CN110413936B - 一种相控阵天线校准数据确定方法及天线系统 - Google Patents

一种相控阵天线校准数据确定方法及天线系统 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种相控阵天线校准数据确定方法及天线系统，首先对相控阵天线系统测量得到的校准数据进行预处理，然后依据相控阵天线系统的移相器的移相精度得到预定的偏差数据△ε，再按照此偏差数据△ε对预处理后的校准数据进行聚类，最后根据聚类结果对相控阵天线工作频段进行划分，从而实现仅通过测量存储少数的频率点校准数据而实现对整个工作频段的校准数据的覆盖，在有限的存储资源基础上而能够确定出覆盖相控阵大范围频率的校准数据，具有使整个天线系统性能得到宽频段覆盖，并且操作简易化、数据存储量可控等技术效果。

Description

一种相控阵天线校准数据确定方法及天线系统
技术领域
本发明涉及毫米波频段天线数据处理技术领域，特别是涉及一种相控阵天线校准数据确定方法及天线系统。
背景技术
相控阵天线在使用前需要进行校准数据的测量获取，在该过程中需要在天线的工作频段内选取一定的频率点进行对应的校准数据存储，以便保证天线在工作带宽内对收发的波束信号进行补偿，从而获得非常优异的天线性能。校准数据点存储越多、对应的频率点间的频率间隔越小，则相控阵天线性能越可保障，然而由于相控阵天线系统的数据存储资源有限，因此造成相控阵天线系统对校准数据点的存储有限，进而造成相控阵天线系统的性能提升瓶颈。
可见，现有技术中存在着因数据存储资源有限而造成相控阵天线系统的校准数据点量存储有限，进而使得相控阵天线系统的性能提升有限的技术问题。
发明内容
本申请提供一种相控阵天线校准数据确定方法及天线系统，用以解决现有技术中存在着因数据存储资源有限而造成相控阵天线系统的校准数据点量存储有限，进而使得相控阵天线系统的性能提升有限的技术问题。
本申请第一方面提供了一种相控阵天线校准数据确定方法，应用于一相控阵天线系统，包括：
获取与所述相控阵天线系统中的至少两个射频通道分别对应的第一校准数据{Phase0(i,j0)},(i＝0,1,2...,M-1，j0＝0,1,2...,N0-1)，其中，i为频点号，j0为射频通道编号，所述校准数据用以对所在射频通道发出的波束进行相位补正；
对所述第一校准数据Phase0(i,j0)进行预处理，去除所述第一校准数据Phase0(i,j0)中的坏点，得到第二校准数据{Phase0(i,j)},(i＝0,1,2...,M-1，j＝0,1,2...,N-1,N≤N0)；
将所述第二校准数据Phase0(i,j)进行归一化处理获得第三校准数据Phase(i,j)，以使所述第三校准数据Phase(i,j)中的所有数据属于0°到360°范围；
对所述第三校准数据Phase(i,j)进行层次聚类，得到与所述第三校准数据Phase(i,j)对应的聚类树状图、聚类簇Γk，Γj、聚类簇数-距离关系图，其中，所述聚类簇数-距离关系图的聚类簇距离度量函数为
Figure BDA0002145116220000021
dist采用切比雪夫距离；
基于预设的移相误差数据△ε进行聚类层次选择，获得聚类结果；
基于所述聚类结果获得频率点划分
Figure BDA0002145116220000022
以每个聚类的均值
Figure BDA0002145116220000023
作为对应频率范围波束的校准数据，其中，k为分类号，G为分类总数，lk为第k个类的频点号，Gl为频点总数。
可选地，所述对第一校准数据Phase0(i,j0)进行预处理，去除第一校准数据Phase0(i,j0)中的坏点，包括：
测量获取与所述第一校准数据中的每个数据的频点和通道一一对应的幅度原始数据A＝{Amp(i,j)}；
确定出幅度值与所述幅度原始数据的平均值
Figure BDA0002145116220000024
之差小于等于预设阈值AT的坏点数据Amp(i,j0)；
将通道j0上的所有校准数据移除，以得到所述第二校准数据{Phase0(i,j)},(i＝0,1,2...,M-1，j＝0,1,2...,N-1,N≤N0)。
可选地，所述对所述第三校准数据Phase(i,j)进行层次聚类，包括：
采用AGNES聚类算法对所述第三校准数据Phase(i,j)进行层次聚类。
本申请第二方面提供了一种相控阵天线系统，包括
测量装置，用以获取与所述相控阵天线系统中的至少两个射频通道分别对应的第一校准数据{Phase0(i,j0)},(i＝0,1,2...,M-1，j0＝0,1,2...,N0-1)，其中，i为频点号，j0为射频通道编号，所述校准数据用以对所在射频通道发出的波束进行相位补正；
处理器，与所述测量装置连接，用以对所述第一校准数据Phase0(i,j0)进行预处理，去除所述第一校准数据Phase0(i,j0)中的坏点，得到第二校准数据{Phase0(i,j)},(i＝0,1,2...,M-1，j＝0,1,2...,N-1,N≤N0)；将所述第二校准数据Phase0(i,j)进行归一化处理获得第三校准数据Phase(i,j)，以使所述第三校准数据Phase(i,j)中的所有数据属于0°到360°范围；对所述第三校准数据Phase(i,j)进行层次聚类，得到与所述第三校准数据Phase(i,j)对应的聚类树状图、聚类簇Γk，Γj、聚类簇数-距离关系图，基于预设的移相误差数据△ε进行聚类层次选择，获得聚类结果，基于所述聚类结果获得频率点划分
Figure BDA0002145116220000031
以每个聚类的均值
Figure BDA0002145116220000032
作为对应频率范围波束的校准数据，其中，所述聚类簇数-距离关系图的聚类簇距离度量函数为
Figure BDA0002145116220000033
dist采用切比雪夫距离，k为分类号，G为分类总数，lk为第k个类的频点号，Gl为频点总数。
可选地，所述测量装置，用以测量获取与所述第一校准数据中的每个数据的频点和通道一一对应的幅度原始数据A＝{Amp(i,j)}；
所述处理器，用以确定出幅度值与所述幅度原始数据的平均值
Figure BDA0002145116220000034
之差小于等于预设阈值AT的坏点数据Amp(i,j0)，将通道j0上的所有校准数据移除，以得到所述第二校准数据{Phase0(i,j)},(i＝0,1,2...,M-1，j＝0,1,2...,N-1,N≤N0)。
可选地，所述处理器，用以采用AGNES聚类算法对所述第三校准数据Phase(i,j)进行层次聚类。
本申请第三方面提供了一种计算机装置，所述装置包括处理设备，所述处理设备用于执行存储器中存储的计算机程序时实现如第一方面所述方法的步骤。
本申请第四方面提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如第一方面所述方法的步骤。
本申请实施例中提供的一个或多个技术方案，至少具有如下技术效果或优点：
本申请技术方案首先对相控阵天线系统测量得到的校准数据进行预处理，然后依据相控阵天线系统的移相器的移相精度得到预定的偏差数据△ε，再按照此偏差数据△ε对预处理后的校准数据进行聚类，最后根据聚类结果对相控阵天线工作频段进行划分，从而实现仅通过测量存储少数的频率点校准数据而实现对整个工作频段的校准数据的覆盖，在有限的存储资源基础上而能够确定出覆盖相控阵大范围频率的校准数据，具有使整个天线系统性能得到宽频段覆盖，并且操作简易化、数据存储量可控等技术效果。
附图说明
图1为本发明实施例提供的一种相控阵天线校准数据确定方法的流程图；
图2为本发明实施例提供的一种相控阵天线系统的结构图；
图3为本发明实施例提供的频率宽度为4GHz、频率点数为400的聚类树状图；
图4为本发明实施例提供的与图3聚类树状图对应的聚类簇数-距离关系图；
图5为本发明实施例提供的与图3和图4对应的频点划分图。
具体实施方式
本申请提供一种相控阵天线校准数据确定方法及天线系统，用以解决现有技术中存在着因数据存储资源有限而造成相控阵天线系统的校准数据点量存储有限，进而使得相控阵天线系统的性能提升有限的技术问题。
本申请实施例中的技术方案为解决上述技术问题，总体思路如下：
本申请技术方案首先对相控阵天线系统测量得到的校准数据进行预处理，然而依据相控阵天线系统的移相精度得到预定的偏差数据△ε，再按照此偏差数据△ε对预处理后的校准数据进行聚类，最后根据聚类结果对相控阵天线工作频段进行划分，从而实现仅通过测量存储少数的频率点校准数据而实现对覆盖整个工作频段的校准数据计算，在有限的存储资源基础上而能够计算确定出覆盖相控阵大范围频率的校准数据，具有使整个天线系统性能得到进一步强化提升，并且操作简易化、数据存储量可控等技术效果。
下面通过附图以及具体实施例对本申请技术方案做详细的说明，应当理解本申请实施例以及实施例中的具体特征是对本申请技术方案的详细的说明，而不是对本申请技术方案的限定，在不冲突的情况下，本申请实施例以及实施例中的技术特征可以相互组合。
本文中术语“和/或”，仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。另外，本文中字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。
实施例一
请参考图1，本申请实施例一提供一种相控阵天线校准数据确定方法，应用于一相控阵天线系统，包括：
步骤101：获取与所述相控阵天线系统中的至少两个射频通道分别对应的第一校准数据{Phase0(i,j0)},(i＝0,1,2...,M-1，j0＝0,1,2...,N0-1)，其中，i为频点号，j0为射频通道编号，所述校准数据用以对所在射频通道发出的波束进行相位补正；
需要指出的是，所述频点为属于所述相控阵天线系统的工作带宽内的频率点，不同的频率点采用频点号进行编号，并且本申请技术方案中所取的频率点互不相同。
在本步骤中可以通过校准数据的测试装置测量获得所述第一校准数据，也可以通过输入装置输入所述第一校准数据。同时，采用{Phase0(i,j0)},(i＝0,1,2...,M-1，j0＝0,1,2...,N0-1)的方式来分别定义这些数据。例如，Phase0(1,1)可以表征为针对相控阵天线系统中的通道1在频点1(该频点1可以是指频率为1kHZ的频率点)上对应的校准数据，当通过通道1发出在频点1上或在频点1附近的波束时，可以由Phase0(1,1)所表征的数据对该波束的相位、甚至连同幅度进行补偿，从而获得更加精准的天线发射信号。
步骤102：对所述第一校准数据Phase0(i,j0)进行预处理，去除所述第一校准数据Phase0(i,j0)中的坏点，得到第二校准数据{Phase0(i,j)},(i＝0,1,2...,M-1，j＝0,1,2...,N-1,N≤N0)；
在本步骤中，确定某一个校准数据为坏点的方式可以为多种多样，例如可以采用判断该数据是否大于等于某阈值或小于等于某阈值的方式，或判断对应通道是否为可控，等等，在实际操作时可以根据需要而自行设置，本申请技术方案不作进一步限定。
需要指出的是，在本步骤中当确定了某一个坏点后，将把与该坏点对应的频点上的所有校准数据去除，从而得到第二校准数据{Phase0(i,j)},(i＝0,1,2...,M-1，j＝0,1,2...,N-1,N≤N0)。
步骤103：将所述第二校准数据Phase0(i,j)进行归一化处理获得第三校准数据Phase(i,j)，以使所述第三校准数据Phase(i,j)中的所有数据属于0°到360°范围；
由于所述校准数据为针对天线波束的相位进行补偿的数据，因此在测量时得到的校准数据可以为大于等于360°的值，所述归一化处理可以是指将大于等于360°的值修正为属于0°到360°范围，而使得该数据实质对应的幅度或相位不变，由此使得计算过程更加方便，计算结果更加精确。
步骤104：对所述第三校准数据Phase(i,j)进行层次聚类，得到与所述第三校准数据Phase(i,j)对应的聚类树状图、聚类簇Γk，Γj、聚类簇数-距离关系图，其中，所述聚类簇数-距离关系图的聚类簇距离度量函数为
Figure BDA0002145116220000071
dist采用切比雪夫距离；
本步骤中可以采用任意聚类算法对所述第三校准数据进行聚类处理，然后将聚类处理后的数据转化为对应的聚类树状图，再基于所述聚类树状图以及聚类簇距离度量函数确定所述聚类簇Γk，Γj、聚类簇数-距离关系图。实际操作时，所述聚类树状图和所述聚类簇数-距离关系图的单位值以及图形绘制方式可以根据需要而自行设置，本申请实施例中的技术方案不作进一步限制。
例如，请参考图3、图4、图5，图3为频率宽度为4GHz，频率点数为400的聚类树状图，图4为与图3中的数据相对应的聚类簇数-距离关系图。
在实际操作中，上述过程均可采用现有的计算机算法模块或处理器功能模块通过软件实现。
步骤105：基于预设的移相误差数据△ε进行聚类层次选择，获得聚类结果。
本申请技术方案中的移相误差数据△ε模块可以是指移相器或其他具有移相处理功能的元器件模块所具有的特定误差值。
而所述移相误差数据△ε可以为系统预设的值，也可以是操作人员基于经验自行输入的值，在实际操作过程中可以根据需要而自行设置。
例如：图5为当△ε取值为15°时，基于图3和图4进行聚类层次选择的结果。步骤107：基于所述聚类结果获得频率点划分
Figure BDA0002145116220000072
以每个聚类的均值
Figure BDA0002145116220000081
作为对应频率范围波束的校准数据，其中，k为分类号，G为分类总数，lk为第k个类的频点号，Gl为频点总数，
Figure BDA0002145116220000082
在本申请实施例技术方案中，所述频率范围可以是指所有lk所对应的频率点分别表征对应的频率范围集合。例如，当lk由l0和l1组成时，所述频率范围集合包括频点l0和频点l1，同时还包括频点l0和频点l1分别表征覆盖的误差频率范围。
请参考图5，图5则为与图3和图4对应的频点划分图，通过该频点划分图可以非常方便直观的采用观察或近似区间判断等方式得到聚类结果，通过确定每个聚类所对应的频点号和聚类簇号，可以进一步得到每个聚类的均值
Figure BDA0002145116220000083
最终将该均值
Figure BDA0002145116220000084
作为与该聚类对应的频率范围的校准数据，从而完成对整个频率点覆盖范围的校准数据确定。
在实际应用中，本申请实施例中的技术方案可根据实际需求进行频率点校准数据的选择，以图3、4、5为例，在Ku频段4GHz带宽内只需要获取30个频率点上的校准数据，即可实现将获得的校准数据结果覆盖相位误差数据△ε为15°以内的频率范围，20个频率点上的校准数据所获得的校准数据结果可实现将相位误差数据△ε为20°以内的频率范围覆盖。而现有技术中的校准数据选择存储方法一般需要200个左右频率点上的校准数据，并且通过现有技术测量获得的校准数据在应用后其最终实现的波束相位误差精度无法掌控，可见，采用本申请实施例中的技术方案后，不仅所需获得的原始校准数据量大幅减少，并且最终获取的校准数据结果相对现有技术其精度可控，同时可使得相控阵天线校准操作难度和复杂度大大降低。
需要指出的是，本申请技术方案中的各个步骤在执行时均可通过现有的各类算法软件模块或处理器功能模块结合现有的硬件设备而实现。
由此可见，本申请技术方案首先对相控阵天线系统测量得到的校准数据进行预处理，然后依据相控阵天线系统的移相器的移相精度得到预定的偏差数据△ε，再按照此偏差数据△ε对预处理后的校准数据进行聚类，最后根据聚类结果对相控阵天线工作频段进行划分，从而实现仅通过测量存储少数的频率点校准数据而实现对整个工作频段的校准数据的覆盖，在有限的存储资源基础上而能够确定出覆盖相控阵大范围频率的校准数据，具有使整个天线系统性能得到宽频段覆盖，并且操作简易化、数据存储量可控等技术效果。
进一步地，所述对第一校准数据Phase0(i,j0)进行预处理，去除第一校准数据Phase0(i,j0)中的坏点，包括：
测量获取与所述第一校准数据中的每个数据的频点和通道一一对应的幅度原始数据A＝{Amp(i,j)}；
确定出幅度值与所述幅度原始数据的平均值A之差小于等于预设阈值AT的坏点数据Amp(i,j0)；
将通道j0上的所有校准数据移除，以得到所述第二校准数据{Phase0(i,j)},(i＝0,1,2...,M-1，j＝0,1,2...,N-1,N≤N0)。
进一步地，所述对所述第三校准数据Phase0(i,j)进行层次聚类，包括：
采用AGNES聚类算法对所述第三校准数据Phase0(i,j)进行层次聚类。
也就是说，本申请实施例中的技术方案具体可以采用AGNES聚类算法实现对所述第三校准数据的聚类处理。
实施例二
请参考图2，本申请实施例二提供一种相控阵天线系统，包括：
测量装置201，用以获取与所述相控阵天线系统中的至少两个射频通道分别对应的第一校准数据{Phase0(i,j0)},(i＝0,1,2...,M-1，j0＝0,1,2...,N0-1)，其中，i为频点号，j0为射频通道编号，所述校准数据用以对所在射频通道发出的波束进行相位补正；
由于在实际操作时，所述第一校准数据{Phase0(i,j0)}可以是由测量装置测量得到，也可以是由存储有这些数据的其它设备输入该相控阵天线系统，因此，本申请技术方案中的测量装置201可以是信号传输装置，也可以是测量设备，只要是可用以使相控阵天线系统获得所述第一校准数据{Phase0(i,j0)}的装置都可以作为所述测量装置201。
处理器202，与所述测量装置连接，用以对所述第一校准数据Phase0(i,j0)进行预处理，去除所述第一校准数据Phase0(i,j0)中的坏点，得到第二校准数据{Phase0(i,j)},(i＝0,1,2...,M-1，j＝0,1,2...,N-1,N≤N0)；将所述第二校准数据Phase0(i,j)进行归一化处理获得第三校准数据Phase0(i,j)，以使所述第三校准数据Phase0(i,j)中的所有数据属于0°到360°范围；对所述第三校准数据Phase0(i,j)进行层次聚类，得到与所述第三校准数据Phase0(i,j)对应的聚类树状图、聚类簇Γk，Γj、聚类簇数-距离关系图；确定出与所述聚类树状图、所述聚类簇数-距离关系图对应的聚类簇距离度量函数
Figure BDA0002145116220000101
基于预设的模块移相误差数据△ε进行聚类层次选择；基于所述聚类层次选择后的聚类结果获得频率点划分
Figure BDA0002145116220000102
以每个聚类的均值
Figure BDA0002145116220000103
作为对应频率范围波束的校准数据，其中，dist采用切比雪夫距离，k为分类号，G为分类总数，lk为第k个类的频点号，Gl为频点总数。
具体来讲，所述处理器202可以是通用的中央处理器(CPU)，也可以是特定应用集成电路(英文：Application Specific Integrated Circuit，简称：ASIC)，还可以是一个或多个用于控制程序执行的集成电路。
进一步的，所述处理器202还可以包括存储器，存储器的数量可以是一个或多个。存储器可以包括只读存储器(英文：Read Only Memory，简称：ROM)、随机存取存储器(英文：Random Access Memory，简称：RAM)和磁盘存储器。
可选地，所述测量装置201，用以测量获取与所述第一校准数据中的每个数据的频点和通道一一对应的幅度原始数据A＝{Amp(i,j)}；
所述处理器，用以确定出幅度值与所述幅度原始数据的平均值A之差小于等于预设阈值AT的坏点数据Amp(i,j0)，将通道j0上的所有校准数据移除，以得到所述第二校准数据{Phase0(i,j)},(i＝0,1,2...,M-1，j＝0,1,2...,N-1,N≤N0)。
可选地，所述处理器202，用以采用AGNES聚类算法对所述第三校准数据Phase0(i,j)进行层次聚类。
前述图1实施例中的相控阵天线校准数据确定方法，其各种变化方式和具体实例同样适用于本实施例的相控阵天线系统，通过前述对相控阵天线校准数据确定方法的详细描述，本领域技术人员可以清楚的知道本实施例中相控阵天线系统的实施方法，所以为了说明书的简洁，在此不再详述。
本申请一实施例提供了一种计算机装置，所述装置包括处理设备，所述处理设备用于执行存储器中存储的计算机程序时实现如第一方面所述方法的步骤。
本申请一实施例提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如第一方面所述方法的步骤。
尽管已描述了本申请的优选实施例，但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例作出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本申请范围的所有变更和修改。
显然，本领域的技术人员可以对本申请进行各种改动和变型而不脱离本申请的精神和范围。进一步地，本申请技术方案中的各个方法步骤可以颠倒，变换先后顺序而依然落入本申请所涵盖的发明范围中。这样，倘若本申请的这些修改和变型属于本申请权利要求及其等同技术的范围之内，则本申请也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (6)

1.一种相控阵天线校准数据确定方法，应用于一相控阵天线系统，其特征在于，包括：
获取与所述相控阵天线系统中的至少两个射频通道分别对应的第一校准数据{Phase0(i,j0)},(i＝0,1,2...,M-1，j0＝0,1,2...,N0-1)，其中，i为频点号，j0为射频通道编号，所述校准数据用以对所在射频通道发出的波束进行相位补正；
对所述第一校准数据Phase0(i,j0)进行预处理，去除所述第一校准数据Phase0(i,j0)中的坏点，得到第二校准数据{Phase0(i,j)},(i＝0,1,2...,M-1，j＝0,1,2...,N-1,N≤N0)；
将所述第二校准数据Phase0(i,j)进行归一化处理获得第三校准数据Phase(i,j)，以使所述第三校准数据Phase(i,j)中的所有数据属于0°到360°范围；
对所述第三校准数据Phase(i,j)进行层次聚类，得到与所述第三校准数据Phase(i,j)对应的聚类树状图、聚类簇Γk，Γj、聚类簇数-距离关系图，其中，所述聚类簇数-距离关系图的聚类簇距离度量函数为
Figure FDA0002145116210000011
dist采用切比雪夫距离；
基于预设的移相误差数据△ε进行聚类层次选择，获得聚类结果；
基于所述聚类结果获得频率点划分
Figure FDA0002145116210000012
(k＝0,1,2...,G-1；lk＝0,1,2...,Gl-1)，以每个聚类的均值
Figure FDA0002145116210000013
作为对应频率范围波束的校准数据，其中，k为分类号，G为分类总数，lk为第k个类的频点号，Gl为频点总数。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对第一校准数据Phase0(i,j0)进行预处理，去除第一校准数据Phase0(i,j0)中的坏点，包括：
测量获取与所述第一校准数据中的每个数据的频点和通道一一对应的幅度原始数据A＝{Amp(i,j)}；
确定出幅度值与所述幅度原始数据的平均值
Figure FDA0002145116210000023
之差小于等于预设阈值AT的坏点数据Amp(i,j0)；
将通道j0上的所有校准数据移除，以得到所述第二校准数据{Phase0(i,j)},(i＝0,1,2...,M-1，j＝0,1,2...,N-1,N≤N0)。
3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述第三校准数据Phase(i,j)进行层次聚类，包括：
采用AGNES聚类算法对所述第三校准数据Phase(i,j)进行层次聚类。
4.一种相控阵天线系统，其特征在于，包括
测量装置，用以获取与所述相控阵天线系统中的至少两个射频通道分别对应的第一校准数据{Phase0(i,j0)},(i＝0,1,2...,M-1，j0＝0,1,2...,N0-1)，其中，i为频点号，j0为射频通道编号，所述校准数据用以对所在射频通道发出的波束进行相位补正；
处理器，与所述测量装置连接，用以对所述第一校准数据Phase0(i,j0)进行预处理，去除所述第一校准数据Phase0(i,j0)中的坏点，得到第二校准数据{Phase0(i,j)},(i＝0,1,2...,M-1，j＝0,1,2...,N-1,N≤N0)；将所述第二校准数据Phase0(i,j)进行归一化处理获得第三校准数据Phase(i,j)，以使所述第三校准数据Phase(i,j)中的所有数据属于0°到360°范围；对所述第三校准数据Phase(i,j)进行层次聚类，得到与所述第三校准数据Phase(i,j)对应的聚类树状图、聚类簇Γk，Γj、聚类簇数-距离关系图，基于预设的移相误差数据△ε进行聚类层次选择，获得聚类结果，基于所述聚类结果获得频率点划分
Figure FDA0002145116210000021
(k＝0,1,2...,G-1；lk＝0,1,2...,Gl-1)，以每个聚类的均值
Figure FDA0002145116210000022
作为对应频率范围波束的校准数据，其中，所述聚类簇数-距离关系图的聚类簇距离度量函数为
Figure FDA0002145116210000031
dist采用切比雪夫距离，k为分类号，G为分类总数，lk为第k个类的频点号，Gl为频点总数。
5.如权利要求4所述的系统，其特征在于，所述测量装置，用以测量获取与所述第一校准数据中的每个数据的频点和通道一一对应的幅度原始数据A＝{Amp(i,j)}；
所述处理器，用以确定出幅度值与所述幅度原始数据的平均值
Figure FDA0002145116210000032
之差小于等于预设阈值AT的坏点数据Amp(i,j0)，将通道j0上的所有校准数据移除，以得到所述第二校准数据{Phase0(i,j)},(i＝0,1,2...,M-1，j＝0,1,2...,N-1,N≤N0)。
6.如权利要求4所述的系统，其特征在于，所述处理器，用以采用AGNES聚类算法对所述第三校准数据Phase(i,j)进行层次聚类。
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