CN110611533A - 一种产线过滤onu不良光模块的方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种产线过滤ONU不良光模块的方法，包括如下步骤：S1：将ONU设备设置为长发光状态，控制光模块一直进行上行传输；S2：在模拟的极限条件下运行该光模块；S3：对极限条件下光模块的工作性能进行测试，判断该光模块是否为不良光模块；S4：标识具有不良光模块的ONU设备。本发明通过在光模块进入满负荷发长光的状态下，在高低温老化后，进行工作性能测试，在光模块温度、偏置电流以及发射功率数值异常时，判定该光模块为不良光模块，通过该步骤，能够过滤出一些光模块不良的设备，降低产品出厂的不良率，提高供应商的形象。

Description

一种产线过滤ONU不良光模块的方法
技术领域
本发明涉及通信领域，尤其涉及一种产线过滤ONU不良光模块的方法。
背景技术
随着光网络技术的不断发展，各类通信产品对网络传输速率的要求越来越高。在光通讯技术中，用于GPON(Gigabit Passive Optical Network，千兆无源光网络)的ONU(Optical NetworkUnit，光网络单元) 产品可以达到上行1.25Gbit/s，下行2.5Gbit/s 的传输速率，因此ONU产品越来越多地被应用于各类通信产品中。
ONU在现网使用一段时间后，会暴露出一些设备PON掉线的情况，当设备掉电重启后，又能正常使用，过段时间又出现了设备PON掉线的问题，如此反复。流氓ONU会造成所有其他运行良好的ONU无法正常传输上行信号，其对网络的运行产生了严重的影响。因此，如何降低企业产品不良率，如何在生产时对不良ONU的光模块进行检测与筛选是ONU设备厂商所亟待解决的问题。
发明内容
本发明的目的在于，针对上述问题，提出一种产线过滤ONU不良光模块的方法。
一种产线过滤ONU不良光模块的方法，包括如下步骤：
S1：将ONU设备设置为长发光状态，控制光模块一直进行上行传输；
S2：在模拟的极限条件下运行该光模块；
S3：对极限条件下光模块的工作性能进行测试，判断该光模块是否为不良光模块；
S4：标识具有不良光模块的ONU设备。
进一步的，一种产线过滤ONU不良光模块的方法，所述将光模块设置为长发光状态的方法为：通过设置筛选检测程序控制ONU上传信号，并在上传信号之后的整个时间戳进行上行传输。
进一步的，一种产线过滤ONU不良光模块的方法，所述模拟的极限条件为在高低温老化箱中进行光模块的高低温老化处理。
进一步的，一种产线过滤ONU不良光模块的方法，所述步骤S3中进行工作性能测试的方式为：在极限条件运行光模块的每个周期尾端对光模块进行工作性能测试。
进一步的，一种产线过滤ONU不良光模块的方法，所述工作性能测试包括读取光模块的温度、读取光模块的偏执电流以及读取发射功率。
进一步的，一种产线过滤ONU不良光模块的方法，所述不良光模块的判断依据为光模块的温度、偏执电流和发射功率至少有一项不在预设范围内。
进一步的，一种产线过滤ONU不良光模块的方法，所述标识具有不良光模块的ONU设备的方法为控制ONU设备上的LOS指示灯常亮，便于测试人员识别与记录。
本发明的有益效果：本发明通过在光模块进入满负荷发长光的状态下，在高低温老化后，进行工作性能测试，在光模块温度、偏置电流以及发射功率数值异常时，判定该光模块为不良光模块，通过该步骤，能够过滤出一些光模块不良的设备，降低产品出厂的不良率，提高供应商的形象。
附图说明
图1是本发明的流程示意图。
具体实施方式
为了对本发明的技术特征、目的和效果有更加清楚的理解，现对照附图说明本发明的具体实施方式。
本实施例中，如图1所示，一种产线过滤ONU不良光模块的方法，包括如下步骤：S1：将ONU设备设置为长发光状态，控制光模块一直进行上行传输；S2：在模拟的极限条件下运行该光模块；S3：对极限条件下光模块的工作性能进行测试，判断该光模块是否为不良光模块；S4：标识具有不良光模块的ONU设备。将光模块设置为长发光状态的方法为：通过设置筛选检测程序控制ONU上传信号，并在上传信号之后的整个时间戳进行上行传输。
模拟的极限条件为在高低温老化箱中进行光模块的高低温老化处理。所述步骤S3中进行工作性能测试的方式为：在极限条件运行光模块的每个周期尾端对光模块进行工作性能测试。
所述工作性能测试包括读取光模块的温度、读取光模块的偏执电流以及读取发射功率（TX Power）。所述不良光模块的判断依据为光模块的温度、偏执电流和发射功率至少有一项不在预设范围内。
优选的，一种产线过滤ONU不良光模块的方法，所述标识具有不良光模块的ONU设备的方法为控制ONU设备上的LOS指示灯常亮，便于测试人员识别与记录。
本发明通过在光模块进入满负荷发长光的状态下，在高低温老化后，进行工作性能测试，在光模块温度、偏置电流以及发射功率数值异常时，判定该光模块为不良光模块，通过该步骤，能够过滤出一些光模块不良的设备，降低产品出厂的不良率，提高供应商的形象。
以上显示和描述了本发明的基本原理和主要特征和本发明的优点。本行业的技术人员应该了解，本发明不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本发明的原理，在不脱离本发明精神和范围的前提下，本发明还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本发明范围内。本发明要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。

Claims (7)

1.一种产线过滤ONU不良光模块的方法，其特征在于，包括如下步骤：
S1：将ONU设备设置为长发光状态，控制光模块一直进行上行传输；
S2：在模拟的极限条件下运行该光模块；
S3：对极限条件下光模块的工作性能进行测试，判断该光模块是否为不良光模块；
S4：标识具有不良光模块的ONU设备。
2.根据权利要求1所述的一种产线过滤ONU不良光模块的方法，其特征在于，所述将光模块设置为长发光状态的方法为：通过设置筛选检测程序控制ONU上传信号，并在上传信号之后的整个时间戳进行上行传输。
3.根据权利要求1所述的一种产线过滤ONU不良光模块的方法，其特征在于，所述模拟的极限条件为在高低温老化箱中进行光模块的高低温老化处理。
4.根据权利要求1所述的一种产线过滤ONU不良光模块的方法，其特征在于，所述步骤S3中进行工作性能测试的方式为：在极限条件运行光模块的每个周期尾端对光模块进行工作性能测试。
5.根据权利要求1所述的一种产线过滤ONU不良光模块的方法，其特征在于，所述工作性能测试包括读取光模块的温度、读取光模块的偏执电流以及读取发射功率。
6.根据权利要求5所述的一种产线过滤ONU不良光模块的方法，其特征在于，所述不良光模块的判断依据为光模块的温度、偏执电流和发射功率至少有一项不在预设范围内。
7.根据权利要求1所述的一种产线过滤ONU不良光模块的方法，其特征在于，所述标识具有不良光模块的ONU设备的方法为控制ONU设备上的LOS指示灯常亮，便于测试人员识别与记录。
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