CN110569154B - 一种芯片接口功能测试方法、系统、终端及存储介质 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种芯片接口功能测试方法、系统、终端及存储介质，包括：配置芯片接口的压力测试用例和用例运行适配器；将所述压力测试用例与用例运行适配器中的运行适配器进行匹配，生成并发测试任务；通过IPMITOOL触发芯片处理任务执行所述并发测试任务并生成执行测试任务的记录日志；根据所述记录日志分析芯片接口性能参数。本发明能够对于存储和服务器中涉及BMC、CMC相关功能可以满足自动化测试，同时有性能散点图输出，可给调试、优化开发提供辅助作用；可实现迭代过程中繁杂的功能验证，提高团队效率和产品质量。
Description
技术领域
本发明属于服务器测试技术领域，具体涉及一种芯片接口功能测试方法、系统、终端及存储介质。
背景技术
BMC芯片和CMC芯片广泛应用于存储和服务器，两者主要功能有相关事件管理、监测等。比如固件温度、风扇转速、PSU电压和机箱管理等，在上层应用上主要表现为告警、网络管理与服务等。由于BMC芯片和CMC芯片与其他固件和操作系统交互场景多且复杂，迭代回归代价很高，同时两个芯片接口数量多且其功能必不可少。
发明内容
针对现有技术的上述不足，本发明提供一种芯片接口功能测试方法、系统、终端及存储介质，以解决上述技术问题。
第一方面，本发明提供一种芯片接口功能测试方法，所述芯片包括CMC芯片和BMC芯片，包括：
配置芯片接口的压力测试用例和用例运行适配器；
将所述压力测试用例与用例运行适配器中的运行适配器进行匹配，生成并发测试任务；
通过IPMITOOL触发芯片处理任务执行所述并发测试任务并生成执行测试任务的记录日志；
根据所述记录日志分析芯片接口性能参数。
进一步的，所述配置芯片接口的压力测试用例和用例运行适配器，包括：
基于python语言创建压力测试用例；
在所述压力测试用例中定义芯片基本属性和接口调用方法；
在运行适配器中设置配置压力参数。
进一步的，所述根据记录日志分析芯片接口性能参数，包括：
根据接口对应的压力参数和记录日志计算芯片接口性能处理任务平均单位耗时颗粒度；
根据所述处理任务平均单位耗时颗粒度判断芯片接口是否存在处理超时问题：
是，则判定所述芯片接口测试未通过；
否，则判定所述芯片接口测试通过。
第二方面，本发明提供一种芯片接口功能测试系统，所述芯片包括CMC芯片和BMC芯片，包括：
测试配置单元，配置用于配置芯片接口的压力测试用例和用例运行适配器；
测试匹配单元，配置用于将所述压力测试用例与用例运行适配器中的运行适配器进行匹配，生成并发测试任务；
任务执行单元，配置用于通过IPMITOOL触发芯片处理任务执行所述并发测试任务并生成执行测试任务的记录日志；
数据分析单元，配置用于根据所述记录日志分析芯片接口性能参数。
进一步的，所述测试配置单元包括：
用例创建模块，配置用于基于python语言创建压力测试用例；
用例定义模块，配置用于在所述压力测试用例中定义芯片基本属性和接口调用方法；
参数配置模块，配置用于在运行适配器中设置配置压力参数。
进一步的，所述数据分析单元包括：
数据计算模块，配置用于根据接口对应的压力参数和记录日志计算芯片接口性能处理任务平均单位耗时颗粒度；
超时判断模块，配置用于根据所述处理任务平均单位耗时颗粒度判断芯片接口是否存在处理超时问题；
异常判定模块，配置用于判定所述芯片接口测试未通过；
通过判定模块，配置用于判定所述芯片接口测试通过。
第三方面，提供一种终端，包括：
处理器、存储器，其中，
该存储器用于存储计算机程序，
该处理器用于从存储器中调用并运行该计算机程序，使得终端执行上述的终端的方法。
第四方面，提供了一种计算机存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有指令，当其在计算机上运行时，使得计算机执行上述各方面所述的方法。
本发明的有益效果在于，
本发明提供的芯片接口功能测试方法、系统、终端及存储介质，通过基于Linux平台使用python开发的测试方法，实现对BMC芯片和CMC芯片基本接口功能的自动化测试和个性化压力测试，达到高效迭代回归的目的。本发明能够对于存储和服务器中涉及BMC、CMC相关功能可以满足自动化测试，同时有性能散点图输出，可给调试、优化开发提供辅助作用；可实现迭代过程中繁杂的功能验证，提高团队效率和产品质量。
此外，本发明设计原理可靠，结构简单，具有非常广泛的应用前景。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明一个实施例的方法的示意性流程图。
图2是本发明一个实施例的系统的示意性框图。
图3为本发明实施例提供的一种终端的结构示意图。
具体实施方式
为了使本技术领域的人员更好地理解本发明中的技术方案，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明保护的范围。
下面对本发明中出现的关键术语进行解释。
BMC：Baseboard Management Controller，基板管理控制器。具备本地和远程诊断、控制台支持、配置管理、硬件管理和故障排除等功能，在存储和服务器中，独立运行，上电即工作，因而，可利用BMC的特性完成很多特定功能。
CMC：Control Module on Chip，芯片控制模块。是一种将自动控制系统的完整输入、输出、控制算法和网络通信与管理集成在一个芯片上的解决方案。
数据处理任务平均单位耗时颗粒度主要针对指标数据的计算范围，用于表示某数据集的组成的最小单元。
图1是本发明一个实施例的方法的示意性流程图。其中，图1执行主体可以为一种芯片接口功能测试系统。
如图1所示，该方法100包括：
步骤110，配置芯片接口的压力测试用例和用例运行适配器；
步骤120，将所述压力测试用例与用例运行适配器中的运行适配器进行匹配，生成并发测试任务；
步骤130，通过IPMITOOL触发芯片处理任务执行所述并发测试任务并生成执行测试任务的记录日志；
步骤140，根据所述记录日志分析芯片接口性能参数。
可选地，作为本发明一个实施例，所述配置芯片接口的压力测试用例和用例运行适配器，包括：
基于python语言创建压力测试用例；
在所述压力测试用例中定义芯片基本属性和接口调用方法；
在运行适配器中设置配置压力参数。
可选地，作为本发明一个实施例，所述根据记录日志分析芯片接口性能参数，包括：
根据接口对应的压力参数和记录日志计算芯片接口性能处理任务平均单位耗时颗粒度；
根据所述处理任务平均单位耗时颗粒度判断芯片接口是否存在处理超时问题：
是，则判定所述芯片接口测试未通过；
否，则判定所述芯片接口测试通过。
为了便于对本发明的理解，下面以本发明芯片接口功能测试方法的原理，结合实施例中对CMC芯片和BMC芯片接口功能进行管理的过程，对本发明提供的芯片接口功能测试方法做进一步的描述。
具体的，所述芯片接口功能测试方法包括：
S1、配置芯片接口的压力测试用例和用例运行适配器。
CMC芯片测试用例模型设置方法为：基于python语言，使用面现象对象思想，定义CMC基本属性和CMC芯片接口调用方法。比如：CMC IP属性、端口状态信息获取、风扇信息获取、PCIE状态信息等。其中CMC Model实例数和CMC芯片数量相同，完全模拟每一个CMC所扮演的角色。BMC芯片测试用例模型与CMC芯片测试用例模型创建方法类似，不再赘述。测试用例模型中包含所有功能测试需要的测试用例，本实施例用到的测试用例为BMC和CMC芯片测试常用测试用例。
用例运行适配器：根据每个模型的标识自动去适配运行模式，并且该模块包含了个性化压力测试模型，可根据并发任务数配置不同的适配器实例，运行适配器主要分为三大类。
第一类：仅包含CMC Model实例的运行适配器，根据需求设置配置压力参数。
第二类：仅包含BMC Model实例的运行适配器，根据需求设置配置压力参数。
第三类：包含BMC Model实例和CMC Model实例的混合运行适配器，此场景运用在一些复杂功能场景和压力测试场景。比如：CMC通过BMC获取某固件的属性或状态信息。
压力参数主要是模拟BMC和CMC一个时间片内收到多个指令，通过多进程向IPMITOOL发送请求，触发BMC和CMC处理作业。因为比较常见的是处理和响应超时，这就是该压力模型的重要性。
S2、将所述压力测试用例与用例运行适配器中的运行适配器进行匹配，生成并发测试任务。
适配器模式是将接口改造成用户希望的接口，适配器让原本和接口不兼容的类能和接口一起工作。因此要执行压力测试用例需要适配器的配合。将测试用例模型中不同BMC、CMC实例与运行适配器实例匹配，生成作业队列(并发队列)。
S3、通过IPMITOOL触发芯片处理任务执行所述并发测试任务并生成执行测试任务的记录日志。
生成并发任务队列后，执行测试任务调用IPMITOOL，通过IPMITOOL向CMC和BMC发送指令，调用CMC和BMC固件群，令CMC和BMC执行测试任务。
S4、根据所述记录日志分析芯片接口性能参数。
获取每个测试任务生成的记录日志，根据测试任务对应的压力测试参数(例如：测试通过CMC芯片获取存储控制器信息接口，配置压力参数每10次运行时间、每100次运行时间、每500次运行时间等。)控制计算各个芯片接口的处理任务平均单位耗时颗粒度。通过计算的处理任务平均单位耗时颗粒度分析BMC和CMC是否存在处理超时问题。
如图2示，该系统200包括：
测试配置单元210，配置用于配置芯片接口的压力测试用例和用例运行适配器；
测试匹配单元220，配置用于将所述压力测试用例与用例运行适配器中的运行适配器进行匹配，生成并发测试任务；
任务执行单元230，配置用于通过IPMITOOL触发芯片处理任务执行所述并发测试任务并生成执行测试任务的记录日志；
数据分析单元240，配置用于根据所述记录日志分析芯片接口性能参数。
可选地，作为本发明一个实施例，所述测试配置单元包括：
用例创建模块，配置用于基于python语言创建压力测试用例；
用例定义模块，配置用于在所述压力测试用例中定义芯片基本属性和接口调用方法；
参数配置模块，配置用于在运行适配器中设置配置压力参数。
可选地，作为本发明一个实施例，所述数据分析单元包括：
数据计算模块，配置用于根据接口对应的压力参数和记录日志计算芯片接口性能处理任务平均单位耗时颗粒度；
超时判断模块，配置用于根据所述处理任务平均单位耗时颗粒度判断芯片接口是否存在处理超时问题；
异常判定模块，配置用于判定所述芯片接口测试未通过；
通过判定模块，配置用于判定所述芯片接口测试通过。
图3为本发明实施例提供的一种终端系统300的结构示意图，该终端系统300可以用于执行本发明实施例提供的芯片接口功能测试方法。
其中，该终端系统300可以包括：处理器310、存储器320及通信单元330。这些组件通过一条或多条总线进行通信，本领域技术人员可以理解，图中示出的服务器的结构并不构成对本发明的限定，它既可以是总线形结构，也可以是星型结构，还可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。
其中，该存储器320可以用于存储处理器310的执行指令，存储器320可以由任何类型的易失性或非易失性存储终端或者它们的组合实现，如静态随机存取存储器(SRAM)，电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)，可擦除可编程只读存储器(EPROM)，可编程只读存储器(PROM)，只读存储器(ROM)，磁存储器，快闪存储器，磁盘或光盘。当存储器320中的执行指令由处理器310执行时，使得终端300能够执行以下上述方法实施例中的部分或全部步骤。
处理器310为存储终端的控制中心，利用各种接口和线路连接整个电子终端的各个部分，通过运行或执行存储在存储器320内的软件程序和/或模块，以及调用存储在存储器内的数据，以执行电子终端的各种功能和/或处理数据。所述处理器可以由集成电路(Integrated Circuit，简称IC)组成，例如可以由单颗封装的IC所组成，也可以由连接多颗相同功能或不同功能的封装IC而组成。举例来说，处理器310可以仅包括中央处理器(Central Processing Unit，简称CPU)。在本发明实施方式中，CPU可以是单运算核心，也可以包括多运算核心。
通信单元330，用于建立通信信道，从而使所述存储终端可以与其它终端进行通信。接收其他终端发送的用户数据或者向其他终端发送用户数据。
本发明还提供一种计算机存储介质，其中，该计算机存储介质可存储有程序，该程序执行时可包括本发明提供的各实施例中的部分或全部步骤。所述的存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(英文：read-only memory，简称：ROM)或随机存储记忆体(英文：random access memory，简称：RAM)等。
因此，本发明通过基于Linux平台使用python开发的测试方法，实现对BMC芯片和CMC芯片基本接口功能的自动化测试和个性化压力测试，达到高效迭代回归的目的。本发明能够对于存储和服务器中涉及BMC、CMC相关功能可以满足自动化测试；本专利提出了对BMC、CMC压力测试的实践方案，同时有性能散点图输出，可给调试、优化开发提供辅助作用；可实现迭代过程中繁杂的功能验证，提高团队效率和产品质量，本实施例所能达到的技术效果可以参见上文中的描述，此处不再赘述。
本领域的技术人员可以清楚地了解到本发明实施例中的技术可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现。基于这样的理解，本发明实施例中的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中如U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质，包括若干指令用以使得一台计算机终端(可以是个人计算机，服务器，或者第二终端、网络终端等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。
本说明书中各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可。尤其，对于终端实施例而言，由于其基本相似于方法实施例，所以描述的比较简单，相关之处参见方法实施例中的说明即可。
在本发明所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的系统、系统和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的系统实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，系统或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。
所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。
尽管通过参考附图并结合优选实施例的方式对本发明进行了详细描述，但本发明并不限于此。在不脱离本发明的精神和实质的前提下，本领域普通技术人员可以对本发明的实施例进行各种等效的修改或替换，而这些修改或替换都应在本发明的涵盖范围内/任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应所述以权利要求的保护范围为准。
Claims (6)
1.一种芯片接口功能测试方法，所述芯片包括CMC芯片和BMC芯片，其特征在于，包括：
配置芯片接口的压力测试用例和用例运行适配器；
将所述压力测试用例与用例运行适配器中的运行适配器进行匹配，生成并发测试任务；
通过IPMITOOL触发芯片处理任务执行所述并发测试任务并生成执行测试任务的记录日志；
根据所述记录日志分析芯片接口性能参数；
所述配置芯片接口的压力测试用例和用例运行适配器，包括：
基于python语言创建压力测试用例；
在所述压力测试用例中定义芯片基本属性和接口调用方法；
在运行适配器中设置配置压力参数。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据记录日志分析芯片接口性能参数，包括：
根据接口对应的压力参数和记录日志计算芯片接口性能处理任务平均单位耗时颗粒度；
根据所述处理任务平均单位耗时颗粒度判断芯片接口是否存在处理超时问题：
是，则判定所述芯片接口测试未通过；
否，则判定所述芯片接口测试通过。
3.一种芯片接口功能测试系统，所述芯片包括CMC芯片和BMC芯片，其特征在于，包括：
测试配置单元，配置用于配置芯片接口的压力测试用例和用例运行适配器；
测试匹配单元，配置用于将所述压力测试用例与用例运行适配器中的运行适配器进行匹配，生成并发测试任务；
任务执行单元，配置用于通过IPMITOOL触发芯片处理任务执行所述并发测试任务并生成执行测试任务的记录日志；
数据分析单元，配置用于根据所述记录日志分析芯片接口性能参数；
所述测试配置单元包括：
用例创建模块，配置用于基于python语言创建压力测试用例；
用例定义模块，配置用于在所述压力测试用例中定义芯片基本属性和接口调用方法；
参数配置模块，配置用于在运行适配器中设置配置压力参数。
4.根据权利要求3所述的系统，其特征在于，所述数据分析单元包括：
数据计算模块，配置用于根据接口对应的压力参数和记录日志计算芯片接口性能处理任务平均单位耗时颗粒度；
超时判断模块，配置用于根据所述处理任务平均单位耗时颗粒度判断芯片接口是否存在处理超时问题；
异常判定模块，配置用于判定所述芯片接口测试未通过；
通过判定模块，配置用于判定所述芯片接口测试通过。
5.一种终端，其特征在于，包括：
处理器；
用于存储处理器的执行指令的存储器；
其中，所述处理器被配置为执行权利要求1-2任一项所述的方法。
6.一种存储有计算机程序的计算机可读存储介质，其特征在于，该程序被处理器执行时实现如权利要求1-2中任一项所述的方法。
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Legal Events
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| PB01 | Publication | ||
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| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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| GR01 | Patent grant | ||
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