CN110149116B - 一种电子设备及时钟信号输出方法、装置 - Google Patents
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- Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)
Abstract
本申请实施例提供一种电子设备及时钟信号输出方法、装置，电子设备包括处理芯片；处理芯片，用于从锁相环获取第一校正数据；对第一校正数据进行无效噪声滤除处理，得到第二校正数据；基于第二校正数据对应的温度数据，按照温度从大到小或从小到大的顺序，对第二校正数据进行排序，得到第三校正数据；对第三校正数据进行温度噪声滤除处理，得到第四校正数据；根据第二校正数据和第四校正数据，获取第五校正数据；根据第四校正数据获取老化补偿参数，根据第五校正数据获取温度补偿参数，并将老化补偿参数和温度补偿参数输出给锁相环，锁相环根据老化补偿参数和温度补偿参数输出时钟信号。通过本申请的技术方案，对频率信号进行有效的频率补偿。
Description
技术领域
本申请涉及通信领域，尤其涉及一种电子设备及时钟信号输出方法、装置。
背景技术
OCXO(Oven Controlled Crystal Oscillator，恒温晶体振荡器)是利用恒温槽使晶体振荡器或石英晶体振子的温度保持恒定，将由周围温度变化引起的振荡器输出频率变化量削减到最小的晶体振荡器。OCXO由恒温槽控制电路和振荡器电路构成，利用热敏电阻“电桥”构成的差动串联放大器，来实现温度控制。OCXO主要应用于移动通信基站、导航设备、频率计数器、频谱分析仪等设备。
例如，移动通信基站可以部署OCXO，若能够捕获参考信号(如GPS(GlobalPositioning System，全球定位系统)、北斗、1588等)，则利用参考信号输出时钟信号；若丢失参考信号，则利用OCXO产生的频率信号输出时钟信号。
随着通信技术的发展，对移动通信基站丢失参考信号后的时间精度提出了更高要求，也就是说，需要OCXO提供更高精度的频率信号。但是，传统的OCXO无法提供更高精度的频率信号，这就需要对频率信号进行补偿。例如，对温度特性引起的频率偏移进行补偿、对老化特性引起的频率偏移进行补偿。
但是，在传统方式中，并没有提供有效的频率补偿方式，也就是说，针对OCXO产生的频率信号，目前没有对这个频率信号进行有效的频率补偿。
发明内容
本申请提供一种电子设备，包括：恒温晶体振荡器、锁相环、处理芯片；所述锁相环，用于从所述恒温晶体振荡器获取频率信号，从外部设备获取参考信号，并根据所述频率信号和所述参考信号，获取第一校正数据；
所述处理芯片，用于从所述锁相环获取所述第一校正数据；对所述第一校正数据进行无效噪声滤除处理，得到已滤除无效噪声的第二校正数据；
基于所述第二校正数据对应的温度数据，按照温度从大到小或者从小到大的顺序，对所述第二校正数据进行排序，得到排序后的第三校正数据；对所述第三校正数据进行温度噪声滤除处理，得到已滤除温度噪声的第四校正数据；
根据所述第二校正数据和所述第四校正数据，获取已滤除老化噪声的第五校正数据；根据所述第四校正数据获取老化补偿参数，根据所述第五校正数据获取温度补偿参数，并将所述老化补偿参数和所述温度补偿参数输出给锁相环，以使所述锁相环根据所述老化补偿参数和所述温度补偿参数输出时钟信号。
本申请提供一种时钟信号输出装置，所述装置包括：
获取模块，用于从锁相环获取第一校正数据；其中，所述第一校正数据是所述锁相环根据恒温晶体振荡器的频率信号以及外部设备的参考信号获取的；
处理模块，用于对第一校正数据进行无效噪声滤除处理，得到已滤除无效噪声的第二校正数据；基于第二校正数据对应的温度数据，按照温度从大到小或者从小到大的顺序，对第二校正数据进行排序，得到排序后的第三校正数据；对第三校正数据进行温度噪声滤除处理，得到已滤除温度噪声的第四校正数据；
所述获取模块，还用于根据所述第二校正数据和所述第四校正数据，获取已滤除老化噪声的第五校正数据；根据所述第四校正数据获取老化补偿参数，并根据所述第五校正数据获取温度补偿参数；
输出模块，用于将所述老化补偿参数和所述温度补偿参数输出给锁相环，以使所述锁相环根据所述老化补偿参数和所述温度补偿参数输出时钟信号。
本申请提供一种时钟信号输出方法，应用于电子设备，所述电子设备包括：恒温晶体振荡器、锁相环、处理芯片；所述方法包括：
所述锁相环从所述恒温晶体振荡器获取频率信号，从外部设备获取参考信号，并根据所述频率信号和所述参考信号，获取第一校正数据；
所述处理芯片从所述锁相环获取所述第一校正数据；对所述第一校正数据进行无效噪声滤除处理，得到已滤除无效噪声的第二校正数据；
所述处理芯片基于第二校正数据对应的温度数据，按照温度从大到小或者从小到大的顺序，对第二校正数据进行排序，得到排序后的第三校正数据；对第三校正数据进行温度噪声滤除处理，得到已滤除温度噪声的第四校正数据；
所述处理芯片根据第二校正数据和第四校正数据，获取已滤除老化噪声的第五校正数据；根据第四校正数据获取老化补偿参数，根据第五校正数据获取温度补偿参数，并将所述老化补偿参数和所述温度补偿参数输出给锁相环；
所述锁相环根据所述老化补偿参数和所述温度补偿参数输出时钟信号。
由以上技术方案可见，本申请实施例中，处理芯片能够得到已滤除温度噪声的校正数据，根据该校正数据获取老化补偿参数。处理芯片能够得到已滤除老化噪声的校正数据，根据该校正数据获取温度补偿参数。处理芯片将老化补偿参数和温度补偿参数输出给锁相环，锁相环根据老化补偿参数和温度补偿参数输出时钟信号。显然，上述方式提供一种有效的频率补偿方式，针对OCXO产生的频率信号，能够对频率信号进行有效的频率补偿。利用老化补偿参数对老化特性引起的频率偏移进行补偿；利用温度补偿参数对温度特性引起的频率偏移进行补偿。能够将老化对频率的影响和温度对频率的影响进行有效分离，为两者的补偿提供更加准确的数据，更好的补偿参考信号丢失后的时钟信号。
附图说明
为了更加清楚地说明本申请实施例或者现有技术中的技术方案，下面将对本申请实施例或者现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，还可以根据本申请实施例的这些附图获得其他的附图。
图1是本申请一种实施方式中的电子设备的硬件结构图；
图2是本申请一种实施方式中的部署两个滤波器的示意图；
图3是本申请一种实施方式中的频率分量的示意图；
图4是本申请一种实施方式中的时钟信号输出装置的结构图；
图5是本申请一种实施方式中的时钟信号输出方法的流程图。
具体实施方式
在本申请实施例使用的术语仅仅是出于描述特定实施例的目的，而非限制本申请实施例。本申请实施例和权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式，除非上下文清楚地表示其它含义。本文中使用的术语“和/或”是指包含一个或多个相关联的列出项目的任何或所有可能组合。
应当理解，尽管在本申请实施例可能采用术语第一、第二、第三等来描述各种信息，但这些信息不应限于这些术语。这些术语仅用来将同一类型的信息彼此区分开。例如，在不脱离本申请实施例范围的情况下，第一信息也可以被称为第二信息，类似地，第二信息也可以被称为第一信息。取决于语境，此外，所使用的词语“如果”可以被解释成为“在……时”或“当……时”或“响应于确定”。
本申请实施例提出一种电子设备，如采用OCXO(即恒温晶体振荡器)的电子设备，如移动通信基站、导航设备、频率计数器、频谱分析仪等，对此电子设备的类型不做限制。参见图1所示，为电子设备的结构示意图，该电子设备可以包括：OCXO11、锁相环12、处理芯片13。该处理芯片13可以为处理器(如CPU(Central Processing Unit，中央处理器)等)，也可以为逻辑芯片(如FPGA(Field Programmable Gate Array，现场可编程门阵列)、CPLD(Complex Programmable Logic Device，复杂可编程逻辑器件)等)，对此不做限制。
OCXO11用于产生频率信号，并向锁相环12输出频率信号，对此OCXO11的工作原理，可以参见传统实现方式，本申请实施例对此不再赘述。
锁相环12用于从OCXO11获取频率信号，并从外部设备获取参考信号。
若成功从外部设备获取到参考信号(如GPS参考信号、北斗参考信号、1588参考信号等)，则锁相环12根据该频率信号和该参考信号，获取第一校正数据，并利用第一校正数据对频率信号进行校正，得到时钟信号，并输出时钟信号。
若未从外部设备获取到参考信号，即丢失参考信号，则锁相环12根据该频率信号(即OCXO11产生的频率信号)获得时钟信号，并输出时钟信号。
例如，在每个计时周期，锁相环12用于从OCXO11获取频率信号，并从外部设备获取参考信号。若当前计时周期成功获取到参考信号，则锁相环12根据频率信号和该参考信号，获取校正数据(为了区分方便，将该校正数据称为第一校正数据)，对此第一校正数据的获取方式不做限制，可以参见传统方式。
例如，基于频率信号确定当前时刻是时刻A，基于参考信号确定当前时刻是时刻B，则第一校正数据是时刻B-时刻A，当然，上述只是简单的示例。
从上述内容可以看出，若锁相环12未从外部设备获取到参考信号，即丢失参考信号，则锁相环12根据频率信号获得时钟信号，并输出时钟信号。但是，随着通信技术的发展，对丢失参考信号后的时间精度提出了更高要求，而传统的OCXO11无法提供更高精度的频率信号，这就需要对频率信号进行补偿。
其中，当OCXO11处于不同的温度环境时，OCXO11产生的频率信号会不同，导致OCXO11输出的频率信号发生偏移，这就是温度特性引起的频率偏移。在对频率信号进行补偿时，需要对温度特性引起的频率偏移进行补偿。
此外，当OCXO11工作不同的时间长度时，则OCXO11产生的频率信号也会不同，如工作5小时的OCXO11与工作6小时的OCXO11产生的频率信号会不同，导致OCXO11输出的频率信号发生偏移，这就是老化特性引起的频率偏移。在对频率信号进行补偿时，需要对老化特性引起的频率偏移进行补偿。
为了对温度特性引起的频率偏移进行补偿、对老化特性引起的频率偏移进行补偿，需要获知温度补偿参数和老化补偿参数。利用温度补偿参数对温度特性引起的频率偏移进行补偿，并利用老化补偿参数对老化特性引起的频率偏移进行补偿。为了获取温度补偿参数和老化补偿参数，则可以采用如下方式：
参见图2所示，部署滤波器A和滤波器B，可以通过滤波器A对第一校正数据进行滤波处理，滤除无效噪声，得到校正数据A，校正数据A是针对温度特性引起的频率偏移的校正数据与针对老化特性引起的频率偏移的校正数据。
通过滤波器B对校正数据A进行滤波处理，滤除温度噪声，得到校正数据B，校正数据B是针对老化特性引起的频率偏移的校正数据。校正数据A与校正数据B的差值为校正数据C，是针对温度特性引起的频率偏移的校正数据。
进一步的，可以利用校正数据B获取老化补偿参数，并利用老化补偿参数对老化特性引起的频率偏移进行补偿。此外，可以利用校正数据C获取温度补偿参数，并利用温度补偿参数对温度特性引起的频率偏移进行补偿。
在上述方式中，需要通过滤波器B对校正数据A进行滤波处理，以滤除温度噪声。但是，若温度特性引起的频率偏移与老化特性引起的频率偏移存在重叠，则无法通过滤波器B有效滤除温度噪声，从而导致无法得到准确的校正数据B，即无法有效分离温度与老化的影响，导致无法有效对频率偏移进行补偿。
针对上述发现，本申请实施例中，即使温度特性引起的频率偏移与老化特性引起的频率偏移存在重叠，也能够有效的分离温度的影响与老化的影响，有效对频率偏移进行补偿，从而能够更好的补偿参考信号丢失后的时钟信号。
参见图1所示，电子设备可以包括OCXO11、锁相环12、处理芯片13。
OCXO11用于产生频率信号，并向锁相环12输出该频率信号。
锁相环12用于从OCXO11获取频率信号，并从外部设备获取参考信号。若成功从外部设备获取到参考信号，则锁相环12可以根据该频率信号和该参考信号，获取第一校正数据，并利用该第一校正数据对该频率信号进行校正，得到时钟信号，并输出该时钟信号。若未从外部设备获取到参考信号，即丢失参考信号，则锁相环12可以根据该频率信号获得时钟信号，并输出该时钟信号。
处理芯片13用于从锁相环12获取第一校正数据。对第一校正数据进行无效噪声滤除处理，得到已滤除无效噪声的第二校正数据，第二校正数据是针对温度特性引起频率偏移的校正数据与针对老化特性引起频率偏移的校正数据。
处理芯片13基于第二校正数据对应的温度数据，按照温度从大到小或者从小到大的顺序，对第二校正数据进行排序，得到排序后的第三校正数据。
处理芯片13对第三校正数据进行温度噪声滤除处理，得到已滤除温度噪声的第四校正数据，由于第四校正数据已滤除温度噪声，且第四校正数据已滤除无效噪声，因此，第四校正数据是针对老化特性引起的频率偏移的校正数据。
处理芯片13根据第二校正数据和第四校正数据，获取已滤除老化噪声的第五校正数据，由于第五校正数据已滤除老化噪声，且第五校正数据已滤除无效噪声，因此，第五校正数据是针对温度特性引起的频率偏移的校正数据。
进一步的，处理芯片13根据第四校正数据获取老化补偿参数，根据第五校正数据获取温度补偿参数，并将该老化补偿参数和该温度补偿参数输出给锁相环12，以使锁相环12根据该老化补偿参数和该温度补偿参数输出时钟信号。
例如，锁相环12用于从OCXO11获取频率信号，并从外部设备获取参考信号。若未从外部设备获取到参考信号，即丢失参考信号，则锁相环12可以根据该老化补偿参数和该温度补偿参数对该频率信号进行补偿，得到时钟信号，并输出该时钟信号。例如，锁相环12利用老化补偿参数对老化特性引起的频率偏移进行补偿，并利用温度补偿参数对温度特性引起的频率偏移进行补偿。
显然，锁相环12可以在丢失参考信号后，才根据该老化补偿参数和该温度补偿参数对频率信号进行补偿，得到时钟信号，并输出该时钟信号。若未丢失参考信号，则锁相环12可以直接利用参考信号得到时钟信号，而不需要根据该老化补偿参数和该温度补偿参数对频率信号进行补偿，得到时钟信号。
综上所述，处理芯片13能够得到已滤除温度噪声的校正数据，根据该校正数据获取老化补偿参数。处理芯片13能够得到已滤除老化噪声的校正数据，根据该校正数据获取温度补偿参数。处理芯片13将老化补偿参数和温度补偿参数输出给锁相环12，使得锁相环12根据老化补偿参数和温度补偿参数输出时钟信号。显然，上述方式提供有效的频率补偿方式，针对OCXO11产生的频率信号，能够对频率信号进行有效的频率补偿。利用老化补偿参数对老化特性引起的频率偏移进行补偿；利用温度补偿参数对温度特性引起的频率偏移进行补偿。
在上述方式中，处理芯片13基于算法得到已滤除温度噪声的校正数据、已滤除老化噪声的校正数据，而不需要通过滤波器进行滤波处理，因此，即使温度特性引起的频率偏移与老化特性引起的频率偏移存在重叠，处理芯片13也能够基于算法得到已滤除温度噪声的校正数据、已滤除老化噪声的校正数据，从而有效分离温度与老化的影响，能够更好的补偿参考信号丢失后的时钟信号。
以下结合具体的实施例，对本申请的上述技术方案进行详细说明。
1、处理芯片13获取时间数据、温度数据和第一校正数据。
在每个采集周期，处理芯片13从OCXO11获取温度数据，从锁相环12获取第一校正数据，并记录当前时刻、该温度数据、该第一校正数据的对应关系。
其中，OCXO11包括温度传感器，温度传感器用于采集OCXO11所处环境的温度数据(即实际温度值)，因此，处理芯片13从温度传感器获取温度数据。
其中，锁相环12用于从OCXO11获取频率信号，并从外部设备获取参考信号。若成功从外部设备获取到参考信号，则锁相环12根据该频率信号和该参考信号，获取第一校正数据。因此，处理芯片13从锁相环12获取第一校正数据。
例如，在时刻t1，处理芯片13从OCXO11的温度传感器获取到温度数据T1，温度数据T1表示OCXO11在时刻t1的实际温度值。处理芯片13从锁相环12获取第一校正数据F1，第一校正数据F1表示锁相环12在时刻t1的第一校正数据。在时刻t2，处理芯片13从OCXO11的温度传感器获取到温度数据T2，温度数据T2表示OCXO11在时刻t2的实际温度值。处理芯片13从锁相环12获取第一校正数据F2，第一校正数据F2表示锁相环12在时刻t2的第一校正数据。以此类推，处理芯片13在每个采集周期，可以采用上述方式得到时间数据、温度数据和第一校正数据的对应关系，参见表1所示，为数据集合的示例。
表1
| 时间数据 | 温度数据 | 第一校正数据 |
| t1 | T1 | F1 |
| t2 | T2 | F2 |
| … | … | … |
| tn | Tn | Fn |
可选地，在一个例子中，数据集合中的数据量可以不大于阈值。例如，采集周期可以为1秒，可以保留最新的M个小时的数据组，每个数据组包括时间数据、温度数据和第一校正数据的对应关系。每个小时对应3600个数据组，M可以大于12且小于24。当数据集合中的数据量大于阈值时，使用最新的数据覆盖最早的数据，保证数据量不大于阈值。这样，可以保证数据量足够多，以充份体现OCXO的特征，且数据量不大于阈值，减轻处理芯片13的运算量。
2、处理芯片13对第一校正数据进行无效噪声滤除处理，得到已滤除无效噪声的第二校正数据，由于第二校正数据已滤除无效噪声，因此，是针对温度特性引起的频率偏移的校正数据与针对老化特性引起的频率偏移的校正数据。
可选地，处理芯片13对第一校正数据进行无效噪声滤除处理，得到已滤除无效噪声的第二校正数据，可以包括：根据第一校正数据进行离散余弦变换(即DCT变换)，得到第一变换数据；将第一变换数据中的低频率分量数据保持不变，并将第一变换数据中的高频率分量数据置为指定数值，得到第二变换数据；根据第二变换数据进行离散余弦反变换(即DCT反变换)，得到第二校正数据。
例如，当收集足够多的第一校正数据后，由于第一校正数据存在高频噪声，即无效噪声，与温度特性引起的频率偏移无关，也与老化特性引起的频率偏移无关，因此，可以对第一校正数据进行去噪声处理，以滤除这些高频噪声。
可选地，可以根据离散余弦变换对第一校正数据进行去噪声处理，得到第一变换数据。例如，可以采用如下变换公式进行离散余弦变换：
其中，N为第一校正数据的总数量，参见表1所示，x(1)为F1，x(2)为F2，以此类推，x(n)为Fn。k的取值依次为1、2…N，此外，y(1)、y(2)…、y(n)就是需要采用上述公式计算出的N个第一变换数据，可以将y(1)记为A1，将y(2)记为A2，以此类推，将y(n)记为An，则第一变换数据包括A1、A2…、An。
参见图3所示，针对离散余弦变换后的第一变换数据，越靠近左侧的数据，代表越低的频率分量，越靠近右侧的数据，代表越高的频率分量，因此，若将高频分量的数据置为指定数值(如0)，即将右侧的数据置为指定数值，则可以消除高频噪声。综上所述，可以将第一变换数据中的低频率分量数据保持不变，并将第一变换数据中的高频率分量数据置为指定数值，得到第二变换数据。
例如，可以预先配置保留数量，该保留数量可以根据经验进行配置，如保留数量可以为总数量的10％。假设第一校正数据的总数量为4000，则保留数量为400，这样，可以将左侧的400个第一变换数据保持不变，并将右侧的3600个第一变换数据置为指定数值0。经过上述处理，就可以得到第二变换数据，第二变换数据可以包括B1、B2…、Bn。假设n为4000，B1与A1相同，B2与A2相同，以此类推，B400与A400相同。此外，B401-B4000均为指定数值0。
可选地，可以根据离散余弦反变换对第二变换数据进行处理，得到第二校正数据。例如，可以采用如下反变换公式进行离散余弦反变换：
其中，N为第二变换数据的总数量，x(1)为B1，x(2)为B2，以此类推，x(n)为Bn。k的取值依次为1、2…N，此外，y(1)、y(2)…、y(n)就是需要采用上述公式计算出的N个第二校正数据，可以将y(1)记为R1，将y(2)记为R2，以此类推，将y(n)记为Rn，则第二校正数据可以包括R1、R2…、Rn，参见表2所示。
表2
| 时间数据 | 温度数据 | 第二校正数据 |
| t1 | T1 | R1 |
| t2 | T2 | R2 |
| … | … | … |
| tn | Tn | Rn |
在上述实施例中，离散余弦变换的公式只是一个示例，对此不做限制，只要能够进行离散余弦变换即可。离散余弦反变换的公式只是一个示例，对此不做限制，只要能够进行离散余弦反变换即可。此外，是以离散余弦变换的公式与离散余弦反变换的公式相同为例，在实际应用中，离散余弦变换的公式与离散余弦反变换的公式也可以不同，对此不做限制。此外，除了采用离散余弦变换/离散余弦反变换的实现方式，还可以采用其它变换方式，只要基于该变换方式，能够对第一校正数据进行无效噪声滤除处理即可，对此不做限制。
综上所述，通过将第一变换数据中的高频率分量数据置为指定数值0，从而能够滤除无效噪声，且经过离散余弦反变换对数据进行还原，就得到了已滤除无效噪声的第二校正数据，而已滤除无效噪声的第二校正数据更光滑。
3、处理芯片13基于第二校正数据对应的温度数据，按照温度从大到小或从小到大的顺序，对第二校正数据进行排序，得到排序后的第三校正数据。
参见表2所示，是按照时间从前到后的顺序，对第二校正数据进行排序，即从前到后的时间数据为t1、t2、…、tn，则第二校正数据的排序结果为R1、R2、…、Rn，将按照时间数据排列的第二校正数据称为时间域数据。
本步骤中，基于第二校正数据对应的温度数据，按照温度从大到小或从小到大的顺序，对第二校正数据进行排序，以按照温度从小到大的顺序对第二校正数据进行排序为例。假设从小到大的温度数据为T50、T48、…、T2，则第二校正数据的排序结果为R50、R48、…、R2，将按照温度数据排列的第二校正数据称为温度域数据。显然，经过上述处理，将时间域数据转换为温度域数据。
进一步的，在按照温度从小到大的顺序对第二校正数据进行排序后，可以得到第三校正数据。将排序后的第一个校正数据(如R50)称为S1，将排序后的第二个校正数据(如R48)称为S2，以此类推，将排序后的最后一个校正数据(如R2)称为Sn，这样，排序后的第三校正数据还可以参见表3所示。
表3
| 时间数据 | 温度数据 | 第三校正数据 |
| t50 | T50 | S1(即R50) |
| t48 | T48 | S2(即R48) |
| … | … | … |
| t2 | T2 | Sn(即R2) |
4、处理芯片13根据排序后的第三校正数据进行去噪声处理，得到第六校正数据。可选地，处理芯片13根据排序后的第三校正数据进行去噪声处理，得到第六校正数据，可以包括：根据第三校正数据进行离散余弦变换(即DCT变换)，得到第三变换数据；将第三变换数据中的低频率分量数据置为指定数值(如0)，并将第三变换数据中的高频率分量数据保持不变，得到第四变换数据；根据第四变换数据进行离散余弦反变换(即DCT反变换)，得到第六校正数据。
可选地，可以根据离散余弦变换对第三校正数据进行去噪声处理，得到第三变换数据。例如，可以采用如下变换公式进行离散余弦变换：
其中，N为第三校正数据的总数量，参见表3所示，x(1)为S1，x(2)为S2，以此类推，x(n)为Sn。k的取值依次为1、2…N，此外，y(1)、y(2)…、y(n)就是需要采用上述公式计算出的N个第三变换数据，可以将y(1)记为C1，将y(2)记为C2，以此类推，将y(n)记为Cn，则第三变换数据包括C1、C2…、Cn。
针对离散余弦变换后的第三变换数据，越靠近左侧的数据，代表越低的频率分量，且低频率分量数据是与温度相关的数据，即与温度特性引起的频率偏移有关。越靠近右侧的数据，代表越高的频率分量，且高频率分量数据是与老化相关的数据，即与老化特性引起的频率偏移有关。在第三变换数据中，高频率分量数据属于噪声数据。基于此，若将低频率分量数据置为指定数值(如0)，即将左侧的数据置为指定数值，则可以将高频率分量数据分离出来，即将第三变换数据中的噪声分离出来，而第三变换数据中的噪声即为老化相关的数据。
综上所述，可以将第三变换数据中的低频率分量数据置为指定数值(如0)，并将第三变换数据中的高频率分量数据保持不变，得到第四变换数据。
例如，可以预先配置保留数量，该保留数量可以根据经验进行配置，如保留数量可以为总数量的1％。假设第三校正数据的总数量为4000，则保留数量为40，这样，可以将左侧的40个第三变换数据置为指定数值0，并将右侧的3960个第三变换数据保持不变。经过上述处理，就可以得到第四变换数据，第四变换数据可以包括D1、D2…、Dn。假设n为4000，D1-D40均为指定数值0，此外，D41与C41相同，D42与C42相同，以此类推，D4000与C4000相同。
可选地，可以根据离散余弦反变换对第四变换数据进行处理，得到第六校正数据。例如，可以采用如下反变换公式进行离散余弦反变换：
其中，N为第四变换数据的总数量，x(1)为D1，x(2)为D2，以此类推，x(n)为Dn。k的取值依次为1、2…N，此外，y(1)、y(2)…、y(n)就是需要采用上述公式计算出的N个第六校正数据，可以将y(1)记为Q1，将y(2)记为Q2，以此类推，将y(n)记为Qn，则第六校正数据可以包括Q1、Q2…、Qn，参见表4所示。
表4
| 时间数据 | 温度数据 | 第六校正数据 |
| t50 | T50 | Q1 |
| t48 | T48 | Q2 |
| … | … | … |
| t2 | T2 | Qn |
在上述实施例中，离散余弦变换的公式只是一个示例，对此不做限制，只要能够进行离散余弦变换即可。离散余弦反变换的公式只是一个示例，对此不做限制，只要能够进行离散余弦反变换即可。在上述实施例中，是以离散余弦变换的公式与离散余弦反变换的公式相同为例，在实际应用中，离散余弦变换的公式与离散余弦反变换的公式也可以不同，对此不做限制。除了采用离散余弦变换/离散余弦反变换的实现方式，还可以采用其它变换方式，对此不做限制。
5、处理芯片13基于第六校正数据对应的时间数据，按照时间从前到后或从后到前的顺序，对第六校正数据进行排序，得到排序后的第七校正数据。
参见表4所示，是按照温度从小到大的顺序，对第六校正数据进行排序，第六校正数据的排序结果为Q1、Q2…、Qn，且按照温度进行排序的第六校正数据称为温度域数据。本步骤中，基于第六校正数据对应的时间数据，按照时间从前到后或从后到前的顺序，对第六校正数据进行排序，以按照时间从前到后的顺序对第六校正数据进行排序为例，则时间从前到后的顺序依次为t1、t2、…、tn，且可以得到排序后的第七校正数据。将按照时间进行排列的第七校正数据称为时间域数据。显然，经过上述处理，将温度域数据转换为时间域数据。
进一步的，在按照时间从前到后的顺序对第六校正数据进行排序后，可以得到第七校正数据。将排序后的第一个校正数据称为P1，将排序后的第二个校正数据称为P2，以此类推，将排序后的最后一个校正数据称为Pn，如表5所示。
表5
| 时间数据 | 温度数据 | 第七校正数据 |
| t1 | T1 | P1 |
| t2 | T2 | P2 |
| … | … | … |
| tn | Tn | Pn |
6、处理芯片13根据排序后的第七校正数据进行去噪声处理，得到已滤除温度噪声的第四校正数据。其中，由于第四校正数据已经滤除温度噪声，因此，所述第四校正数据可以是针对老化特性引起的频率偏移的校正数据。
可选地，处理芯片13根据排序后的第七校正数据进行去噪声处理，得到已滤除温度噪声的第四校正数据，可以包括：根据第七校正数据进行离散余弦变换(即DCT变换)，得到第五变换数据；将第五变换数据中的低频率分量数据保持不变，并将第五变换数据中的高频率分量数据置为指定数值，得到第六变换数据；根据第六变换数据进行离散余弦反变换，得到第四校正数据。
可选地，可以根据离散余弦变换对第七校正数据进行去噪声处理，得到第五变换数据。例如，可以采用如下变换公式进行离散余弦变换：
其中，N为第七校正数据的总数量，参见表5所示，x(1)为P1，x(2)为P2，以此类推，x(n)为Pn。k的取值依次为1、2…N，此外，y(1)、y(2)…、y(n)就是需要采用上述公式计算出的N个第五变换数据，可以将y(1)记为E1，将y(2)记为E2，以此类推，将y(n)记为En，则第五变换数据包括E1、E2…、En。
针对离散余弦变换后的第五变换数据，越靠近左侧的数据，代表越低的频率分量，且低频率分量数据是与老化相关的数据，即与老化特性引起的频率偏移有关。越靠近右侧的数据，代表越高的频率分量，且高频率分量数据是与温度相关的数据，即与温度特性引起的频率偏移有关。在第五变换数据中，高频率分量数据属于噪声数据。基于此，若将高频分量的数据置为指定数值(如0)，即将右侧的数据置为指定数值，则可以消除高频噪声，也就是说，消除与温度相关的数据。综上所述，可以将第五变换数据中的低频率分量数据保持不变，将第五变换数据中的高频率分量数据置为指定数值，得到第六变换数据。
例如，可以预先配置保留数量，该保留数量可以根据经验进行配置，如保留数量可以为总数量的10％。假设第七校正数据的总数量为4000，则保留数量为400，这样，可以将左侧的400个第五变换数据保持不变，并将右侧的3600个第五变换数据置为指定数值0。经过上述处理，就可以得到第六变换数据，第六变换数据可以包括H1、H2…、Hn。假设n为4000，H1与E1相同，H2与E2相同，以此类推，H400与E400相同。此外，H401-H4000均为指定数值0。
可选地，可以根据离散余弦反变换对第六变换数据进行处理，得到第四校正数据。例如，可以采用如下反变换公式进行离散余弦反变换：
其中，N为第六变换数据的总数量，x(1)为H1，x(2)为H2，以此类推，x(n)为Hn。k的取值依次为1、2…N，此外，y(1)、y(2)…、y(n)就是需要采用上述公式计算出的N个第四校正数据，可以将y(1)记为L1，将y(2)记为L2，以此类推，将y(n)记为Ln，则第四校正数据可以包括L1、L2…、Ln，参见表6所示。
表6
综上所述，通过将第五变换数据中的高频率分量数据置为0，从而滤除高频噪声(即温度噪声)，且经过离散余弦反变换对数据进行还原，就得到了已滤除温度噪声的第四校正数据，即针对老化特性引起的频率偏移的校正数据。
其中，温度噪声是指：温度特性引起的频率偏移所导致的噪声。
7、处理芯片13根据第二校正数据和第四校正数据，获取已滤除老化噪声的第五校正数据。其中，由于所述第五校正数据已经滤除老化噪声，因此，所述第五校正数据可以是针对温度特性引起的频率偏移的校正数据。
可选地，可以对第二校正数据与第四校正数据进行差值处理，得到已滤除老化噪声的第五校正数据，参见表7所示，为第五校正数据的示例。
表7
| 时间数据 | 温度数据 | 第五校正数据 |
| t1 | T1 | Z1(R1-L1) |
| t2 | T2 | Z2(R2-L2) |
| … | … | … |
| tn | Tn | Zn(Rn-Ln) |
其中，老化噪声是指：老化特性引起的频率偏移所导致的噪声。
8、处理芯片13根据第四校正数据获取老化补偿参数，并根据第五校正数据获取温度补偿参数。具体的，处理芯片13可以根据该第四校正数据拟合第一目标函数，该第一目标函数是以时间为变量，并根据该第一目标函数获取老化补偿参数。此外，处理芯片13可以根据该第五校正数据拟合第二目标函数，该第二目标函数是以温度为变量，并根据该第二目标函数获取温度补偿参数。
例如，处理芯片13利用第四校正数据(如L1、L2、…、Ln)进行曲线拟合，如采用最小二乘法对第四校正数据进行曲线拟合，对此拟合方式不做限制。最终，将第四校正数据拟合成以时间为变量的第一目标函数，如F(t)＝at2+bt+c。
其中，a、b、c为已知值，这样，针对每个时刻，可以将这个时刻的时间值代入第一目标函数，得到F(t)的取值，而F(t)的取值就是老化补偿参数。
处理芯片13利用第五校正数据(如Z1、Z2、…、Zn)进行曲线拟合，如采用最小二乘法对第五校正数据进行曲线拟合，对此拟合方式不做限制。最终将第五校正数据拟合成以温度为变量的第二目标函数，如F(T)＝AT2+BT+C。
其中，A、B、C为已知值，这样，针对每个时刻，可以从OCXO11的温度传感器获取当前时刻的温度数据(即实际温度值)，并将这个时刻的温度数据代入第二目标函数，得到F(T)的取值，而F(T)的取值就是温度补偿参数。
当然，上述曲线拟合的方式只是一个示例，对此不做限制，只要能够根据第四校正数据获取老化补偿参数，并根据第五校正数据获取温度补偿参数即可。
9、处理芯片13将老化补偿参数和温度补偿参数输出给锁相环12，锁相环12根据该老化补偿参数和该温度补偿参数输出时钟信号。具体的，锁相环12从OCXO11获取频率信号，并从外部设备获取参考信号。若未从外部设备获取到参考信号，即丢失参考信号，则根据该老化补偿参数和该温度补偿参数对该频率信号进行补偿，得到时钟信号，并输出该时钟信号。例如，锁相环12可以利用该老化补偿参数对老化特性引起的频率偏移进行补偿，并利用该温度补偿参数对温度特性引起的频率偏移进行补偿，对此补偿方式不做限制。若未从外部设备获取到参考信号，即参考信号未丢失，则可以根据参考信号输出时钟信号。
相应地，基于与上述方法同样的申请构思，本申请实施例还提出一种时钟信号输出装置，电子设备包括OCXO、锁相环和处理芯片，时钟信号输出装置可以应用于处理芯片，参见图4所示，为所述装置的结构图，所述装置包括：
获取模块41，用于从锁相环获取第一校正数据；所述第一校正数据是所述锁相环根据恒温晶体振荡器的频率信号以及外部设备的参考信号获取的；
处理模块42，用于对第一校正数据进行无效噪声滤除处理，得到已滤除无效噪声的第二校正数据；基于第二校正数据对应的温度数据，按照温度从大到小或从小到大的顺序，对第二校正数据进行排序，得到排序后的第三校正数据；对第三校正数据进行温度噪声滤除处理，得到已滤除温度噪声的第四校正数据；
所述获取模块41，还用于根据所述第二校正数据和所述第四校正数据，获取已滤除老化噪声的第五校正数据；根据所述第四校正数据获取老化补偿参数，并根据所述第五校正数据获取温度补偿参数；
输出模块43，用于将所述老化补偿参数和所述温度补偿参数输出给锁相环，以使所述锁相环根据所述老化补偿参数和所述温度补偿参数输出时钟信号。
可选地，在一个例子中，所述处理模块42对第一校正数据进行无效噪声滤除处理，得到已滤除无效噪声的第二校正数据时具体用于：
根据所述第一校正数据进行离散余弦变换，得到第一变换数据；
将第一变换数据中的高频率分量数据置为指定数值，得到第二变换数据；
根据所述第二变换数据进行离散余弦反变换，得到所述第二校正数据。
可选地，在一个例子中，所述处理模块42对第三校正数据进行温度噪声滤除处理，得到已滤除温度噪声的第四校正数据时具体用于：
根据所述第三校正数据进行离散余弦变换，得到第三变换数据；将所述第三变换数据中的低频率分量数据置为指定数值，得到第四变换数据；根据所述第四变换数据进行离散余弦反变换，得到第六校正数据；
基于所述第六校正数据对应的时间数据，按照时间从前到后或者从后到前的顺序，对所述第六校正数据进行排序，得到排序后的第七校正数据；
根据所述第七校正数据进行离散余弦变换，得到第五变换数据；将所述第五变换数据中的高频率分量数据置为指定数值，得到第六变换数据；根据所述第六变换数据进行离散余弦反变换，得到所述第四校正数据。
可选地，在一个例子中，所述获取模块41根据所述第四校正数据获取老化补偿参数时具体用于：根据所述第四校正数据拟合第一目标函数，所述第一目标函数以时间为变量；根据所述第一目标函数获取老化补偿参数。
可选地，在一个例子中，所述获取模块41根据所述第五校正数据获取温度补偿参数时具体用于：根据所述第五校正数据拟合第二目标函数，所述第二目标函数以温度为变量；根据所述第二目标函数获取温度补偿参数。
相应地，基于与上述方法同样的申请构思，本申请实施例还提出一种时钟信号输出方法，应用于电子设备，所述电子设备包括：恒温晶体振荡器、锁相环、处理芯片；参见图5所示，为时钟信号输出方法的流程图，所述方法包括：
步骤501，锁相环从恒温晶体振荡器获取频率信号，从外部设备获取参考信号，并根据频率信号和参考信号，获取第一校正数据。
步骤502，处理芯片从锁相环获取第一校正数据；对第一校正数据进行无效噪声滤除处理，得到已滤除无效噪声的第二校正数据。
具体的，处理芯片根据第一校正数据进行离散余弦变换，得到第一变换数据；将第一变换数据中的高频率分量数据置为指定数值，得到第二变换数据；根据第二变换数据进行离散余弦反变换，得到第二校正数据。
步骤503，处理芯片基于第二校正数据对应的温度数据，按照温度从大到小或者从小到大的顺序，对第二校正数据进行排序，得到排序后的第三校正数据；对第三校正数据进行温度噪声滤除处理，得到已滤除温度噪声的第四校正数据。
处理芯片对第三校正数据进行温度噪声滤除处理，得到已滤除温度噪声的第四校正数据，包括：根据第三校正数据进行离散余弦变换，得到第三变换数据；将第三变换数据中的低频率分量数据置为指定数值，得到第四变换数据；根据第四变换数据进行离散余弦反变换，得到第六校正数据；基于第六校正数据对应的时间数据，按照时间从前到后或者从后到前的顺序，对第六校正数据进行排序，得到排序后的第七校正数据；根据第七校正数据进行离散余弦变换，得到第五变换数据；将第五变换数据中的高频率分量数据置为指定数值，得到第六变换数据；根据第六变换数据进行离散余弦反变换，得到第四校正数据。
步骤504，处理芯片根据第二校正数据和第四校正数据，获取已滤除老化噪声的第五校正数据；根据第四校正数据获取老化补偿参数，根据第五校正数据获取温度补偿参数，并将老化补偿参数和温度补偿参数输出给锁相环。
根据第四校正数据获取老化补偿参数，包括：根据第四校正数据拟合第一目标函数，第一目标函数以时间为变量；根据第一目标函数获取老化补偿参数。
根据第五校正数据获取温度补偿参数，包括：根据第五校正数据拟合第二目标函数，第二目标函数以温度为变量；根据第二目标函数获取温度补偿参数。
步骤505，锁相环根据老化补偿参数和温度补偿参数输出时钟信号。
上述实施例阐明的系统、装置、模块或单元，具体可以由计算机芯片或实体实现，或者由具有某种功能的产品来实现。一种典型的实现设备为计算机，计算机的具体形式可以是个人计算机、膝上型计算机、蜂窝电话、相机电话、智能电话、个人数字助理、媒体播放器、导航设备、电子邮件收发设备、游戏控制台、平板计算机、可穿戴设备或者这些设备中的任意几种设备的组合。
为了描述的方便，描述以上装置时以功能分为各种单元分别描述。当然，在实施本申请时可以把各单元的功能在同一个或多个软件和/或硬件中实现。
本领域内的技术人员应明白，本申请的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本申请可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本申请实施例可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
本申请是参照根据本申请实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可以由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其它可编程数据处理设备的处理芯片以产生一个机器，使得通过计算机或其它可编程数据处理设备的处理芯片执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
而且，这些计算机程序指令也可以存储在能引导计算机或其它可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或者多个流程和/或方框图一个方框或者多个方框中指定的功能。
这些计算机程序指令也可装载到计算机或其它可编程数据处理设备上，使得在计算机或者其它可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其它可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
以上所述仅为本申请的实施例而已，并不用于限制本申请。对于本领域技术人员来说，本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原理之内所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的权利要求范围之内。
Claims (10)
1.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：恒温晶体振荡器、锁相环、处理芯片；其中：
所述锁相环，用于从所述恒温晶体振荡器获取频率信号，从外部设备获取参考信号，并根据所述频率信号和所述参考信号，获取第一校正数据；
所述处理芯片，用于从所述锁相环获取所述第一校正数据；对所述第一校正数据进行无效噪声滤除处理，得到已滤除无效噪声的第二校正数据；其中，无效噪声为所述第一校正数据中的高频噪声；
基于所述第二校正数据对应的温度数据，按照温度从大到小或者从小到大的顺序，对所述第二校正数据进行排序，得到排序后的第三校正数据；对所述第三校正数据进行温度噪声滤除处理，得到已滤除温度噪声的第四校正数据；其中，温度噪声为温度特性引起的频率偏移所导致的噪声；
对所述第二校正数据和所述第四校正数据进行差值处理，得到已滤除老化噪声的第五校正数据；其中，老化噪声为老化特性引起的频率偏移所导致的噪声；根据所述第四校正数据获取老化补偿参数，根据所述第五校正数据获取温度补偿参数，并将所述老化补偿参数和所述温度补偿参数输出给锁相环，以使所述锁相环根据所述老化补偿参数和所述温度补偿参数输出时钟信号。
2.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，处理芯片对所述第一校正数据进行无效噪声滤除处理，得到已滤除无效噪声的第二校正数据时具体用于：
根据所述第一校正数据进行离散余弦变换，得到第一变换数据；
将第一变换数据中的高频率分量数据置为指定数值，得到第二变换数据；
根据所述第二变换数据进行离散余弦反变换，得到所述第二校正数据。
3.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，处理芯片对所述第三校正数据进行温度噪声滤除处理，得到已滤除温度噪声的第四校正数据时具体用于：
根据所述第三校正数据进行离散余弦变换，得到第三变换数据；将所述第三变换数据中的低频率分量数据置为指定数值，得到第四变换数据；根据所述第四变换数据进行离散余弦反变换，得到第六校正数据；
基于所述第六校正数据对应的时间数据，按照时间从前到后或者从后到前的顺序，对所述第六校正数据进行排序，得到排序后的第七校正数据；
根据所述第七校正数据进行离散余弦变换，得到第五变换数据；将所述第五变换数据中的高频率分量数据置为指定数值，得到第六变换数据；根据所述第六变换数据进行离散余弦反变换，得到所述第四校正数据。
4.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，
所述处理芯片根据所述第四校正数据获取老化补偿参数时具体用于：
根据所述第四校正数据拟合第一目标函数，所述第一目标函数以时间为变量；根据所述第一目标函数获取老化补偿参数；
所述处理芯片根据所述第五校正数据获取温度补偿参数时具体用于：
根据所述第五校正数据拟合第二目标函数，所述第二目标函数以温度为变量；根据所述第二目标函数获取温度补偿参数。
5.一种时钟信号输出装置，其特征在于，所述装置包括：
获取模块，用于从锁相环获取第一校正数据；其中，所述第一校正数据是所述锁相环根据恒温晶体振荡器的频率信号以及外部设备的参考信号获取的；
处理模块，用于对第一校正数据进行无效噪声滤除处理，得到已滤除无效噪声的第二校正数据；其中，无效噪声为所述第一校正数据中的高频噪声；基于第二校正数据对应的温度数据，按照温度从大到小或者从小到大的顺序，对第二校正数据进行排序，得到排序后的第三校正数据；对第三校正数据进行温度噪声滤除处理，得到已滤除温度噪声的第四校正数据；其中，温度噪声为温度特性引起的频率偏移所导致的噪声；
所述获取模块，还用于对所述第二校正数据和所述第四校正数据进行差值处理，得到已滤除老化噪声的第五校正数据；其中，老化噪声为老化特性引起的频率偏移所导致的噪声；根据所述第四校正数据获取老化补偿参数，并根据所述第五校正数据获取温度补偿参数；
输出模块，用于将所述老化补偿参数和所述温度补偿参数输出给锁相环，以使所述锁相环根据所述老化补偿参数和所述温度补偿参数输出时钟信号。
6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述处理模块对第一校正数据进行无效噪声滤除处理，得到已滤除无效噪声的第二校正数据时具体用于：
根据所述第一校正数据进行离散余弦变换，得到第一变换数据；
将第一变换数据中的高频率分量数据置为指定数值，得到第二变换数据；
根据所述第二变换数据进行离散余弦反变换，得到所述第二校正数据。
7.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述处理模块对第三校正数据进行温度噪声滤除处理，得到已滤除温度噪声的第四校正数据时具体用于：
根据所述第三校正数据进行离散余弦变换，得到第三变换数据；将所述第三变换数据中的低频率分量数据置为指定数值，得到第四变换数据；根据所述第四变换数据进行离散余弦反变换，得到第六校正数据；
基于所述第六校正数据对应的时间数据，按照时间从前到后或者从后到前的顺序，对所述第六校正数据进行排序，得到排序后的第七校正数据；
根据所述第七校正数据进行离散余弦变换，得到第五变换数据；将所述第五变换数据中的高频率分量数据置为指定数值，得到第六变换数据；根据所述第六变换数据进行离散余弦反变换，得到所述第四校正数据。
8.一种时钟信号输出方法，其特征在于，应用于电子设备，所述电子设备包括：恒温晶体振荡器、锁相环、处理芯片；所述方法包括：
所述锁相环从所述恒温晶体振荡器获取频率信号，从外部设备获取参考信号，并根据所述频率信号和所述参考信号，获取第一校正数据；
所述处理芯片从所述锁相环获取所述第一校正数据；对所述第一校正数据进行无效噪声滤除处理，得到已滤除无效噪声的第二校正数据；其中，无效噪声为所述第一校正数据中的高频噪声；
所述处理芯片基于第二校正数据对应的温度数据，按照温度从大到小或者从小到大的顺序，对第二校正数据进行排序，得到排序后的第三校正数据；对第三校正数据进行温度噪声滤除处理，得到已滤除温度噪声的第四校正数据；其中，温度噪声为温度特性引起的频率偏移所导致的噪声；
所述处理芯片对第二校正数据和第四校正数据进行差值处理，得到已滤除老化噪声的第五校正数据；其中，老化噪声为老化特性引起的频率偏移所导致的噪声；根据第四校正数据获取老化补偿参数，根据第五校正数据获取温度补偿参数，并将所述老化补偿参数和所述温度补偿参数输出给锁相环；
所述锁相环根据所述老化补偿参数和所述温度补偿参数输出时钟信号。
9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述处理芯片对所述第一校正数据进行无效噪声滤除处理，得到已滤除无效噪声的第二校正数据，包括：
根据所述第一校正数据进行离散余弦变换，得到第一变换数据；
将第一变换数据中的高频率分量数据置为指定数值，得到第二变换数据；
根据所述第二变换数据进行离散余弦反变换，得到所述第二校正数据。
10.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述处理芯片对第三校正数据进行温度噪声滤除处理，得到已滤除温度噪声的第四校正数据，包括：
根据所述第三校正数据进行离散余弦变换，得到第三变换数据；将所述第三变换数据中的低频率分量数据置为指定数值，得到第四变换数据；根据所述第四变换数据进行离散余弦反变换，得到第六校正数据；
基于所述第六校正数据对应的时间数据，按照时间从前到后或者从后到前的顺序，对所述第六校正数据进行排序，得到排序后的第七校正数据；
根据所述第七校正数据进行离散余弦变换，得到第五变换数据；将所述第五变换数据中的高频率分量数据置为指定数值，得到第六变换数据；根据所述第六变换数据进行离散余弦反变换，得到所述第四校正数据。
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| US5659884A (en) * | 1995-02-10 | 1997-08-19 | Matsushita Communication Industrial Corp. Of America | System with automatic compensation for aging and temperature of a crystal oscillator |
| CN1535501A (zh) * | 2001-05-16 | 2004-10-06 | 对老化和温度进行自动补偿的基准振荡器 | |
| CN105580278A (zh) * | 2013-09-22 | 2016-05-11 | 瑞典爱立信有限公司 | Pll及pll中的自适应补偿方法 |
| US10148274B1 (en) * | 2018-06-06 | 2018-12-04 | Microsemi Semiconductor Ulc | Non-linear oven-controlled crystal oscillator compensation circuit |
-
2019
- 2019-05-24 CN CN201910441689.4A patent/CN110149116B/zh active Active
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| Title |
|---|
| A Study of Temperature Compensated Crystal Oscillator Based on Stress Processing;Wei Zhou;《2007 IEEE International Frequency Control Symposium Joint with the 21st European Frequency and Time Forum》;20071231;272-274 * |
| 晶体振荡器的补偿技术研究;张德山;《仪表技术》;20111231;12-14 * |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN110149116A (zh) | 2019-08-20 |
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