CN110666712A - 一种用于芯片检测的支撑装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种用于芯片检测的支撑装置，涉及芯片检测领域，包括底座上方设有两个支脚；柱体位于两个支脚之间，其内部设有贯穿其两端的通孔，通孔内壁设有若干检测区，每个检测区对应不同的检测项目；轴体两端分别与支脚连接；第一电机输出轴与轴体一端连接；与检测区数量相等的支撑柱的上端面设有限位槽，用于放置待检测的芯片；每个支撑柱的下方至少设于两个联动柱，其中一端与支撑柱的下侧面转动连接，另一端与轴体侧表面的凸块转动连接；驱动部，用于驱动放置于限位槽的芯片与检测区相结合，本发明检测过程循环往复，不需要一个项目检测完成后再取出拿到另一个项目检测地去，同时检测过程需要的人工量少，节省了人力成本和时间成本。
Description
技术领域
本发明涉及芯片检测领域，特别涉及一种用于芯片检测的支撑装置。
背景技术
芯片，又称微电路(microcircuit)、微芯片(microchip)、集成电路(integratedcircuit，IC)。是指内含集成电路的硅片，体积很小，常常是计算机或其他电子设备的一部分，芯片在生产后需对其各个不同的性能进行检测。
本申请人发现：芯片在大批量生产中，需抽取一定量的芯片进行检测，在检测过程中，应对每个芯片进行不同性能的检测，这样在检测时，需要花费大量的人力和时间成本。
发明内容
有鉴于此，本发明的目的在于提出一种用于芯片检测的支撑装置，以解决现有技术中芯片在大批量生产中，需抽取一定量的芯片进行检测，在检测过程中，应对每个芯片进行不同性能的检测，这样在检测时，需要花费大量的人力和时间成本的技术问题。
基于上述目的本发明提供的一种用于芯片检测的支撑装置，包括
底座，其上方设有两个支脚；
柱体，其固定于底座，且柱体位于两个支脚之间，所述柱体内部设有贯穿其两端的通孔，所述通孔的内壁沿其中轴线方向均匀设有若干检测区，每个所述检测区对应不同的检测项目；
轴体，其两端分别与支脚通过轴承连接，所述轴体的中轴线与通孔的中轴线重合；
第一电机，其通过固定件固定于其中的一个支脚，且其输出轴与轴体的一端通过联轴器连接；
与检测区数量相等的支撑柱，所述支撑柱的上端面设有限位槽，用于放置待检测的芯片；
联动柱，每个所述支撑柱的下方至少设于两个所述的联动柱，所述联动柱的两端分别设有转动轴，且其中一端的转动轴与支撑柱的下侧面转动连接，另一端的转动轴与轴体侧表面的凸块转动连接；
驱动部，所述驱动部与支撑柱动力连接，用于驱动放置于限位槽的待检测芯片与检测区相结合，从而对待检测芯片进行检测。
进一步的，包括检测块，所述检测区内设有若干所述的检测块。
进一步的，包括匹配板，所述匹配板的上端面设有与检测块相对应的定位槽，所述定位槽的大小与待检测芯片的大小相等，用于放置待检测芯片，所述限位槽分为开口槽和匹配槽，所述匹配槽位于开口槽的下方，且匹配槽的宽度大于开口槽的宽度，在将待检测芯片放置于定位槽中后，使匹配板与匹配槽相结合。
进一步的，所述定位槽的宽度大于开口槽的宽度。
进一步的，所述限位槽的一侧贯穿支撑柱的一端，所述匹配板的长度大于限位槽的长度，所述匹配板与匹配槽相结合后，匹配板的一端延伸至通孔的外部。
进一步的，包括提示灯，所述定位槽的四周设有与检测区相对应的所述的提示灯。
进一步的，包括磁铁，所述磁铁设置于限位槽的端部内，用于在匹配板与匹配槽相结合后，对匹配板的一端产生吸力。
进一步的，所述驱动部包括第二电机、转轴、驱动块、圆环、驱动柱和联动块，所述轴体的另一端内部设有轴孔，所述轴孔的中轴线与轴体的中轴线重合，所述转轴与轴孔转动连接，所述第二电机通过固定件固定于另一个支脚，其输出轴与转轴的一端通过联轴器连接，所述轴体的侧表面设有若干滑槽，所述滑槽与轴孔连通，所述驱动块设有穿孔，且其通过穿孔与轴体滑动连接，所述穿孔的侧壁设有与滑槽相对应的联动块，所述联动块与滑槽滑动连接，联动块朝向转轴的端面与转轴螺纹连接，所述驱动块的外侧面设有环槽，所述圆环套接于环槽，并与环槽转动连接，所述驱动柱的一端与支撑柱的下端铰接，驱动柱的另一端与圆环的外侧表面铰接。
本发明的有益效果：采用本发明的一种用于芯片检测的支撑装置，在使用之前，支撑柱正对于检测区，两者相互分离，使用时，将待检测芯片放入与底座距离最大的支撑柱中，此时驱动部动作，使该支撑柱中的待检测芯片与检测区接触，完成第一项检测；第一电机带动该支撑柱转动到与下一个检测区对应，同时另一个支撑柱转动到上一个支撑柱的位置，再将另一批待检测芯片放入到该支撑柱，驱动部再动作，这个时候，上一个支撑柱中的待检测芯片与此刻对应的检测区接触完成第二项检测，此刻刚放入待检测芯片的支撑柱与对应的检测区接触，完成第一项检测，如此反复，当最先放入待检测芯片的支撑柱转动到起点位置时，检测完成，此时，取出待检测芯片，然后再在支撑柱中放入待检测芯片，使检测过程循环下去，这样检测过程循环往复，不需要一个项目检测完成后再取出拿到另一个项目检测地去，同时检测过程人工参与度底，需要的人工量少，节省了人力成本和时间成本。
附图说明
图1为本发明实施例的具体实施方式的正面剖视图；
图2为本发明实施例的具体实施方式中柱体的侧视图；
图3为本发明实施例的具体实施方式中驱动部的放大图；
图4为沿图3中A-A线的剖视图；
图5为本发明实施例的具体实施方式中支撑柱的俯视图；
图6为本发明实施例的具体实施方式中支撑柱的侧视图；
图7为本发明实施例的具体实施方式中提示灯的结构示意图。
其中，1-底座、2-支脚、3-柱体、4-通孔、5-检测块、6-轴体、7-第一电机、8-第二电机、9-转轴、10-轴孔、11-滑槽、12-驱动块、13-圆环、14-支撑柱、15-驱动柱、16-联动柱、17-联动块、18-环槽、19-穿孔、20-磁铁、21-匹配板、22-限位槽、23-定位槽、24-提示灯。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参照附图，对本发明进一步详细说明。
基于上述目的，本发明的第一个方面，提出了一种用于芯片检测的支撑装置的一个实施方式，如图1和图2所示，包括
底座1，其上方设有两个支脚2；
柱体3，其固定于底座1，且柱体3位于两个支脚2之间，所述柱体3内部设有贯穿其两端的通孔4，所述通孔4的内壁沿其中轴线方向均匀设有若干检测区，每个所述检测区对应不同的检测项目；
轴体6，其两端分别与支脚2通过轴承连接，所述轴体6的中轴线与通孔4的中轴线重合；
第一电机7，其通过固定件固定于其中的一个支脚2，且其输出轴与轴体6的一端通过联轴器连接；
与检测区数量相等的支撑柱14，所述支撑柱14的上端面设有限位槽22，用于放置待检测的芯片；
联动柱16，每个所述支撑柱14的下方至少设于两个所述的联动柱16，所述联动柱16的两端分别设有转动轴，且其中一端的转动轴与支撑柱14的下侧面转动连接，另一端的转动轴与轴体6侧表面的凸块转动连接；
驱动部，所述驱动部与支撑柱14动力连接，用于驱动放置于限位槽22的待检测芯片与检测区相结合，从而对待检测芯片进行检测。
在使用之前，支撑柱14正对于检测区，两者相互分离，使用时，将待检测芯片放入与底座距离最大的支撑柱14中，此时驱动部动作，使该支撑柱14中的待检测芯片与检测区接触，完成第一项检测；第一电机7带动该支撑柱14转动到与下一个检测区对应，同时另一个支撑柱14转动到上一个支撑柱14的位置，再将另一批待检测芯片放入到该支撑柱14，驱动部再动作，这个时候，上一个支撑柱14中的待检测芯片与此刻对应的检测区接触完成第二项检测，此刻刚放入待检测芯片的支撑柱14与对应的检测区接触，完成第一项检测，如此反复，当最先放入待检测芯片的支撑柱14转动到起点位置时，检测完成，此时，取出待检测芯片，然后再在该支撑柱14中放入待检测芯片，使检测过程循环下去，这样检测过程循环往复，不需要一个项目检测完成后再取出拿到另一个项目检测地去，同时检测过程人工参与度底，需要的人工量少，节省了人力成本和时间成本。
在上述实施例中，如图1所示，包括检测块5，所述检测区内设有若干所述的检测块5，这样在一次检测中，在支撑柱14的限位槽22中放入与检测块5相对应数量的待检测芯片，检测块5之间的间隔保证在支撑柱14与检测区接触时，每个待检测芯片均能与相对应的检测块5接触，这样可以使一次可对多个待检测芯片检测，大大提高了检测效率。
在上述实施例中，如图5和图6所示，包括匹配板21，所述匹配板21的上端面设有与检测块5相对应的定位槽23，所述定位槽23的大小与待检测芯片的大小相等，用于放置待检测芯片，所述限位槽22分为开口槽和匹配槽，所述匹配槽位于开口槽的下方，且匹配槽的宽度大于开口槽的宽度，从而保证匹配板21与限位槽22结合后，不会随着轴体6的转动而掉落，在将待检测芯片放置于定位槽23中后，使匹配板21与匹配槽相结合。
在本实施例中，待检测芯片首先放入一个一个的定位槽23中，待一个匹配板21的定位槽23放满待检测芯片后，使匹配板21与限位槽22相结合，因为支撑柱14是位于通孔4中，这样如果直接在限位槽22中放入待检测芯片，效率较低，通过上述方法，可在轴体6转动以及芯片检测的时间里将待检测芯片事先放入定位槽23中，这样一旦支撑柱14与检测区分离后，就可将匹配板21与限位槽22匹配，提高了检测效率。
上述实施例中，如图6所示，所述定位槽23的宽度大于开口槽的宽度，使其在匹配板21与限位槽22结合后，将待检测芯片的位置固定，防止装置运动过程中，待检测芯片与定位槽23分离。
上述实施例中，如图5所示，所述限位槽22的一侧贯穿支撑柱14的一端，所述匹配板21的长度大于限位槽21的长度，所述匹配板21与匹配槽相结合后，匹配板21的一端延伸至通孔4的外部，在使匹配板21与限位槽22分离和结合时，操作人员可以方便对匹配板21延伸至通孔4外部的一端施加外力。
上述实施例中，如图7所示，包括提示灯24，所述定位槽23的四周设有与检测区相对应的所述的提示灯24，在检测时，待检测芯片的一项检测没有通过，该项检测对应的提示灯24就会亮起，使操作人员可以方便的识别不良品。
上述实施例中，如图5所示，包括磁铁20，所述磁铁20设置于限位槽22的端部内，用于在匹配板21与匹配槽相结合后，对匹配板21的一端产生吸力，保证匹配板21不会在匹配槽中滑动。
上述实施例中，如图1至图4所示，所述驱动部包括第二电机8、转轴9、驱动块12、圆环13、驱动柱15和联动块17，所述轴体6的另一端内部设有轴孔10，所述轴孔10的中轴线与轴体6的中轴线重合，所述转轴9与轴孔10转动连接，所述第二电机8通过固定件固定于另一个支脚2，其输出轴与转轴9的一端通过联轴器连接，所述轴体6的侧表面设有若干滑槽11，所述滑槽11与轴孔10连通，所述驱动块12设有穿孔19，且其通过穿孔19与轴体6滑动连接，所述穿孔19的侧壁设有与滑槽11相对应的联动块17，所述联动块17与滑槽11滑动连接，联动块17朝向转轴9的端面与转轴9螺纹连接，所述驱动块12的外侧面设有环槽18，所述圆环13套接于环槽18，并与环槽18转动连接，所述驱动柱15的一端与支撑柱14的下端铰接，驱动柱15的另一端与圆环13的外侧表面铰接。
本实施例中，由于驱动柱15连接支撑柱14和圆环13，当轴体6转动时，支撑柱14在转动时，通过驱动柱15带动圆环13跟随支撑柱14转动，当支撑柱14转动到一个检测区位置时，轴体6停止转动，第二电机8转动，带动转轴9转动，由于滑槽11对联动块17的侧面的限位作用，使转轴9带动联动块17在滑槽11中滑动，并向转轴9的末端靠近，这样驱动柱15会在这个过程中，将推动支撑柱14逐渐向检测区靠近，当两者接触时，第二电机8停止转动，当检测完成后，首先第二电机8反转，使支撑柱14与检测区分离，再第一电机7启动带动支撑柱14转动。
所属领域的普通技术人员应当理解：以上任何实施例的讨论仅为示例性的，并非旨在暗示本公开的范围(包括权利要求)被限于这些例子；在本发明的思路下，以上实施例或者不同实施例中的技术特征之间也可以进行组合，并存在如上本发明的不同方面的许多其它变化，为了简明它们没有在细节中提供。因此，凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何省略、修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (8)
1.一种用于芯片检测的支撑装置，其特征在于：包括
底座(1)，其上方设有两个支脚(2)；
柱体(3)，其固定于底座(1)，且柱体(3)位于两个支脚(2)之间，所述柱体(3)内部设有贯穿其两端的通孔(4)，所述通孔(4)的内壁沿其中轴线方向均匀设有若干检测区，每个所述检测区对应不同的检测项目；
轴体(6)，其两端分别与支脚(2)通过轴承连接，所述轴体(6)的中轴线与通孔(4)的中轴线重合；
第一电机(7)，其通过固定件固定于其中的一个支脚(2)，且其输出轴与轴体(6)的一端通过联轴器连接；
与检测区数量相等的支撑柱(14)，所述支撑柱(14)的上端面设有限位槽(22)，用于放置待检测的芯片；
联动柱(16)，每个所述支撑柱(14)的下方至少设于两个所述的联动柱(16)，所述联动柱(16)的两端分别设有转动轴，且其中一端的转动轴与支撑柱(14)的下侧面转动连接，另一端的转动轴与轴体(6)侧表面的凸块转动连接；
驱动部，所述驱动部与支撑柱(14)动力连接，用于驱动放置于限位槽(22)的待检测芯片与检测区相结合，从而对待检测芯片进行检测。
2.根据权利要求1所述的一种用于芯片检测的支撑装置，其特征在于：包括检测块(5)，所述检测区内设有若干所述的检测块(5)。
3.根据权利要求2所述的一种用于芯片检测的支撑装置，其特征在于：包括匹配板(21)，所述匹配板(21)的上端面设有与检测块(5)相对应的定位槽(23)，所述定位槽(23)的大小与待检测芯片的大小相等，用于放置待检测芯片，所述限位槽(22)分为开口槽和匹配槽，所述匹配槽位于开口槽的下方，且匹配槽的宽度大于开口槽的宽度，在将待检测芯片放置于定位槽(23)中后，使匹配板(21)与匹配槽相结合。
4.根据权利要求3所述的一种用于芯片检测的支撑装置，其特征在于：所述定位槽(23)的宽度大于开口槽的宽度。
5.根据权利要求3所述的一种用于芯片检测的支撑装置，其特征在于：所述限位槽(22)的一侧贯穿支撑柱(14)的一端，所述匹配板(21)的长度大于限位槽(21)的长度，所述匹配板(21)与匹配槽相结合后，匹配板(21)的一端延伸至通孔(4)的外部。
6.根据权利要求3所述的一种用于芯片检测的支撑装置，其特征在于：包括提示灯(24)，所述定位槽(23)的四周设有与检测区相对应的所述的提示灯(24)。
7.根据权利要求3所述的一种用于芯片检测的支撑装置，其特征在于：包括磁铁(20)，所述磁铁(20)设置于限位槽(22)的端部内，用于在匹配板(21)与匹配槽相结合后，对匹配板(21)的一端产生吸力。
8.根据权利要求1所述的一种用于芯片检测的支撑装置，其特征在于：所述驱动部包括第二电机(8)、转轴(9)、驱动块(12)、圆环(13)、驱动柱(15)和联动块(17)，所述轴体(6)的另一端内部设有轴孔(10)，所述轴孔(10)的中轴线与轴体(6)的中轴线重合，所述转轴(9)与轴孔(10)转动连接，所述第二电机(8)通过固定件固定于另一个支脚(2)，其输出轴与转轴(9)的一端通过联轴器连接，所述轴体(6)的侧表面设有若干滑槽(11)，所述滑槽(11)与轴孔(10)连通，所述驱动块(12)设有穿孔(19)，且其通过穿孔(19)与轴体(6)滑动连接，所述穿孔(19)的侧壁设有与滑槽(11)相对应的联动块(17)，所述联动块(17)与滑槽(11)滑动连接，联动块(17)朝向转轴(9)的端面与转轴(9)螺纹连接，所述驱动块(12)的外侧面设有环槽(18)，所述圆环(13)套接于环槽(18)，并与环槽(18)转动连接，所述驱动柱(15)的一端与支撑柱(14)的下端铰接，驱动柱(15)的另一端与圆环(13)的外侧表面铰接。
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