CN110381193A - 模组测试设备及利用其的模组测试方法 - Google Patents
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Abstract
公开了一种模组测试设备以及模组的测试方法。其中,模组测试设备包括:第一测试单元,用于对定位成水平朝上的模组进行测试;第二测试单元,用于对定位成水平朝下的模组进行测试;以及旋转移动单元,与第一测试单元和第二测试单元联接,且旋转移动单元包括放置部和驱动部,其中,放置部用于放置待由第一测试单元和第二测试单元进行测试的模组,以及驱动部用于驱动放置部的旋转。
Description
技术领域
本申请涉及模组测试设备以及利用该模组测试设备对模组进行测试的方法。
背景技术
随着目前移动终端行业的迅猛发展,对于移动终端各个部件的性能、质量的要求也相应地提高。例如,在摄像头模组的组装过程中,为了确保模组的质量,对模组的各个构成组件提出了更高标准的要求,并需要进行更加复杂的测试过程,例如在模组水平朝上和水平朝下的状态下进行测试,并烧录其远焦、近焦等参数。
在传统的模组测试中,向上水平测试和向下水平测试需要由不同的设备完成,因此,在该过程中,需要将待测试的模组从一条工艺流水线转移至另一流水线。这不仅增加工作时效,而且还造成不必要的人力资源浪费,甚至在转移过程中还可能造成模组的损坏。
发明内容
本发明的目的在于提供一种能够在模组处于水平朝上和水平朝下的状态下对其进行测试的设备,以解决以上所提及的问题。
根据本发明的一方面,提供了一种模组测试设备,该模组测试设备包括第一测试单元,用于对定位成水平朝上的模组进行测试;第二测试单元,用于对定位成水平朝上的模组进行测试;以及旋转移动单元,与所述第一测试单元和所述第二测试单元联接,且旋转移动单元包括放置部和驱动部,放置部用于放置待由所述第一测试单元和所述第二测试单元进行测试的所述模组,以及驱动部用于驱动所述放置部旋转。
在本发明的示例性实施方式中,模组测试设备还包括:连接部,将所述放置部可移动地连接到所述第一测试单元和所述第二测试单元。
在本发明的示例性实施方式中,所述连接部可以是导轨,所述放置部可移动地沿着所述导轨移动至所述第一测试单元或所述第二测试单元的预定测试位置处,以对所述待测试模组进行测试。
在本发明的示例性实施方式中,所述驱动部和所述放置部以轴连接方式连接,使得所述放置部根据所述驱动部的驱动进行轴旋转。
在本发明的示例性实施方式中,所述旋转移动单元还包括角度传感器,所述角度传感器用于感测所述放置部的旋转角度,以确保所述放置部从水平向上位置旋转至水平向下位置。
在本发明的示例性实施方式中,所述驱动部包括旋转控制器,所述旋转控制器与所述角度传感器配合以控制所述放置部的旋转速度。
在本发明的示例性实施方式中,所述旋转移动单元还包括位移传感器,所述位移传感器用于感测所述放置部所移动的位置,使得所述放置部准确移动至所述预定测试位置处。
在本发明的示例性实施方式中,所述放置部包括吸附装置,所述吸附装置通过吸附方式固定待测试的模组。
在本发明的示例性实施方式中,所述放置部包括:本体以及第一放置单元和第二放置单元,所述第一放置单元和第二放置单元位于所述本体相对的两侧,且分别用于放置分别由所述第一测试单元和所述第二测试单元进行测试的所述模组。
根据本发明的一方面,提供了一种使用如上所述的模组测试设备对模组进行测试的方法,该方法包括:将待测试模组固定至位于所述模组测试设备的、位于初始位置的放置部上;使所述放置部移动至第一测试位置,完成第一测试之后,使所述放置部返回至所述初始位置;使所述放置部旋转180度;经旋转的所述放置部移动至第二测试位置;以及在所述第二测试位置处完成第二测试之后,使所述放置部返回至所述初始位置,以结束对所述模组的测试。
根据本发明的又一方面,提供了另一种使用如上所述的模组测试设备对模组进行测试的方法,该方法包括:将待测试模组固定至所述模组测试设备的、位于初始位置的放置部上;使所述放置部移动至第一测试位置并对所述模组进行第一测试;完成第一测试之后,使所述放置部旋转180度,并对所述模组进行第二测试;完成第二测试之后,使所述放置部返回至初始位置;以及选择性地旋转所述放置部以取出经过所述第一测试和所述第二测试的模组,并结束对所述模组的测试。
在本发明的示例性实施方式中,所述第一测试单元和所述第二测试单元中每一个包括至少一个测试标板,以用于测量所述待测试模组的焦距。
本申请所提供的模组测试设备能够在一台设备上实现对模组的水平向上测试和水平向下测试,而无需使待测试模组从一条测试流水线转移至另一条测试流水线,由此极大地提升了工艺效率,尤其是适用于大批量模组的测试,同时也有效地节约了工艺成本。
附图说明
以上和/或其他方面将通过参照附图描述某些示例性实施方式而变得更加显而易见。附图旨在示出本申请的示例性实施方式而非对其进行限制。在附图中:
图1是根据本申请一示例性实施方式的模组测试设备的整体结构示意图;
图2是根据本申请一示例性实施方式的模组测试设备的旋转单元的放大示意图;以及
图3是根据本申请一示例性实施方式的模组测试方法的工作流程图。
具体实施方式
下面将参照附图对某些示例性实施方式进行更详细的描述,其中,在全文中,相同的附图标记指代相同的元件。在这方面,示例性实施方式可具有不同的形式,并且不应被解释为限于本文所记载的描述。相应地,以下通过参照附图描述示例性实施方式仅用于解释本申请的各方面。为了说明的便利性,附图中的元件的尺寸可被夸大。也就是说,由于图中的部件的尺寸和厚度为便于说明而被任意地示出,因此以下示例性实施方式不应受其限制。
另外,本说明书中使用的术语仅用于描述特定的实施方式,并非旨在限制本申请。单数形式的表述包括复数形式的表述,除非其在上下文中具有明显不同的含义。在本说明书中,应理解,术语例如“包括”或“具有”等旨在表明本说明书中公开的特征、数字、操作、部件、零件或它们的组合的存在,并非旨在排除存在或附加有一个或多个其他特征、数字、操作、部件、零件或它们的组合。
应理解,在本说明书中,当元件被称为在另一元件“上”、“连接至”另一元件或“联接至”另一元件时,其可以直接位于另一元件上、直接连接至另一元件或直接联接至另一元件,或者可存在一个或多个介于中间的元件。另外,还应理解,当元件被称为位于两个元件“之间”时,其可以是两个元件之间的仅有的元件,或者也可存在一个或多个介于中间的元件。此外,本说明书中所使用的“连接”或“联接”不限于机械方式的连接,也可以包括利用电、波等方式的信号连接以及其他逻辑功能上的连接。
此外,用语“基本上”、“约”以及类似的用语被用作近似的用语,而不是程度的用语,并且旨在说明将被本领域普通技术人员识别的测量值或计算值中的固有偏差。此外,在描述本发明的实施方式时,“可以”的使用表示“本发明的一个或多个实施方式”。本文中所使用的用语“使用”可被认为与用语“利用”同义。另外,用语“示例性”旨在表示示例或图例。
下面将参照附图描述根据本申请示例性实施方式的结构光投影装置。
参照图1,其示出了根据本申请一示例性实施方式的模组测试设备100的示意图。模组测试设备100可包括上测试单元110、下测试单元120和旋转移动单元130。
具体地,上测试单元110用于对定位成水平朝上的模组进行测试,且上测试单元110可包括至少一个上标板,在对模组进行测试的过程中,可使用上标板确定待测试模组的焦距。例如,当待测试模组位于预定测试位置处时,经导通的模组可通过对上标板进行拍摄来确定其近焦和远焦,并根据测试结果烧录其近焦和远焦。应理解,本文中所记载的“水平朝上/水平向上”指的是测试对象即模组定位成平行于水平面,使得入射光能够在竖直向下或竖直向上入射到模组的定向。类似地,以下所提及的“水平朝下/水平向下”也应以相同方式进行解释。
下测试单元120用于对定位成水平朝下的模组进行测试,且下测试单元120可包括至少一个下标板,当待测试模组位于预定测试位置处时,经导通的模组可通过拍摄下标板来确定其近焦和远焦,并相应地根据测试结果烧录其近焦和远焦。
旋转移动单元130可与上测试单元110和下测试单元120连接。旋转移动单元130可包括放置部131和驱动部132,其中放置部131用于放置待由上测试单元和下测试单元进行测试的模组M,且驱动部132用于驱动放置部131旋转。
根据一示例性实施方式,模组测试设备100还可包括连接部140,连接部140使放置部131可移动地连接到上测试单元和下测试单元。
作为一示例,连接部140可以是导轨,且旋转移动单元130或放置部131可沿着导轨移动至上测试单元或下测试单元的预定测试位置处,以使得置于其上的待测试模组M与测试单元的上标板或下标板对齐。
图2示出了根据本申请一示例性实施方式的模组测试设备的旋转单元的放大示意图。
下面将参照图1和图2对根据本申请各种实施方式的旋转移动单元130以及模组测试设备100的具体结构进行进一步详细说明。
如上所述,在本申请一示例性实施方式中,旋转移动单元130可包括放置部131和驱动部132,其中,放置部131可通过连接部140与上测试单元110和下测试单元120可移动地连接。
放置部131用于放置并固定待测试的模组M,并向待测试模组M提供电源使其导通,以开始进行测试。例如,待测试模组M可通过额外的固定装置固定到放置部131。
放置部131能够根据驱动部132的驱动进行旋转。驱动部132例如可以是步进电机。
此外,旋转移动单元130还可包括角度传感器,角度传感器用于感测放置部131的旋转角度,以确保放置部131从水平向上位置旋转至水平向下位置。驱动部132可根据角度传感器的感测结果调整电机的旋转精度。
旋转移动单元130能够沿着连接部140移动至上测试单元110或下测试单元120的预定测试位置处,使得放置于放置部131上的待测试模组M与上测试单元110的上标板和/或下测试单元120的下标板对齐,从而使得模组M能够对相应的标板进行拍摄。
在本示例性实施方式中,驱动部132和放置部131可以以轴连接方式连接,使得放置部131根据驱动部132的驱动进行轴旋转,例如使放置部131旋转180°。
可选地,驱动部132还可包括旋转控制器,旋转控制器与角度传感器配合以控制放置部131的旋转速度。
可选地,旋转移动单元130还可包括位移传感器,位移传感器用于感测放置部131所移动的距离并通过附加的控制机构控制放置部131的移动方向以及移动速度,使得放置部131能够精确地移动到预定测试位置处。
在本示例性实施方式中,放置部131还可包括吸附装置,该吸附装置通过诸如真空吸附等吸附方式固定待测试的模组M。模组M吸附于放置部131,且放置部131可使待测试的模组M导通以进行测试,即,此时可以在相应的测试单元中对导通的模组M进行拍摄成像,从而烧录其近焦和远焦。
对于预定测试位置而言,根据本申请的其他示例性实施方式,在连接部140为导轨的情况下,上测试单元110的预定测试位置与下测试单元120的预定测试位置可对应于导轨的同一位置,或者也可以对应于导轨的不同的位置。换句话说,优选地,放置部131从初始位置移动至上测试单元110的预定测试位置的距离可以与其从初始位置移动至下测试单元120的预定测试位置的距离相同。在这种情况下,由于放置部131在进行两种测试时沿着导轨所移动的距离相同,能够使得驱动部132通过使用相同的操作参数来控制放置部131在两次测试中的移动模式,从而降低了控制成本并有效地节省了驱动部的功耗。
下面,将描述放置部131和驱动部132的操作步骤,以便进一步理解模组M顺序地进行两种测试的详细过程。
根据一示例性实施方式,当放置部131位于初始位置时,可将待测试的模组M固定到放置部131上。然后,启动驱动部132以驱动放置部131,使其沿着导轨移动至上测试单元110的预定测试位置处。放置部131到达上述预定测试位置之后,使模组M导通。此时,模组M对准上测试单元110的上标板进行拍摄,从而确定并烧录其焦距。完成上方向测试之后,驱动部132再次驱动放置部131,使其沿着导轨移动至初始位置。此时,驱动部132将放置部131旋转180°,使得模组M与放置部131一同被翻转。经翻转的放置部131根据驱动部132的驱动沿着导轨移动至下测试单元120的预定测试位置处。类似地,放置部131到达该预定测试位置之后,使模组M导通。此时,模组M对准下测试单元110的下标板进行拍摄,从而确定并烧录其焦距。完成下方向测试之后,驱动部132再次驱动放置部131,使其沿着导轨返回至初始位置。此时,可从放置部131取出完成测试的模组M。进而,将另一待测试的模组放置到放置部131中,并重复上述步骤。
然而,根据另一示例性实施方式,上测试单元110的预定测试位置与下测试单元120的预定测试位置可以是导轨上的同一位置。在这种情况下,当完成对模组M的上方向测试之后,驱动部132可以使放置部131在上测试单元的预定测试位置处进行旋转,例如,旋转180°。此时,由于放置部131的位置并未改变,其被翻转为直接面向下测试单元的下标板,并且能够直接进行下方向测试,而无需返回至初始位置。因此,通过如上所述的设置,不仅能够节省模组的测试时间,而且也有效地降低了驱动部的功耗。其结果,大幅度地提升了模组测试设备的工作效率。
在如上所述的各种实施方式中,以待测试模组M放置于放置部131的一个表面的情况作为示例进行了描述。然而,本申请并不限于此。例如,放置部131可包括本体以及第一放置单元和第二放置单元,其中,第一放置单元和第二放置单元分别位于本体相对的两侧,并且两者均可放置并固定待测试模组M。放置部131的本体可由任何适当的刚性材料形成为块状件。
在这种情况下,根据不同的实施方式,模组测试设备100可具有多种不同的测试顺序。作为其中一个示例,首先,当放置部131位于初始位置时,将两个待测试模组分别固定至第一放置单元和第二放置单元,即,第一模组固定至第一放置单元,且第二模组固定至第二放置单元。考虑到通常所采用的固定模组的操作方式,即,在固定过程中,可能需要翻转放置部131,以将两个模组依次固定至位于放置部131的相反侧上的第一放置单元和第二放置单元。然后,放置部131可根据驱动部132的驱动移动至上测试单元和/或下测试单元的预定测试位置。此时,优选的是,上测试单元的预定测试位置和下测试单元的预定测试位置为相对于导轨的同一位置。具体地,当放置部131移动至预定测试位置之后,位于第一放置单元的第一模块和位于第二放置单元的第二模块可同时进行测试。也就是说,当放置部131移动至预定测试位置时,如果第一模块面向上测试单元的上标板且第二模块面向下测试单元的下标板,则在第一模块进行上方向测试时,第二模块同时进行下方向测试。完成第一次测试之后,驱动部132可驱动放置部131使其在预定测试位置处进行旋转(例如,旋转180°),使得第一模块面向下测试单元的下标板且第二模块面向上测试单元的上标板。通过上述旋转,第一模块可进行下方向测试,与此同时,第二模块可进行上方向测试。完成第二次测试之后,放置部131可根据驱动部132的驱动沿着导轨返回至初始位置,以便取出完成测试的第一模组和第二模组,继而放入一对新的待测试模组。
通过这种操作方式,可明显地减少了放置部往返初始位置与预定测试位置的移动次数,由此进一步降低驱动部的功耗。另一方面,由于能够通过一次往复同时对一对模组进行测试,显著地提高了模组测试设备的整体工作效率。
作为另一示例,在放置部131仅在初始位置处进行旋转的情况下,可以以如下顺序进行测试。在初始位置处,将待测试的第一模组固定至第一放置单元。启动驱动部132,使放置部131移动至上测试单元和/或下测试单元的预定测试位置。此时,第一模组对准上测试单元的上标板,因此能够进行上方向测试。完成上方向测试之后,放置部131根据驱动部132的驱动沿着导轨返回至初始位置,并被旋转180°。此时,可将待测试的第二模组固定至朝上定位的第二放置单元。然后,放置部131再次根据驱动部132的驱动移动到上述预定测试位置。此时,第二模组面向上测试单元的上标板,且经过上方向测试的第一模组面向下测试单元的下标板。因此,第一模组可进行下方向测试,而第二模组可进行上方向测试。完成上述测试之后,放置部131重新返回至初始位置。由于第一模组已完成上方向测试和下方向测试,因此可通过翻转放置部131,从第一放置单元中取出第一模组,并放入另一待测试的模组,例如,第三模组。此后,重复以上步骤,即,放置部131根据驱动部132的驱动再次沿着导轨移动至预定测试位置。由于此时,经过上方向测试的第二模组面向下测试单元的下标板,而新加入的第三模组面向上测试单元的上标板,第二模组可进行下方向测试,而第三模组可进行上方向测试。以此类推。
在上述操作方式中,虽然往复移动的次数相对增加,但是放置模块的翻转次数相应地减少。同时,由于在导轨以及测试设备中只需要设置一个可旋转位置,即可实现上下一对模组的同时测试,在提升测试效率的同时也能够良好地控制测试设备的配置成本。
在以上各种示例性实施方式中,以放置部131在初始位置与预定测试位置之间移动的情况为示例进行了描述。然而,本申请并不限于此。根据其他实施方式,也可以使旋转移动单元130整体与连接部140连接。此时,驱动部132可与放置部131一起沿着导轨移动至预定测试位置。在这种情况下,上述放置部131的移动方式也同样适用于旋转移动单元130。此处,为简明起见,将省略重复的说明。
下面,将围绕测试单元(上测试单元或下测试单元)描述根据本申请各实施方式的模组测试装置100。
在根据本发明的一示例性实施方式中,上测试单元可包括沿着导轨的方向顺序布置的上近焦测试单元和上远焦测试单元,其中上近焦测试单元包括近焦测试标板,上远焦测试单元包括远焦测试标板,且上近焦测试单元和上远焦测试单元分别具有各自的测试位置。当待测试模组M与放置部131一同沿着导轨移动至上测试单元时,首先进入上近焦测试单元并定位在相应的上近焦测试位置处。在该上近焦测试位置处,经导通的模组M对近焦测试标板进行拍摄,记录其近焦位置并进行烧录。然后,完成近焦测试的模组M和放置部131继续沿着导轨移动,并到达上远焦测试单元的上远焦测试位置。此时,经导通的模组M对远焦测试标板进行拍摄,记录其远焦位置并进行烧录。
类似地,下测试单元也可包括沿着导轨的方向顺序布置的下近焦测试单元和下远焦测试单元。且经过旋转的放置部131沿着导轨先后到达下近焦测试单元和下远焦测试单元的相应测试位置,以进行水平向下的近焦测试及远焦测试。
根据另一示例性实施方式,上测试单元的上近焦测试单元和上远焦测试单元可沿着竖直方向顺序布置。例如,在这种情况下,上测试单元可仅包括一个测试标板,且还可包括供放置部131竖直移动的附加的导轨。在放置部131移动至上测试单元的预定测试位置(即,远焦测试位置)之后,首先通过拍摄该测试标板进行远焦测试。在完成远焦测试之后,放置部131可沿着上述附加的导轨竖直向上移动,并到达用于进行近焦测试的近焦测试位置。在该近焦测试位置处,模组M通过拍摄上述测试标板进行近焦测试。完成所有测试之后,放置部131沿着竖直导轨和水平导轨返回至初始位置。
下测试单元也可进行类似的设置,不同之处仅在于其近焦测试单元和远焦测试单元的布置顺序以及放置部131竖直移动的方向与上测试单元相反。为简明起见,在此不再进行重复说明。
值得注意的是,前述有关放置部的数量以及旋转位置的变型实施方式也可以与如上所述的近焦及远焦测试单元的不同组合方式的进行结合。例如,在近焦测试单元和远焦测试单元沿着水平方向顺序布置的情况下,放置部131可布置成能够在近焦测试单元的近焦测试位置以及远焦测试单元的远焦测试位置处进行旋转。其结果,位于第一放置单元和第二放置单元上的两个待测试模组可在同一位置同时进行上方向以及下方向的远焦测试或近焦测试。
对于近焦测试单元和远焦测试单元沿着竖直方向顺序布置且设置有附加的竖直导轨的情况,也可以实现类似的组合方式。本文中将省略重复说明。
图3示出根据本申请示例性实施方式的模组测试方法的工作流程图。
参照图3,在将待测试模组放置并固定至位于初始位置的放置部上(S1)之后,运行模组测试设备。此时,放置部将沿着导轨移动至上测试单元的预定测试位置处(S2)。在该预定测试位置处,待测试模组与上测试单元的上标板对齐。且放置部向待测试模组提供电源使其导通。经导通的模组对上标板进行拍摄以确定模组的近焦和远焦,使得在随后的工艺中烧录其近焦和远焦。在完成测试之后,放置部将沿着导轨返回至初始位置(S3)。返回至该初始位置之后,放置部通过驱动部的驱动旋转180°(S4)。
与上述上测试单元的测试过程类似地,经旋转的放置部沿着导轨移动至下测试单元的预定测试位置处(S5)。在该预定测试位置处,待测试模组与下测试单元的下标板对齐。同理,放置部向待测试模组提供电源使其导通。经导通的模组对上下标板进行拍摄以确定模组的近焦和远焦,使得在随后的工艺中烧录其近焦和远焦。在下测试单元中完成相应测试的模组随着放置部一同沿着导轨返回至初始位置(S6),从而结束对模组的测试。
经过以上过程,待测试模组随着可旋转移动的放置部从上测试单元转移至下测试单元,从而在一台测试设备中完成了水平向上测试和水平向下测试,而无需在不同的设备乃至不同的流水线之间轮转。其结果,极大地提高了测试效率,同时也有效降低了工艺成本。
此外,根据本申请的模组测试设备,还能够根据模组的姿势来调节模组的驱动电机的驱动力。例如,模组由多个叠置的透镜组成,且由于重力的作用,使得进行水平向上测试时的驱动力与进行水平向下时的驱动力不相同。因此,在进行近焦及远焦测试的同时,能够通过测试水平向上及水平向下的模组姿势来确定所需驱动力,从而以适当的驱动力驱动模组中的各个透镜。
另一方面,结合以上对根据本申请各种示例性实施方式的模组测试设备的说明可知,根据本申请的模组测试方法同时也能够通过对放置部、导轨以及测试标板的配置进行各种变型来实现多种不同的测试方法,从而进一步提升大批量测试中的作业效率。
例如,当上测试单元的预定测试位置与下测试单元的预定测试位置为相对于导轨的同一位置时,放置部可设置成能够在上测试单元和/或下测试单元的预定测试位置处进行旋转。此时,可通过如下步骤进行测试:
1-将待测试模组固定至位于初始位置的放置部上;
2-使放置部移动至上测试单元和/或下测试单元的预定测试位置,并对模组进行第一测试,例如上方向测试;
3-完成第一测试之后,使放置部旋转180度,并对模组进行第二测试,例如下方向测试;
4-完成第二测试之后,使放置部返回至初始位置;以及
5-旋转放置部以取出完成第一测试和第二测试的模组,并结束对该模组的测试。
作为另一示例性实施方式,放置部可具有位于其本体两侧的两个放置单元。在这种情况下,当放置部移动至预定测试位置时,可同时对上下两个防止单元上的待测试模组进行上方向测试和下方向测试。对于该实施方式,可参照以上对模组测试设备的相应实施方式的描述。
虽然已经示出并描述了本申请的一些实施方式,但是本领域技术人员应当理解,在不脱离本申请的原则和精神的情况下可以对这些实施方式进行改变,本申请的范围由权利要求及其等同限定。
Claims (12)
1.用于对模组进行测试的模组测试设备,包括:
第一测试单元,用于对定位成水平朝上的模组进行测试;
第二测试单元,用于对定位成水平朝下的模组进行测试;以及
旋转移动单元,与所述第一测试单元和所述第二测试单元连接,并包括:
放置部,放置待由所述第一测试单元和所述第二测试单元进行测试的所述模组,以及
驱动部,驱动所述放置部旋转,以实现对所述模组的水平朝上和水平朝下状态下的测试。
2.根据权利要求1所述的模组测试设备,还包括:
连接部,将所述放置部可移动地连接到所述第一测试单元和所述第二测试单元。
3.根据权利要求2所述的模组测试设备,其中,
所述连接部为导轨,所述放置部可移动地沿着所述导轨移动至所述第一测试单元或所述第二测试单元的预定测试位置处,以对所述待测试模组进行测试。
4.根据权利要求1所述的模组测试设备,其中,
所述驱动部和所述放置部以轴连接方式连接,使得所述放置部根据所述驱动部的驱动进行轴旋转。
5.根据权利要求3所述的模组测试设备,其中,
所述旋转移动单元还包括角度传感器,所述角度传感器用于感测所述放置部的旋转角度,以确保所述放置部从水平朝上位置旋转至水平朝下位置。
6.根据权利要求5所述的模组测试设备,其中,
所述驱动部包括旋转控制器,所述旋转控制器与所述角度传感器配合以控制所述放置部的旋转速度。
7.根据权利要求4所述的模组测试设备,其中,
所述旋转移动单元还包括位移传感器,所述位移传感器用于感测所述放置部所移动的位置,使得所述放置部准确移动至所述预定测试位置处。
8.根据权利要求1至7中任一项所述的模组测试设备,其中,
所述放置部包括吸附装置,所述吸附装置通过吸附方式固定待测试的模组。
9.根据权利要求1至7中任一项所述的模组测试设备,其中,所述第一测试单元和所述第二测试单元中每一个包括至少一个测试标板,以用于测量所述待测试模组的焦距。
10.根据权利要求1至7中任一项所述的模组测试设备,其中,所述放置部包括:
本体;以及
第一放置单元和第二放置单元,位于所述本体相对的两侧,且分别用于放置分别由所述第一测试单元和所述第二测试单元进行测试的所述模组。
11.一种使用如权利要求1-10中任一项所述的模组测试设备测试模组的方法,包括:
将待测试模组固定至所述模组测试设备的、位于初始位置的放置部上;
使所述放置部移动至第一测试位置,完成第一测试之后,使所述放置部返回至所述初始位置;
使所述放置部旋转180度;
经旋转的所述放置部移动至第二测试位置;以及
在所述第二测试位置处完成第二测试之后,使所述放置部返回至所述初始位置,以结束对所述模组的测试。
12.一种使用如权利要求1-10中任一项所述的模组测试设备测试模组的方法,包括:
将待测试模组固定至所述模组测试设备的、位于初始位置的放置部上;
使所述放置部移动至第一测试位置并对所述模组进行第一测试;
完成第一测试之后,使所述放置部旋转180度,并对所述模组进行第二测试;
完成第二测试之后,使所述放置部返回至初始位置;以及
选择性地旋转所述放置部以取出经过所述第一测试和所述第二测试的模组,并结束对所述模组的测试。
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