以及以第二灰阶分布图为基准，分别对颜色对应的第一灰阶分布图校准，使得第一图像转变为校准图像，其中，第一灰阶分布图、第二灰阶分布图为预定灰阶范围内各灰阶值出现频率的分布图。

根据本发明一方面的上述任一实施方式，以第二灰阶分布图为基准，分别对颜色对应的第一灰阶分布图校准包括：对第一灰阶分布图进行峰值校准，其中，将第一灰阶分布图中灰阶分布峰的顶点的灰阶值转换为与颜色对应的第二灰阶分布图中灰阶分布峰的顶点的灰阶值对应相同。

根据本发明一方面的上述任一实施方式，以第二灰阶分布图为基准，分别对颜色对应的第一灰阶分布图校准还包括：对第一灰阶分布图进行峰宽校准，其中，将第一灰阶分布图中灰阶分布峰的峰宽转换为与颜色对应的第二灰阶分布图中灰阶分布峰的峰宽对应相同。

根据本发明一方面的上述任一实施方式，根据第一图像获得与预设基色组合中的各基色分别对应的多个第一灰阶分布图包括：根据预设基色组合，将第一图像拆分为与预设基色组合中的各基色分别对应的多个第一子图像；以及采集第一子图像中各点的灰阶值并处理，得到对应的第一灰阶分布图，根据第二图像获得与预设基色组合中的各基色分别对应的多个第二灰阶分布图包括：根据预设基色组合，将第二图像拆分为与预设基色组合中的各基色分别对应的多个第二子图像；以及采集第二子图像中各点的灰阶值并处理，得到对应的第二灰阶分布图。

根据本发明一方面的上述任一实施方式，预设基色组合包括红色、绿色、蓝色。

根据本发明一方面的上述任一实施方式，根据包含缺陷位置的校准图像，通过修补装置对阵列基板进行修补包括：在校正图像上根据缺陷位置规划修补路径；根据包含修补路径的校准图像控制修补装置对阵列基板进行修补。

根据本发明一方面的上述任一实施方式，缺陷位置包括短路缺陷位置及断路缺陷位置。

另一方面，本发明实施例提供一种阵列基板的修补系统，其包括：检测装置，包括第一图像采集器件以及缺陷检出器件，第一图像采集器件能够获取阵列基板的待测区域的第一图像；修补装置，包括第二图像采集器件以及缺陷修补器件，第二图像采集器件能够获取阵列基板的待测区域的第二图像；以及校准装置，与第一图像采集器件、缺陷检出器件、第二图像采集器件以及缺陷修补器件耦合，校准装置能够根据第二图像将第一图像校准转换为校准图像，缺陷检出器件能够在校准图像上标注缺陷位置，缺陷修补器件能够根据包含缺陷位置的校准图像对阵列基板进行修补。

根据本发明另一方面的上述任一实施方式，校准装置包括：图像转化模块，与第一图像采集器件、第二图像采集器件耦合，能够将第一图像转换为与预设基色组合中的各基色分别对应的多个第一灰阶分布图，以及将第二图像转换为与预设基色组合中的各基色分别对应的多个第二灰阶分布图，其中，第一灰阶分布图、第二灰阶分布图为预定灰阶范围内各灰阶值出现频率的分布图；峰值校准模块，与图像转化模块耦合，能够将第一灰阶分布图中灰阶分布峰的顶点的灰阶值转换为与颜色对应的第二灰阶分布图中灰阶分布峰的顶点的灰阶值对应相同；峰宽校准模块，与图像转化模块耦合，能够将第一灰阶分布图中灰阶分布峰的顶点的灰阶值转换为与颜色对应的第二灰阶分布图中灰阶分布峰的顶点的灰阶值对应相同。

根据本发明实施例的阵列基板的修补方法，根据修补装置获取的第二图像，对检测装置获取的第一图像校准，得到校准图像，使得该校准图像能够被修补装置直接识别，进一步地，修补装置能够直接根据包含缺陷位置的校准图像对阵列基板进行修补，提升对阵列基板修补的效率。

在一些可选的实施方式中，在校正图像上根据缺陷位置规划修补路径，之后根据包含修补路径的校准图像控制修补装置对阵列基板进行修补，即修补装置能够直接识别校准图像上规划的修补路径并以此进行修补，省去了人工画线建立路径所占用的时长，从而进一步提高修补效率。

附图说明

通过阅读以下参照附图对非限制性实施例所作的详细描述，本发明的其它特征、目的和优点将会变得更明显，其中，相同或相似的附图标记表示相同或相似的特征，附图并未按照实际的比例绘制。

图1是本发明一种实施例提供的阵列基板的修补方法的流程框图；

图2是本发明一种实施例提供的阵列基板的修补方法中得到校准图像步骤的流程框图；

图3是本发明一种实施例提供的阵列基板的修补方法中根据第一图像获得与预设基色组合中的各基色分别对应的多个第一灰阶分布图步骤的流程框图；

图4是本发明一种实施例提供的阵列基板的修补方法中将第一图像拆分为与预设基色组合中的各基色分别对应的多个第一子图像步骤的图像转换示意图；

图5是本发明一种实施例提供的阵列基板的修补方法中得到对应的第一灰阶分布图步骤的图像转换示意图；

图6是本发明一种实施例提供的阵列基板的修补方法中根据第二图像获得与预设基色组合中的各基色分别对应的多个第二灰阶分布图步骤的流程框图；

图7是本发明一种实施例提供的阵列基板的修补方法中将第二图像拆分为与预设基色组合中的各基色分别对应的多个第二子图像步骤的图像转换示意图；

图8是本发明一种实施例提供的阵列基板的修补方法中得到对应的第二灰阶分布图步骤的图像转换示意图；

图9是本发明一种实施例提供的阵列基板的修补方法中使得第一图像转变为校准图像步骤的流程框图；

图10是本发明一种实施例提供的阵列基板的修补方法中使得第一图像转变为校准图像步骤的图像转换示意图；

图11是本发明一种实施例提供的阵列基板的修补系统的结构框图。

具体实施方式

下面将详细描述本发明的各个方面的特征和示例性实施例，为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及具体实施例，对本发明进行进一步详细描述。应理解，此处所描述的具体实施例仅被配置为解释本发明，并不被配置为限定本发明。对于本领域技术人员来说，本发明可以在不需要这些具体细节中的一些细节的情况下实施。下面对实施例的描述仅仅是为了通过示出本发明的示例来提供对本发明更好的理解。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

本发明实施例提供一种阵列基板的修补方法，图1是本发明一种实施例提供的阵列基板的修补方法的流程框图，该实施例提供的阵列基板的修补方法包括步骤S100至步骤S500。

在步骤S100中，通过检测装置获取阵列基板的待测区域的第一图像。在一些实施例中，检测装置例如是自动光学检测(Automated Optical Inspection，AOI)装置，包括第一图像采集器件及缺陷检出器件，第一图像采集器件能够采集图像信息，缺陷检出器件能够根据预设的检出条件在图像信息上获取缺陷位置。

在步骤S200中，通过修补装置获取阵列基板的待测区域的第二图像。在一些实施例中，修补装置例如是包括激光源的修补装置，包括第二图像采集器件以及缺陷修补器件，第二图像采集器件能够采集图像信息，缺陷修补器件例如是激光源组件，能够利用激光对阵列基板上的布线结构中的短路缺陷及断路缺陷进行修复。

在步骤S300中，根据第二图像，对第一图像校准，得到校准图像。

图2是本发明一种实施例提供的阵列基板的修补方法中得到校准图像步骤的流程框图。在一些实施例中，步骤S300包括步骤S310至步骤S330。

在步骤S310中，根据第一图像获得与预设基色组合中的各基色分别对应的多个第一灰阶分布图。其中，第一灰阶分布图为预定灰阶范围内各灰阶值出现频率的分布图。

本文中，灰阶分布图为灰阶分布直方图，其横坐标为灰阶值，纵坐标为灰阶值出现的频率(即灰阶值的出现次数)。

图3是本发明一种实施例提供的阵列基板的修补方法中根据第一图像获得与预设基色组合中的各基色分别对应的多个第一灰阶分布图步骤的流程框图。在一些实施例中，步骤S310包括步骤S311至步骤S312。

在步骤S311中，根据预设基色组合，将第一图像拆分为与预设基色组合中的各基色分别对应的多个第一子图像。图4是本发明一种实施例提供的阵列基板的修补方法中将第一图像拆分为与预设基色组合中的各基色分别对应的多个第一子图像步骤的图像转换示意图。在一些实施例中，预设基色组合包括红色、绿色、蓝色。

如图4，在本实施例中，将第一图像10拆分为红色第一子图像11R、绿色第一子图像11G和蓝色第一子图像11B。

请继续参考图3，在步骤S312中，采集第一子图像中各点的灰阶值并处理，得到对应的第一灰阶分布图。图5是本发明一种实施例提供的阵列基板的修补方法中得到对应的第一灰阶分布图步骤的图像转换示意图。在本实施例中，采集红色第一子图像11R中各点的灰阶值并处理，得到对应的红色第一灰阶分布图12R，采集绿色第一子图像11G中各点的灰阶值并处理，得到对应的绿色第一灰阶分布图12G，采集蓝红色第一子图像11B中各点的灰阶值并处理，得到对应的蓝色第一灰阶分布图12B。

请继续参考图2，在步骤S320中，根据第二图像获得与预设基色组合中的各基色分别对应的多个第二灰阶分布图。其中，第二灰阶分布图为预定灰阶范围内各灰阶值出现频率的分布图。

图6是本发明一种实施例提供的阵列基板的修补方法中根据第二图像获得与预设基色组合中的各基色分别对应的多个第二灰阶分布图步骤的流程框图。在一些实施例中，步骤S320包括步骤S321至步骤S322。

在步骤S321中，根据预设基色组合，将第二图像拆分为与预设基色组合中的各基色分别对应的多个第二子图像。图7是本发明一种实施例提供的阵列基板的修补方法中将第二图像拆分为与预设基色组合中的各基色分别对应的多个第二子图像步骤的图像转换示意图。在一些实施例中，预设基色组合包括红色、绿色、蓝色。

如图7，在本实施例中，将第二图像20拆分为红色第二子图像21R、绿色第二子图像21G和蓝色第二子图像21B。

请继续参考图6，在步骤S322中，采集第二子图像中各点的灰阶值并处理，得到对应的第二灰阶分布图。图8是本发明一种实施例提供的阵列基板的修补方法中得到对应的第二灰阶分布图步骤的图像转换示意图。在本实施例中，采集红色第二子图像21R中各点的灰阶值并处理，得到对应的红色第二灰阶分布图22R，采集绿色第二子图像21G中各点的灰阶值并处理，得到对应的绿色第二灰阶分布图22G，采集蓝红色第二子图像21B中各点的灰阶值并处理，得到对应的蓝色第二灰阶分布图22B。

请继续参考图2，完成步骤S310和步骤S320后，进行步骤S330，以第二灰阶分布图为基准，分别对颜色对应的第一灰阶分布图校准，使得第一图像转变为校准图像。

图9是本发明一种实施例提供的阵列基板的修补方法中使得第一图像转变为校准图像步骤的流程框图。在一些实施例中，步骤S330包括步骤S331至步骤S332。图10是本发明一种实施例提供的阵列基板的修补方法中使得第一图像转变为校准图像步骤的图像转换示意图。

在步骤S331中，对第一灰阶分布图进行峰值校准，其中，将第一灰阶分布图中灰阶分布峰的顶点的灰阶值转换为与颜色对应的第二灰阶分布图中灰阶分布峰的顶点的灰阶值对应相同。

图10中，以对红色第一灰阶分布图12R进行校准为例进行说明，其中以红色第二灰阶分布图22R为基准，其它例如绿色第一灰阶分布图12G、蓝色第一灰阶分布图12B的校准过程与红色第一灰阶分布图12R的校准过程类似，不再详述。通过对红色第一灰阶分布图12R、绿色第一灰阶分布图12G、蓝色第一灰阶分布图12B分别校准，使得第一图像10转变为校准图像。

如图10，将红色第一灰阶分布图12R中灰阶分布峰的顶点的灰阶值转换为与红色第二灰阶分布图22R中灰阶分布峰的顶点的灰阶值对应相同，得到峰值校准后的红色第一灰阶分布图12R’。

在步骤S332中，对第一灰阶分布图进行峰宽校准，其中，将第一灰阶分布图中灰阶分布峰的峰宽转换为与颜色对应的第二灰阶分布图中灰阶分布峰的峰宽对应相同。

如图10，峰宽校准可以针对前述峰值校准后的红色第一灰阶分布图12R’进行，将峰值校准后的红色第一灰阶分布图12R’中灰阶分布峰的峰宽转换为与红色第二灰阶分布图22R中灰阶分布峰的峰宽对应相同，得到峰宽校准后的红色第一灰阶分布图12R”。

对绿色第一灰阶分布图12G、蓝色第一灰阶分布图12B分别进与上述峰值校准、峰宽校准，使得第一图像10转变为校准图像。

请继续参考图1，在步骤S400中，通过检测装置在校准图像上标注缺陷位置。可以理解的是，检测装置可以是在第一图像10转变为校准图像后对缺陷位置进行标注，也可以是在第一图像10上对缺陷位置进行标注，缺陷位置随第一图像10的校准过程进行跟随性的变换。在一些实施例中，也可以通过人工方式在校准图像上对缺陷位置进行标注。

在一些实施例中，缺陷位置包括短路缺陷位置及断路缺陷位置。检测装置可以根据预设的图像条件检出短路缺陷、断路缺陷，并将短路缺陷的位置、断路缺陷的位置标注在图像上。

在步骤S500中，根据包含缺陷位置的校准图像，通过修补装置对阵列基板进行修补。

根据本发明实施例的阵列基板的修补方法，根据修补装置获取的第二图像，对检测装置获取的第一图像校准，得到校准图像，使得该校准图像能够被修补装置直接识别，进一步地，修补装置能够直接根据包含缺陷位置的校准图像对阵列基板进行修补，提升对阵列基板修补的效率。

在一些实施例中，步骤S500可以进一步包括：在校正图像上根据缺陷位置规划修补路径，之后根据包含修补路径的校准图像控制修补装置对阵列基板进行修补。即，修补装置能够直接识别校准图像上规划的修补路径并以此进行修补，省去了人工画线建立路径所占用的时长，从而进一步提高修补效率。

本发明实施例还提供一种阵列基板的修补系统，其用于对阵列基板的缺陷进行修补，其中阵列基板的缺陷例如是布线结构中的短路缺陷、短路缺陷。

图11是本发明一种实施例提供的阵列基板的修补系统的结构框图，该修补系统包括检测装置110、修补装置120以及校准装置130。

检测装置110包括第一图像采集器件111以及缺陷检出器件112，第一图像采集器件111能够获取阵列基板的待测区域的第一图像。检测装置110例如是AOI装置，第一图像采集器件111能够采集图像信息，缺陷检出器件112能够根据预设的检出条件在图像信息上获取缺陷位置。

修补装置120包括第二图像采集器件121以及缺陷修补器件122，第二图像采集器件121能够获取阵列基板的待测区域的第二图像。修补装置120例如是包括激光源的修补装置120，第二图像采集器件121能够采集图像信息，缺陷修补器件122例如是激光源组件，能够利用激光对阵列基板上的布线结构中的短路缺陷及断路缺陷进行修复。

校准装置130与第一图像采集器件111、缺陷检出器件112、第二图像采集器件121以及缺陷修补器件122耦合。校准装置130能够根据第二图像将第一图像校准转换为校准图像。

缺陷检出器件112能够在校准图像上标注缺陷位置，缺陷修补器件122能够根据包含缺陷位置的校准图像对阵列基板进行修补。

在一些实施例中，校准装置130包括图像转化模块131、峰值校准模块132以及峰宽校准模块133。

图像转化模块131能够将第一图像转换为与预设基色组合中的各基色分别对应的多个第一灰阶分布图，以及将第二图像转换为与预设基色组合中的各基色分别对应的多个第二灰阶分布图。其中，第一灰阶分布图、第二灰阶分布图为预定灰阶范围内各灰阶值出现频率的分布图。

峰值校准模块132能够将第一灰阶分布图中灰阶分布峰的顶点的灰阶值转换为与颜色对应的第二灰阶分布图中灰阶分布峰的顶点的灰阶值对应相同。

峰宽校准模块133能将第一灰阶分布图中灰阶分布峰的顶点的灰阶值转换为与颜色对应的第二灰阶分布图中灰阶分布峰的顶点的灰阶值对应相同。

根据本发明实施例的阵列基板的修补装置，根据修补装置120获取的第二图像，对检测装置110获取的第一图像校准，得到校准图像，使得该校准图像能够被修补装置120直接识别，进一步地，修补装置120能够直接根据包含缺陷位置的校准图像对阵列基板进行修补，提升对阵列基板修补的效率。

依照本发明如上文所述的实施例，这些实施例并没有详尽叙述所有的细节，也不限制该发明仅为所述的具体实施例。显然，根据以上描述，可作很多的修改和变化。本说明书选取并具体描述这些实施例，是为了更好地解释本发明的原理和实际应用，从而使所属技术领域技术人员能很好地利用本发明以及在本发明基础上的修改使用。本发明仅受权利要求书及其全部范围和等效物的限制。

Claims (8)

1.一种阵列基板的修补方法，其特征在于，包括：

通过检测装置获取所述阵列基板的待测区域的第一图像；

通过修补装置获取所述阵列基板的所述待测区域的第二图像；

根据所述第二图像，对所述第一图像校准，得到校准图像；

通过所述检测装置在所述校准图像上标注缺陷位置；以及

根据包含所述缺陷位置的所述校准图像，通过所述修补装置对所述阵列基板进行修补；

所述根据所述第二图像，对所述第一图像校准，得到校准图像包括：

根据所述第一图像获得与预设基色组合中的各基色分别对应的多个第一灰阶分布图；

根据所述第二图像获得与所述预设基色组合中的各基色分别对应的多个第二灰阶分布图；以及

以所述第二灰阶分布图为基准，分别对颜色对应的所述第一灰阶分布图校准，使得所述第一图像转变为所述校准图像，

其中，所述第一灰阶分布图、所述第二灰阶分布图为预定灰阶范围内各灰阶值出现频率的分布图。

2.根据权利要求1所述的阵列基板的修补方法，其特征在于，所述以所述第二灰阶分布图为基准，分别对颜色对应的所述第一灰阶分布图校准包括：

对所述第一灰阶分布图进行峰值校准，其中，将所述第一灰阶分布图中灰阶分布峰的顶点的灰阶值转换为与颜色对应的所述第二灰阶分布图中灰阶分布峰的顶点的灰阶值对应相同。

3.根据权利要求2所述的阵列基板的修补方法，其特征在于，所述以所述第二灰阶分布图为基准，分别对颜色对应的所述第一灰阶分布图校准还包括：

对所述第一灰阶分布图进行峰宽校准，其中，将所述第一灰阶分布图中灰阶分布峰的峰宽转换为与颜色对应的所述第二灰阶分布图中灰阶分布峰的峰宽对应相同。

4.根据权利要求1所述的阵列基板的修补方法，其特征在于，所述根据所述第一图像获得与预设基色组合中的各基色分别对应的多个第一灰阶分布图包括：

根据所述预设基色组合，将所述第一图像拆分为与所述预设基色组合中的各基色分别对应的多个第一子图像；以及

采集所述第一子图像中各点的灰阶值并处理，得到对应的所述第一灰阶分布图，

所述根据所述第二图像获得与所述预设基色组合中的各基色分别对应的多个第二灰阶分布图包括：

根据所述预设基色组合，将所述第二图像拆分为与所述预设基色组合中的各基色分别对应的多个第二子图像；以及

采集所述第二子图像中各点的灰阶值并处理，得到对应的所述第二灰阶分布图。

5.根据权利要求1所述的阵列基板的修补方法，其特征在于，所述预设基色组合包括红色、绿色、蓝色。

6.根据权利要求1所述的阵列基板的修补方法，其特征在于，所述根据包含所述缺陷位置的所述校准图像，通过所述修补装置对所述阵列基板进行修补包括：

在所述校准图像上根据所述缺陷位置规划修补路径；

根据包含所述修补路径的所述校准图像控制所述修补装置对所述阵列基板进行修补。

7.根据权利要求1所述的阵列基板的修补方法，其特征在于，所述缺陷位置包括短路缺陷位置及断路缺陷位置。

8.一种阵列基板的修补系统，其特征在于，包括：

检测装置，包括第一图像采集器件以及缺陷检出器件，所述第一图像采集器件能够获取所述阵列基板的待测区域的第一图像；

修补装置，包括第二图像采集器件以及缺陷修补器件，所述第二图像采集器件能够获取所述阵列基板的所述待测区域的第二图像；以及

校准装置，与所述第一图像采集器件、所述缺陷检出器件、所述第二图像采集器件以及所述缺陷修补器件耦合，所述校准装置能够根据所述第二图像将所述第一图像校准转换为校准图像，所述缺陷检出器件能够在所述校准图像上标注缺陷位置，所述缺陷修补器件能够根据包含所述缺陷位置的所述校准图像对所述阵列基板进行修补；

所述校准装置包括：

图像转化模块，与所述第一图像采集器件、所述第二图像采集器件耦合，能够将所述第一图像转换为与预设基色组合中的各基色分别对应的多个第一灰阶分布图，以及将所述第二图像转换为与所述预设基色组合中的各基色分别对应的多个第二灰阶分布图，其中，所述第一灰阶分布图、所述第二灰阶分布图为预定灰阶范围内各灰阶值出现频率的分布图；

峰值校准模块，与所述图像转化模块耦合，能够将所述第一灰阶分布图中灰阶分布峰的顶点的灰阶值转换为与颜色对应的所述第二灰阶分布图中灰阶分布峰的顶点的灰阶值对应相同；

峰宽校准模块，与所述图像转化模块耦合，能够将所述第一灰阶分布图中灰阶分布峰的顶点的灰阶值转换为与颜色对应的所述第二灰阶分布图中灰阶分布峰的顶点的灰阶值对应相同。

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