CN110187658B - 一种芯片处理方法、装置、芯片及电梯外呼板 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种芯片处理方法、装置、芯片及电梯外呼板。方法包括:确定存储器的加密区中的目标位置,所述目标位置在芯片测试阶段的擦写次数达到擦写次数阈值;对所述目标位置进行写入操作,生成所述目标位置对应的写入信息;对所述目标位置进行读取操作,得到读取信息;若所述写入信息和读取信息相同,则对存储器的应用程序存储区进行擦除操作。本发明在不增加主板测试阶段的时间成本和主板的物料成本的前提下,能够识别出克隆的主板,并使克隆主板无法工作,避免了使用克隆主板导致设备工作异常,甚至出现安全事故的问题。
Description
技术领域
本发明实施例涉及芯片处理技术,尤其涉及一种芯片处理方法、装置、芯片及电梯外呼板。
背景技术
随着控制技术的发展,控制芯片被广泛应用于自动化控制领域,作为主板的一部分,控制芯片在主板上起着核心作用,其通常包括具有数据处理功能的处理器和存储功能的存储器等。
在设备的维护过程中,如果主板出现异常,通常需要更换原厂主板。但是,非原厂的维护人员为了追求高额利润,使用山寨盗版的主板的情况时有发生,即将原厂主板的芯片中存储器的数据克隆到非原厂主板的芯片中,以充当原厂主板。非原厂的主板往往存在兼容性和稳定性的问题,导致设备工作异常,甚至出现安全事故。
发明内容
本发明提供了一种芯片处理方法、装置、芯片及电梯外呼板,在不增加主板测试阶段的时间成本和主板的物料成本的前提下,能够识别出克隆的主板,并使克隆主板无法工作,避免了使用克隆主板导致设备工作异常,甚至出现安全事故的问题。
第一方面,本发明提供了一种芯片处理方法,所述芯片包括存储器,所述方法包括:
确定存储器的加密区中的目标位置,所述目标位置在芯片测试阶段的擦写次数达到擦写次数阈值;
对所述目标位置进行写入操作,生成所述目标位置对应的写入信息;
对所述目标位置进行读取操作,得到读取信息;
若所述写入信息和读取信息相同,则对存储器的应用程序存储区进行擦除操作。
可选的,所述得到读取信息之后,还包括:
判断所述写入信息和读取信息是否相同;
若所述写入信息和读取信息相同,则对所述应用程序存储区进行擦除操作;
若所述写入信息和读取信息不同,则运行所述应用程序存储区中存储的应用程序。
可选的,所述确定存储器的加密区中的目标位置包括:
获取芯片的软件ID信息;
基于所述软件ID信息确定位置索引信息;
基于所述位置索引信息,确定所述加密区中的所述目标位置。
可选的,在所述获取芯片的软件ID信息之前,还包括:
在芯片测试阶段将所述软件ID信息写入到所述存储器的软件ID存储区。
第二方面,本发明提供了一种芯片处理装置,所述芯片包括存储器,所述装置包括:
目标位置确定模块,用于确定存储器的加密区中的目标位置,所述目标位置在芯片测试阶段的擦写次数达到擦写次数阈值;
写入模块,用于对所述目标位置进行写入操作,生成所述目标位置对应的写入信息;
读取模块,用于对所述目标位置进行读取操作,得到读取信息;
擦除模块,用于在确定所述写入信息和读取信息相同时,对存储器的应用程序存储区进行擦除操作。
可选的,芯片处理装置还包括:
判断模块,用于判断所述写入信息和读取信息是否相同;
运行模块,用于在确定所述写入信息和读取信息不同时,运行所述应用程序存储区中存储的应用程序。
可选的,所述目标位置确定模块包括:
获取单元,用于获取芯片的软件ID信息;
位置索引信息确定单元,用于基于所述软件ID信息确定位置索引信息;
目标位置确定单元,用于基于所述位置索引信息,确定所述加密区中的所述目标位置。
可选的,芯片处理装置还包括软件ID信息写入模块,用于在芯片测试阶段将所述软件ID信息写入到所述存储器的软件ID存储区。
第三方面,本发明提供了一种芯片,包括:
处理器;
存储器,所述存储器划分为BOOT区、应用程序存储区、软件ID存储区和加密区,所述BOOT区用于存储一个或多个程序;
软件ID存储区存储软件ID信息,所述软件ID信息与所述加密区中目标位置关联,所述加密区中的目标位置在芯片测试阶段的擦写次数达到擦写次数阈值;
当所述一个或多个程序被所述处理器执行,使得所述处理器实现如本发明上述的芯片处理方法。
第四方面,本发明提供了一种电梯外呼板,包括本发明上述的芯片。
本发明实施例提供的芯片处理方法,通过确定存储器的加密区中的目标位置,目标位置在芯片测试阶段的擦写次数达到擦写次数阈值,使目标位置被擦写坏,即该目标位置的写入信息和读取数据会不相同,对目标位置进行写入操作后再进行读取操作,若目标位置的写入信息和读取信息相同,则确定芯片为克隆芯片,进而对存储器的应用程序存储区进行擦除操作,使该芯片所在的主板(即克隆主板)无法工作。本发明在不增加主板测试阶段的时间成本和芯片的物料成本的前提下,能够识别出克隆的主板,并使克隆主板无法工作,避免了使用克隆主板导致设备工作异常,甚至出现安全事故的问题。
附图说明
图1为本发明实施例提供的一种芯片处理方法的流程图;
图2为本发明实施例提供的又一种芯片处理方法的流程图;
图3为本发明实施例提供的另一种芯片处理方法的流程图;
图4为本发明实施例提供的一种芯片处理装置的结构框图;
图5为本发明实施例提供的一种芯片的结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是,此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明,而非对本发明的限定。另外还需要说明的是,为了便于描述,附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。
实施例一
通常,电梯层门附近的墙壁上设置外呼板,外呼板一般功能较为简单,通过外呼板来接收及响应召梯请求、楼层显示以及与电梯主控系统的通讯。侯梯人员通过按外呼板上的上行键或下行键进行召梯。外呼板包括外呼板芯片,外呼板芯片通常包括具有数据处理功能的处理器和存储功能的存储器等。
在外呼板出现故障时,往往需要更换整个外呼板。但是,非原厂的维护人员为了追求高额利润,使用山寨盗版的外呼板的情况时有发生,即将原厂外呼板芯片中存储器的数据克隆到非原厂的外呼板芯片中,以充当原厂外呼板。非原厂的外呼板往往存在兼容性和稳定性的问题,导致外呼板工作异常,甚至出现安全事故。
目前一般应对方法有两种,一是增加通讯上的产品验证,但这种方式维保人员通过一些操作还是有方法绕过正版认证;另一种是每个外呼板芯片带唯一物理ID号或在外呼板上额外增加加密芯片,但这种方式会大大增加外呼板的物料成本,由于外呼板实现的功能较为简单,选用的外呼板芯片都较为简单,因此为了节约物料成本,外呼板芯片通常没有唯一物理ID号。
针对上述问题,本发明实施例提供了一种芯片处理方法,图1为本发明实施例提供的一种芯片处理方法的流程图,如图1所示,该方法包括:
S110、确定存储器的加密区中的目标位置。
在外呼板芯片上电时,处理器首先确定存储器的加密区中的目标位置。
外呼板芯片的存储器通常为Flash存储器,由于外呼板实现的功能较为简单,选用的外呼板芯片都较为简单,存储器的空间使用率较低。因此,可以利用空余的空间来做防克隆功能。需要说明的是,存储器也可是其他形式的存储器,本发明在此不做限定。
示例性的,本发明实施例中,原厂外呼板芯片的存储器的存储空间被划分为BOOT区、应用程序存储区和加密区。其中,BOOT区为程序引导区,存储有引导程序,应用程序存储区存储有响应召梯的应用程序,当引导程序被处理器执行时,可以对应用程序存储区中存储的信息进行更改。加密区中的目标位置在外呼板测试阶段的擦写次数达到擦写次数阈值,具体的,目标位置可以是加密区中位置确定的一个或多个字节,本发明实施例中,目标位置为加密区中的8个字节。
原厂外呼板出厂时,通常会对Flash存储器的可擦写次数进行测试,具体的,对Flash存储器的其中某个区域进行反复的写入和擦除,达到其擦写次数阈值,该区域写入的数据和读取的数据不同,即该区域被擦写坏。那么,在原厂外呼板出厂测试阶段,对加密区中的目标位置进行反复的擦写操作,使目标位置的擦写次数达到擦写次数阈值,目标位置被擦写坏,在后续工作中,写入目标位置的写入数据和从目标位置读取的读取数据会不相同。
具体的,对目标位置的擦写过程如下:
由于Flash存储器的存储特性,存储位擦除是把存储位由0变为1,因此,当前一次写入数值是1时,在擦除时,该存储位无需变化,不影响该存储位寿命。同时,Flash存储器的写入与擦除都是以页进行的,因此,对目标位置的每个字节都写入0x00,即目标位置的每个存储位都写入0,该页的其它字节写入0xff,即该页的其他存储位都写入1,写完再擦除,擦除再写入不断循环,直到写入目标位置的写入数据和从目标位置读取到的读取数据不同,即目标位置的擦写次数达到其擦写次数阈值,目标位置被擦写坏,而加密区中目标位置以外的其他位置的寿命没有发生变化。该步骤在外呼板测试阶段完成,无需额外的时间成本和物料成本。
S120、对目标位置进行写入操作,生成目标位置对应的写入信息。
在确定目标位置之后,对目标位置所在的页的每一字节都进行随机写入,从而将写入信息写入到目标位置中,并生成目标位置对应的写入信息。
S130、对目标位置进行读取操作,得到读取信息。
对目标位置所在的页的每一字节进行读取操作,得到目标位置的读取信息。
S140、若写入信息和读取信息相同,则对存储器的应用程序存储区进行擦除操作。
外呼板克隆是将原厂外呼板芯片中存储器中的数据全部克隆到非原厂的外呼板芯片的存储器中,由于非原厂的外呼板芯片的存储器中目标位置没有被擦写坏,如果该外呼板芯片为克隆的芯片,那么写入目标位置的写入信息和从目标位置读取的读取信息会一样,进而可以判断出该外呼板芯片为克隆芯片,外呼板为克隆的外呼板。在确定写入信息和读取信息相同,即外呼板为克隆的外呼板后,处理器运行BOOT区中的引导程序,对存储器的应用程序存储区进行擦除操作,使外呼板无法响应外召请求。
本发明实施例提供的芯片处理方法,通过确定存储器的加密区中的目标位置,目标位置在芯片测试阶段的擦写次数达到擦写次数阈值,使目标位置被擦写坏,即该目标位置的写入信息和读取数据会不相同,对目标位置进行写入操作后再进行读取操作,若目标位置的写入信息和读取信息相同,则确定芯片为克隆芯片,进而对存储器的应用程序存储区进行擦除操作,使该芯片所在的主板(即克隆主板)无法工作。本发明在不增加主板测试阶段的时间成本和主板的物料成本的前提下,能够识别出克隆的主板,并使克隆主板无法工作,避免了使用克隆主板导致设备工作异常,甚至出现安全事故的问题。
需要说明的是,本发明实施例中以电梯的外呼板芯片为例对本发明进行说明,在本发明其他实施例,本发明所述的芯片也可以是具有控制和存储功能的芯片,本发明在此不做限定。
可选的,在上述S130、对目标位置进行读取操作,得到读取信息之后,还包括:
判断写入信息和读取信息是否相同;
若写入信息和读取信息相同,则对应用程序存储区进行擦除操作;
若写入信息和读取信息不同,则运行应用程序存储区中存储的应用程序。
图2为本发明实施例提供的又一种芯片处理方法的流程图,如图2所示,该方法包括:
S110、确定存储器的加密区中的目标位置。
S120、对目标位置进行写入操作,生成目标位置对应的写入信息。
S130、对目标位置进行读取操作,得到读取信息。
S141、判断写入信息和读取信息是否相同。
对目标位置的写入信息和读取信息进行比对,判断写入信息和读取信息是否相同。具体的,可以对目标位置的写入信息和读取信息按存储位进行比对。
S142、若写入信息和读取信息相同,则对应用程序存储区进行擦除操作。
若目标位置的写入信息和读取信息每一个对应的存储位的数据相同,例如写入信息为“10010010”,读取信息也为“10010010”,说明目标位置没有被写坏,当前使用的外呼板芯片为克隆芯片,处理器运行BOOT区中的引导程序,对存储器的应用程序存储区进行擦除操作,使外呼板无法响应外召请求。
S143、若写入信息和读取信息不同,则运行应用程序存储区中存储的应用程序。
若目标位置的写入信息和读取信息中存在一个或多个存储位的数据不相同,例如写入信息为“10010010”,读取信息为“10011011”,说明目标位置已经被写坏,当前使用的外呼板为原厂的外呼板,处理器运行应用程序存储区中的应用程序,使得外呼板相应召梯请求。
可选的,S110、确定存储器的加密区中的目标位置包括:
获取芯片的软件ID信息;
基于软件ID信息确定位置索引信息;
基于位置索引信息,确定加密区中的目标位置。
图3为本发明实施例提供的另一种芯片处理方法的流程图,如图3所示,该方法包括:
S111、获取芯片的软件ID信息。
可选的,存储器还包括软件ID存储区,在外呼板测试阶段将软件ID信息写入到存储器的软件ID存储区,每一个外呼板芯片具有唯一的软件ID信息。在外呼板芯片上电时,处理器运行BOOT区中的引导程序,从软件ID存储区中读取软件ID信息。
S112、基于软件ID信息确定位置索引信息。
在得到软件ID信息后,进行加密运算,得到用于索引目标位置的位置索引信息。示例性的,软件ID信息可以是8个字节的明文ID号,经加密运算后,得到8个字节的密文ID号,将该8个字节的密文ID号作为位置索引信息。
S113、基于位置索引信息,确定加密区中的目标位置。
根据位置索引信息,在加密区中进行索引,确定目标位置。
S120、对目标位置进行写入操作,生成目标位置对应的写入信息。
S130、对目标位置进行读取操作,得到读取信息。
S141、判断写入信息和读取信息是否相同。
S142、若写入信息和读取信息相同,则对应用程序存储区进行擦除操作。
S143、若写入信息和读取信息不同,则运行应用程序存储区中存储的应用程序。
实施例二
本发明提供了一种芯片处理装置,图4为本发明实施例提供的一种芯片处理装置的结构框图,如图4所示,该装置包括:
目标位置确定模块210,用于在外呼板上电时,确定存储器的加密区中的目标位置,目标位置在芯片测试阶段的擦写次数达到擦写次数阈值。
具体的,外呼板芯片的存储器通常为Flash存储器,由于外呼板实现的功能较为简单,选用的外呼板芯片都较为简单,存储器的空间使用率较低。因此,可以利用空余的空间来做防克隆功能。
示例性的,本发明实施例中,原厂外呼板芯片的存储器被划分为BOOT区、应用程序存储区和加密区。其中,BOOT区为程序引导区,存储有引导程序,应用程序存储区存储有响应召梯的应用程序,当引导程序被处理器执行时,可以对应用程序存储区中存储的信息进行更改。加密区中的目标位置在外呼板测试阶段的擦写次数达到擦写次数阈值,具体的,目标位置可以是加密区中位置确定的一个或多个字节,本发明实施例中,目标位置为加密区中的8个字节。
原厂外呼板出厂时,通常会对Flash存储器的可擦写次数进行测试,具体的,对Flash存储器的其中某个区域进行反复的写入和擦除,达到其擦写次数阈值,该区域写入的数据和读取的数据不同,即该区域被擦写坏。那么,在原厂外呼板出厂测试阶段,对加密区中的目标位置进行反复的擦写操作,使目标位置的擦写次数达到擦写次数阈值,目标位置被擦写坏,在后续工作中,写入目标位置的写入数据和从目标位置读取的读取数据会不相同。
具体的,对目标位置的擦写过程如下:
由于Flash存储器的存储特性,存储位擦除是把存储位由0变为1,因此,当前一次写入数值是1时,在擦除时,该存储位无需变化,不影响该存储位寿命。同时,Flash存储器的写入与擦除都是以页进行的,因此,对目标位置的每个字节都写入0x00,即目标位置的每个存储位都写入0,该页的其它字节写入0xff,即该页的其他存储位都写入1,写完再擦除,擦除再写入不断循环,直到写入目标位置的写入数据和从目标位置读取到的读取数据不同,即目标位置的擦写次数达到其擦写次数阈值,目标位置被擦写坏,而加密区中目标位置以外的其他位置的寿命没有发生变化。该步骤在外呼板测试阶段完成,无需额外的时间成本和物料成本。
写入模块220,用于对目标位置进行写入操作,生成目标位置对应的写入信息。
示例性的,在确定目标位置之后,写入模块220对目标位置所在的页的每一字节都进行随机写入,从而将写入信息写入到目标位置中,并生成目标位置对应的写入信息。
读取模块230,用于对目标位置进行读取操作,得到读取信息。
具体的,读取模块230对目标位置所在的页的每一字节进行读取操作,得到目标位置的读取信息。
擦除模块240,用于在确定写入信息和读取信息相同时,对存储器的应用程序存储区进行擦除操作。
具体的,外呼板克隆是将原厂外呼板芯片中存储器中的数据全部克隆到非原厂的外呼板芯片的存储器中,由于非原厂的外呼板芯片的存储器中目标位置没有被擦写坏,如果该外呼板芯片为克隆的芯片,那么写入目标位置的写入信息和从目标位置读取的读取信息会一样,进而可以判断出该外呼板芯片为克隆芯片,该外呼板为克隆的外呼板。在确定写入信息和读取信息相同,即外呼板为克隆的外呼板后,擦除模块240对存储器的应用程序存储区进行擦除操作,使外呼板无法响应外召请求。
本发明实施例提供的芯片处理装置,通过目标位置确定模块确定存储器的加密区中的目标位置,目标位置在芯片测试阶段的擦写次数达到擦写次数阈值,使目标位置被擦写坏,即该目标位置的写入信息和读取数据会不相同,写入模块和读取模块分别对目标位置进行写入和读取操作,若目标位置的写入信息和读取信息相同,则确定主板为克隆的主板,进而擦除模块对存储器的应用程序存储区进行擦除操作,使主板无法工作。本发明在不增加主板测试阶段的时间成本和主板的物料成本的前提下,能够识别出克隆的主板,并使克隆主板无法工作,避免了使用克隆主板导致设备工作异常,甚至出现安全事故的问题。
可选的,如图4所示,芯片处理装置还包括:
判断模块250,用于判断写入信息和读取信息是否相同。
具体的,判断模块250对目标位置的写入信息和读取信息进行比对,判断写入信息和读取信息是否相同。具体的,可以对目标位置的写入信息和读取信息按存储位进行比对。
运行模块260,用于在确定写入信息和读取信息不同时,运行应用程序存储区中存储的应用程序。
具体的,若目标位置的写入信息和读取信息中存在一个或多个存储位的数据不相同,例如写入信息为“10010010”,读取信息为“10011011”,说明目标位置已经被写坏,当前使用的外呼板为原厂外呼板,运行模块260运行应用程序存储区中的应用程序,使得外呼板相应召梯请求。
可选的,如图4所示,目标位置确定模块210包括:
获取单元211,用于获取芯片的软件ID信息。
可选的,存储器还包括软件ID存储区,在外呼板测试阶段将软件ID信息写入到存储器的软件ID存储区,每一个外呼板芯片具有唯一的软件ID信息。在外呼板上电时,处理器运行BOOT区中的引导程序,获取单元211从软件ID存储区中获取软件ID信息。
位置索引信息确定单元212,用于基于软件ID信息确定位置索引信息。
在得到软件ID信息后,位置索引信息确定单元212对软件ID信息进行加密运算,得到用于索引目标位置的位置索引信息。示例性的,软件ID信息可以是8个字节的明文ID号,经加密运算后,得到8个字节的密文ID号,将该8个字节的密文ID号作为位置索引信息。
目标位置确定单元213,用于基于位置索引信息,在加密区中进行索引,确定加密区中的目标位置。
实施例三
本发明实施例提供了一种芯片,图5为本发明实施例提供的一种芯片的结构示意图,如图5所示,包括:
处理器310;
存储器320,示例性的,存储器320可以输Flash存储器,存储器320的存储空间划分为BOOT区321、应用程序存储区322、软件ID存储区323和加密区324,BOOT区321为程序引导区,存储有引导程序,应用程序存储区322存储有应用程序,软件ID存储区323存储软件ID信息,软件ID信息与加密区324中目标位置关联,加密区324中的目标位置在芯片测试阶段的擦写次数达到擦写次数阈值,使得写入目标位置的写入信息和从目标位置读取的读取信息不相同。具体的,目标位置可以是加密区324中位置确定的一个或多个字节,本发明实施例中,目标位置为加密区中的8个字节。
当BOOT区321中的引导程序被处理器310执行,使得处理器310实现如本发明上述实施例所述的芯片处理方法,具有相应的功能和有益效果。
本发明实施例还提供了一种电梯外呼板,包括本发明上述实施例所述的芯片。电梯外呼板通常设置电梯层门附近的墙壁上,通过所述芯片来接收及响应召梯请求、楼层显示以及与电梯主控系统的通讯。侯梯人员通过按外呼板上的上行键或下行键进行召梯。
注意,上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解,本发明不限于这里所述的特定实施例,对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此,虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明,但是本发明不仅仅限于以上实施例,在不脱离本发明构思的情况下,还可以包括更多其他等效实施例,而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。
Claims (10)
1.一种芯片处理方法,其特征在于,所述芯片包括存储器,所述方法包括:
确定存储器的加密区中的目标位置,所述目标位置在芯片测试阶段的擦写次数达到擦写次数阈值;
对所述目标位置进行写入操作,生成所述目标位置对应的写入信息;
对所述目标位置进行读取操作,得到读取信息;
若所述写入信息和读取信息相同,则对存储器的应用程序存储区进行擦除操作。
2.根据权利要求1所述的芯片处理方法,其特征在于,所述得到读取信息之后,还包括:
判断所述写入信息和读取信息是否相同;
若所述写入信息和读取信息相同,则对所述应用程序存储区进行擦除操作;
若所述写入信息和读取信息不同,则运行所述应用程序存储区中存储的应用程序。
3.根据权利要求1所述的芯片处理方法,其特征在于,所述确定存储器的加密区中的目标位置包括:
获取芯片的软件ID信息;
基于所述软件ID信息确定位置索引信息;
基于所述位置索引信息,确定所述加密区中的所述目标位置。
4.根据权利要求3所述的芯片处理方法,其特征在于,在所述获取芯片的软件ID信息之前,还包括:
在芯片测试阶段将所述软件ID信息写入到所述存储器的软件ID存储区。
5.一种芯片处理装置,其特征在于,所述芯片包括存储器,所述装置包括:
目标位置确定模块,用于确定存储器的加密区中的目标位置,所述目标位置在芯片测试阶段的擦写次数达到擦写次数阈值;
写入模块,用于对所述目标位置进行写入操作,生成所述目标位置对应的写入信息;
读取模块,用于对所述目标位置进行读取操作,得到读取信息;
擦除模块,用于在确定所述写入信息和读取信息相同时,对存储器的应用程序存储区进行擦除操作。
6.根据权利要求5所述的芯片处理装置,其特征在于,还包括:
判断模块,用于判断所述写入信息和读取信息是否相同;
运行模块,用于在确定所述写入信息和读取信息不同时,运行所述应用程序存储区中存储的应用程序。
7.根据权利要求5所述的芯片处理装置,其特征在于,所述目标位置确定模块包括:
获取单元,用于获取芯片的软件ID信息;
位置索引信息确定单元,用于基于所述软件ID信息确定位置索引信息;
目标位置确定单元,用于基于所述位置索引信息,确定所述加密区中的所述目标位置。
8.根据权利要求7所述的芯片处理装置,其特征在于,还包括软件ID信息写入模块,用于在芯片测试阶段将所述软件ID信息写入到所述存储器的软件ID存储区。
9.一种芯片,其特征在于,包括:
处理器;
存储器,所述存储器划分为BOOT区、应用程序存储区、软件ID存储区和加密区,所述BOOT区用于存储一个或多个程序;
软件ID存储区存储软件ID信息,所述软件ID信息与所述加密区中目标位置关联,所述加密区中的目标位置在芯片测试阶段的擦写次数达到擦写次数阈值;
当所述一个或多个程序被所述处理器执行,使得所述处理器实现如权利要求1-4任一所述的芯片处理方法。
10.一种电梯外呼板,其特征在于,包括如权利要求9所述的芯片。
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