CN110603424A - 标记单元 - Google Patents
标记单元 Download PDFInfo
- Publication number
- CN110603424A CN110603424A CN201880029304.7A CN201880029304A CN110603424A CN 110603424 A CN110603424 A CN 110603424A CN 201880029304 A CN201880029304 A CN 201880029304A CN 110603424 A CN110603424 A CN 110603424A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- substrate
- laminate
- boundary
- marking
- detected
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 669
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 82
- 238000010030 laminating Methods 0.000 claims description 2
- 239000003550 marker Substances 0.000 description 48
- 210000004027 cell Anatomy 0.000 description 43
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 11
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 10
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 9
- 239000000463 material Substances 0.000 description 9
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 8
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 8
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 8
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 5
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 5
- 229920000089 Cyclic olefin copolymer Polymers 0.000 description 4
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 4
- 229920003229 poly(methyl methacrylate) Polymers 0.000 description 4
- 239000004926 polymethyl methacrylate Substances 0.000 description 4
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 3
- 239000004925 Acrylic resin Substances 0.000 description 2
- 229920000178 Acrylic resin Polymers 0.000 description 2
- 238000004040 coloring Methods 0.000 description 2
- 229920001577 copolymer Polymers 0.000 description 2
- 238000001723 curing Methods 0.000 description 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 2
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 2
- 238000000465 moulding Methods 0.000 description 2
- 239000004417 polycarbonate Substances 0.000 description 2
- 229920000515 polycarbonate Polymers 0.000 description 2
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 2
- 239000004594 Masterbatch (MB) Substances 0.000 description 1
- 230000003190 augmentative effect Effects 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 1
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 210000003644 lens cell Anatomy 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 239000010813 municipal solid waste Substances 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 239000003973 paint Substances 0.000 description 1
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 description 1
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/002—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring two or more coordinates
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/26—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B32—LAYERED PRODUCTS
- B32B—LAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
- B32B3/00—Layered products comprising a layer with external or internal discontinuities or unevennesses, or a layer of non-planar shape; Layered products comprising a layer having particular features of form
- B32B3/02—Layered products comprising a layer with external or internal discontinuities or unevennesses, or a layer of non-planar shape; Layered products comprising a layer having particular features of form characterised by features of form at particular places, e.g. in edge regions
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Optical Measuring Cells (AREA)
Abstract
本发明提供一种例如能够提高检测精度和设置精度的新的标记单元。本发明的标记单元(1)特征在于:含有层压2个以上基板的层压体,所述层压体具有可从其上表面侧检测的被检测部,在所述层压体侧面的至少一部分中,通过构成所述层压体的任一基板的侧面凸部(121)覆盖作为所述层压体最上层的第1基板(10)和第2基板(11)的边界,所述第2基板(11)与所述最上层第1基板(10)的下表面相接触。
Description
技术领域
本发明涉及一种标记单元。
背景技术
在增强现实(Augmented Reality,以下也称作“AR”)及机器人等领域中,为了识别物体的位置及姿势等,而使用所谓的视觉标记。作为所述标记,例如,通常使用AR标记。并且,作为所述标记的另一例,例如报告有在黑色条纹图案上配置柱状透镜的标记(专利文献1)。所述标记通常被称为根据视角移位的可变莫尔图案(VMP)标记,并且也被称为RAS(Rotation Angle Scale;旋转角度)标记。在根据相机等检测机器检测出现在所述标记上的图像时,所述图像的深浅图案根据所述相机相对于所述标记的视角而改变。因此,通过检测所述标记的深浅图案,可以判断所述标记的旋转角度。
所述视觉标记形成于多个基板的层压体中,并且在所述层压体上设置有多个检测基准部,这些检测基准部用作相机待检测区域(标记)的记号,该层压体整体作为标记单元使用。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:特开2012-145559号公报
发明内容
发明要解决的问题
对于所述标记单元,例如需要进一步提高所述检测基准部和所述标记的检测精度、向被设置对象物设置标记单元的设置精度。
因此,本发明的目的为提供例如能够提高检测精度和设置精度的新标记单元。
问题的解决方案
为了实现所述目的,本发明标记单元包含2个以上基板被层压的层压体,
所述层压体具有可从其上表面侧被检测的被检测部,
在所述层压体侧面的至少一部分,通过构成所述层压体的任一基板的侧面凸部覆盖作为所述层压体最上层的第1基板和第2基板的边界,所述第2基板与所述最上层的第1基板的下表面相接触。
发明的有益效果
根据本发明标记单元,通过由任一基板具有的侧面凸部覆盖所述边界,例如可以提高标记或检测基准部等被检测部的检测精度,并且可以提高对被设置体设置标记单元的设置精度。
附图说明
[图1]图1是示出实施方案1的标记单元的一例的概略图,(A)为平面图,(B)为从Ⅰ-Ⅰ方向视的截面图,(C)为上基板的平面图,(D)为下基板的平面图,(E)为示出(B)的以X包围的区域的截面图。
[图2]图2(A)~(C)是示出实施方案1的标记单元的变化的截面图。
[图3]图3(A)~(C)是示出实施方案2的标记单元的变化的截面图。
[图4]图4是示出实施方案3的标记单元的截面图。
[图5]图5(A)~(D)是示出实施方案4的标记单元的变化的截面图。
[图6]图6是示出实施方案5的标记单元的截面图。
[图7]图7是示出实施方案7的标记单元的一例的概略图,(A)为平面图,(B)为从Ⅱ-Ⅱ方向视的截面图。
[图8]图8是示出实施方案8的标记单元的一例的概略图,(A)为平面图,(B)为从Ⅲ-Ⅲ方向视的截面图,(C)为上基板的平面图,(D)为下基板的平面图。
具体实施方式
本发明人锐意研究的结果,发现以往的标记单元例如由于外部冲击,有可能在被层压的基板之间产生间隙,并引起损坏,以及由于在被层压的基板之间的垃圾等的混入,有可能导致所述被检测部的检测精度降低,并引起损坏,根据此想到本发明。根据本发明,由于通过构成所述层压体的任一基板在层压体侧面的至少一部分覆盖基板之间的边界,从而能够抑制如上所述问题。
并且,在所述标记单元中,在具有示出光学功能的所述被检测部的基板歪曲时,其可能影响所述被检测部的检测。根据本发明的标记单元,通过具有所述侧面凸部,例如能够抑制具有所述被检测部的基板发生歪曲。
并且,本发明的标记单元因为在所述层压体侧面具有所述侧面凸部,例如能够基于所述侧面凸部,规定对所述被设置体的设置位置。由此,本发明的标记单元在所述被设置体上进行反复设置时,例如能够提高对相同地方的设置精度。
本发明的标记单元例如在所述层压体侧面的边角部中,由构成所述层压体的任一基板的侧面凸部覆盖所述第1基板和所述第2基板的边界。
本发明的标记单元例如在所述层压体侧面的整个一周,构成所述层压体的任一基板的侧面凸部覆盖所述第1基板和所述第2基板的边界,
本发明的标记单元中,例如所述层压体进一步包含第3基板,并从所述层压体的上表面侧,以第1基板、第2基板、第3基板的顺序层压,所述第3基板的侧面至少在其边角部,具有向上方向突出的侧面凸部,在所述层压体侧面的边角部中,所述第3基板的侧面凸部覆盖所述第1基板和所述第2基板的边界,以及所述第2基板和所述第3基板的边界。
本发明的标记单元中,例如所述第3基板的侧面在其整个一周上具有向上方向突出的侧面凸部,在所述层压体侧面的整个一周,所述第3基板的侧面凸部覆盖所述第1基板和所述第2基板的边界,以及所述第2基板和所述第3基板的边界。
本发明的标记单元中,例如所述第2基板的侧面至少在其边角部上具有向上方向突出的侧面凸部,在所述层压体侧面的边角部中,所述第2基板的侧面凸部覆盖所述第1基板和所述第2基板的边界。
本发明的标记单元中,例如所述第2基板的侧面在其整个一周上具有向上方向突出的侧面凸部,在所述层压体侧面的整个一周,所述第2基板的侧面凸部覆盖所述第1基板和所述第2基板的边界。
本发明的标记单元中,例如所述层压体进一步包含第3基板,并从所述层压体的上表面侧,以所述第1基板、所述第2基板、所述第3基板的顺序层压。
本发明的标记单元中,例如所述第2基板的侧面凸部为上方向和下方向突出的侧面凸部,所述第2基板的侧面凸部覆盖所述第1基板和所述第2基板的边界,以及所述第2基板和所述第3基板的边界。
本发明的标记单元中,例如所述第1基板的侧面至少在其边角部上具有向下方向突出的侧面凸部,在所述层压体侧面的边角部中,所述第1基板的侧面凸部覆盖所述第1基板和所述第2基板的边界。
本发明的标记单元中,例如所述第1基板的侧面在其整个一周上具有向下方向突出的侧面凸部,在所述层压体侧面的整个一周,所述第1基板的侧面凸部覆盖所述第1基板和所述第2基板的边界。
本发明的标记单元中,例如所述层压体进一步包含第3基板,并从所述层压体的上表面侧,以所述第1基板、所述第2基板、所述第3基板的顺序层压。
本发明的标记单元中,例如所述第1基板的侧面凸部覆盖所述第1基板和所述第2基板的边界,以及第2基板和所述第3基板的边界。
本发明的标记单元中,例如在所述层压体中,所述侧面凸部的上表面与第1基板的上表面位于相同高度。
本发明的标记单元中,例如在所述层压体中,所述侧面凸部的上表面相对于所述第1基板的上表面位于下方。
在本发明的标记单元中,例如所述第1基板是从其上表面侧可视觉辨认所述第2基板的基板。
本发明的标记单元中,例如所述第1基板为透明基板。
本发明的标记单元中,例如所述被检测部包含标记以及在所述标记的检测中作为基准的检测基准部中的至少一种。
本发明的标记单元中,例如所述第1基板是具有所述被检测部的被检测基板。
本发明的标记单元中,例如在所述层压体不具有与所述第2基板下表面相接触的第3基板时,所述第2基板为具有所述被检测部的被检测基板,在所述层压体具有与所述第2基板的下表面相接触的第3基板时,所述第3基板为具有所述被检测部的被检测基板。
本发明的标记单元中,例如在所述第2基板或所述第3基板为所述被检测基板时,所述被检测基板在其上表面具有被检测部,层压于所述被检测基板之上的其他基板具有贯通孔,该贯通孔对应所述被检测基板的所述被检测部的位置,在所述层压体的上表面侧,从所述贯通孔露出所述被检测基板的所述被检测部。
本发明标记单元中,例如在所述第2基板或第3基板是所述被检测基板,并且包含在标记的检测中作为基准的检测基准部作为所述被检测部时,所述被检测基板具有向上方向突出的凸部,层压于所述被检测基板之上的其他基板具有贯通孔,该贯通孔对应所述被检测基板的所述凸部的位置,在所述层压体中,所述被检测基板的所述凸部位于层压在所述被检测基板之上的其他基板的所述贯通孔内,所述凸部的露出的上表面为所述检测基准部。
本发明的标记单元中,为方便起见,将视觉辨认侧称为“上方向”,将其相反一侧称为“下方向”。并且,本发明的标记单元种,将位于层压体最上表面侧的基板称为“上基板”,将位于层压体最下表面侧的基板称为“下基板”,将位于所述上基板和所述下基板之间的基板称为“居中基板”。
接下来,就本发明的实施方案用图加以说明。本发明不受下述实施方案的任何限定或限制。在各图中,相同的部分付与相同的符号。在图中,为了方便说明,适当地简化示出各部分的结构,并且各部分的尺寸比等不限于附图的条件。以下,在包含所述下基板和上基板的层压体中,将下基板一侧称为下方向,将上基板一侧称为上方向。各实施方案在无特别记载的情况下,可以各自组合,可以援用各自的记载。
[实施方案1]
本实施方案的标记单元为包含作为上基板的第1基板、作为居中基板的第2基板、作为下基板的第3基板被层压的层压体,并且所述第3基板具有侧面凸部的方案。
(实施方案1-1)
在图1中示出了本实施方案的标记单元的一例。图1(A)是从上表面侧视标记单元1的平面图,图1(B)是标记单元1的从Ⅰ-Ⅰ方向视的截面图,图1(C)是标记单元1的上基板(第1基板)10的平面图,图1(D)是标记单元1的下基板(第3基板)12的平面图,图1(E)是图1(B)的以X包围的区域的截面图。另外,表示以X包围的区域的截面图省略剖切线示出。
在标记单元1中,所述层压体从其上表面侧,以上基板(第1基板)10、居中基板(第2基板)11、下基板(第3基板)12的顺序层压,也就是说,在下基板(第3基板)12上隔着居中基板(第2基板)11层压有上基板(第1基板)10。
标记单元1作为可以从其上侧检测的被检测部,具有检测基准部122和标记20。在标记单元1中,由于下基板12具有所述被检测部(检测基准部122和标记20),下基板12也被称为含有所述被检测部的被检测基板。在标记单元1中,所述被检测部是下基板12上表面侧的区域,且在下基板12的上表面露出在标记单元1的上表面侧。
所述被检测部中,首先对检测基准部122进行说明。检测基准部122一般是在标记检测中作为基准的部分。在标记单元1中,检测基准部122位于标记单元1的四个角上。下基板12在其上表面具有向上方向突出的圆柱状凸部(以下也称为上表面侧凸部)。另外,上基板10和居中基板11分别在与检测基准部122相对应的地方具有贯通孔(上基板10的贯通孔为101,居中基板11的贯通孔未图示)。并且,下基板12的上表面侧凸部为位于上基板10和居中基板11的各自贯通孔内的状态(例如,插入在各贯通孔的状态),其上表面在标记单元1的上方向露出。该上表面侧凸部的露出的上表面成为检测基准部122。
所述被检测部中,接着对标记20进行说明。标记20的种类没有特别限制,例如,可为VMP(可变莫尔图案)等。在标记单元1中,标记20位于检测基准部122之间。下基板12在其上表面、例如在成为标记20的地方,具有山形的连续凸部。另外,上基板10和居中基板11分别在与标记20相对应的地方具有贯通孔(上基板10的贯通孔为102,居中基板11的贯通孔未图示)。并且,成为下基板12的标记20的位置(所述山形的连续凸部)的上表面通过上基板10的贯通孔102和居中基板11的贯通孔从标记单元1的上方向露出。该露出的所述山形连续凸部成为标记20。
在标记单位1中,下基板12在其侧面整个一周上具有向上方向突出的侧面凸部121。标记单元1在下基板12上,隔着居中基板11层压有上基板10,并在标记单元1的侧面整个一周中,由下基板12的侧面凸部121覆盖上基板10和居中基板11的边界,以及居中基板11和下基板12的边界。
标记单元1如上所述,由于在其侧面各基板间的边界被覆盖,因此例如如下的内容成为可能。也就是说,标记单元1例如能够防止垃圾等从侧面所述边界处进入。由此,例如对于从标记单元1上方向的视觉辨认,能够防止由垃圾等原因引起的检测精度的降低和由垃圾等原因引起的破损等。并且,标记单元1由于其侧面被下基板12的侧面凸部121覆盖,因此例如可以防止各基板剥离。并且,标记单元1由于其侧面被下基板12的侧面凸部121覆盖,因此例如可以防止上基板10和居中基板11相对于下基板12歪曲。并且,在标记单元1中,因为下基板12具有所述被检测部(检测基准部122、标记20)和侧面凸部121,因此例如在下基板12成型中,能够同时形成所述被检测部。然后,由于标记单元1的外形根据具有侧面凸部121的下基板12决定,因此可以防止标记单元1整体中的所述被检测部的位置偏差。特别是,由于在所述被检测部中,检测基准部122也成为标记20的检测基准,因此藉由标记单元1能够以更高精度在标记单元内以形成检测基准部122。并且,由于标记单元1的外形根据具有侧面凸部121的下基板12决定,因此通过利用侧面凸部121,例如在把标记单元1反复设置于被设置体时,可以提高对相同地方的设置精度。
标记单元1中,下基板12的侧面凸部121的上表面与上基板10的上表面位于相同高度。侧面凸部121的上表面的位置没有特别限制,如上所述,只要能够覆盖所述边界即可。在从上方检测标记单元1中,因为可以充分抑制所述侧面凸部成为阴影的影响,因此优选侧面凸部121的上表面例如与上基板10的上表面为相同高度。另外,侧面凸部121的上表面与上基板10的上表面为“相同高度”的意思是两者的高度实质相同,尺寸误差程度上的差值被包含在“相同高度”中。具体而言,例如在层压体整体的厚度为1.5-3mm,尺寸误差为±0.1mm的时候,对于上基板10的上表面,±0.1mm的范围被包含于相同高度。
本实施方案中,将具有所述被检测部(检测基准部及标记)的被检测基板作为所述下基板,但本发明不限于此,例如如后所述,所述上基板也可以具有所述被检测部。本发明中,通过用所述侧面凸部将边界覆盖,特别优选保护具有所述被检测部的被检测基板。因此,本实施方案的标记单元例如在具有所述被检测部的被检测基板为所述上基板、所述居中基板以及所述下基板中至少一个,或者为所述上基板以及所述下基板中至少一个的情况下特别有用。以下实施方案也相同。
(实施方案1-2)
在图2(A)中示出本实施方案标记单元的一例。图2(A)为针对本实施方案的标记单元示出以图1(B)的截面图中的X包围的区域的截面图。另外,表示以X包围的区域的截面图省略剖切线示出(以下相同)。
图2(A)的标记单元是下基板(第3基板)22的侧面凸部221A覆盖上基板(第1基板)10和居中基板(第2基板)11的边界、以及居中基板(第2基板)11和下基板(第3基板)22的边界的方案。本实施方案中,侧面凸部221A为其外周面随向上方向向其内周面侧变窄的锥形,侧面凸部221A的上表面与上基板10的上表面位于相同高度。
根据本实施方案,通过覆盖上基板10和居中基板11的边界,以及居中基板11和下基板22的边界,并且使侧面凸部221A的上表面与上基板10的上表面位于相同高度,而可以保护各边界,进而例如可以充分降低侧面凸部221A对从标记单元1上方的检测产生影响的可能性。
(实施方案1-3)
在图2(B)中示出了本实施方案标记单元的一例。图2(B)为针对本实施方案的标记单元示出以图1(B)的截面图中X包围的区域的截面图。
图2(B)的标记单元是下基板(第3基板)22的侧面凸部221B覆盖上基板(第1基板)10和居中基板(第2基板)11的边界,以及居中基板(第2基板)11和下基板(第3基板)22的边界的方案。本实施方案中,侧面凸部221B为其外周面相对于下基板22的下表面向垂直方向延伸的形状,侧面凸部221B的上表面相对于上基板10上表面位于下方。
根据本实施方案,通过覆盖上基板10和居中基板11的边界,以及居中基板11和下基板22的边界,并且使侧面凸部221B的上表面相对于上基板10上表面位于下方,而可以保护各边界,进而例如可以充分降低侧面凸部221B对从标记单元1上方的检测产生影响的可能性。
(实施方案1-4)
在图2(C)中示出本实施方案的标记单元的一例。图2(C)为针对本实施方案的标记单元示出以图1(B)的截面图中X包围的区域的截面图。
图2(C)的标记单元除了侧面凸部221C的上表面相对于上基板(第1基板)10上表面更突出至上方以外,与图2(B)相同。
根据本实施方案,通过覆盖上基板10与居中基板11的边界,以及居中基板11和下基板22的边界,而可以保护各边界。
另外,本实施方案的标记单元进一步可在所述下基板(第3基板)的下方具有另外的基板。
[实施方案2]
本实施方案的标记单元是包含作为上基板的第1基板、作为居中基板的第2基板、作为下基板的第3基板被层压的层压体,并且所述第2基板具有侧面凸部的方案。在图3(A)~(C)中示出本实施方案的标记单元的一例。图3(A)~(C)为针对本实施方案的标记单元示出以图1(B)的截面图中X包围的区域的截面图。实施方案2的标记单元除了第2基板(居中基板)具有所述侧面凸部以外,可援用所述实施方案1的记载。
(实施方案2-1)
图3(A)的标记单元为居中基板(第2基板)31的侧面凸部311A覆盖上基板(第1基板)10和居中基板(第2基板)31边界,以及居中基板(第2基板)31和下基板(第3基板)12边界的方案。具体而言,是侧面凸部311A分别向上方和向下方突出,并藉由向上方突出的凸部覆盖上基板10和居中基板31的边界,且藉由向下方突出的凸部覆盖居中基板31和下基板12的边界的方案。本实施方案中,下基板31的侧面凸部311A为其外周面相对于下基板12的下表面向垂直方向延伸的形状,侧面凸部311A的上表面与上基板10的上表面位于相同高度。
根据本实施方案,通过覆盖上基板10与居中基板31的边界,以及居中基板31和下基板12的边界,并且使侧面凸部311A的上表面与上基板10上表面处于相同高度,而可以保护各边界,进而例如能够充分降低侧面凸部311A对从标记单元1上方的检测产生影响的可能性。
本实施方案中,与所述实施方案1相同,将具有所述被检测部(检测基准部和标记)的被检测基板作为所述下基板(第3基板),但本发明不限于此,例如如后所述,所述上基板(第1基板)也可以具有所述被检测部。本发明中,通过用所述侧面凸部将边界覆盖,特别优选保护具有所述被检测部的被检测基板。因此,本实施方案的标记单元例如在具有所述被检测部的被检测基板为所述上基板、所述居中基板以及所述下基板中至少一个,或者为所述上基板以及所述下基板中至少一个的情况下特别有用。以下实施方案也相同。
(实施方案2-2)
在图3(B)中示出本实施方案的标记单元的一例。图3(B)为针对本实施方案的标记单元示出以图1(B)的截面图中的X包围的区域的截面图。
图3(B)的标记单元同实施方案2-1一样,是居中基板(第2基板)31的侧面凸部311B覆盖上基板(第1基板)10和居中基板(第2基板)31的边界,以及居中基板(第2基板)31和下基板(第3基板)12的边界的方案。本实施方案中,侧面凸部311B为其外周面随向上方向向其内周面侧变窄的锥形,侧面凸部311B的上表面与上基板10的上表面位于相同高度。
根据本实施方案,通过覆盖上基板10和居中基板31的边界,以及居中基板31和下基板12的边界,并且使侧面凸部311B的上表面与上基板10的上表面位于相同高度,而可以保护边界,进而例如能够充分降低侧面凸部311B对从标记单元1上方的检测产生影响的可能性。
(实施方案2-3)
在图3(C)中示出本实施方案的标记单元的一例。图3(C)为针对本实施方案的标记单元示出以图1(B)的截面图中的X包围的区域的截面图。
图3(C)的标记单元除了侧面凸部311C的上表面相对于上基板(第1基板)10上表面位于下方以外,与图3(A)相同。根据本实施方案,通过覆盖上基板10和居间基板31的边界,以及居间基板(第2基板)31和下基板12的边界,并且侧面凸部311C的上表面相对于上基板10上表面位于下方,而可以保护各边界,进而例如可以充分降低侧面凸部311C对从标记单元1上方的检测产生影响的可能性。
[实施方案3]
本实施方案的标记单元是包含作为上基板的第1基板、作为居中基板的第2基板、作为下基板的第3基板被层压的层压体,并且所述第1基板具有侧面凸部的方案。在图4中示出本实施方案的标记单元的一例。
图4是针对本实施方案的标记单元示出以图1(B)的截面图中X包围的区域的截面图。实施方案3的标记单元除了第1基板(上基板)具有所述侧面凸部以外,可以援用上述实施方案的记载。
图4的标记单元是第1基板(上基板)40的侧面凸部401向下方突出,并覆盖第1基板(上基板)40和第2基板(居中基板)11的边界,以及第2基板(居中基板)11和第3基板(下基板)12边界的方案。本实施方案中,上基板40的侧面凸部401为其外周面相对于下基板12的下表面向垂直方向延伸的形状,侧面凸部401的下表面与下基板12的下表面位于相同高度。
根据本实施方案,通过覆盖上基板40和居中基板11的边界,以及居中基板11和下基板12的边界,而可以保护各边界,进而例如能够充分降低侧面凸部401对从标记单元1上方的检测产生影响的可能性。
本实施方案中,与所述实施方案1相同,具有所述被检测部(检测基准部和标记)的被检测基板为所述下基板(第3基板),但本发明不限制于此,例如如后所述,所述上基板(第1基板)也可具有所述被检测部。本发明中,通过用所述侧面凸部覆盖边界,特别优选保护具有所述被检测部的被检测基板。因此,本实施方案的标记单元例如在具有所述被检测部的被检测基板为所述上基板、居中基板和所述下基板中至少一个,或者为所述上基板和所述下基板中至少一个的情况下特别有用。
[实施方案4]
本实施方案的标记单元是包含作为上基板的第1基板、作为居中基板的第2基板、作为下基板的第3基板被层压的层压体,并且所述第2基板具有侧面凸部的方案。在图5中示出本实施方案的标记单元的一例。图5为针对本实施方案的标记单元示出以图1(B)的截面图中X包围的区域的截面图。实施方案4的标记单元除了第2基板(居中基板)具有所述侧面凸部以外,可以援用上述实施方案的记载。
(实施方案4-1)
在图5(A)中示出本实施方案标记单元的一例。图5(A)是针对本实施方案的标记单元示出以图1(A)的截面图中X包围的区域的截面图。
图5(A)的标记单元是居中基板(第2基板)51的侧面凸部511A的上表面向上方突出,并覆盖上基板(第1基板)10和居中基板(第2基板)51的边界的方案。本实施方案中,下基板51的侧面凸部511A为其外周面相对于下基板12的下表面向垂直方向延伸的形状,侧面凸部511A的上表面与上基板10的上表面处于相同高度。
根据本实施方案,通过覆盖上基板10和居中基板51的边界,并且侧面凸部511A的上表面与上基板10的上表面位于相同高度,而可以保护边界,进而例如可以充分降低侧面凸部511A对从标记单元1上方的检测产生影响的可能性。
(实施方案4-2)
图5(B)的标记单元是居中基板(第2基板)51的侧面凸部511B向上方突出,并覆盖上基板(第1基板)10和居中基板(第2基板)51的边界的方案。本实施方案中,侧面凸部511B为其外周面随向上方向向其内周面侧变窄的锥形,侧面凸部511B的上表面与上基板10的上表面位于相同高度。
根据本实施方案,通过覆盖上基板10和居中基板51的边界,并且使侧面凸部511B的上表面与上基板10的上表面位于相同高度,而可以保护所述边界,进而例如可以充分降低侧面凸部511B对从标记单元1上方的检测产生影响的可能性。
(实施方案4-3)
在图5(C)中示出本实施方案的标记单元的一例。图5(C)是针对本实施方案的标记单元示出以图1(B)的截面图中X包围的区域的截面图。
图5(C)的标记单元除了侧面凸部511C的上表面相对于上基板(第1基板)10的上表面位于下方以外,与图5(A)相同。根据本实施方案,通过覆盖上基板10与居中基板51的边界,并且使侧面凸部511C的上表面相对于上基板10的上表面位于下方,而可以保护所述边界,进而例如可以充分降低侧面凸部511C对从标记单元1上方向的检测产生影响的可能性。
(实施方案4-4)
图5(D)的标记单元除了侧面凸部511D的上表面相对于上基板(第1基板)10的上表面向上方突出以外,与图5(A)相同。根据本实施方案,通过覆盖上基板10和居中基板51的边界,而可以保护所述边界。
本实施方案中,与所述实施方案1相同,将具有所述被检测部(检测基准部和标记)的被检测基板作为所述下基板(第3基板),但本发明不限于此,例如如后所述,所述上基板(第1基板)也可以具有所述被检测部。本发明中,通过用所述侧面凸部覆盖边界,特别优选保护具有所述被检测部的被检测基板。因此,本实施方案的标记单元例如在具有所述被检测部的被检测基板为所述上基板和所述居中基板中的至少一个、或者为所述上基板的情况时特别有用。以下实施方案也相同。
[实施方案5]
本实施方案的标记单元是包含作为上基板的第1基板、作为居中基板的第2基板、作为下基板的第3基板被层压的层压体,并且所述第1基板具有侧面凸部的方案。在图6中示出本实施方案标记单元的一例。图6是针对本实施方案的标记单元示出以图1(B)的截面图中X包围的区域的截面图。实施方案5的标记单元除了上基板(第1基板)具有所述侧面凸部外,可以援用上述实施方案的记载。
图6的标记单元是上基板(第1基板)60的侧面凸部601向下方向突出,并覆盖上基板(第1基板)60和居中基板(第2基板)11的边界的方案。本实施方案中,上基板60的侧面凸部601为其外周面相对于下基板(第3基板)12下表面向垂直方向延伸的形状,侧面凸部601的下表面与下基板12的上表面相接触。
根据本实施方案,通过覆盖上基板60和居中基板11的边界,而可以保护所述边界,进而例如可以充分降低侧面凸部601对从标记单元1上方的检测产生影响的可能性。
本实施方案中,与所述实施方案1相同,将具有所述被检测部(检测基准部和标记)的被检测板作为所述下基板(第3基板),但本发明不限制于此,例如如后所述,所述上基板(第1基板)也可具有所述被检测部。本发明中,通过用所述侧面凸部覆盖边界,特别优选保护具有所述被检测部的被检测基板。因此,本实施方案的标记单元例如在具有所述被检测部的被检测基板为所述上基板和居中基板中的至少一个、或者为所述上基板的情况时特别有用。以下实施方案也相同。
[实施方案6]
所述各实施方案的标记单元中,覆盖边界的侧面凸部为设置在任一基板的侧面整个一周的方案。本发明不限于此,例如,也可在所述层压体侧面的至少一部分中,构成所述层压体的任一基板的侧面凸部覆盖作为所述层压体的最上层的第1基板和与所述最上层的第1基板的下表面相接触的第2基板的边界。
所述层压体侧面的至少一部分例如优选包含所述层压体的边角部。所述层压体的边角部例如由于从外部受到冲击的可能性高,因此通过所述边角部被侧面凸部覆盖,可有效防止各基板的剥离和垃圾等的混入。所述层压体的边角部附近例如如上所述,因为设置了作为所述标记的检测基准的检测基准部,也可有效防止对所述检测基准部的影响。
并且,所述层压体侧面的至少一部分例如优选包含所述层压体中的标记配置部位的附近部分。由此,例如可以有效地防止在所述标记附近的各基板间的剥离和垃圾等的混入。
[实施方案7]
所述各实施方案的标记单元虽然是第1基板、第2基板、第3基板被层压的三层结构的层压体,但本发明的标记单元不限于此,例如也可是具有第1基板和第2基板的二层结构的层压体。
在图7中作为本实施方案标记单元示出二层结构的层压体的一例。图7(A)为从上表面侧视标记单元2的平面图,图7(B)是标记单元2的从Ⅱ―Ⅱ方向视截面图。
标记单元2除了不具有居中基板,并且从其上侧以上基板(第1基板)10、下基板(第2基板)12的顺序层压以外,与所述实施方案1相同。换言之,标记单元2在下基板12之上层压有上基板10,并且下基板12具有侧面凸部121。
根据本实施方案,通过覆盖上基板10和下基板12的边界,并且使侧面凸部121的上表面与上基板10的上表面位于相同高度,而可以保护所述边界,进而例如可以充分降低侧面凸部121对从标记单元2上方的检测产生影响的可能性。
本实施方案标记单元2除了不具有居中基板,并且在所述下基板之上层压有所述上基板以外,与所述实施方案1相同,所述下基板的侧面凸部例如也可为所述实施方案1中图2(A)~(C)所示的形状。并且,本实施方案的标记单元2除了不具有居中基板,并且在所述下基板之上层压有所述上基板外,与所述实施方案3相同,所述上基板的侧面凸部例如也可为所述实施方案3中图4所示的形状。
[实施方案8]
所述各实施方案的标记单元是下基板(实施方案1-6的第3基板,实施方案7的第2基板)具有标记的方案,但本发明不限于此,例如也可以为上基板(第1基板)具有标记。
在图8中作为本实施方案的标记单元示出所述上基板(第1基板)具有标记的一例。图8(A)是从上表面侧视标记单元3的平面图,图8(B)是标记单元3的从Ⅲ-Ⅲ方向视截面图。标记单元3除了上基板30具有标记32以外,与所述实施方案1相同。除了代替所述下基板(第3基板)的标记而在所述上基板(第1基板)具有标记以外,也可与上述各实施方案2-6的标记单元相同。并且,除了代替所述下基板(第3基板)的标记而在所述上基板(第1基板)具有标记以外,也可与所述实施方案7的标记单元相同。
关于本发明的标记单元,虽然示例出了各实施方案,但本发明的标记单元不限于这些实例。
关于本发明的标记单元,在所述各实施方案中,所述检测基准部是所述下基板所具有的上表面侧凸部的上表面,但不限于此。在所述下基板的上表面为平坦形态的情况下,例如在所述下基板之上层压所述居中基板(任意)和所述上基板时,所述下基板上表面区域通过所述居中基板的贯通孔和所述上基板的贯通孔从所述标记单元上表面侧露出,该区域也可作为所述检测基准部。
并且,在所述下基板具有所述上表面侧凸部时,所述上表面侧凸部的上表面例如可以是与所述上基板的上表面相持平的状态(没有高度差),也可以是比所述上基板的上表面高(突出)的状态,也可以是比所述上基板的上表面低的状态。
在所述下基板包含所述上表面侧凸部时,优选所述下基板的上表面侧凸部与所述上基板的贯通孔及所述居中基板(任意)的贯通孔实质上为相同形状,并且,前者的平面面积与后者贯通孔的孔面积实质上相同。
所述下基板的所述检测基准部的形状例如可举例圆形、多边形等。所述圆形例如可为正圆形、椭圆形,优选正圆形。所述多边形例如可为三角形、四边形等多边形,所述四边形例如可为正方形、长方形等。所述上基板和所述居中基板贯通孔的形状也没有特别限制,例如可举例圆形、多边形等。
本发明标记单元中,所述检测基准部例如在用相机等检测机器检测所述标记时,成为待检测区域的标记。本发明标记单元中,所述检测基准部的数量及位置没有特别限制。
在本发明的标记单元具有标记作为所述被检测部时,如上所述,所述标记例如可以在所述上基板上,也可以在所述下基板上。在所述标记单元为二层结构时,所述下基板为第2基板,所述标记为三层结构时,所述下基板为第3基板。
所述标记没有特别限制,例如可举例如上所述的VMP标记(RAS标记),二维码等。所述二维码可为AR标记,QR标记等。所述AR标记例如可举例ARToolKit,ARTag,CyberCode,ARToolKitPlus等。本发明的标记单元中,所述标记的位置和数量没有特别限制。
本发明标记单元中,所述标记的形成方法没有特别限制。在所述下基板具有所述标记时,例如能够以以下方式形成。即,在本发明标记单元的所希望区域中,例如可通过在所述下基板的上表面形成谷形和山形的凹凸,而使所述所希望区域成为所述标记。
在所述上基板具有所述标记时,例如能够以以下方式形成。即,在本发明标记单元的所希望区域中,例如可通过在所述上基板的上表面形成柱状透镜等透镜结构,并在所述下基板的下表面形成条纹图案或点图案等图案,而使所述所希望区域成为所述标记。
作为所述上基板的标记,具体地以VMP标记举例说明。
所述标记包含具有多个透镜单元的透镜主体,所述多个透镜单元在平面方向中连续配置。将配置所述多个透镜单元的方向称为配置方向或宽度方向,将在平面方向中的与所述配置方向垂直的方向称为长度方向。
所述透镜主体中的所述透镜单元例如可举例柱面透镜。所述透镜主体例如是透光性构件。所述透光性构件没有特别限制,例如可举例树脂以及玻璃等。所述树脂例如可举例聚碳酸酯、聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA)等丙烯酸类树脂、环烯烃聚合物(COP)、环烯烃共聚物(COC)等。
所述透镜主体一个表面侧具备具有集光功能的集光部,另一表面侧上具有多个图案形成部。所述图案形成部例如是沿着所述透镜主体的所述长度方向延伸的线,在所述透镜主体的另一表面侧,通过多个线条形成条纹图案,或通过多个点形成点图案。所述多个图案形成部例如作为能够进行光学检测的图像被投影在所述透镜主体的上表面侧,并能够进行光学检测。
所述图案形成部只要是可光学检测的即可,例如可举例着色膜。所述着色膜的颜色没有特别限制,例如为黑色。所述着色膜例如为涂膜,能够通过涂料形成。所述涂料没有特别限制,例如可为液体涂料,也可为粉末涂料。所述涂料例如可通过涂布和/或固化来形成所述涂膜。所述涂布方法例如可举例喷涂涂布、丝网印刷等。所述固化方法例如可举例所述液体涂料的干燥、所述涂料中的可固化成分(例如,自由基聚合性化合物等)的固化、所述粉末涂料的烘烤等。
通过所述图案形成部形成的图案没有任何限制。在所述图案为例如所述条纹图案时,形成条纹图案的颜色浓度例如可相同,也可以浓淡不同。
将所述标记例如放置于白色物体上时,从所述标记的所述透镜主体的上表面射入的光中,到达所述图案形成部的光被所述图案形成部(例如,黑色着色膜)吸收,其余的光穿过所述透镜主体,在所述物体的表面反射。因此,在所述透镜主体的上表面上,所述图案形成部的图像(例如黑色线)被投影到白色背景上。因此,在所述标记单元中,层压了具有所述标记的所述上基板的基板(例如,三层结构时为所述居中基板,二层结构时为所述下基板)起到反射板的作用,因此例如在所述标记的图案形成部被形成为黑色时,优选其上表面为白色。
在本发明的标记单元为所述二层结构时,所述下基板(第2基板)和所述上基板(第1基板)的颜色组合没有特别限制,例如,只要可以检测所述下基板的被检测部和所述上基板的被检测部即可。所述下基板和所述上基板的颜色例如可举例以下组合。所述下基板例如其上表面为黑色,所述上基板例如为透明或白色。在所述上基板为透明时,所述上基板的侧面可被着色。由于所述上基板的侧面被着色,可以抑制从所述上基板侧面射入标记单元的干扰光线,并充分降低对从上方的检测产生影响的可能性。
在本发明的标记单元为所述三层结构时,所述下基板(第3基板)和所述居中基板(第2基板)和所述上基板(第1基板)的颜色组合没有特别限制,例如,只要可以检测所述下基板的被检测部和所述上基板的被检测部即可。所述下基板和所述上基板的颜色例如与上述相同。所述居中基板的颜色例如可根据所述上基板、所述下基板和所述标记适当设定。所述居中基板上表面的颜色例如是与所述下基板的被检测部和所述上基板的被检测部的颜色不同的颜色。并且,所述居中基板上表面的颜色、所述下基板的被检测部颜色和所述上基板的被检测部的颜色例如优选易产生对比度差的组合。像这样,通过由所述居中基板产生对比度差,例如能够进一步提高所述下基板的被检测部和所述上基板的被检测部的检测精度。
所述下基板、所述居中基板和所述上基板的颜色例如可举例以下组合。所述下基板例如其上表面是黑色,所述居中基板例如其上表面是白色,所述上基板例如是透明的。所述居中基板例如也可称作对所述下基板的被检测部和所述上基板的被检测部而言的反射基板。
所述下基板、所述居中基板和所述上基板例如分别是树脂基板。作为所述树脂基板的成型树脂,例如可举例聚碳酸酯(PC)、丙烯酸类树脂(例如,聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA))、环烯烃聚合物(COP),环烯烃共聚物(COC)等。并且,在将所述树脂基板着色时,例如可将在树脂中添加目标颜色的着色剂(例如,母料、干色料等)获得的所希望的着色树脂作为材料。
虽然上文参考实施方案说明了本发明,但是本发明不限于上述实施方案。对本发明的结构和细节而言,可在本发明的范围内作出本领域技术人员能够理解的各种改变。
本申请主张2017年5月17日提交的日本专利申请2017-098382为基础的优先权,其公开的所有内容纳入于本文。
产业上利用可能性
如上所述,根据本发明的标记单元,通过用任一基板具有的侧面凸部覆盖所述边界,例如能够提高标记和检测基准部等被检测部的检测精度,并且能够提高向被设置体设置时的设置精度。
附图标记说明
1、2、3 标记单元
10、30、40、60 上基板
11、31、51 居中基板
12、22 下基板
20、32 标记
101、102 贯通孔
121、221、311、401、511、601 侧面凸部
122 检测基准部
Claims (22)
1.一种标记单元,其特征在于,
包含2个以上基板被层压的层压体,
所述层压体具有可其从上表面侧检测的被检测部,
在所述层压体的侧面的至少一部分,通过构成层压体的任一基板的侧面凸部覆盖作为所述层压体的最上层的第1基板和第2基板的边界,所述第2基板与所述最上层的第1基板的下表面相接触。
2.根据权利要求1所述的标记单元,其中
在所述层压体侧面的边角部中,构成所述层压体的任一基板的侧面凸部覆盖所述第1基板和所述第2基板的边界。
3.根据权利要求1或2所述的标记单元,其中
在所述层压体侧面整个一周,构成所述层压体的任一基板的侧面凸部覆盖所述第1基板和所述第2基板的边界。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的标记单元,其中
所述层压体进一步包含第3基板,
从所述层压体的上表面侧,以所述第1基板、所述第2基板、所述第3基板的顺序层压,
所述第3基板的侧面至少在其边角部上,具有向上方向突出的侧面凸部,
在所述层压体侧面的边角部中,所述第3基板的侧面凸部覆盖所述第1基板和所述第2基板的边界,以及所述第2基板和所述第3基板的边界。
5.根据权利要求4所述的标记单元,其中
所述第3基板的侧面在其整个一周上具有向上方向突出的侧面凸部,
在所述层压体的侧面的整个一周中,所述第3基板的侧面凸部覆盖所述第1基板和所述第2基板的边界,以及所述第2基板和所述第3基板的边界。
6.根据权利要求1至3中任一项所述的标记单元,其中
所述第2基板的侧面至少在其边角部上,具有向上方向突出的侧面凸部,
在所述层压体侧面的边角部中,所述第2基板的侧面凸部覆盖所述第1基板和所述第2基板的边界。
7.根据权利要求6所述的标记单元,其中
所述第2基板的侧面在其整个一周上,具有向上方向突出的侧面凸部,
在所述层压体的侧面的整个一周中,所述第2基板的侧面凸部覆盖所述第1基板和所述第2基板的边界。
8.根据权利要求6或7所述的标记单元,其中
所述层压体进一步包含第3基板,
从所述层压体的上侧,以所述第1基板、所述第2基板、所述第3基板的顺序层压。
9.根据权利要求8所述的标记单元,其中
所述第2基板的侧面凸部为向上方和下方突出的侧面凸部,
所述第2基板的侧面凸部覆盖所述第1基板和所述第2基板的边界,以及所述第2基板和所述第3基板的边界。
10.根据权利要求1至3中任一项所述的标记单元,其中
所述第1基板的侧面至少在其边角部上具有向下方突出的侧面凸部,
在所述层压体侧面的边角部中,所述第1基板的侧面凸部覆盖所述第1基板和所述第2基板的边界。
11.根据权利要求10所述的标记单元,其中
所述第1基板的侧面在其整个一周上具有向下方突出的侧面凸部,
在所述层压体的侧面整个一周中,所述第1基板的侧面凸部覆盖所述第1基板和所述第2基板的边界。
12.根据权利要求10或11所述的标记单元,其中
所述层压体进一步包含第3基板,
从所述层压体的上侧,以所述第1基板、所述第2基板、所述第3基板的顺序层压。
13.根据权利要求12所述的标记单元,其中
所述第1基板的侧面凸部覆盖所述第1基板和所述第2基板的边界,以及所述第2基板和所述第3基板的边界。
14.根据权利要求1至13中任一项所述的标记单元,其中
在所述层压体中,所述侧面凸部的上表面与所述第1基板的上表面位于相同高度。
15.根据权利要求1至13中任一项所述的标记单元,其中
在所述层压体中,所述侧面凸部的上表面相对于所述第1基板上表面位于下方。
16.根据权利要求1至15中任一项所述的标记单元,其中
所述第1基板是从其上表面侧可视觉辨认第2基板的基板。
17.根据权利要求16所述的标记单元,其中
所述第1基板是透明基板。
18.根据权利要求1至17中任一项所述的标记单元,其中
所述被检测部包含标记以及在所述标记的检测中作为基准的检测基准部中的至少一种。
19.根据权利要求1至18中任一项所述的标记单元,其中
所述第1基板是具有所述被检测部的被检测基板。
20.根据权利要求1至18中任一项所述的标记单元,其中
在所述层压体不具有与所述第2基板的下表面相接触的第3基板时,所述第2基板是具有所述被检测部的被检测基板,
在所述层压体具有与所述第2基板的下表面相接触的第3基板时,所述第3基板是具有所述检测部的被检测基板。
21.根据权利要求20所述的标记单元,其中
在所述第2基板或所述第3基板是所述被检测基板时,
所述被检测基板在其上表面具有所述被检测部,
层压于所述被检测基板之上的其他基板在与所述被检测基板的所述被检测部相对应的地方具有贯通孔,
在所述层压体的上表面侧从所述贯通孔露出所述被检测基板的所述被检测部。
22.根据权利要求20或21所述的标记单元,其中
在所述第2基板或所述第3基板是所述被检测基板,并作为所述被检测部包含在标记的检测中作为基准的检测基准部时,
所述被检测基板具有向上方突出的凸部,
层压于所述被检测基板之上的其他基板在与所述被检测基板的所述凸部相对应的地方具有贯通孔,
在所述层压体中,所述被检测基板的所述凸部位于层压在所述被检测基板之上的其他基板的所述贯通孔内,
所述凸部的露出的上表面是所述检测基准部。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017098382A JP2018194435A (ja) | 2017-05-17 | 2017-05-17 | マーカユニット |
JP2017-098382 | 2017-05-17 | ||
PCT/JP2018/018043 WO2018212052A1 (ja) | 2017-05-17 | 2018-05-10 | マーカユニット |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN110603424A true CN110603424A (zh) | 2019-12-20 |
Family
ID=64274156
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201880029304.7A Withdrawn CN110603424A (zh) | 2017-05-17 | 2018-05-10 | 标记单元 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20200056884A1 (zh) |
EP (1) | EP3605009A1 (zh) |
JP (1) | JP2018194435A (zh) |
CN (1) | CN110603424A (zh) |
WO (1) | WO2018212052A1 (zh) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPWO2018135063A1 (ja) * | 2017-01-17 | 2019-07-18 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 | マーカとマーカを用いた姿勢推定方法及び位置姿勢推定方法 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000112151A (ja) * | 1998-08-06 | 2000-04-21 | Sanee Giken Kk | 位置決め用マ―ク、位置決め方法および位置合わせ方法 |
JP2011209064A (ja) * | 2010-03-29 | 2011-10-20 | Fuji Xerox Co Ltd | 物品認識装置及びこれを用いた物品処理装置 |
JP5842248B2 (ja) | 2010-12-24 | 2016-01-13 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 | マーカ |
US20130106833A1 (en) * | 2011-10-31 | 2013-05-02 | Wey Fun | Method and apparatus for optical tracking of 3d pose using complex markers |
WO2016024555A1 (ja) * | 2014-08-12 | 2016-02-18 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 | マーカとマーカを用いた姿勢推定方法 |
JP6589594B2 (ja) | 2015-11-20 | 2019-10-16 | Tdk株式会社 | コイル装置 |
-
2017
- 2017-05-17 JP JP2017098382A patent/JP2018194435A/ja not_active Ceased
-
2018
- 2018-05-10 US US16/609,987 patent/US20200056884A1/en not_active Abandoned
- 2018-05-10 EP EP18801883.2A patent/EP3605009A1/en not_active Withdrawn
- 2018-05-10 WO PCT/JP2018/018043 patent/WO2018212052A1/ja unknown
- 2018-05-10 CN CN201880029304.7A patent/CN110603424A/zh not_active Withdrawn
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2018194435A (ja) | 2018-12-06 |
EP3605009A1 (en) | 2020-02-05 |
WO2018212052A1 (ja) | 2018-11-22 |
US20200056884A1 (en) | 2020-02-20 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US20200118293A1 (en) | Marker unit | |
EP3640581A1 (en) | Marker unit | |
CN110603424A (zh) | 标记单元 | |
CN115066591A (zh) | 标记、标记的制造方法以及检测对象物 | |
US20200011655A1 (en) | Marker mounting unit | |
US20190293841A1 (en) | Marker | |
WO2018131678A1 (ja) | マーカ搭載用ユニット | |
US20200088913A1 (en) | Marker | |
JP2021071448A (ja) | マーカ搭載ユニット | |
US20190369301A1 (en) | Marker | |
WO2018131680A1 (ja) | マーカ搭載用ユニット | |
EP3540368A1 (en) | Marker mounting unit and production method therefor | |
WO2019074036A1 (ja) | マーカ | |
WO2018096848A1 (ja) | マーカおよびマーカセット | |
JP2021144213A (ja) | マーカー | |
JP2020003454A (ja) | マーカ |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
WW01 | Invention patent application withdrawn after publication |
Application publication date: 20191220 |
|
WW01 | Invention patent application withdrawn after publication |