CN110470887A - 检测装置与检测方法 - Google Patents

Abstract

本申请提供了一种检测装置与检测方法。该检测装置用于检测待测设备的静态电流，该检测装置包括：采样单元，用于与待测设备电连接；第一滤波单元，与采样单元并联；检测单元，与第一滤波单元的两端分别电连接；处理单元，用于根据检测单元检测到的电压和采样单元的电阻计算静态电流。待测设备中的静态电流流经采样电阻将静态电流信号转化为电压信号，通过第一滤波单元可有效解决外部噪声对采样数据的影响，通过检测单元实现了对采样数据的精确检测，进一步地处理单元对检测单元检测到的电压和采样电阻进行计算得到精确的静态电流，从而解决了现有技术中受到外部信号干扰而导致的静态电流采集精度较低的问题。

Description

检测装置与检测方法

技术领域

本申请涉及电流检测领域，具体而言，涉及一种检测装置与检测方法。

背景技术

遥控器是生活中一种常见的使用工具，且常见的遥控器的电能来源都为蓄电池，蓄电池的储能是有限的，如果要遥控器长时间不换电池，遥控器就必须为低功耗状态，而遥控器在不使用时(无任何按键按下时)也会消耗能量，此时遥控器产生的电流为静态电流，因此静态电流就成为了评价遥控器性能的一项重要的指标，现有技术中，一般采用万用表等常规电流传感器采集静态电流，采集静态电流时容易受外部信号干扰，采集精度比较低。

发明内容

本申请的主要目的在于提供一种检测装置与检测方法，以解决现有技术中采集静态电流时容易受到外部信号干扰而导致的静态电流采集精度较低的问题。

为了实现上述目的，根据本申请的一个方面，提供了一种检测装置，包括：采样单元，用于与所述待测设备电连接，所述采样单元包括至少一个采样电阻；第一滤波单元，与所述采样单元并联；检测单元，与所述第一滤波单元的两端分别电连接；处理单元，用于根据所述检测单元检测到的电压和所述采样单元的电阻计算所述静态电流。

进一步地，所述处理单元与所述检测单元电连接，所述处理单元包括：第一滤波模块，用于对所述检测单元的输出信号进行滤波处理，得到滤波电压；计算模块，用于根据所述滤波电压和所述采样单元的电阻计算所述静态电流。

进一步地，所述滤波处理包括以下至少之一：中值滤波、均值滤波、高斯滤波。

进一步地，所述处理单元为单片机。

进一步地，所述采样单元包括多个串联的电阻。

进一步地，第一滤波单元包括电容。

进一步地，所述检测单元包括：检测芯片；第二滤波模块，与所述检测芯片电连接，所述第二滤波模块用于对所述检测芯片进行滤波。

根据本申请的另一方面，提供了一种静态电流的检测方法，用于检测待测设备的静态电流，包括：将静态电流输入采样单元；对所述采样单元的两端的电压进行滤波；检测滤波后的所述采样单元两端的电压，得到第一滤波电压；根据所述第一滤波电压和所述采样单元的电阻计算所述静态电流。

进一步地，根据所述第一滤波电压和所述采样单元的电阻计算所述静态电流，包括：对所述第一滤波电压进行滤波处理，得到第二滤波电压；根据所述第二滤波电压和所述采样单元的电阻计算所述静态电流。

进一步地，所述滤波处理包括以下至少之一：中值滤波、均值滤波、高斯滤波。

应用本申请的技术方案，采用该检测装置检测时，将采样单元与待测设备电连接，待测设备中的静态电流流经采样电阻将静态电流信号转化为电压信号，通过第一滤波单元可有效解决外部噪声对采样数据的影响，上述检测单元检测到的电压为上述采样电阻两端的电压，通过检测单元实现了对采样数据的精确检测，进一步地处理单元对检测单元检测到的电压和采样电阻进行计算得到精确的静态电流，从而解决了现有技术中受到外部信号干扰而导致的静态电流采集精度较低的问题。

附图说明

构成本申请的一部分的说明书附图用来提供对本申请的进一步理解，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：

图1示出了根据本申请实施例的一种检测装置示意图；

其中，上述附图包括以下附图标记：

10、采样单元；20、第一滤波单元；30、检测单元；40、处理单元；11、静态电流输入端；301、第一端口；302、第二端口；303、第三端口；304、第四端口；305、第五端口；306、第六端口；307、第七端口；308、第八端口；309、第九端口；310、第十端口。

具体实施方式

需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本申请。

为了使本技术领域的人员更好地理解本申请方案，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本申请保护的范围。

需要说明的是，本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本申请的实施例。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。

应该理解的是，当元件(诸如层、膜、区域、或衬底)描述为在另一元件“上”时，该元件可直接在该另一元件上，或者也可存在中间元件。而且，在说明书以及权利要求书中，当描述有元件“连接”至另一元件时，该元件可“直接连接”至该另一元件，或者通过第三元件“连接”至该另一元件。

现有技术中，一般采用万用表等常规电流传感器采集静态电流，采集精度比较低，而且采集静态电流时容易受外部信号干扰。为解决这一技术问题，本申请的一种典型的实施例中提供了一种检测装置，图1是根据本申请实施例的一种检测装置示意图，检测装置用于检测待测设备的静态电流。如图1所示，该装置包括：

采样单元10，用于与上述待测设备电连接，即在采用该检测装置检测的情况下，静态电流输入采样单元，上述采样单元包括至少一个采样电阻；

第一滤波单元20，与上述采样单元并联；

检测单元30，与上述第一滤波单元的两端分别电连接；

处理单元40，用于根据上述检测单元检测到的电压和上述采样单元的电阻计算上述静态电流。

采用本实施例提供的检测装置，采用该检测装置检测时，将采样单元与待测设备电连接，待测设备中的静态电流流经采样电阻可以得到包括静态电流的电流对应的电压信号，通过第一滤波单元可以将电压信号中的外部噪声滤除，得到第一滤波电压，从而可缓解或者消除外部噪声对采样数据的影响，上述检测单元检测到的电压为上述采样电阻两端的电压，处理单元对检测单元检测到的电压和采样电阻进行计算，得到精确的静态电流，从而解决了现有技术中受到外部信号干扰而导致的静态电流采集精度较低的问题。

本申请的一种实施例中，上述处理单元与上述检测单元电连接，上述处理单元包括第一滤波模块和计算模块，第一滤波模块用于对上述检测单元的输出信号进行滤波处理，得到第二滤波电压；计算模块用于根据上述滤波电压和上述采样单元的电阻计算上述静态电流。由于待测设备在工厂环境中容易受到各种因素的干扰，采用滤波模块可以进一步将环境中的干扰滤除，从而得到更为准确的第二滤波电压，进一步地根据欧姆定律，计算模块将滤波电压除以采样单元的电阻得到准确的静态电流。

本申请的一种实施例中，上述滤波处理包括以下至少之一：中值滤波、均值滤波、高斯滤波。通过采用中值滤波、均值滤波、高斯滤波等方式对上述检测单元的输出信号进行滤波处理，进而得到更为准确地滤波电压。

需要说明的是，由于待测设备所处的环境不同，待测设备自身的性能不同，因此可能需要采用不同的滤波方式对所检测设备进行滤波，本领域技术人员可以根据实际情况采用合适的滤波方式，并不限于上述的滤波方式。

本申请的一种实施例中，上述处理单元为单片机。单片机作为控制器可以实现对检测单元的控制，从而实现检测单元对采样信号的精确检测，同时，第一滤波模块和处理模块都是单片机中的软件模块，第一滤波模块和计算模块均通过编程实现。

需要说明的是，本方案中的单片机可以为51单片机或stm32单片机等，也可以为具有数据处理能力的FPGA或RAM等，本领域技术人员可以根据实际情况采用合适的单片机。

本申请的一种实施例中，本申请中的采样单元包括多个串联的电阻，可以为一个电阻，也可以为多个电阻串联的方式。并且，需要说明的是，由于待测设备不同，待测设备的静态电流也不同，因此采样电阻的大小也是变化的，例如，若待测设备的静态电流为十几微安，若采用的采样电阻阻值较小则得不到合适的电压测量范围，从而影响静态电流的准确测量，若采用的采样电阻的阻值过大，则可能会造成功率较大，从而影响设备的正常工作。具体可以根据实际情况来选择合适数量以及合适阻值的电阻构成本申请的采样单元。

本申请的一种具体的实施例中，上述采样单元包括多个串联的电阻。这样可以根据实际需求选择合适的电阻数量和合适的电阻大小，另外，还可以选择精密电阻(电阻值精确度较高的电阻)作为采样电阻，这样得到的检测结果更加准确。

本申请的一种实施例中，第一滤波单元包括电容。此电容可以为设备本身电源处的电容，此电容可以起到滤除外部噪声的作用，从而解决外部噪声对采样数据的影响。并且，此电容还与采样电阻一起构成滤波电路(RC滤波电路)，或者还可以外接电阻，通过与外接电阻构成滤波电路，上述滤波电路起到滤除外部噪声的作用。

本申请的一种实施例中，上述检测单元包括检测芯片和第二滤波模块，第二滤波模块与上述检测芯片电连接，上述第二滤波模块用于对上述检测芯片进行滤波。通过第二滤波模块对检测芯片进行滤波，可以使检测芯片处于正常的工作状态。

本申请的一种实施例中，还包括一个分压电阻，在检测时，该分压电阻的一端与待测设备电连接，另一端与采样电阻电连接，待测设备的静态电流流经分压电阻后，流入采样电阻，分压电阻在电路中起到分压的作用。实际应用中该分压电阻可以去掉。

本申请的另一种典型的实施例中还提供了一种静态电流的检测方法，该方法包括：

步骤S101，将静态电流输入采样单元；

步骤S102，对上述采样单元的两端的电压进行滤波；

步骤S103，检测滤波后的上述采样单元两端的电压，得到第一滤波电压；

步骤S104，根据上述第一滤波电压和上述采样单元的电阻计算上述静态电流。

采用本实施例提供的检测方法，静态电流流经采样单元将静态电流信号转化为电压信号，对上述采样单元的两端的电压进行滤波可有效解决外部噪声对采样数据的影响，检测滤波后的上述采样单元两端的电压，实现了对采样数据的精确检测，进一步地根据上述电压和上述采样单元的电阻计算上述静态电流，从而解决了现有技术中受到外部信号干扰而导致的静态电流采集精度较低的问题。

本申请的一种实施例中，根据上述第一滤波电压和上述采样单元的电阻计算上述静态电流，包括，对上述第一滤波电压进行滤波处理，得到第二滤波电压；根据上述第二滤波电压和上述采样单元的电阻计算上述静态电流。由于待测设备在工厂环境中容易受到各种因素的干扰，通过滤波处理可以将环境中的干扰滤除，从而得到更为准确地滤波电压，进一步地根据欧姆定律，计算模块将滤波电压除以采样单元的电阻得到准确地静态电流。

本申请的一种实施例中，上述滤波处理包括以下至少之一：中值滤波、均值滤波、高斯滤波。通过采用中值滤波、均值滤波、高斯滤波等方式对上述检测单元的输出信号进行滤波处理，进而得到更为准确地滤波电压。

需要说明的是，由于待测设备所处的环境不同，待测设备自身的性能不同，因此需要采用不同的滤波方式对所检测设备进行滤波，本领域技术人员可以根据实际情况采用合适的滤波方式。

需要说明的是，待测设备可以为任何具有静态电流的设备，比如遥控器等设备。

上述处理单元包括处理器和存储器，上述第一滤波模块和计算模块等均作为程序模块存储在存储器中，由处理器执行存储在存储器中的上述程序模块来实现相应的功能。

处理器中包含内核，由内核去存储器中调取相应的程序单元。内核可以设置一个或以上，通过调整内核参数来至少根据上述检测单元检测到的电压和上述采样单元的电阻计算上述静态电流。

存储器可能包括计算机可读介质中的非永久性存储器，随机存取存储器(RAM)和/或非易失性内存等形式，如只读存储器(ROM)或闪存(flash RAM)，存储器包括至少一个存储芯片。

本发明实施例提供了一种存储介质，其上存储有程序，该程序被处理器执行时实现“根据上述检测单元检测到的电压和上述采样单元的电阻计算上述静态电流”。

本发明实施例提供了一种处理器，上述处理器用于运行程序，其中，上述程序运行时执行“根据上述检测单元检测到的电压和上述采样单元的电阻计算上述静态电流”。

本领域内的技术人员应明白，本申请的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本申请可采用完全硬件实施例或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本申请可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。

本申请是参照根据本申请实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。

这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。

这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。

在一个典型的配置中，计算设备包括一个或多个处理器(CPU)、输入/输出接口、网络接口和内存。

存储器可能包括计算机可读介质中的非永久性存储器，随机存取存储器(RAM)和/或非易失性内存等形式，如只读存储器(ROM)或闪存(flash RAM)。存储器是计算机可读介质的示例。

计算机可读介质包括永久性和非永久性、可移动和非可移动媒体可以由任何方法或技术来实现信息存储。信息可以是计算机可读指令、数据结构、程序的模块或其他数据。计算机的存储介质的例子包括，但不限于相变内存(PRAM)、静态随机存取存储器(SRAM)、动态随机存取存储器(DRAM)、其他类型的随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)、快闪记忆体或其他内存技术、只读光盘只读存储器(CD-ROM)、数字多功能光盘(DVD)或其他光学存储、磁盒式磁带，磁带磁磁盘存储或其他磁性存储设备或任何其他非传输介质，可用于存储可以被计算设备访问的信息。按照本文中的界定，计算机可读介质不包括暂存电脑可读媒体(transitory media)，如调制的数据信号和载波。

还需要说明的是，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、商品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、商品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括要素的过程、方法、商品或者设备中还存在另外的相同要素。

实施例

本申请的一种实施例中，提供了一种检测装置，用于检查遥控器的静态电流，该检测装置示意图如图1所示。该检测装置包括：

采样单元10，用于与待测遥控器电连接，上述采样单元包括至少一个采样电阻，静态电流从静态电流输入端11输入采样单元，采样单元至少包括一个采样电阻R1，采样电阻R1可以为多个电阻串联的形式，遥控器的静态电流为十几微安，采样单元选用两个300Ω的精密电阻串联，可以实现较为准确地静态电流的测量。

静态电流可流经电阻R2后再输入采样电阻R1，电阻R2在此处起到分压的作用(实际应用中，也可去掉电阻R2)。

第一滤波单元20，与上述采样单元并联，第一滤波单元包括第一电容C1，第一电容C1与采样电阻R1并联，第一电容C1可以为待测设备本身电源处的电容，第一电容C1与采样电阻R1一起构成滤波电路(RC滤波电路)，上述滤波电路起到滤除外部噪声的作用，通过第一滤波单元对采样单元的两端的电压进行滤波，滤波后的电压为第一滤波电压。

检测单元30，与上述第一滤波单元的两端分别电连接，检测单元包括检测芯片和第二滤波模块。具体到本实施例中，检测芯片选用德州仪器的电压采集芯片INA226，本检测芯片的采集精度较高，可达到0.01uA，本检测芯片的输入阻抗很大，本检测芯片与采样电阻R1并联，根据并联电阻分流，电阻的大小与分流的大小成反比，电阻越大，分流越小，由于本芯片的输入阻抗非常大，所以分流就非常小，对检测装置本身的影响就非常小，即从静态电流输入端11流入的静态电流相当于全部输入采样电阻R1中。

具体的，本检测芯片包括10个端口，分别为第一端口301、第二端口302、第三端口303、第四端口304、第五端口305、第六端口306、第七端口307、第八端口308、第九端口309和第十端口310，第一端口301至第十端口310依次分别为A1端口、A0端口、ALERT端口、SDA端口、SCL端口、VS端口、GND端口、VBUS端口、IN—端口、IN+端口。第一端口301和第二端口302分别与电阻R4的一端相连，电阻R4的另一端与3.3V电源相连；电阻R3的一端与第三端口303相连，电阻R3的另一端与3.3V电源相连；电阻R5的一端与第五端口305相连，电阻R5的另一端与3.3V电源相连；第三端口303、第四端口304以及第五端口305分别与单片机相连，这三个端口是检测芯片与单片机的通信端口；第六端口306为电源接口，接3.3V的正电压，用来给检测芯片供电；第七端口307为接地端口；第八端口308为总线测量电压输入端；第九端口309接地；第十端口310为采样电阻两端的电压信号输入端口。第二电容C2的一端连接在端口6上，第二电容C2的另一端接地；第三电容C2的一端与第八端口308和3.3V电源相连，第三电容C2的另一端接地；第二电容C2和第三电容C2共同构成第二滤波模块，通过第二滤波模块对检测芯片进行滤波，可以使检测芯片处于正常的工作状态，优选地，第二电容C2的第三电容C2选择为0.1μf。

处理单元40，用于根据上述检测单元检测到的电压和上述采样单元的电阻计算上述静态电流。处理单元40包括第一滤波模块和计算模块，第一滤波模块用于对上述检测芯片的输出信号进行滤波处理，得到第二滤波电压；计算模块用于根据上述第二滤波电压和上述采样单元的电阻计算上述静态电流。由于待测设备在工厂环境中容易受到各种因素的干扰，采用滤波模块可以将环境中的干扰滤除，从而得到更为准确地第二滤波电压，进一步地根据欧姆定律，计算模块将第二滤波电压除以采样单元的电阻得到准确地静态电流，所以采样电阻的精度直接影响到静态电流的计算值，本实施例采用精度达到0.01％欧姆的高精度的采样电阻，可减小测量时的偶然误差。上述滤波处理为中值滤波。

上述处理单元为单片机。单片机作为控制器可以实现对检测芯片的控制，从而实现检测芯片对采样信号的精确检测，同时，第一滤波模块和计算模块都是单片机中的软件模块，第一滤波模块和处理模块均通过编程实现。并且除了第一滤波模块和计算模块，单片机还包括延时模块，延时模块用于当被测静态电流值稳定在某一数值，并且可保持一定时间，用于实现静态电流值的精确测量。除以上第一滤波模块、计算模块、延时模块外，本实施例中的单片机还可以包括模数转换模块、数模转换模块等。

该实施例提供的检测装置用于检测遥控器的静态电流，静态电流流经采样电阻将静态电流信号转化为电压信号，通过第一滤波单元可有效解决外部噪声对采样数据的影响，上述检测单元检测到的电压为上述采样电阻两端的电压，通过检测单元实现了对采样数据的精确检测，进一步地通过第一滤波模块对检测芯片的输出信号进行滤波，进一步地滤除了环境噪声的干扰，得到更精确的第二滤波电压，进一步地处理单元对第二滤波电压和采样电阻进行计算得到精确的静态电流，从而解决了现有技术中受到外部信号干扰而导致的静态电流采集精度较低的问题。并且，本申请的采用的检测单元的芯片的采集精度非常高，采样电阻为精密电阻，从而进一步保证了检测的精确性。

从以上的描述中，可以看出，本申请上述的实施例实现了如下技术效果：

1)、采用本申请的检测装置，采用该检测装置检测时，将采样单元与待测设备电连接，待测设备中的静态电流流经采样电阻将静态电流信号转化为电压信号，通过第一滤波单元可有效解决外部噪声对采样数据的影响，上述检测单元检测到的电压为上述采样电阻两端的电压，通过检测单元实现了对采样数据的精确检测，进一步地处理单元对检测单元检测到的电压和采样电阻进行计算得到精确的静态电流，从而解决了现有技术中受到外部信号干扰而导致的静态电流采集精度较低的问题。

2)、采用本申请的静态电流的检测方法，静态电流流经采样单元将静态电流信号转化为电压信号，对上述采样单元的两端的电压进行滤波可有效解决外部噪声对采样数据的影响，检测滤波后的上述采样单元两端的电压，实现了对采样数据的精确检测，进一步地根据上述电压和上述采样单元的电阻计算上述静态电流，从而解决了现有技术中受到外部信号干扰而导致的静态电流采集精度较低的问题。

以上所述仅为本申请的优选实施例而已，并不用于限制本申请，对于本领域的技术人员来说，本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种检测装置，用于检测待测设备的静态电流，其特征在于，包括：

采样单元，用于与所述待测设备电连接，所述采样单元包括至少一个采样电阻；

第一滤波单元，与所述采样单元并联；

检测单元，与所述第一滤波单元的两端分别电连接；

处理单元，用于根据所述检测单元检测到的电压和所述采样单元的电阻计算所述静态电流。

2.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述处理单元与所述检测单元电连接，所述处理单元包括：

第一滤波模块，用于对所述检测单元的输出信号进行滤波处理，得到第二滤波电压；

计算模块，用于根据所述第二滤波电压和所述采样单元的电阻计算所述静态电流。

3.根据权利要求2所述的检测装置，其特征在于，所述滤波处理包括以下至少之一：中值滤波、均值滤波、高斯滤波。

4.根据权利要求2所述的检测装置，其特征在于，所述处理单元为单片机。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的检测装置，其特征在于，所述采样单元包括多个串联的电阻。

6.根据权利要求1至4中任一项所述的检测装置，其特征在于，第一滤波单元包括电容。

7.根据权利要求1至4中任一项所述的检测装置，其特征在于，所述检测单元包括：

检测芯片；

第二滤波模块，与所述检测芯片电连接，所述第二滤波模块用于对所述检测芯片进行滤波。

8.一种检测方法，用于检测待测设备的静态电流，其特征在于，包括：

将静态电流输入采样单元；

对所述采样单元的两端的电压进行滤波；

检测滤波后的所述采样单元两端的电压，得到第一滤波电压；

根据所述第一滤波电压和所述采样单元的电阻计算所述静态电流。

9.根据权利要求8所述的检测方法，其特征在于，根据所述第一滤波电压和所述采样单元的电阻计算所述静态电流，包括：

对所述第一滤波电压进行滤波处理，得到第二滤波电压；

根据所述第二滤波电压和所述采样单元的电阻计算所述静态电流。

10.根据权利要求9所述的检测方法，其特征在于，所述滤波处理包括以下至少之一：中值滤波、均值滤波、高斯滤波。