CN110729167A - 一种离子探头 - Google Patents

一种离子探头 Download PDF

Info

Publication number
CN110729167A
CN110729167A CN201910976253.5A CN201910976253A CN110729167A CN 110729167 A CN110729167 A CN 110729167A CN 201910976253 A CN201910976253 A CN 201910976253A CN 110729167 A CN110729167 A CN 110729167A
Authority
CN
China
Prior art keywords
tube
ion probe
round pipe
circular ring
circular
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201910976253.5A
Other languages
English (en)
Other versions
CN110729167B (zh
Inventor
吴宝昕
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Suntech Medical Shenzhen Ltd
Original Assignee
HANGZHOU ZHUILIE TECHNOLOGY Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by HANGZHOU ZHUILIE TECHNOLOGY Co Ltd filed Critical HANGZHOU ZHUILIE TECHNOLOGY Co Ltd
Priority to CN201910976253.5A priority Critical patent/CN110729167B/zh
Publication of CN110729167A publication Critical patent/CN110729167A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN110729167B publication Critical patent/CN110729167B/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/26—Mass spectrometers or separator tubes
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/02—Details
    • H01J49/04—Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components
    • H01J49/0422—Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components for gaseous samples

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)

Abstract

本发明提供一种离子探头，该离子探头包括接口(1)、第一圆管(2)、第二圆管(3)、采样管(4)、以及第一放电板(5)；第二圆管(3)同心的放置在第一圆管(2)内，采样管(4)同心的放置在第二圆管(3)内，第一放电板(5)固定在第二圆管(3)的外壁。该离子探头使得样品离子在采样管传输过程中的损失减小，从而获得高灵敏度的质谱仪。

Description

一种离子探头
技术领域
本发明涉及物质检测技术领域，尤其涉及一种离子探头。
背景技术
质谱仪是按照离子的荷质比(m/z)的不同，来检测分析不同分子量的分子。在小型化的质谱仪中，获取样品离子常用的方式是，离子探头产生的等离子体靠近样品，与样品表面的分子发生相互作用，从而产生样品离子，样品离子在气流的作用下，沿着采样管被输送到质量分析器中，被用来分析和检测。然而，样品离子在采样管传输过程中将会接触采样管内壁，由于中和效应，造成离子损失，从而降低质谱仪分析的灵敏度。
发明内容
针对上述问题，本发明提出一种离子探头，该离子探头使得样品离子在采样管传输过程中的损失减小，从而获得高灵敏度的质谱仪。
本发明提供了一种离子探头，该离子探头包括接口1、第一圆管2、第二圆管3、采样管4、以及第一放电板5；第二圆管3同心的放置在第一圆管2内，采样管4同心的放置在第二圆管3内，第一放电板5固定在第二圆管3的外壁。
其中，第一圆管2以及第二圆管3可为导体管、或者内壁至少部分覆盖导体的绝缘管。
其中，第一放电板5包括第一圆环51以及在第一圆环51的外径处，沿着第一圆环51的外径向外延伸的第一放电尖端52。第一圆环51的内径等于第二圆管3的外径，第一圆环51的外径和第一放电尖端52的长度之和小于第一圆管2的内径。
其中，采样管4 靠近样品6的端部高于第二圆管3靠近样品6的端部，且采样管4靠近样品的端部的壁为圆弧形。
其中，还包括固定设置在第一圆管2的内壁处的第二放电板7。
其中，第二放电板7包括第二圆环71以及在第二圆环71的内径处，沿着第二圆环71的内径向外延伸的第二放电尖端72。第二圆环71的外径等于第一圆管2的外径，且通过穿过第一圆管2壁的螺钉，将第二圆环71固定在第一圆管2内径处。
其中，第二放电尖端72和第一放电尖端52间隔设置。
附图说明
图1是本发明第一实施例的离子探头的示意图。
图2是本发明第一实施例的放电板的俯视图。
图3是本发明第二实施例的离子探头的示意图。
图4是本发明第二实施例的离子探头的放电电极的俯视图。
具体实施方式
以下将通过实施例来详细说明本申请的实施方式，借此对本申请如何应用技术手段来解决技术问题并达成技术功效的实现过程能充分理解并据以实施。
图1本发明第一实施例的离子探头示意图。该离子探头包括接口1、第一圆管2、第二圆管3、采样管4、以及第一放电板5。第二圆管3同心的放置在第一圆管2内，采样管4同心的放置在第二圆管3内，第一放电板5固定在第二圆管3的外壁。其中，第一圆管2以及第二圆管3可为导体管、或者内壁至少部分覆盖导体的绝缘管。通过第一圆管2或者第一圆管2内壁的导体、第二圆管3或者第二圆管3外壁的导体，将未图示的电压源的电压加载在第一放电板5，从而使通过第一圆管2和第二圆管3之间的气体(例如空气等)电离。
图2是本发明第一实施例的第一放电板的俯视图。第一放电板5包括第一圆环51以及在第一圆环51的外径处，沿着第一圆环51的外径向外延伸的第一放电尖端52。第一圆环51的内径等于第二圆管3的外径，第一圆环51的外径和第一放电尖端52的长度之和小于第一圆管2的内径。第一放电尖端52的个数可为3个、4个、5个、6个、8个、12个等。从气体完全电离的角度来看，第一放电尖端优选16个、32个。
在操作该离子探头时，在第一圆管2和第二圆管3之间传输的气体(例如空气)，被第一放电板5上的第一放电尖端52电离形成等离子体，该等离子体被气流输运到样品6的表面处，与样品6表面的分子发生相互作用，从而产生样品离子，样品离子在气流的作用下，沿着采样管4被输送到未图示的质量分析器中，被分析和检测；在第二圆管3和采样管4之间传输的气体(例如空气)，将会沿着采样管4的内壁输送，在样品离子和采样管4内壁之间提供一个气体鞘层，该气体鞘层对样品离子向采样管4内壁方向的扩散或迁移运动产生阻碍作用，从而使得更多的样品离子在到达采样管4的末端之前，没和采样管4的内壁接触，从而增加通过采样管4末端的接口1到达未图示的质量分析器的离子数量，进而提高样品离子探测的灵敏度。
为了便于在第二圆管3和采样管4之间传输的气体沿着采样管4的内壁输送，采样管4 靠近样品6的端部高于第二圆管3靠近样品6的端部，且采样管4靠近样品的端部的壁为圆弧形。
图3是本发明第二实施例的离子探头示意图。本发明的第二实施例的离子探头和本发明第一实施例的离子探头的区别是在第一圆管2的内壁固定设置一个第二放电板7。第二实施例的离子探头和第一实施例的离子探头的相同的部件不再赘述。请参考第一实施例。
图4是本发明第二实施例的第二放电板7的俯视图，其中虚线表示第二放电板7，实线表示第一放电板5。第二放电板7包括第二圆环71以及在第二圆环71的内径处，沿着第二圆环71的内径向外延伸的第二放电尖端72。第二圆环71的外径等于第一圆管2的外径，且通过穿过第一圆管2壁的螺钉(未图示)，将第二圆环71固定在第一圆管2内径处。第二放电尖端72的个数可为3个、4个、5个、6个、8个、12个等。从气体完全电离的角度来看，第二放电尖端优选16个、32个。另外，第二放电尖端72和第一放电尖端52间隔设置，这样有利于气体电离以及降低气体电离电压，如图4所示。
本申请还存在其它多种可实施的技术方案，在此不做一一列举，本申请权利要求中要求保护的技术方案都是可以实施的。
本申请说明书中未作详细描述的内容属于本领域技术人员的公知常识。

Claims (9)

1.一种离子探头，其特征在于，该离子探头包括接口(1)、第一圆管(2)、第二圆管(3)、采样管(4)、以及第一放电板(5)；第二圆管(3)同心的放置在第一圆管(2)内，采样管(4)同心的放置在第二圆管(3)内，第一放电板(5)固定在第二圆管(3)的外壁。
2.根据权利要求1所述的离子探头，其特征在于，第一圆管(2)以及第二圆管(3)可为导体管、或者内壁至少部分覆盖导体的绝缘管。
3.根据权利要求2所述的离子探头，其特征在于，第一放电板(5)包括第一圆环(51)以及在第一圆环(51)的外径处，沿着第一圆环(51)的外径向外延伸的第一放电尖端(52)。
4.根据权利要求3所述的离子探头，其特征在于，第一圆环(51)的内径等于第二圆管(3)的外径，第一圆环(51)的外径和第一放电尖端(52)的长度之和小于第一圆管(2)的内径。
5.根据权利要求4所述的离子探头，其特征在于，采样管(4) 靠近样品(6)的端部高于第二圆管(3)靠近样品(6)的端部，且采样管(4)靠近样品的端部的壁为圆弧形。
6.根据权利要求5所述的离子探头，其特征在于，还包括固定设置在第一圆管(2)的内壁处的第二放电板(7)。
7.根据权利要求6所述的离子探头，其特征在于，第二放电板(7)包括第二圆环(71)以及在第二圆环(71)的内径处，沿着第二圆环(71)的内径向外延伸的第二放电尖端(72)。
8.根据权利要求7所述的离子探头，其特征在于，第二圆环(71)的外径等于第一圆管(2)的外径，且通过穿过第一圆管(2)壁的螺钉，将第二圆环(71)固定在第一圆管(2)内径处。
9.根据权利要求7所述的离子探头，其特征在于，第二放电尖端(72)和第一放电尖端(52)间隔设置。
CN201910976253.5A 2019-10-15 2019-10-15 一种离子探头 Expired - Fee Related CN110729167B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201910976253.5A CN110729167B (zh) 2019-10-15 2019-10-15 一种离子探头

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201910976253.5A CN110729167B (zh) 2019-10-15 2019-10-15 一种离子探头

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN110729167A true CN110729167A (zh) 2020-01-24
CN110729167B CN110729167B (zh) 2022-05-06

Family

ID=69221169

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201910976253.5A Expired - Fee Related CN110729167B (zh) 2019-10-15 2019-10-15 一种离子探头

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN110729167B (zh)

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20080128614A1 (en) * 2006-12-04 2008-06-05 Evgenij Nikolaev Mass spectrometry with laser ablation
CN105874561A (zh) * 2013-11-15 2016-08-17 蒙特利尔史密斯安检仪公司 同心apci表面电离离子源和离子导向器及其使用方法
CN107532975A (zh) * 2015-04-09 2018-01-02 Ut-巴特勒有限公司 捕获探针
CN109643636A (zh) * 2016-07-29 2019-04-16 史密斯探测公司 带有辅助加热气体喷流的低温等离子体探针

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20080128614A1 (en) * 2006-12-04 2008-06-05 Evgenij Nikolaev Mass spectrometry with laser ablation
CN105874561A (zh) * 2013-11-15 2016-08-17 蒙特利尔史密斯安检仪公司 同心apci表面电离离子源和离子导向器及其使用方法
CN107532975A (zh) * 2015-04-09 2018-01-02 Ut-巴特勒有限公司 捕获探针
CN109643636A (zh) * 2016-07-29 2019-04-16 史密斯探测公司 带有辅助加热气体喷流的低温等离子体探针

Also Published As

Publication number Publication date
CN110729167B (zh) 2022-05-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7326926B2 (en) Corona discharge ionization sources for mass spectrometric and ion mobility spectrometric analysis of gas-phase chemical species
EP0966022B1 (en) Multi-inlet mass spectrometer
US9972482B2 (en) Concentric APCI surface ionization ion source, ion guide, and method of use
US11923184B2 (en) Apparatus and method for ionizing an analyte, and apparatus and method for analyzing an ionized analyte
CN109643636B (zh) 带有辅助加热气体喷流的低温等离子体探针
US11875982B2 (en) Multi-modal ionization for mass spectrometry
CN111739783B (zh) 用于小型质谱仪的大气压电弧离子源及其检测方法
CN110137071B (zh) 分体式过程质谱仪
JP2003215101A (ja) 液体クロマトグラフ質量分析計
CN110729167B (zh) 一种离子探头
CN114166927A (zh) 检测多组分样品的质谱装置检测方法
CN108493091B (zh) 一种高电子利用率低能电离装置、质谱系统及方法
CN102103039A (zh) 一种表面解吸附采样的方法和装置
CN110729168B (zh) 一种小型质谱仪
CN105355535B (zh) 离子源及离子化方法
Zhou et al. Plasma-based ambient sampling/ionization/transmission integrated source for mass spectrometry
US20220317089A1 (en) Gas chromatograph mass spectrometer and mass spectrometry method
CN110729169B (zh) 一种便携式质谱仪
CN110729170B (zh) 一种离子源
EP3559979A1 (en) Ion guide exit transmission control
CN112216592B (zh) 宽动态范围离子检测系统及装置
CN112683989A (zh) 一种质谱分析装置及其方法
JP2017107817A (ja) 四重極型質量分析計及び残留ガス分析方法
GB2518275A (en) Intelligent dynamic range enhancement

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
TA01 Transfer of patent application right
TA01 Transfer of patent application right

Effective date of registration: 20220415

Address after: 518000 floor 2-3, No. 105-15, huanguan South Road, Dahe community, Guanhu street, Longhua District, Shenzhen, Guangdong

Applicant after: SUNTECH MEDICAL (SHENZHEN) LTD.

Address before: 310030 room 2603, building 8, No. 2, Xiyuan 8th Road, Sandun Town, Xihu District, Hangzhou City, Zhejiang Province

Applicant before: HANGZHOU ZHUILIE TECHNOLOGY Co.,Ltd.

GR01 Patent grant
GR01 Patent grant
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20220506