CN110162004A - 一种分散控制系统soe测试装置及测试方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种分散控制系统SOE测试装置，其包括控制单元、人机接口、输出单元和充电及供电单元。其中，人机接口和控制单元双向通信，输出单元连接至控制单元，充电及供电单元分别连接至人机接口、控制单元和输出单元。本发明还公开了一种分散控制系统SOE测试方法，该方法能够方便的测出分散控制系统的SOE分辨力，及时发现SOE系统存在的问题。

Description

一种分散控制系统SOE测试装置及测试方法
技术领域
本发明涉及一种分散控制系统SOE测试装置及测试方法，属于热工自动控制领域。
背景技术
随着火电机组的日趋规模化和复杂化，电厂对安全运行的要求也越来越高，当机组发生故障时，维护人员需要快速地找出事故发生的原因并采取相应处理措施，这就需要对事件进行追忆并打印。SOE(Sequence OfEvent)是分散控制系统的子系统，它以毫秒级的分辨力记录事故发生时的相关信息，能够帮助维护人员快速的分析故障、找出故障原因，如申请号为201120355878.9的中国专利。
根据DL/T659-2016《火力发电厂分散控制系统验收测试规程》的要求，火力发电厂分散控制系统SOE的分辨力要不大于1ms。但是，随着系统运行年限的增加，SOE的某些功能可能会退化或者丧失，分辨力可能无法达到规程的要求，因此，定期对分散控制系统SOE 进行测试，是检验SOE分辨力是否满足规程要求的重要手段。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术中存在的上述不足，而提供一种分散控制系统SOE测试装置及测试方法，能够方便的测试出分散控制系统SOE的分辨力，验证其功能是否正常。
本发明解决上述问题所采用的技术方案是：一种分散控制系统SOE测试装置，包括控制单元、人机接口、输出单元和充电及供电单元。其中，人机接口和控制单元双向通信，输出单元连接至控制单元，充电及供电单元分别连接至人机接口、控制单元和输出单元。
进一步而言，所述控制单元具有正序触发和逆序触发两种模式。
进一步而言，所述人机接口包括触摸屏，用于显示SOE测试装置的运行状态、电池状态、触发模式、时间间隔等信息；人机接口还可以接收触发模式、时间间隔等参数设置信息。
进一步而言，所述输出单元包含16个输出通道，每个输出通道采用独立的插接式端子输出。
进一步而言，所述控制单元可输出脉冲序列的时间间隔在0.1ms～3ms之间。
进一步而言，脉冲序列触发之后具有自动复位和手动复位两种模式，自动复位为最后一个脉冲触发后延迟5s复位，手动复位为按触摸屏任意部位复位。
一种用于上述的分散控制系统SOE测试装置的测试方法，其特点是，该测试方法包含以下步骤：
S1、相同控制柜相同卡件的SOE测试，任意选取一块SOE卡件，选取6～8个SOE测点，并依次将SOE测试装置的输出通道连接至所选择的SOE测点；
S2、设置SOE测试装置的触发模式为“正序触发”，设置时间间隔为1ms，并发送信号；
S3、在工程师站中打开SOE记录软件，查看选取的SOE测点的响应顺序是否与接线顺序一致，时间间隔是否与SOE测试装置的时间间隔一致，如果两者都一致，则说明该SOE卡件能够分辨正序1ms的脉冲序列，否则不能分辨正序1ms的脉冲序列；
S4、根据步骤S3的测试结果，若所选取的SOE卡件能够分辨正序1ms的脉冲序列，则减少0.1ms的时间间隔，按照步骤S2、S3继续测试，否则，增大0.1ms的时间间隔，按照步骤S2、S3继续测试；
S5、根据步骤S4的测试结果，若所选取的SOE卡件能够分辨所设置时间间隔的脉冲序列，则继续进行步骤S4，若所选取的SOE卡件不能分辨所设置时间间隔的脉冲序列，则判断不能识别前的一个时间间隔为相同机柜相同卡件的正序最小分辨时间；
S6、设置SOE测试装置的触发模式为“逆序触发”，重复步骤S2、S3、S4、S5，测试出相同机柜相同卡件的逆序最小分辨时间；
S7、计算相同机柜相同卡件的最小分辨时间＝Max(正序最小分辨时间，逆序最小分辨时间)；
S8、进行相同机柜不同卡件的SOE测试，任意选取两块SOE卡件，两块卡件中共选取8个SOE测点，SOE测点平均分布在两块卡件中，并依次将SOE测试装置的输出通道连接至所选择的SOE测点；
S9、重复步骤S2、S3、S4、S5、S6；
S10、计算相同机柜不同卡件的最小分辨时间＝Max(正序最小分辨时间，逆序最小分辨时间)；
S11、进行不同机柜不同卡件的SOE测试，任意选取三块SOE卡件，三块卡件至少分布在两个机柜中，三块卡件中共选取8个SOE测点，SOE测点分布在三块卡件中，并依次将SOE测试装置的输出通道连接至所选择的SOE测点；
S12、重复步骤S2、S3、S4、S5、S6；
S13、计算不同机柜不同卡件的最小分辨时间＝Max(正序最小分辨时间，逆序最小分辨时间)；
S14、计算SOE最小分辨时间＝Max(相同机柜相同卡件最小分辨时间，相同机柜不同卡件最小分辨时间，不同机柜不同卡件最小分辨时间)。
本发明与现有技术相比，具有以下优点和效果：本发明提出的SOE测试装置简单、可靠，应用方便，功能能够满足测试要求，能够及时发现分散控制系统SOE功能是否存在异常，提高分散控制系统运行可靠性。
附图说明
图1是本发明实施例中分散控制系统SOE测试装置的结构示意图。
图2是本发明实施例中SOE测试子程序流程图。
图3是本发明实施例中SOE测试主程序流程图。
具体实施方式
下面结合附图并通过实施例对本发明作进一步的详细说明，以下实施例是对本发明的解释而本发明并不局限于以下实施例。
如图1所示，本实施例中的分散控制系统SOE测试装置，包括控制单元、人机接口、输出单元和充电及供电单元。其中，人机接口和控制单元双向通信，输出单元连接至控制单元，充电及供电单元分别连接至人机接口、控制单元和输出单元。
在本实例中，控制单元具有正序触发和逆序触发两种模式。正序触发模式下，脉冲序列从输出通道1到输出通道16依次触发，前后两个通道之间间隔为固定的预设时间；逆序触发模式下，脉冲序列从输出通道16到输出通道1依次触发，前后两个通道之间间隔为固定的预设时间。
在本实例中，人机接口包括触摸屏，用于显示SOE测试装置的运行状态、电池状态、触发模式、时间间隔等信息；人机接口还可以接收触发模式、时间间隔等参数设置信息。
在本实例中，输出单元包含16个输出通道，每个输出通道采用独立的插接式端子输出。
在本实例中，控制单元可输出脉冲序列的时间间隔在0.1ms～3ms之间。
在本实例中，脉冲序列触发之后具有自动复位和手动复位两种模式，自动复位为最后一个脉冲触发后延迟5s复位，手动复位为按触摸屏任意部位复位。
如图2、3所示，结合上述分散控制系统SOE测试装置，本发明还公开了一种SOE测试方法，该测试方法包含以下步骤：
S1、相同控制柜相同卡件的SOE测试，任意选取一块SOE卡件，选取6～8个SOE测点，并依次将SOE测试装置的输出通道连接至所选择的SOE测点；
S2、设置SOE测试装置的触发模式为“正序触发”，设置时间间隔为1ms，并发送信号；
S3、在工程师站中打开SOE记录软件，查看选取的SOE测点的响应顺序是否与接线顺序一致，时间间隔是否与SOE测试装置的时间间隔一致，如果两者都一致，则说明该SOE卡件能够分辨正序1ms的脉冲序列，否则不能分辨正序1ms的脉冲序列；
S4、根据步骤S3的测试结果，若所选取的SOE卡件能够分辨正序1ms的脉冲序列，则减少0.1ms的时间间隔，按照步骤S2、S3继续测试，否则，增大0.1ms的时间间隔，按照步骤S2、S3继续测试；
S5、根据步骤S4的测试结果，若所选取的SOE卡件能够分辨所设置时间间隔的脉冲序列，则继续进行步骤S4，若所选取的SOE卡件不能分辨所设置时间间隔的脉冲序列，则判断不能识别前的一个时间间隔为相同机柜相同卡件的正序最小分辨时间；
S6、设置SOE测试装置的触发模式为“逆序触发”，重复步骤S2、S3、S4、S5，测试出相同机柜相同卡件的逆序最小分辨时间；
S7、计算相同机柜相同卡件的最小分辨时间＝Max(正序最小分辨时间，逆序最小分辨时间)；
如表1所示，对某火电厂分散控制系统DPU63柜F7卡进行正序和逆序测试，从表1可以看出，DPU63柜F7卡的SOE分辨力为1.0ms。
S8、进行相同机柜不同卡件的SOE测试，任意选取两块SOE卡件，两块卡件中共选取8个SOE测点，SOE测点平均分布在两块卡件中，并依次将SOE测试装置的输出通道连接至所选择的SOE测点；
S9、重复步骤S2、S3、S4、S5、S6；
S10、计算相同机柜不同卡件的最小分辨时间＝Max(正序最小分辨时间，逆序最小分辨时间)；
如表2所示，对某火电厂分散控制系统DPU11柜B7和B8卡进行正序和逆序测试，选取8个SOE测点，其中B7卡和B8卡各取4个，从表2可以看出，DPU11柜不同卡件的 SOE分辨力为0.9ms。
S11、进行不同机柜不同卡件的SOE测试，任意选取三块SOE卡件，三块卡件至少分布在两个机柜中，三块卡件中共选取8个SOE测点，SOE测点分布在三块卡件中，并依次将SOE测试装置的输出通道连接至所选择的SOE测点；
S12、重复步骤S2、S3、S4、S5、S6；
S13、计算不同机柜不同卡件的最小分辨时间＝Max(正序最小分辨时间，逆序最小分辨时间)；
如表3所示，对某火电厂分散控制系统DPU08柜B6卡、DPU08柜B7卡和DPU11柜 F7卡进行正序和逆序测试，选取8个SOE测点，其中DPU08柜B6卡选取3个SOE测点， DPU08柜B7卡选取2个SOE测点，DPU11柜F7卡选取3个SOE测点，从表3可以看出， DPU08柜和DPU11柜不同机柜不同卡件的SOE分辨力为1.0ms。
S14、计算SOE最小分辨时间＝Max(相同机柜相同卡件最小分辨时间，相同机柜不同卡件最小分辨时间，不同机柜不同卡件最小分辨时间)。
从表1、表2和表3可以看出，本实例中分散控制系统SOE分辨力为1.0ms，满足规程的要求。
虽然本发明以实施例公开如上，但其并非用以限定本发明的保护范围，任何熟悉该项技术的技术人员，在不脱离本发明的构思和范围内所作的更动与润饰，均应属于本发明的保护范围。

Claims (7)

1.一种分散控制系统SOE测试装置，其特征在于：包括控制单元、人机接口、输出单元和充电及供电单元；其中，人机接口和控制单元双向通信，输出单元连接至控制单元，充电及供电单元分别连接至人机接口、控制单元和输出单元。
2.根据权利要求1所述的分散控制系统SOE测试装置，其特征在于：所述控制单元具有正序触发和逆序触发两种模式。
3.根据权利要求2所述的分散控制系统SOE测试装置，其特征在于：所述人机接口包括触摸屏，用于显示SOE测试装置的运行状态、电池状态、触发模式和时间间隔信息；人机接口还用于接收触发模式、时间间隔参数设置信息。
4.根据权利要求1所述的分散控制系统SOE测试装置，其特征在于：所述输出单元包含16个输出通道，每个输出通道采用独立的插接式端子输出。
5.根据权利要求3所述的分散控制系统SOE测试装置，其特征在于：所述控制单元输出脉冲序列的时间间隔在0.1ms~3ms之间。
6.根据权利要求5所述的分散控制系统SOE测试装置，其特征在于：脉冲序列触发之后具有自动复位和手动复位两种模式，自动复位为最后一个脉冲触发后延迟5s复位，手动复位为按触摸屏任意部位复位。
7.一种如权利要求1-6中任意一项所述的分散控制系统SOE测试装置的测试方法，其特征在于：该测试方法包含以下步骤：
S1、相同控制柜相同卡件的SOE测试，任意选取一块SOE卡件，选取6~8个SOE测点，并依次将SOE测试装置的输出通道连接至所选择的SOE测点；
S2、设置SOE测试装置的触发模式为“正序触发”，设置时间间隔为1ms，并发送信号；
S3、在工程师站中打开SOE记录软件，查看选取的SOE测点的响应顺序是否与接线顺序一致，时间间隔是否与SOE测试装置的时间间隔一致，如果两者都一致，则说明该SOE卡件能够分辨正序1ms的脉冲序列，否则不能分辨正序1ms的脉冲序列；
S4、根据步骤S3的测试结果，若所选取的SOE卡件能够分辨正序1ms的脉冲序列，则减少0.1ms的时间间隔，按照步骤S2、S3继续测试，否则，增大0.1ms的时间间隔，按照步骤S2、S3继续测试；
S5、根据步骤S4的测试结果，若所选取的SOE卡件能够分辨所设置时间间隔的脉冲序列，则继续进行步骤S4，若所选取的SOE卡件不能分辨所设置时间间隔的脉冲序列，则判断不能识别前的一个时间间隔为相同机柜相同卡件的正序最小分辨时间；
S6、设置SOE测试装置的触发模式为“逆序触发”，重复步骤S2、S3、S4、S5，测试出相同机柜相同卡件的逆序最小分辨时间；
S7、计算相同机柜相同卡件的最小分辨时间：正序最小分辨时间和逆序最小分辨时间取大值；
S8、进行相同机柜不同卡件的SOE测试，任意选取两块SOE卡件，两块卡件中共选取8个SOE测点，SOE测点平均分布在两块卡件中，并依次将SOE测试装置的输出通道连接至所选择的SOE测点；
S9、重复步骤S2、S3、S4、S5、S6；
S10、计算相同机柜不同卡件的最小分辨时间：正序最小分辨时间和逆序最小分辨时间取大值；
S11、进行不同机柜不同卡件的SOE测试，任意选取三块SOE卡件，三块卡件至少分布在两个机柜中，三块卡件中共选取8个SOE测点，SOE测点分布在三块卡件中，并依次将SOE测试装置的输出通道连接至所选择的SOE测点；
S12、重复步骤S2、S3、S4、S5、S6；
S13、计算不同机柜不同卡件的最小分辨时间：正序最小分辨时间和逆序最小分辨时间取大值；
S14、计算SOE最小分辨时间：相同机柜相同卡件最小分辨时间、相同机柜不同卡件最小分辨时间和不同机柜不同卡件最小分辨时间取最大值。
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