CN110134269B

CN110134269B - 通过环状触摸岛验证多指触摸检测的电子设备及相关方法

Info

Publication number: CN110134269B
Application number: CN201910012692.4A
Authority: CN
Inventors: M·庞纳拉萨
Original assignee: STMicroelectronics Asia Pacific Pte Ltd
Current assignee: STMicroelectronics Asia Pacific Pte Ltd
Priority date: 2018-02-09
Filing date: 2019-01-07
Publication date: 2023-03-28
Anticipated expiration: 2039-01-07
Also published as: CN110134269A; US10712883B2; US20190250731A1

Abstract

本文涉及通过环状触摸岛验证多指触摸检测的电子设备及相关方法，具体公开了一种可与触摸屏一起操作的触摸屏控制器。触摸屏控制器包括用于从触摸屏接收触摸数据的输入电路装置以及处理电路装置。处理电路装置从触摸屏获取互电容触摸强度值，确定互电容触摸强度值何时定义预先验证的环状触摸图案，并读取包含在预先验证的环状触摸图案的边界内的线的自电容触摸强度值。如果包含在预先验证的环状触摸图案的边界内的线的自电容触摸强度值包含单个峰值，则处理电路装置将预先验证的环状触摸图案验证为表示单个触摸。

Description

通过环状触摸岛验证多指触摸检测的电子设备及相关方法

技术领域

本公开涉及电子设备领域，并且更具体地，涉及装配有触摸屏的电子设备，该电子设备能够通过在获取的触摸强度值中定位环状岛状部来实现多个单点触摸检测的验证。

背景技术

触摸屏在当今的计算环境中很流行。便携式计算机、台式计算机、平板电脑、智能手机和智能手表可以采用触摸屏来获得用于这些设备的导航和控制的用户输入。因此，经由触摸输入识别用户的意图成为触摸屏设备的重要特征。

单个大手指的触摸对于传统的触摸感测技术来说可能是存在问题的。例如，在弱接地条件下，这种单个大手指触摸所检测到的触摸强度值轮廓可以如图1的图表所示，也就是说，其可以表现为相对较低幅度的触摸强度值的区域(参考符号A)被相对较高幅度的触摸强度值的区域(参考符号B)包围。在图1中，阈值触摸强度值140用于确定触摸强度值是“低”幅度还是“高”幅度。低于阈值触摸强度值140的强度值是由参考符号A所指示的较低幅度，而高于阈值触摸强度值140的强度值是由参考符号B所指示的较高幅度。

传统触摸感测技术通常支持多个触摸的检测。手指分离算法通常应用于每个触摸数据岛状部(如上所述，强度值具有高于特定阈值的幅度的互连节点的组)，以便确定和分析多个同时触摸。当将这种手指分离算法应用于诸如图1所示的触摸强度值时，有可能该数据将被错误地解释为小手指的多次触摸，而不是被正确地解释为单个大手指。

确认将单个大手指的触摸与由小手指进行的多个触摸区分开来并且防止大手指的触摸被手指分离算法错误地分离成多个同时触摸的方法的商业可取性，已经开发了用于检测大手指的单个触摸的技术。然而，虽然这些技术已经成功地将大手指的单次触摸与小手指的多次触摸区分开来，但是当大手指进行多次触摸时，尤其是沿着触摸屏的相同力或感测线时，它们面临挑战。大手指的这种多次触摸可能导致不希望的触摸分离、触摸中断、幻影触摸(ghost touch)或不希望的触摸合并。

因此，需要进一步发展不仅能够区分大手指的单次触摸与较小手指的多次触摸，而且还能够精确地确定大手指的多次触摸的触摸感测技术。

发明内容

本文公开了一种与触摸屏一同操作的触摸屏控制器。触摸屏控制器包括从触摸屏接收触摸数据的输入电路装置以及处理电路装置。处理电路装置从触摸屏获取互电容触摸强度值，确定互电容触摸强度值何时定义预先验证的环状触摸图案，以及读取包含在预先验证的环状触摸图案的边界内的线的自电容触摸强度值。如果包含在预先验证的环状触摸图案的边界内的线的自电容触摸强度值包含单个峰值，则处理电路装置将预先验证的环状触摸图案验证为表示单个触摸。

如果包含在预先验证的环状触摸图案的边界内的自电容触摸强度值包含多个峰值，则处理电路装置识别包含在预先验证的环状触摸图案的边界内的自电容触摸强度值中的波谷，将预先验证的环状触摸图案的边界分为由波谷彼此分离的两个候选环状触摸图案，并确定分别在两个候选环状触摸图案中的每个候选环状触摸图案上的互电容触摸强度值是否均定义新的预先验证的环状触摸图案。如果预先验证的环状触摸图案的边界内包含的自电容触摸强度值包含单个峰值，则处理电路装置将新的预先验证的环状触摸图案验证为代表单个触摸的新验证的环状触摸图案。

对于每个新验证的环状触摸图案，处理电路装置存储该新验证的环状触摸模式的边界。在下一帧中，在互电容感测模式下，处理电路装置从包含在新验证的环状触摸图案的边界内的触摸屏读取新的互电容触摸强度值。如果新的互电容触摸强度值不表示新的预先验证的环状触摸图案，则在自电容感测模式下，从包含在新验证的环状触摸图案的边界内的触摸屏读取新的自电容触摸强度值。如果包含在新验证的环状触摸图案的边界内的新的自电容触摸强度值包含单个峰值，则新的互电容触摸强度值被认为指示新验证的环状触摸图案。

对于每个验证的环状触摸图案，处理电路装置存储该验证的环状触摸图案的边界，并且在下一帧中，在互电容感测模式下，从包含在验证的环状触摸图案的边界内的触摸屏中读取新的互电容触摸强度值。如果新的互电容触摸强度值不表示新的预先验证的环状触摸图案，则处理电路装置在自电容感测模式下从包含在验证的环状触摸图案的边界内的触摸屏中读取新的自电容触摸强度值，并且如果包含在验证的环状触摸图案的边界内新的自电容触摸强度值包含单个峰值，则考虑新的互电容触摸强度值以指示验证的环状触摸图案。

处理电路装置从用于整个触摸屏的触摸屏读取新的互电容触摸强度值，并且如果新的互电容触摸强度值指示验证的环状触摸图案之外的触摸，则不考虑新的互电容触摸强度值，以指示验证的环状触摸图案，而不考虑包含在验证的环状触摸图案的边界内的那些新的自电容触摸强度值是否包含单个峰值。如果包含在预先验证的环状触摸图案的边界内的自电容触摸强度值仅包含单个峰值而不包含其他峰值，则处理电路装置将预先验证的环状触摸图案验证为表示单个触摸的验证的环状触摸图案。

通过定位幅度显著大于它们的邻接部的幅度的自电容触摸强度值，处理电路装置确定包含在预先验证的环状触摸图案的边界内的自电容触摸强度值是否包含单个峰值，或者包含在预先验证的环状触摸图案的边界内的自电容触摸强度值是否包含多个峰值。

处理电路装置通过将由较低互电容触摸强度值组成的触摸岛状部定位在相邻较高互电容触摸强度值内来确定互电容触摸强度值是否定义预先验证的环状图案，并且通过确定在较低互电容触摸强度值的边界的角落处的每个互电容触摸强度值具有幅度显著更大的水平邻接部和垂直邻接部来预先验证触摸岛状部，以表示预先验证的环状图案。

本文还公开了方法方面。这样的一种方法包括，在互电容感测模式下，从触摸屏读取互电容触摸强度值，并确定互电容触摸强度值何时定义预先验证的环状触摸模式。该方法还包括在自电容感测模式下，从包含在预先验证的环状触摸图案的边界内的触摸屏读取自电容触摸强度值。如果包含在预先验证的环状触摸图案的边界内的自电容触摸强度值包含单个峰值，则将预先验证的环状触摸图案验证为表示单个触摸的验证的环状触摸图案。

附图说明

图1是示出通过大手指的单个触摸对触摸屏设备的触摸强度轮廓的示图。

图2是根据本公开的触摸屏设备的框图。

图3A和图3B是根据本公开的操作图2的触摸屏设备的方法的流程图。

图4是示出根据本公开的通过大手指的单个触摸对触摸屏设备的互电容和自电容触摸强度轮廓的示图。

图5是示出根据本公开的以间隔开的方式由多个大手指的触摸对触摸屏设备的互电容和自电容触摸强度轮廓的示图。

图6是根据本公开的在图4所示的单个触摸之后示出多个大手指的触摸以紧密方式对触摸屏幕设备的互电容和自电容触摸强度轮廓的示图。

具体实施方式

提出以下讨论以使本领域技术人员能够制造和使用本文公开的主题。在不脱离详细描述的精神和范围的情况下，本文描述的一般原理可应用于除上述那些实施例和应用之外的实施例和应用。本公开并不旨在限于所示的实施例，而是要符合与本文公开或建议的原理和特征相一致的最宽范围。

图2是根据本文公开的实施例的触摸屏设备100的功能框图。触摸屏设备100可以是智能电话、平板电脑、便携式计算机、智能手表、可穿戴设备或其他设备。触摸屏设备100包括与触摸控制器120耦合的触觉输入表面，诸如触摸屏显示器110。触摸屏显示器110被设计为通过用户的手指或触针从用户接收触摸输入。触摸屏显示器110包括触摸屏传感器115，触摸屏传感器115被配置为检测对触摸屏显示器110的触摸(或其他输入动作，诸如悬停或手势运动)。当触摸被感测时，触摸屏控制器120可接收来自传感器115的触摸信号并分析触摸信号。这种分析产生所接收触摸的坐标。然后，芯片上系统(SOC)130可以使用这些坐标来操纵关于在触摸屏设备100上执行的应用和程序的操作。

应注意，相同的传感器115能够用于自电容感测和互电容感测，因此输入电路装置122和处理电路装置124类似地能够以自电容感测和互感测模式操作。

作为电容传感器，传感器115通常由形成在触摸屏110的表面上或集成为触摸屏110的一部分的透明图案化正交导线(未示出，但本领域技术人员已知)形成为传感器阵列。导线的交叉点(例如，在导线的列和行之间)形成各个触摸传感器115，并且触摸屏控制器120扫描这些感测点并处理生成的信号以识别触摸点的位置和类型。因此，触摸屏显示器110可以被认为是具有XY坐标的触摸地图，其中基于对触摸屏显示器110的一个或多个触摸，可以生成可能触摸信息的多个触摸区域(由XY坐标的集合来定义)。以上生成的坐标是识别触摸屏110上的触摸位置的XY坐标。

在互电容感测模式中，强制信号被施加给导线的一个子集(称为力线)，并且在导线的互补子集(称为感测线)处测量电容值。由于将手指或导电触针带到传感器表面附近改变了局部电场，这使得互电容减小，并且可以测量网格上每个单独点的电容变化，以通过测量另一轴上的电压来精确地确定触摸位置。因此，互电容感测的输出是二维矩阵的值，其中一个值针对导线之间的每个交叉点。图1是触摸传感器的一小部分的互电容感测数据的矩阵的示例。因此，可以理解，互电容感测允许多点触摸操作，其中多个手指、手掌或触针可以同时被精确跟踪。

在自电容感测模式下，强制信号被施加给所有导线，并且在每条导线处测量电容值。将手指或导电触针置于传感器表面附近的操作改变了局部电场，在这种情况下增加自电容(导线与地之间的电容)。这导致比互电容感测更强的感测信号。然而，由于所有线都被驱动，所以电容变化只能在每条导线上测量。因此，互电容感测的输出是值的阵列(或者值的奇数列和奇数行)，每个值针对每条单独的导线。因此，可以理解，自电容感测允许更精确的触摸测量，但是只能精确地解决单个手指的触摸，并且多次触摸导致幻影或错位的位置感测。

由于互电容感测和自电容感测提供的互补优势，希望在单个设备中同时使用互电容感测和自电容感测，用自电容感测模式的输出用于验证互电容感测模式的输出。

首先参考图3A和图3B的流程图200，现在描述触摸屏控制器(TSC)120在互电容和自电容感测模式下的操作。首先，TSC 120以互电容感测模式从触摸屏110读取互触摸强度值(框202)。这通过感测导电行和列的每个交叉点的电容以及将这些电容转换为强度值来执行。这些强度值被收集在帧中。

在图4中可以看到数据帧中的采样值，其中示出了互电容触摸感测数据300的矩阵；应注意，行302A和列302B不是矩阵300的一部分，并且不包含互电容触摸感测数据。

在获取之后，通过定位至少部分地被连续的较高幅度触摸强度值(图4，参考符号D)包围的较低绝对互触摸强度值(图4，参考符号C)的一个或多个触摸岛状部来搜索互触摸强度值的潜在“环状”(图4中示为区域B1)(框204)。阈值触摸强度值用于区分触摸强度值是“低”幅度还是“高”幅度。低于阈值触摸强度值的强度值是较低幅度(在图4中，由参考符号C表示，包含区域B1内彼此相邻的具有小于阈值100的值的所有点)，而高于阈值触摸强度的强度值是较高幅度(在图4中，由参考符号D表示，包含具有大于阈值的值的所有相邻点)。

当定位潜在环状时，则在较低互触摸强度值(图4中的参考符号C)的区域的每个角落处识别互触摸强度值，以确定那些角落是否每个均具有强度值显著更大的水平和垂直邻接部(框206)，或者大于给定阈值。如果所有角落都不具有值显著更大的水平和垂直邻接部，则环状没有被验证(框201)。然而，如果所有角落均具有值显著更大的水平和垂直邻接部，则环状被预先验证(框208)。

这种预先验证的环状可以看作在图4所示的矩形区域B1内。预先验证的环状(诸如区域B1)包括所有点而不论其值如何，它们包括在较低互触摸强度值(参考符号C)的触摸岛状部内或者包括在具有较高互触摸强度值(参考符号D)的触摸岛状部内，并且包括在关于较高互触摸强度值的最外构件绘制的矩形内。

在该示例中，互触摸强度值占据28x16的二维矩阵300。在矩形区域内，可以观察到，包含65、65、3以及1和86(参考符号C)的较低互触摸强度值的岛状部被显著更大触摸值(参考符号D)的岛状部所包括。检查角落(其中65、65、3以及1和86是区域C的每个角落)，可以观察到这些角落中的每个角落的水平和垂直邻接部都在阈值100以上。因此，图4中的环状的预先验证是适当的。

接下来，TSC 120以自电容感测模式从触摸屏110读取自触摸强度值(框210)。可以在图4的行302A和列302B中看到自触摸强度值。在一些情况下，TSC 120只读取与代表预先验证的环状的区域B1内包括的导线相对应的那些自触摸强度值，尽管但在其他情况下，TSC120读取所有的自触摸强度值。

然后，检查读取的自触摸强度值，以确定与表示预先验证的环状(图4的B1)的区域内的线相对应的那些自触摸强度值是否在列中包含单个峰值以及在行中包括单个峰值(框212)。图4中感兴趣的自触摸强度值(即，与区域B1的行和列相对应的那些值)可以在图4的列E和行F中看到。列中的单个波峰由参考符号E1标识，并且行中的奇波峰由参考符号F1标识。

应当理解，“峰值”并不仅仅意味着单个最高的自触摸强度值，因为可能存在多个峰值(具有不相等的自触摸强度值)。相反，使用诸如沟槽分析的技术来确定峰值。

如果TSC 120确定表示预先验证的环状的区域内的自触摸强度值仅包含单个峰值，则预先验证的环状触摸图案被验证为代表大手指的单次触摸的环状触摸图案(框214)。再次参考图4，可以从自触摸强度值观察到，在表示预先验证的环状触摸图案的区域(示为参考符号B1)内，列E中存在但只有一个峰值E1(在强度值744处)，并且在行F中存在但只有一个峰值F1(在强度值974处)。因此，将图4的环状验证为代表大手指的单次触摸是适当的。

对于包含验证的环状触摸图案的每个区域，无论位于框214还是框224(将在下文描述)，存储该区域的边界(框226)。如上所解释的，在图4中示出样本验证的环状B1。

然后，在下一感测帧中，通过TSC 120在互电容感测模式下从触摸屏110获得新的相互触摸强度值(框228)。图5中示出了继图4之后获得的触摸数据的帧。这里，来自图4的区域B1的边界已经被存储并且用虚线表示，并且可以看到该区域内的互触摸强度值。此外，这里可以注意，另一手指同时触摸该触摸屏，如区域B1右侧的区域B2所示。

如果新的互触摸强度值指示来自前一帧的触摸已经移动到表示先前验证的环状触摸图案的区域的边界外(框230)，则擦除边界(框240)。然而，如果新的互触摸强度值指示对先前帧的预先验证的环状触摸图案的区域的边界内的当前帧的触摸，则确定新读取的互触摸强度值是否表示新验证的环状触摸图案(框232)，这如上所述在框220中执行。从图5可以看到，左边的触摸保持在区域的存储边界内(参考符号B1)。

如果发现新读取的互触摸强度值表示新验证的环状触摸图案(图5的区域B1中不是这种情况，因为它缺少低于阈值100的互触摸强度值的区域被高于阈值100的更高互触摸强度值的区域围绕)，则新的互触摸强度值被认为指示区域B1中的先前验证的环状触摸图案(框232)，并且其坐标被认为与先前验证的环状触摸图案的坐标相同(框238)。

然而，如果未发现新读取的互触摸强度值表示新验证的环状触摸图案，则获取先前验证的环状触摸图案的区域B1的边界内的新自触摸强度值(框234)，并进行检查以确定它们是否包含单个峰值(框236)。如果发现先前验证的环状触摸图案的区域B1的边界内的新自触摸强度值包含单个峰值，则认为先前验证的环状触摸图案的区域的边界内的新互触摸强度值指示该区域中的先前验证的环状触摸图案(框238)，并且其坐标被认为与先前验证的环状触摸图案的坐标相同。这是图5中所示的情况，其中，在存储区域B1的边界内的互触摸强度值不表示预先验证的环状(因为它们不形成低于阈值100的互触摸强度值的区域被高于阈值100的更高的互触摸强度值的区域包围)，而是看起来指示两个触摸岛状部T1和T2，但是自触摸强度值只包含列G中的单个峰值G1(值1128)和行H中的单个峰值H1(值583)。因此，新值所表示的触摸被认为是与导致区域B1的边界被存储的触摸相同的触摸，并且触摸坐标类似地被认为相同并且合并为触摸坐标的单个集合。

然而，如果发现先前验证的环状触摸图案的区域B1的边界内的新自触摸强度值包含多个峰值，则擦除先前验证的环状触摸图案的区域B1的边界(框240)。

返回到框212处对预先验证的环状触摸图案的区域B1内的自触摸强度值是否包含单个峰值的确定，如果TSC 120确定预先验证的环状的区域B1内的自触摸强度值包含多个峰值，则定位预先验证的环状触摸图案的区域内的波谷(框216)，并且用于将预先验证的环状分割成由波谷彼此分离的两个候选环状触摸图案(框218)。波谷可以沿着水平或垂直线。

图6所示为用于该场景的样本互电容值和自电容值的数据的帧。从区域(参考符号B3)中可以看到，互触摸强度值包括低强度值的岛状部，其被连续的显著更高的强度值的岛状部所包围。

然而，考虑自触摸强度值(列O和行Q中)，可以看到，虽然在行Q中存在但只有一个峰值Q1(在值2067处)，但是在列O中有两个峰值O1、O2(一个在值545处，一个在值671处)。因此，沿着行中的水平轴绘制波谷(参考符号N)，从互触摸强度0开始，将区域B3分成两个候选环状触摸图案M和L。选择此位置作为波谷(参考符号N)是因为：如所观察到的，该行中的互触摸强度值总体上低于其多个邻接部的互触摸强度值。

然后，如以上在框206和208中所述，针对预先验证条件检查每一个候选环状触摸图案M和L(框220)。即，检查每个候选环状触摸图案M和L，以查看其每个角落的互触摸强度值是否具有值显著更大的水平和垂直邻接部，如果具有，则被预先验证。如果没有，则候选环状触摸模式M或L不被预先验证为环状(框201)。

再次参考图6，可以看到波谷N已经将互触摸强度值分为两个独立的区域M和L。在上部区域M中，可以看到具有低互触摸强度值R(在值188处)的岛状部被较大强度值(高于阈值100)的岛状部S包围，并且这些较低值(低于阈值100)具有高于阈值的水平和垂直邻接部。在下部区域L中，可以看到存在低互触摸强度值T(在值109和89处)的岛状部被超过阈值100的更大强度值的岛状部U包围。

对于预先验证为环状的每个候选环状触摸图案，读取定义每个预先验证的环状的区域(或整个触摸屏)内的自触摸强度值，并且确定它们是否仅包含单个峰值(框222)。然后，将包含单个峰值的每个预先验证的环状验证为代表大手指的单次触摸的环状触摸图案(框224)。从图6可以看出，在上部M和下部L区域中，对于上部区域M，在列O中存在但只有一个自触摸强度峰值O1(在值545处)，并且对于下部区域L，在列O中存在但只有一个自触摸强度峰值O1(在值671处)，并且对于下部区域L和上部区域M二者来说，在行Q中存在但只有一个自触摸强度峰值Q1(在值2067处)。

应当理解，上述技术不仅提供了在不太理想的条件下的单个大手指的触摸的检测和识别，而且还提供了多个大手指的触摸的检测和识别，同时避免了现有技术的缺点。

虽然本文讨论的主题容易受到各种修改和替代构造的影响，但是附图中示出了其特定所示实施例，并且已经在上面进行了详细描述。然而，应当理解，没有意图将权利要求限于所公开的具体形式，而是相反，意图是覆盖落在权利要求的精神和范围内的所有修改、替代结构和等同。

Claims

1.一种与触摸屏一同操作的触摸屏控制器，所述触摸屏控制器包括：

输入电路装置，被配置为从所述触摸屏接收触摸数据；

处理电路装置，被配置为：

从所述触摸屏获取互电容触摸强度值；

确定所述互电容触摸强度值何时定义预先验证的环状触摸图案；

读取包含在所述预先验证的环状触摸图案的边界内的线的自电容触摸强度值；

如果包含在所述预先验证的环状触摸图案的边界内的线的所述自电容触摸强度值包含单个峰值，则将所述预先验证的环状触摸图案验证为表示单个触摸；以及

如果包含在所述预先验证的环状触摸图案的边界内的所述自电容触摸强度值包含多个峰值，则执行以下步骤：

识别包含在所述预先验证的环状触摸图案的边界内的所述自电容触摸强度值中的波谷；

将所述预先验证的环状触摸图案的边界分为由所述波谷彼此分离的两个候选环状触摸图案；

确定分别在所述两个候选环状触摸图案中的每个候选环状触摸图案上的所述互电容触摸强度值是否均定义新的预先验证的环状触摸图案；并且

如果所述预先验证的环状触摸图案的边界内包含的所述自电容触摸强度值包含单个峰值，则将所述新的预先验证的环状触摸图案验证为代表单个触摸的新验证的环状触摸图案。

2.根据权利要求1所述的触摸屏控制器，其中所述处理电路装置进一步被配置为针对每个新验证的环状触摸图案：

存储该新验证的环状触摸图案的边界；

在下一帧中，在互电容感测模式下，从所述触摸屏读取包含在所述新验证的环状触摸图案的边界内的新的互电容触摸强度值；

如果所述新的互电容触摸强度值不表示新的预先验证的环状触摸图案，则执行以下步骤：

在自电容感测模式下，从所述触摸屏读取包含在所述新验证的环状触摸图案的边界内的新的自电容触摸强度值；

如果包含在所述新验证的环状触摸图案的边界内的所述新的自电容触摸强度值包含单个峰值，则考虑所述新的互电容触摸强度值以指示所述新验证的环状触摸图案。

3.根据权利要求1所述的触摸屏控制器，其中所述处理电路装置进一步被配置为针对每个验证的环状触摸图案：

存储该验证的环状触摸图案的边界；

在下一帧中，在互电容感测模式下，从所述触摸屏读取包含在所述验证的环状触摸图案的边界内的新的互电容触摸强度值；

在自电容感测模式下，从所述触摸屏读取包含在所述验证的环状触摸图案的边界内的新的自电容触摸强度值；

如果包含在所述验证的环状触摸图案的边界内的所述新的自电容触摸强度值包含单个峰值，则考虑所述新的互电容触摸强度值以指示所述验证的环状触摸图案。

4.根据权利要求3所述的触摸屏控制器，其中所述处理电路装置进一步被配置为：从所述触摸屏读取用于整个触摸屏的新的互电容触摸强度值，并且如果所述新的互电容触摸强度值指示所述验证的环状触摸图案之外的触摸，则不考虑所述新的互电容触摸强度值来指示所述验证的环状触摸图案，而不论包含在所述验证的环状触摸图案的边界内的所述新的自电容触摸强度值是否包含单个峰值。

5.根据权利要求1所述的触摸屏控制器，其中所述处理电路装置被配置为：如果包含在所述预先验证的环状触摸图案的边界内的所述自电容触摸强度值仅包含单个峰值且不包含其他峰值，则将所述预先验证的环状触摸图案验证为表示单个触摸的验证的环状触摸图案。

6.根据权利要求1所述的触摸屏控制器，其中通过定位幅度显著大于其邻接部的自电容触摸强度值，所述处理电路装置确定包含在所述预先验证的环状触摸图案的边界内的所述自电容触摸强度值是否包含单个峰值，或者包含在所述预先验证的环状触摸图案的边界内的所述自电容触摸强度值是否包含多个峰值。

7.根据权利要求1所述的触摸屏控制器，其中所述处理电路装置通过以下步骤确定所述互电容触摸强度值是否定义预先验证的环状图案：

将由较低互电容触摸强度值组成的触摸岛状部定位在相邻较高互电容触摸强度值内；以及

通过确定在所述较低互电容触摸强度值的边界的角落处的每个互电容触摸强度值具有幅度显著更大的水平邻接部和垂直邻接部来预先验证所述触摸岛状部以表示预先验证的环状图案。

8.一种用于触摸屏控制的方法，包括：

在互电容感测模式下，从触摸屏读取互电容触摸强度值；

在自电容感测模式下，从所述触摸屏读取包含在所述预先验证的环状触摸图案的边界内的自电容触摸强度值；

如果包含在所述预先验证的环状触摸图案的边界内的所述自电容触摸强度值包含单个峰值，则将所述预先验证的环状触摸图案验证为表示单个触摸的验证的环状触摸图案；

9.根据权利要求8所述的方法，其中对于每个新验证的环状触摸图案，所述方法包括：

存储该新验证的环状触摸图案的边界；

10.根据权利要求8所述的方法，其中对于每个验证的环状触摸图案，所述方法包括：

存储该验证的环状触摸图案的边界；

11.根据权利要求10所述的方法，其中如果所述新的互电容触摸强度值指示所述验证的环状触摸图案之外的触摸，则不考虑所述新的互电容触摸强度值以指示所述验证的环状触摸图案，而不论包含在所述验证的环状触摸图案的边界内的所述新的自电容触摸强度值是否包含单个峰值。

12.根据权利要求8所述的方法，其中如果包含在所述预先验证的环状触摸图案的边界内的所述自电容触摸强度值仅包含单个峰值且不包含其他峰值，则所述方法包括：将所述预先验证的环状触摸图案验证为表示单个触摸的验证的环状触摸图案。

13.根据权利要求8所述的方法，其中通过定位幅度显著大于其邻接部的自电容触摸强度值，所述方法确定包含在所述预先验证的环状触摸图案的边界内的所述自电容触摸强度值是否包含单个峰值，或者包含在所述预先验证的环状触摸图案的边界内的所述自电容触摸强度值是否包含多个峰值。

14.根据权利要求8所述的方法，其中所述方法通过以下步骤确定所述互电容触摸强度值是否定义预先验证的环状图案：

将由较低互电容触摸强度值组成的触摸岛状部定位在相邻较高互电容触摸强度值内，其中所述较低互电容触摸强度值低于给定阈值，并且所述较高互电容触摸强度值高于所述给定阈值；以及

通过确定在所述较低互电容触摸强度值的边界的角落处的每个互电容触摸强度值具有均高于所述给定阈值的水平邻接部和垂直邻接部来预先验证所述触摸岛状部以表示预先验证的环状图案。