CN110618329A - 一种测试系统及跳频滤波器测试装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开一种测试系统，包括调压模块、稳压模块、微控制器模块、烧录口、LED电路、接口模块，所述调压模块与稳压模块的输入端电性连接，所述调压模块还与外界电源电路相连，所述稳压模块的输出端分别与LED电路模块、微控制器模块电性连接，所述微控制器模块还与烧录口电性连接，所述接口模块还分别与PC端口、微控制器模块、工装器件电性连接。本发明还公开了一种跳频滤波器测试装置。本发明的测试系统可以预存调试信息，电源模块分别给测试系统和跳频滤波器提供稳定的电压，而测试系统中的调压模块与稳压模块能实现改变电压高低，并输出稳定的电压，从而克服电压不稳导致测试结果不准确的问题。

Description

一种测试系统及跳频滤波器测试装置

技术领域

本发明涉及通信技术领域，尤其涉及一种测试系统及跳频滤波器测试装置。

背景技术

跳频滤波器在研发阶段，需要一套规划化、系统化的测试系统，满足对产品各个指标的测试，缩短产品开发周期。然后现有的测试系统五花八门，皆存在测试指标单一的问题，复杂的测试环境会使供电电压不稳定，导致调试不方便，测试结果不准确等问题。

申请号为“CN201420844019.X”的实用新型专利公开了一种滤波器的测试系统，该测试系统包括网络分析仪、与网络分析仪连接的调试计算机以及与调试计算机连接的至少两台显示器，其中网络分析仪包括至少两个调试端口组，每个调试端口组连接一待测滤波器，调试计算机将网络分析仪对待测滤波器的实测数据按不同的调试端口组进行区分，并在不同的显示器的调试界面上进行显示。但是该专利方案在使用时候，因为供电电压可能会不稳定的原因，导致测试结果不准确，无法推广使用。

发明内容

本发明所要解决的技术问题在于提供一种测试系统及跳频滤波器测试装置，以解决测试结果不准确的问题。

本发明通过以下技术手段实现解决上述技术问题的：

一种测试系统，包括调压模块、稳压模块、微控制器模块、烧录口、LED电路、接口模块，其中，所述调压模块与稳压模块的输入端电性连接，所述调压模块还与外界电源电路相连，所述稳压模块的输出端分别与LED电路模块、微控制器模块电性连接，所述微控制器模块还与烧录口电性连接，所述接口模块还分别与外界的PC端口、微控制器模块、外界的工装器件电性连接；

所述调压模块包括低压输出电路、高压输出电路，所述高压输出电路与低压输出电路并联。

通过外界电源电路给调压模块供电，调压模块用于根据工作需要输出需要的工作电压，稳压模块用于对工作电压进行稳压和滤波，PC端通过接口模块对微控制器模块输入测试指令，LED电路用于显示工作状态是否正确。

作为本发明进一步的方案：所述低压输出电路包括电阻R2、电阻R3、电阻R4、二极管D1、二极管D2、二极管D3、电感L1、电容C10、电容C11、电容C12、电容C13、主控芯片U1，其中，

所述二极管D3的正极与电容C12的一端电性连接，同时二极管D3的正极接地，所述电容C12的另一端与二极管D2的正极电性连接，所述二极管D2的负极与主控芯片U1的第1引脚电性连接，所述电容C12还与电容C13并联，二极管D2的正极通过IN端口与外界供电电源相连，供电电源提供的电压可以根据实际工作需要确定；

所述二极管D1的负极接地，所述二极管D1的正极与电阻R2的一端电性连接，所述电阻R2的另一端与电容C10的一端电性连接，同时还与电阻R4的一端、电阻R4的可控端电性连接，所述电容C10与电阻R2相连的一端输出第一电压VCC1，所述电容C10与主控芯片U1的第5引脚电性相连，同时并接地，所述电阻R4的另一端同时与电阻R3的一端、主控芯片U1的第4引脚电性相连，所述电阻R3的另一端接地且分别与电容C11的一端、主控芯片U1的第3引脚、第0引脚电性相连，所述电容C11的另一端分别与电感L1的一端、电阻R4的可控端电性连接；所述电感L1的另一端与主控芯片U1的第2引脚、二极管D3的负极均电性连接。

作为本发明进一步的方案：所述高压输出电路包括电阻R6、电阻R7、电阻R8、电阻R9、电容C18、电容C19、电容C7、主控芯片U2、变压器T1、二极管D6，所述变压器T1包括主边线圈T11、副边线圈T12，其中；

所述电阻R9的一端与调压电路电性连接，所述电阻R9的另一端与电阻R8的一端连接，所述电阻R8的另一端接地，所述电阻R9与电阻R8相连的一端还与主控芯片U2的第2引脚电性连接，所述主控芯片U2的第1引脚接地，所述主控芯片U2的第4引脚与电容C7的一端相连同时通过输入端与外界供电电源电性连接，所述电容C7的另一端接地；

所述主边线圈T11的同名端与主控芯片U2第4引脚电性连接，所述主边线圈T11的异名端与主控芯片U2的第3引脚电性连接，所述副边线圈T12的异名端与二极管D6的正极电性连接，所述副边线圈T12的同名端接地，所述二极管D6的负极与电阻R7的一端电性连接同时与电阻R7的可控端电性连接，所述电阻R7的另一端与主控芯片U2的第5引脚电性连接，同时所述主控芯片U2的第5引脚还与电阻R6的一端电性连接，所述电阻R6的另一端与主控芯片U2的第1引脚电性连接，所述电阻R6与主控芯片U2第1引脚相连的一端还与电容C19的一端电性连接，所述电容C19的另一端接在二极管D6的负极，所述电容C19与电容C18并联，且电容19与二极管D6负极相连的一端输出高压。

作为本发明进一步的方案：所述稳压模块包括电容C14、电容C15、电容C16、电容C17、主控芯片U3、连接件，所述电容C14的一端接第一电压VCC1同时与主控芯片U3的第3引脚电性相连，所述电容C14的另一端接主控芯片U3的第1引脚，所述电容C15与电容C14并联，所述主控芯片U3的第1引脚接地，所述主控芯片U3的第2引脚与电容C16的一端电性连接，所述电容C16的另一端接地，所述电容C16与电容C17并联，且所述主控芯片U3的第2引脚还与连接件的第1引脚电性连接，且主控芯片U3的第2引脚输出第二电压VCC2并与电阻R9的一端电性连接，所述连接件的第2引脚接地，所述接线端用于输入信号。

作为本发明进一步的方案：所述微控制器模块包括主控芯片U4、UART1、UART2、电容C1、电容C5、电容C6、电容C8、复位电路、晶振XTAL1；

其中，所述主控芯片U4的第17引脚与UART1的第3引脚电性连接，所述主控芯片U4的第20引脚与UART1的第2引脚电性连接；所述UART1的第1引脚接地，第4引脚外接第二电压VCC2。

所述主控芯片U4的第43引脚与UART2的第3脚电性连接，所述主控芯片U4的第44引脚与UART2的第2引脚电性连接，所述UART2的第1引脚接地，所述UART2的第4引脚均外接第二电压VCC2。

所述主控芯片U4的第12引脚、18引脚、63引脚、47引脚接地，所述主控芯片U4的31、19、64、48引脚均外接第二电压VCC2，所述主控芯片U4的第32引脚与电容C8的一端电性连接，所述电容C8的另一端接地。

所述第二电压VCC2还与电容C1的一端电性连接，且所述电容C1的另一端接地。

还包括电容C2、电容C3、电容C4，所述电容C2、电容C3、电容C4均与电容C1并联。

所述第二电压VCC2还与复位电路电性连接，所述复位电路包括电阻R1、RST1、电容C9，所述电阻R1的一端与供电电源电性连接，所述电阻R1的另一端与RST1电性连接，所述RST1的另一端接地，所述RST1与电阻R1相连的一端与主控芯片U4的第1引脚电性连接，所述电容C9与RST1并联。

所述主控芯片U4的第6引脚、54引脚分别接在晶振XTAL1的两端，所述晶振XTAL1与主控芯片第6引脚相连的一端还与电容C5的一端电性连接，所述电容C5的另一端接地的同时并与电容C6的一端电性连接，所述电容C6的另一端接在晶振XTAL1与主控芯片第54引脚相连的一端。

所述主控芯片U4还通过接口模块与外界PC端相连。

作为本发明进一步的方案：所述LED电路包括若干个电阻R5、若干个二极管D4，其中，若干个电阻R5并联，所述电阻R5的一端外界第二电压VCC2，所述电阻R5的另一端与二极管D5的正极电性连接，若干个二极管的负极与主控芯片U4电性连接，且所述二极管的负极还通过接口模块与外界PC端电性连接。

作为本发明进一步的方案：所述主控芯片U1型号为LM2596S芯片，所述主控芯片U2型号为XL6009芯片，所述主控芯片U3型号为ASM1117-33芯片，所述主控芯片U4型号为STM32F-103。

一种跳频滤波器测试装置，包括网络分析仪、跳频滤波器、测试系统、电源模块、PC端，其中，

所述网络分析仪、调频滤波器、测试系统依次电性相连，所述跳频滤波器还与电源模块电性相连，所述测试系统还分别与电源模块、PC端电性相连。

测试系统中可以预存调试信息，工作过程中，电源模块分别给测试系统和跳频滤波器提供稳定的电压，通过PC端给测试系统输入调试指令，测试系统调取存储中的调试信息，给跳频滤波器输出驱动控制调谐电压，控制跳频滤波器的各种工作方式，通过网络分析仪测试跳频滤波器的指标。

作为本发明进一步的方案：所述电源模块包括了第一电源、第二电源，且第一电源型号为GPC-603D直流电源，第二电源型号为ES1-100-012可调恒流电源，第一电源与第二电源可以串联连接。

本发明的优点在于：

1、本发明中，测试系统中可以预存调试信息，工作过程中，调压模块与稳压模块能够实现改变电压高低，并输出稳定的电压，从而克服电压不稳导致测试结果不准确的问题。

2、本发明中，低压输出电路的电容C12和电容C13能够消除IN端口处的电源纹波，同时加入的二极管D2有效预防输出端的电压反向影响输入端，提高电源的输出稳定性；输出端链接的二极管D3起到稳压作用，通过电感L1扼流圈遏制输出电压纹波，优化输出电压。

3、本发明高压输出电路中，当给主控芯片U2的第2引脚提供高电平时，主控芯片U2的第5引脚反馈电压实现对输出高压，通过改变电阻R17来实现调节输出高压，进而控制高低，而且根据实际工作需要，可以做出灵活的选择，获得不同大小的高压。同时，变压器T1能够丰富电压调整性的选择，加入二极管D6方向隔离，防止输出端的电压反向影响输入端，提供电压的输出稳定性，从而可以对不同的工装器件进行测试。

4、本发明一种跳频滤波器测试装置中，电源模块分别给测试系统和跳频滤波器提供稳定的电压，通过PC端给测试系统输入调试指令，测试系统调取存储中的调试信息，给跳频滤波器输出驱动控制调谐电压，控制跳频滤波器的各种工作方式，通过网络分析仪测试跳频滤波器的指标

5、本发明一种跳频滤波器测试装置中，测试系统会根据跳频滤波器的频点对应的电容矩阵开关所对应的高低电平，测试系统调取存储中的调试信息，并一次性测试跳频滤波器的各项指标，例如插损与功耗，具有系统化、自动化；保障在测试过程中，兼顾各个因素对系统产生的影响，测试出来的数据更加准确，为产品的优化调试提供可靠的支撑，这样大大缩短了产品开发周期。

附图说明

图1为本发明的系统方框图。

图2为本发明测试系统的系统方框图。

图3为本发明中的低压输出电路的原理图。

图4为本发明中的高压输出电路的原理图。

图5为本发明中的稳压电路的原理图。

图6为本发明中控制电路原理图。

图7为本发明中的复位电路的原理图。

图8为本发明中的LED电路的原理图。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

实施例1

如图2，图2为本发明测试系统的系统方框图；一种测试系统，包括调压模块、稳压模块、微控制器模块、烧录口、LED电路、接口模块，其中，所述调压模块与稳压模块的输入端电性连接，所述调压模块还与外界电源电路相连，所述稳压模块的输出端分别与LED电路模块、微控制器模块电性连接，所述微控制器模块还与烧录口电性连接，所述接口模块还分别与外界的PC端口、微控制器模块、外界的工装器件电性连接。

通过外界电源电路给调压模块供电，调压模块用于根据工作需要输出需要的工作电压，稳压模块用于对工作电压进行稳压和滤波，PC端通过接口模块对微控制器模块输入测试指令，LED电路用于显示工作状态是否正确，实现对工装器件的检测。

优选的，本实施例中，所述接口模块为FLASH数据读写接口。

进一步的，本实施例中，所述调压模块包括低压输出电路、高压输出电路，所述高压输出电路与低压输出电路并联；

如图3，图3为本发明中的低压输出电路的原理图；其中，所述低压输出电路包括电阻R2、电阻R3、电阻R4、二极管D1、二极管D2、二极管D3、电感L1、电容C10、电容C11、电容C12、电容C13、主控芯片U1，其中，

所述二极管D3的正极与电容C12的一端电性连接，同时二极管D3的正极接地，所述电容C12的另一端与二极管D2的正极电性连接，所述二极管D2的负极与主控芯片U1的第1引脚电性连接，所述电容C12还与电容C13并联，二极管D2的正极通过IN端口与外界供电电源相连，供电电源提供的电压可以根据实际工作需要确定，本实施例中提供的电压于5-36V之间；

所述二极管D1的负极接地，所述二极管D1的正极与电阻R2的一端电性连接，所述电阻R2的另一端与电容C10的一端电性连接，同时还与电阻R4的一端、电阻R4的可控端电性连接，所述电容C10与电阻R2相连的一端输出第一电压VCC1，所述电容C10与主控芯片U1的第5引脚电性相连，同时并接地，所述电阻R4的另一端同时与电阻R3的一端、主控芯片U1的第4引脚电性相连，所述电阻R3的另一端接地且分别与电容C11的一端、主控芯片U1的第3引脚、第0引脚电性相连，所述电容C11的另一端分别与电感L1的一端、电阻R4的可控端电性连接；所述电感L1的另一端与主控芯片U1的第2引脚、二极管D3的负极均电性连接；

优选的，本实施例中，所述二极管D1为发光二极管，起到提示工作的作用。

本实施例中，所述主控芯片U1的型号为LM2596S。

本实施例中，电容C12和电容C13能够消除IN端口处的电源纹波，同时加入的二极管D2有效预防输出端的电压反向影响输入端，提高电源的输出稳定性；输出端链接的二极管D3起到稳压作用，通过电感L1扼流圈遏制输出电压纹波，优化输出电压。

如图4，图4为本发明中的高压输出电路的原理图；所述高压输出电路包括电阻R6、电阻R7、电阻R8、电阻R9、电容C18、电容C19、电容C7、主控芯片U2、变压器T1、二极管D6，所述变压器T1包括主边线圈T11、副边线圈T12，其中；

所述电阻R9的一端与调压电路电性连接，所述电阻R9的另一端与电阻R8的一端连接，所述电阻R8的另一端接地，所述电阻R9与电阻R8相连的一端还与主控芯片U2的第2引脚电性连接，所述主控芯片U2的第1引脚接地，所述主控芯片U2的第4引脚与电容C7的一端相连同时通过输入端与外界供电电源电性连接，所述电容C7的另一端接地；

所述主边线圈T11的同名端与主控芯片U2第4引脚电性连接，所述主边线圈T11的异名端与主控芯片U2的第3引脚电性连接，所述副边线圈T12的异名端与二极管D6的正极电性连接，所述副边线圈T12的同名端接地，所述二极管D6的负极与电阻R7的一端电性连接同时与电阻R7的可控端电性连接，所述电阻R7的另一端与主控芯片U2的第5引脚电性连接，同时所述主控芯片U2的第5引脚还与电阻R6的一端电性连接，所述电阻R6的另一端与主控芯片U2的第1引脚电性连接，所述电阻R6与主控芯片U2第1引脚相连的一端还与电容C19的一端电性连接，所述电容C19的另一端接在二极管D6的负极，所述电容C19与电容C18并联，且电容19与二极管D6负极相连的一端输出高压，用于备用，如用来检测一些需要高压测试的工装器件，这样本系统可适用范围很广。

本实施例中当第一电压VCC1为5V时，第二电压VCC2为3.3V时，输出的高压为138V；

优选的，所述主控芯片U2型号为XL6009芯片，当给主控芯片U2的第2引脚提供高电平时，主控芯片U2的第5引脚反馈电压实现对输出高压，通过改变电阻R17来实现调节输出高压，进而控制高低，而且根据实际工作需要，可以做出灵活的选择，获得不同大小的高压。同时，变压器T1能够丰富电压调整性的选择，加入二极管D6方向隔离，防止输出端的电压反向影响输入端，提供电压的输出稳定性。

如图5，图5为本发明中的稳压电路的原理图；进一步的，所述稳压模块包括电容C14、电容C15、电容C16、电容C17、主控芯片U3、连接件，所述电容C14的一端接第一电压VCC1同时与主控芯片U3的第3引脚电性相连，所述电容C14的另一端接主控芯片U3的第1引脚，所述电容C15与电容C14并联，所述主控芯片U3的第1引脚接地，所述主控芯片U3的第2引脚与电容C16的一端电性连接，所述电容C16的另一端接地，所述电容C16与电容C17并联，且所述主控芯片U3的第2引脚还与连接件的第1引脚电性连接，且主控芯片U3的第2引脚输出第二电压VCC2并与电阻R9的一端电性连接，所述连接件的第2引脚接地，所述接线端用于输入信号。

优选的，本实施例中，所述连接件的型号为PHOENIX CONTACT的接线端子，所述主控芯片U3的型号为ASM1117-33。

进一步的，本实施例中，所述微控制器模块包括控制电路与复位电路，所述控制电路与复位电路电性连接。

如图6，图6为本发明中控制电路原理图；所述控制电路包括：

主控芯片U4、UART1(异步收发传输器，Universal Asynchronous Receiver/Transmitter)、UART2、电容C1、电容C5、电容C6、电容C8、晶振XTAL1；本实施例中所述主控芯片U4的型号为STM32F-103；

其中，所述主控芯片U4的第17引脚与UART1的第3引脚电性连接，所述主控芯片U4的第20引脚与UART1的第2引脚电性连接；所述UART1的第1引脚接地，第4引脚外接第二电压VCC2。

所述主控芯片U4的第43引脚与UART2的第3脚电性连接，所述主控芯片U4的第44引脚与UART2的第2引脚电性连接，所述UART2的第1引脚接地，所述UART2的第4引脚均外接第二电压VCC2。

所述主控芯片U4的第12引脚、18引脚、63引脚、47引脚接地，所述主控芯片U4的31、19、64、48引脚均外接第二电压VCC2，所述主控芯片U4的第32引脚与电容C8的一端电性连接，所述电容C8的另一端接地。

所述第二电压VCC2还与电容C1的一端电性连接，且所述电容C1的另一端接地。

进一步的，还包括电容C2、电容C3、电容C4，所述电容C2、电容C3、电容C4均与电容C1并联。

所述第二电压VCC2还与复位电路电性连接。

如图7，图7为本发明中的复位电路的原理图；所述复位电路包括电阻R1、RST1、电容C9，所述电阻R1的一端与供电电源电性连接，所述电阻R1的另一端与RST1电性连接，所述RST1的另一端接地，所述RST1与电阻R1相连的一端与主控芯片U4的第1引脚电性连接，所述电容C9与RST1并联。

所述主控芯片U4的第6引脚、54引脚分别接在晶振XTAL1的两端，所述晶振XTAL1与主控芯片第6引脚相连的一端还与电容C5的一端电性连接，所述电容C5的另一端接地的同时并与电容C6的一端电性连接，所述电容C6的另一端接在晶振XTAL1与主控芯片第54引脚相连的一端。

进一步的，所述主控芯片U4还通过接口模块与外界PC端相连。所述主控芯片U4还与烧录口电性连接，所述烧录口型号为SWD烧录口。

如图8，图8为本发明中的LED电路的原理图；所述LED电路包括若干个电阻R5、若干个二极管D4，其中，若干个电阻R5并联，所述电阻R5的一端外界第二电压VCC2，所述电阻R5的另一端与二极管D5的正极电性连接，若干个二极管的负极与主控芯片U4电性连接，且所述二极管的负极还通过接口模块与外界PC端电性连接。

优选的，本实施例中，所述电阻R5的数量为23个，所述二极管D5的数量为23个，且所述二极管D5为发光二极管；且每个二极管D5的负极依次与主控芯片U4的第58引脚、59引脚、61引脚、62引脚、29引脚、30引脚、33引脚、34引脚、35引脚、36引脚、8引脚、9引脚、10引脚、11引脚、24引脚、25引脚、37引脚、38引脚、39引脚、40引脚、51引脚、52引脚、53引脚电性连接。

本实施例中，通过外界电源电路给LM2596S芯片供电，LM2596S芯片根据工作需要，输出需要的工作电压，LM2596S芯片与ASM117-33芯片连接，ASM117-33芯片对LM2596S芯片输出的电压进行稳压和滤波，LM2596S芯片给整个工装器件提供稳定的直流电源；所述PC端通过FLASH数据读写接口对STM32F-103微控制器输入测试指令，LED电路用来提示工作状态是否正确。

工作原理：本发明中，外界供电电源供电向调压电路输出电压，调压模块中的低压输出电路与高压输出电路分别输出第一电压VCC1给稳压电路，且稳压电路输出第二电压VCC2给为为控制模块供电，实现对工装器件的检测；同时高压输出电路还能够输出高压，用于检测工作，而低压输出电路中能够优化输出，高压输出电路能够输出高压，可供选择的高压范围较大。

实施例2

如图1，图1为本发明的系统方框图；一种跳频滤波器测试装置，包括网络分析仪、跳频滤波器、测试系统、电源模块、PC端，其中，

所述网络分析仪、调频滤波器、测试系统依次电性相连，所述跳频滤波器还与电源模块电性相连，所述测试系统还分别与电源模块、PC端电性相连。

其中，测试系统中可以预存调试信息，工作过程中，电源模块分别给测试系统和跳频滤波器提供稳定的电压，通过PC端给测试系统输入调试指令，测试系统调取存储中的调试信息，给跳频滤波器输出驱动控制调谐电压，控制跳频滤波器的各种工作方式，通过网络分析仪测试跳频滤波器的指标。

优选的，本实施例中，所述网络分析仪型号为安捷伦网络分析仪8714。

优选的，本实施例中，所述电源模块包括了第一电源、第二电源，且第一电源型号为GPC-603D直流电源，第二电源型号为ES1-100-012可调恒流电源，第一电源与第二电源可以串联连接。

工作原理：

本发明的测试系统会根据跳频滤波器的频点对应的电容矩阵开关所对应的高低电平，测试系统调取存储中的调试信息，并一次性测试跳频滤波器的各项指标，例如插损与功耗，具有系统化、自动化；保障在测试过程中，兼顾各个因素对系统产生的影响，测试出来的数据更加准确，为产品的优化调试提供可靠的支撑，这样大大缩短了产品开发周期。

以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (10)

1.一种测试系统，其特征在于，包括调压模块、稳压模块、微控制器模块、烧录口、LED电路、接口模块，其中，所述调压模块与稳压模块的输入端电性连接，所述调压模块还与外界电源电路相连，所述稳压模块的输出端分别与LED电路模块、微控制器模块电性连接，所述微控制器模块还与烧录口电性连接，所述接口模块还分别与外界的PC端口、微控制器模块、外界的工装器件电性连接；

所述调压模块包括低压输出电路、高压输出电路，所述高压输出电路与低压输出电路并联。

2.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述低压输出电路包括电阻R2、电阻R3、电阻R4、二极管D1、二极管D2、二极管D3、电感L1、电容C10、电容C11、电容C12、电容C13、主控芯片U1，其中，

所述二极管D3的正极与电容C12的一端电性连接，同时二极管D3的正极接地，所述电容C12的另一端与二极管D2的正极电性连接，所述二极管D2的负极与主控芯片U1的第1引脚电性连接，所述电容C12还与电容C13并联，二极管D2的正极通过IN端口与外界供电电源相连；所述二极管D1的负极接地，所述二极管D1的正极与电阻R2的一端电性连接，所述电阻R2的另一端与电容C10的一端电性连接，同时还与电阻R4的一端、电阻R4的可控端电性连接，所述电容C10与电阻R2相连的一端输出第一电压VCC1，所述电容C10与主控芯片U1的第5引脚电性相连，同时并接地，所述电阻R4的另一端同时与电阻R3的一端、主控芯片U1的第4引脚电性相连，所述电阻R3的另一端接地且分别与电容C11的一端、主控芯片U1的第3引脚、第0引脚电性相连，所述电容C11的另一端分别与电感L1的一端、电阻R4的可控端电性连接；所述电感L1的另一端与主控芯片U1的第2引脚、二极管D3的负极均电性连接。

3.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述高压输出电路包括电阻R6、电阻R7、电阻R8、电阻R9、电容C18、电容C19、电容C7、主控芯片U2、变压器T1、二极管D6，所述变压器T1包括主边线圈T11、副边线圈T12，其中；

所述电阻R9的一端与调压电路电性连接，所述电阻R9的另一端与电阻R8的一端连接，所述电阻R8的另一端接地，所述电阻R9与电阻R8相连的一端还与主控芯片U2的第2引脚电性连接，所述主控芯片U2的第1引脚接地，所述主控芯片U2的第4引脚与电容C7的一端相连同时通过输入端与外界供电电源电性连接，所述电容C7的另一端接地；

所述主边线圈T11的同名端与主控芯片U2第4引脚电性连接，所述主边线圈T11的异名端与主控芯片U2的第3引脚电性连接，所述副边线圈T12的异名端与二极管D6的正极电性连接，所述副边线圈T12的同名端接地，所述二极管D6的负极与电阻R7的一端电性连接同时与电阻R7的可控端电性连接，所述电阻R7的另一端与主控芯片U2的第5引脚电性连接，同时所述主控芯片U2的第5引脚还与电阻R6的一端电性连接，所述电阻R6的另一端与主控芯片U2的第1引脚电性连接，所述电阻R6与主控芯片U2第1引脚相连的一端还与电容C19的一端电性连接，所述电容C19的另一端接在二极管D6的负极，所述电容C19与电容C18并联，且电容19与二极管D6负极相连的一端输出高压。

4.根据权利要求2所述的测试系统，其特征在于，所述稳压模块包括电容C14、电容C15、电容C16、电容C17、主控芯片U3、连接件，所述电容C14的一端接第一电压VCC1同时与主控芯片U3的第3引脚电性相连，所述电容C14的另一端接主控芯片U3的第1引脚，所述电容C15与电容C14并联，所述主控芯片U3的第1引脚接地，所述主控芯片U3的第2引脚与电容C16的一端电性连接，所述电容C16的另一端接地，所述电容C16与电容C17并联，且所述主控芯片U3的第2引脚还与连接件的第1引脚电性连接，且主控芯片U3的第2引脚输出第二电压VCC2并与电阻R9的一端电性连接，所述连接件的第2引脚接地。

5.根据权利要求4所述的测试系统，其特征在于，所述微控制器模块包括主控芯片U4、UART1、UART2、电容C1、电容C5、电容C6、电容C8、复位电路、晶振XTAL1；

其中，所述主控芯片U4的第17引脚与UART1的第3引脚电性连接，所述主控芯片U4的第20引脚与UART1的第2引脚电性连接；所述UART1的第1引脚接地，第4引脚外接第二电压VCC2；

所述主控芯片U4的第43引脚与UART2的第3脚电性连接，所述主控芯片U4的第44引脚与UART2的第2引脚电性连接，所述UART2的第1引脚接地，所述UART2的第4引脚均外接第二电压VCC2；

所述主控芯片U4的第12引脚、18引脚、63引脚、47引脚接地，所述主控芯片U4的引脚引脚均外接第二电压VCC2，所述主控芯片U4的第32引脚与电容C8的一端电性连接，所述电容C8的另一端接地；

所述第二电压VCC2还与电容C1的一端电性连接，且所述电容C1的另一端接地；

还包括电容C2、电容C3、电容C4，所述电容C2、电容C3、电容C4均与电容C1并联；所述第二电压VCC2还与复位电路电性连接。

6.根据权利要求5所述的测试系统，其特征在于，所述复位电路包括电阻R1、RST1、电容C9，所述电阻R1的一端与供电电源电性连接，所述电阻R1的另一端与RST1电性连接，所述RST1的另一端接地，所述RST1与电阻R1相连的一端与主控芯片U4的第1引脚电性连接，所述电容C9与RST1并联；

所述主控芯片U4的第6引脚、54引脚分别接在晶振XTAL1的两端，所述晶振XTAL1与主控芯片U4第6引脚相连的一端还与电容C5的一端电性连接，所述电容C5的另一端接地的同时并与电容C6的一端电性连接，所述电容C6的另一端接在晶振XTAL1与主控芯片第54引脚相连的一端。

7.根据权利要求5-6任一所述的测试系统，其特征在于，所述主控芯片U4还通过接口模块与外界PC端相连，所述主控芯片U4还与烧录口电性连接。

8.根据权利要求5-6任一所述的测试系统，其特征在于，所述LED电路包括若干个电阻R5、若干个二极管D4，其中，若干个电阻R5并联，所述电阻R5的一端外界第二电压VCC2，所述电阻R5的另一端与二极管D5的正极电性连接，若干个二极管的负极与主控芯片U4电性连接，且所述二极管的负极还通过接口模块与外界PC端电性连接。

9.一种基于权利要求1-8任一所述的测试系统的跳频滤波器测试装置，其特征在于，还包括网络分析仪、跳频滤波器、电源模块、PC端，其中，所述网络分析仪、调频滤波器、测试系统依次电性相连，所述跳频滤波器还与电源模块电性相连，所述测试系统还分别与电源模块、PC端电性相连。

10.根据权利要求9所述的一种跳频滤波器测试装置，其特征在于，所述电源模块包括了第一电源、第二电源，第一电源与第二电源串联连接。