CN110118783A - 一种芯片外观检测装置 - Google Patents

一种芯片外观检测装置 Download PDF

Info

Publication number
CN110118783A
CN110118783A CN201910415835.6A CN201910415835A CN110118783A CN 110118783 A CN110118783 A CN 110118783A CN 201910415835 A CN201910415835 A CN 201910415835A CN 110118783 A CN110118783 A CN 110118783A
Authority
CN
China
Prior art keywords
support frame
fixed
inspection device
appearance inspection
camera
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201910415835.6A
Other languages
English (en)
Inventor
陈力
游诗勇
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujian Fushun Semiconductor Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Fujian Fushun Semiconductor Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujian Fushun Semiconductor Manufacturing Co Ltd filed Critical Fujian Fushun Semiconductor Manufacturing Co Ltd
Priority to CN201910415835.6A priority Critical patent/CN110118783A/zh
Publication of CN110118783A publication Critical patent/CN110118783A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/956—Inspecting patterns on the surface of objects
    • G01N21/95607—Inspecting patterns on the surface of objects using a comparative method
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/956—Inspecting patterns on the surface of objects
    • G01N21/95607—Inspecting patterns on the surface of objects using a comparative method
    • G01N2021/95615—Inspecting patterns on the surface of objects using a comparative method with stored comparision signal
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/02—Mechanical
    • G01N2201/021—Special mounting in general

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

本发明提供一种芯片外观检测装置。所述芯片外观检测装置包括：底板，固定座，固定座的底部固定于所述底板的顶部的左侧；支撑框，支撑框的底部固定于所述固定座的顶部；升降机构，升降机构设置于所述支撑框上，升降机构包括螺纹杆、螺纹筒、传动齿轮、转动齿轮和两个滑动块，螺纹杆的一端转动于所述支撑框的内壁的一侧，螺纹筒的内部螺纹于所述螺纹杆的表面，螺纹筒的一侧贯穿所述支撑框且延伸至所述支撑框的外部。本发明提供的芯片外观检测装置，可根据实际使用情况调节摄像头的使用角度，满足不同的环境使用，同时能够使摄像头在工作时保持稳定，且便于对摄像头进行安装和拆卸，操作简单实用，并且方便对摄像头进行维修更换。

Description

一种芯片外观检测装置
技术领域
本发明涉及芯片检测领域，尤其涉及一种芯片外观检测装置。
背景技术
芯片，又称微电路，是指内含集成电路的硅片，体积很小，常常是计算机或其他电子设备的一部分，芯片在电子学中是一种把电路(主要包括半导体设备，也包括被动组件等)小型化的方式，并通常制造在半导体晶圆表面上，前述将电路制造在半导体芯片表面上的集成电路又称薄膜集成电路，另有一种厚膜混成集成电路是由独立半导体设备和被动组件，集成到衬底或线路板所构成的小型化电路。
现有的芯片外观检测装置，不便于调节摄像头的使用位置，且不便于对摄像头进行拆装。
因此，有必要提供一种芯片外观检测装置解决上述技术问题。
发明内容
本发明提供一种芯片外观检测装置，解决了现有的芯片外观检测装置，不便于调节摄像头的使用位置，且不便于对摄像头进行拆装的问题。
为解决上述技术问题，本发明提供的芯片外观检测装置包括：底板，固定座，所述固定座的底部固定于所述底板的顶部的左侧；支撑框，所述支撑框的底部固定于所述固定座的顶部；升降机构，所述升降机构设置于所述支撑框上，所述升降机构包括螺纹杆、螺纹筒、传动齿轮、转动齿轮和两个滑动块，所述螺纹杆的一端转动于所述支撑框的内壁的一侧，所述螺纹筒的内部螺纹于所述螺纹杆的表面，所述螺纹筒的一侧贯穿所述支撑框且延伸至所述支撑框的外部；安装框，所述安装框的一侧固定于所述螺纹筒的一侧；摄像头，所述摄像头设置于所述安装框上；检测组件，所述检测组件的底部设置于所述底板的顶部的右侧；显示器，所述显示器的顶部设置于所述检测组件的顶部。
优选的，所述传动齿轮的轴心处固定于所述螺纹杆的表面，所述转动齿轮的轴心处通过支架固定于所述支撑框的顶部的一侧，所述转动齿轮的底部贯穿所述支撑框且延伸至所述支撑框的内部，所述转动齿轮的底部与所述传动齿轮的顶部啮合，两个所述滑动块相对的一侧分别固定于所述螺纹筒的顶部的一侧和底部的一侧，两个所述滑动块相离的一侧分别与所述支撑框的内壁的顶部和内壁的底部滑动连接，所述支撑框的顶部的一侧设置有与所述转动齿轮配合使用的卡紧机构。
优选的，所述安装框的内壁的顶部设置于所述摄像头配合使用的固定机构，所述固定机构包括两个伸缩杆、固定块、两个第一连接块、两个第二连接块、第一弹簧和两个连杆，两个所述伸缩杆的顶端分别固定于所述安装框的内壁的顶部的两侧，所述固定块的顶部的两侧分别固定于两个所述伸缩杆的底端。
优选的，两个所述第一连接块的顶部分别固定于所述安装框的内壁的顶部的两侧且位于两个所述伸缩杆相对的一侧之间，两个所述第二连接块的底部分别滑动于所述固定块的顶部的两侧，所述第一弹簧设置于两个所述第二连接块相对的一侧之间，两个所述连杆的顶端分别转动于两个所述第一连接块的底部，两个所述连杆的底端分别与两个所述第二连接块的顶部转动连接。
优选的，所述卡紧机构包括稳定板、卡杆、移动板、第二弹簧和拉柄，所述稳定板的底部固定于所述支撑框的顶部，所述卡杆的表面贯穿于所述稳定板，所述卡杆的一端贯穿所述转动齿轮且延伸至所述转动齿轮的一侧。
优选的，所述移动板的内部固定于所述卡杆的表面，所述移动板的底部与所述支撑框的顶部滑动连接，所述第二弹簧设置于所述移动板的一侧与所述稳定板相对的一侧之间且位于所述卡杆的表面。
优选的，所述摄像头的输出端与所述检测组件的输入端连接，所述检测组件的输出端与所述显示器的输出端连接。
优选的，所述检测组件包括图像处理单元、处理器和对比单元，所述对比单元包括检测单元和分析单元，所述检测单元用于检测芯片上文字的清晰度、引线位置和引线长度，所述分析单元用于分析检测单元所检测出的数据，将该数据与合格产品数据进行对比，而后将对比数据发送至显示器。
优选的，所述底板的底部设置有安装机构，所述安装机构包括两个安装块和两个安装孔，两个所述安装块的顶部分别固定于所述底板的底部的两侧，两个所述安装孔分别开设于两个所述安装块上。
与相关技术相比较，本发明提供的芯片外观检测装置具有如下有益效果：
本发明提供一种芯片外观检测装置，通过拉柄拉动卡杆，使卡杆远离转动齿轮，转动转动齿轮，转动齿轮带动传动齿轮转动，传动齿轮带动螺纹杆转动，螺纹杆带动螺纹筒移动，螺纹筒带动安装框移动，安装框带动摄像头移动，调节摄像头的使用位置，可根据实际使用情况进行调节，满足不同的环境使用，调节后松开拉柄，通过第二弹簧的弹力挤压移动板，移动板带动卡杆移动，使卡杆的一端插入至转动齿轮上的卡槽内，使转动齿轮保持稳定，在使用时通过第一弹簧的弹力挤压第二连接块，第二连接块挤压固定块，固定块挤压摄像头，能够使摄像头在工作时保持稳定，同时便于对摄像头进行安装和拆卸，操作简单实用，且方便对摄像头进行维修更换。
附图说明
图1为本发明提供的芯片外观检测装置的一种较佳实施例的结构示意图；
图2为图1所示的A部放大示意图；
图3为图1所示的B部放大示意图；
图4为本发明提供的系统原理图。
图中标号：1、底板，2、固定座，3、支撑框，4、升降机构，41、螺纹杆，42、螺纹筒，43、传动齿轮，44、转动齿轮，45、滑动块，5、安装框，6、摄像头，7、固定机构，71、伸缩杆，72、固定块，73、第一连接块，74、第二连接块，75、第一弹簧，76、连杆，8、检测组件，9、显示器，10、卡紧机构，101、稳定板，102、卡杆，103、移动板，104、第二弹簧，105、拉柄，11、安装机构，111、安装块，112、安装孔。
具体实施方式
下面结合附图和实施方式对本发明作进一步说明。
请结合参阅图1、图2、图3和图4，其中，图1为本发明提供的芯片外观检测装置的一种较佳实施例的结构示意图；图2为图1所示的A部放大示意图；图3为图1所示的B部放大示意图；图4为本发明提供的系统原理图。芯片外观检测装置包括：底板1，固定座2，所述固定座2的底部固定于所述底板1的顶部的左侧；支撑框3，所述支撑框3的底部固定于所述固定座2的顶部；升降机构4，所述升降机构4设置于所述支撑框3上，所述升降机构4包括螺纹杆41、螺纹筒42、传动齿轮43、转动齿轮44和两个滑动块45，所述螺纹杆41的一端转动于所述支撑框3的内壁的一侧，所述螺纹筒42的内部螺纹于所述螺纹杆41的表面，螺纹筒42的内部设置有与螺纹杆41配合使用的螺纹，所述螺纹筒42的一侧贯穿所述支撑框3且延伸至所述支撑框3的外部；安装框5，所述安装框5的一侧固定于所述螺纹筒42的一侧；摄像头6，所述摄像头6设置于所述安装框5上；检测组件8，所述检测组件8的底部设置于所述底板1的顶部的右侧；显示器9，所述显示器9的顶部设置于所述检测组件8的顶部。
所述传动齿轮43的轴心处固定于所述螺纹杆41的表面，所述转动齿轮44的轴心处通过支架固定于所述支撑框3的顶部的一侧，所述转动齿轮44的底部贯穿所述支撑框3且延伸至所述支撑框3的内部，所述转动齿轮44的底部与所述传动齿轮43的顶部啮合，两个所述滑动块45相对的一侧分别固定于所述螺纹筒42的顶部的一侧和底部的一侧，两个所述滑动块45相离的一侧分别与所述支撑框3的内壁的顶部和内壁的底部滑动连接，所述支撑框3的顶部的一侧设置有与所述转动齿轮44配合使用的卡紧机构10。
所述安装框5的内壁的顶部设置于所述摄像头6配合使用的固定机构7，所述固定机构7包括两个伸缩杆71、固定块72、两个第一连接块73、两个第二连接块74、第一弹簧75和两个连杆76，两个所述伸缩杆71的顶端分别固定于所述安装框5的内壁的顶部的两侧，所述固定块72的顶部的两侧分别固定于两个所述伸缩杆71的底端，两个伸缩杆71用于支撑固定块72，提高固定块72的稳定性。
两个所述第一连接块73的顶部分别固定于所述安装框5的内壁的顶部的两侧且位于两个所述伸缩杆71相对的一侧之间，两个所述第二连接块74的底部分别滑动于所述固定块72的顶部的两侧，所述第一弹簧75设置于两个所述第二连接块74相对的一侧之间，两个所述连杆76的顶端分别转动于两个所述第一连接块73的底部，两个所述连杆76的底端分别与两个所述第二连接块74的顶部转动连接。
所述卡紧机构10包括稳定板101、卡杆102、移动板103、第二弹簧104和拉柄105，所述稳定板101的底部固定于所述支撑框3的顶部，所述卡杆102的表面贯穿于所述稳定板101，所述卡杆102的一端贯穿所述转动齿轮44且延伸至所述转动齿轮44的一侧，转动齿轮44上开设有与卡杆102配合使用的卡槽，且卡槽的数量为多个，并且呈等间距分布。
所述移动板103的内部固定于所述卡杆102的表面，所述移动板103的底部与所述支撑框3的顶部滑动连接，所述第二弹簧104设置于所述移动板103的一侧与所述稳定板101相对的一侧之间且位于所述卡杆102的表面。
所述摄像头6的输出端与所述检测组件8的输入端连接，所述检测组件8的输出端与所述显示器9的输出端连接。
所述检测组件8包括图像处理单元、处理器和对比单元，所述对比单元包括检测单元和分析单元，所述检测单元用于检测芯片上文字的清晰度、引线位置和引线长度，所述分析单元用于分析检测单元所检测出的数据，将该数据与合格产品数据进行对比，而后将对比数据发送至显示器9，在使用前，在对比单元内输入产品文字的清晰度、引线位置和引线长度的合格区间，图像处理单元用于对照片的灰度等进行处理，处理器的型号为ARM9，显示器9的型号为FT-M2200。
所述底板1的底部设置有安装机构11，所述安装机构11包括两个安装块111和两个安装孔112，两个所述安装块111的顶部分别固定于所述底板1的底部的两侧，两个所述安装孔112分别开设于两个所述安装块111上，通过安装块111和安装孔112能够将装置安装在指定位置。
本发明提供的芯片外观检测装置的工作原理如下：
使用前，可通过拉柄105拉动卡杆102，使卡杆102远离转动齿轮44，转动转动齿轮44，转动齿轮44带动传动齿轮43转动，传动齿轮43带动螺纹杆41转动，螺纹杆41带动螺纹筒42移动，螺纹筒42带动安装框5移动，安装框5带动摄像头6移动，调节摄像头6的使用位置，调节后松开拉柄105，通过第二弹簧104的弹力挤压移动板103，移动板103带动卡杆102移动，使卡杆102的一端插入至转动齿轮44上的卡槽内，使转动齿轮44保持稳定，在使用时通过第一弹簧75的弹力挤压第二连接块74，第二连接块74挤压固定块72，固定块72挤压摄像头6，能够使摄像头6在工作时保持稳定，同时便于对摄像头6进行安装和拆卸，在对芯片检测时，摄像头6对待检测芯片进行拍照，将拍摄的照片传输至图像处理单元内，通过图像处理单元对照片的灰度等进行处理，将处理后的照片传输至处理器内，处理器将处理后的照片传输中对比单元中，对比单元内的检测单元检测芯片上文字的清晰度、引线位置和引线长度，再该检测检测出的数据，与合格产品数据进行对比，同时将对比数据传输至显示器9，供工作人员观察。
与相关技术相比较，本发明提供的芯片外观检测装置有如下有益效果：
通过拉柄105拉动卡杆102，使卡杆102远离转动齿轮44，转动转动齿轮44，转动齿轮44带动传动齿轮43转动，传动齿轮43带动螺纹杆41转动，螺纹杆41带动螺纹筒42移动，螺纹筒42带动安装框5移动，安装框5带动摄像头6移动，调节摄像头6的使用位置，可根据实际使用情况进行调节，满足不同的环境使用，调节后松开拉柄105，通过第二弹簧104的弹力挤压移动板103，移动板103带动卡杆102移动，使卡杆102的一端插入至转动齿轮44上的卡槽内，使转动齿轮44保持稳定，在使用时通过第一弹簧75的弹力挤压第二连接块74，第二连接块74挤压固定块72，固定块72挤压摄像头6，能够使摄像头6在工作时保持稳定，同时便于对摄像头6进行安装和拆卸，操作简单实用，且方便对摄像头6进行维修更换。
以上所述仅为本发明的实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其它相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (9)

1.一种芯片外观检测装置，其特征在于，包括：
底板，
固定座，所述固定座的底部固定于所述底板的顶部的左侧；
支撑框，所述支撑框的底部固定于所述固定座的顶部；
升降机构，所述升降机构设置于所述支撑框上，所述升降机构包括螺纹杆、螺纹筒、传动齿轮、转动齿轮和两个滑动块，所述螺纹杆的一端转动于所述支撑框的内壁的一侧，所述螺纹筒的内部螺纹于所述螺纹杆的表面，所述螺纹筒的一侧贯穿所述支撑框且延伸至所述支撑框的外部；
安装框，所述安装框的一侧固定于所述螺纹筒的一侧；
摄像头，所述摄像头设置于所述安装框上；
检测组件，所述检测组件的底部设置于所述底板的顶部的右侧；
显示器，所述显示器的顶部设置于所述检测组件的顶部。
2.根据权利要求1所述的芯片外观检测装置，其特征在于，所述传动齿轮的轴心处固定于所述螺纹杆的表面，所述转动齿轮的轴心处通过支架固定于所述支撑框的顶部的一侧，所述转动齿轮的底部贯穿所述支撑框且延伸至所述支撑框的内部，所述转动齿轮的底部与所述传动齿轮的顶部啮合，两个所述滑动块相对的一侧分别固定于所述螺纹筒的顶部的一侧和底部的一侧，两个所述滑动块相离的一侧分别与所述支撑框的内壁的顶部和内壁的底部滑动连接，所述支撑框的顶部的一侧设置有与所述转动齿轮配合使用的卡紧机构。
3.根据权利要求1所述的芯片外观检测装置，其特征在于，所述安装框的内壁的顶部设置于所述摄像头配合使用的固定机构，所述固定机构包括两个伸缩杆、固定块、两个第一连接块、两个第二连接块、第一弹簧和两个连杆，两个所述伸缩杆的顶端分别固定于所述安装框的内壁的顶部的两侧，所述固定块的顶部的两侧分别固定于两个所述伸缩杆的底端。
4.根据权利要求3所述的芯片外观检测装置，其特征在于，两个所述第一连接块的顶部分别固定于所述安装框的内壁的顶部的两侧且位于两个所述伸缩杆相对的一侧之间，两个所述第二连接块的底部分别滑动于所述固定块的顶部的两侧，所述第一弹簧设置于两个所述第二连接块相对的一侧之间，两个所述连杆的顶端分别转动于两个所述第一连接块的底部，两个所述连杆的底端分别与两个所述第二连接块的顶部转动连接。
5.根据权利要求2所述的芯片外观检测装置，其特征在于，所述卡紧机构包括稳定板、卡杆、移动板、第二弹簧和拉柄，所述稳定板的底部固定于所述支撑框的顶部，所述卡杆的表面贯穿于所述稳定板，所述卡杆的一端贯穿所述转动齿轮且延伸至所述转动齿轮的一侧。
6.根据权利要求5所述的芯片外观检测装置，其特征在于，所述移动板的内部固定于所述卡杆的表面，所述移动板的底部与所述支撑框的顶部滑动连接，所述第二弹簧设置于所述移动板的一侧与所述稳定板相对的一侧之间且位于所述卡杆的表面。
7.根据权利要求1所述的芯片外观检测装置，其特征在于，所述摄像头的输出端与所述检测组件的输入端连接，所述检测组件的输出端与所述显示器的输出端连接。
8.根据权利要求1所述的芯片外观检测装置，其特征在于，所述检测组件包括图像处理单元、处理器和对比单元，所述对比单元包括检测单元和分析单元，所述检测单元用于检测芯片上文字的清晰度、引线位置和引线长度，所述分析单元用于分析检测单元所检测出的数据，将该数据与合格产品数据进行对比，而后将对比数据发送至显示器。
9.根据权利要求1所述的芯片外观检测装置，其特征在于，所述底板的底部设置有安装机构，所述安装机构包括两个安装块和两个安装孔，两个所述安装块的顶部分别固定于所述底板的底部的两侧，两个所述安装孔分别开设于两个所述安装块上。
CN201910415835.6A 2019-05-18 2019-05-18 一种芯片外观检测装置 Pending CN110118783A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201910415835.6A CN110118783A (zh) 2019-05-18 2019-05-18 一种芯片外观检测装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201910415835.6A CN110118783A (zh) 2019-05-18 2019-05-18 一种芯片外观检测装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN110118783A true CN110118783A (zh) 2019-08-13

Family

ID=67522816

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201910415835.6A Pending CN110118783A (zh) 2019-05-18 2019-05-18 一种芯片外观检测装置

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN110118783A (zh)

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4289393A (en) * 1979-04-24 1981-09-15 Michio Kawazoe Camera supporting device for low angle or close-up photography
CN101660894A (zh) * 2009-09-11 2010-03-03 天津大学 基于平行光照明的多目视觉检测装置及方法
CN106876298A (zh) * 2017-04-14 2017-06-20 常州亿晶光电科技有限公司 太阳能电池硅片弯曲度和翘曲度检测装置和检测方法
CN207514522U (zh) * 2017-11-22 2018-06-19 天津云视通科技有限公司 一种基于机器视觉的安全防护装置
CN108508591A (zh) * 2018-04-18 2018-09-07 佛山市健群生物科技有限公司 一种移动式放大倍数可调型医疗放大镜
US10085550B1 (en) * 2017-08-07 2018-10-02 Chen-Source Inc. Single lever-operated height-adjustable table
CN108645864A (zh) * 2018-05-08 2018-10-12 无锡九霄科技有限公司 一种基于机器视觉在机械零部件中的检测方法
CN208075850U (zh) * 2018-04-08 2018-11-09 黄河科技学院 基于山地测绘用平稳式三角支架
CN208675957U (zh) * 2018-05-23 2019-04-02 冷水江市旭翔农业开发有限公司 一种桂花树种植用矫正装置

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4289393A (en) * 1979-04-24 1981-09-15 Michio Kawazoe Camera supporting device for low angle or close-up photography
CN101660894A (zh) * 2009-09-11 2010-03-03 天津大学 基于平行光照明的多目视觉检测装置及方法
CN106876298A (zh) * 2017-04-14 2017-06-20 常州亿晶光电科技有限公司 太阳能电池硅片弯曲度和翘曲度检测装置和检测方法
US10085550B1 (en) * 2017-08-07 2018-10-02 Chen-Source Inc. Single lever-operated height-adjustable table
CN207514522U (zh) * 2017-11-22 2018-06-19 天津云视通科技有限公司 一种基于机器视觉的安全防护装置
CN208075850U (zh) * 2018-04-08 2018-11-09 黄河科技学院 基于山地测绘用平稳式三角支架
CN108508591A (zh) * 2018-04-18 2018-09-07 佛山市健群生物科技有限公司 一种移动式放大倍数可调型医疗放大镜
CN108645864A (zh) * 2018-05-08 2018-10-12 无锡九霄科技有限公司 一种基于机器视觉在机械零部件中的检测方法
CN208675957U (zh) * 2018-05-23 2019-04-02 冷水江市旭翔农业开发有限公司 一种桂花树种植用矫正装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100676820B1 (ko) 착탈가능한 디스플레이를 갖는 휴대용 컴퓨터
US9797944B2 (en) Test fixture and test method using the same
WO2020103121A1 (zh) 一种功能测试夹具
CN206399982U (zh) Led灯具检验测试支撑台
CN201156223Y (zh) 固定装置
US7883063B2 (en) Flat panel monitor assembly with weight adjust mechanism
CN110118783A (zh) 一种芯片外观检测装置
CN206567655U (zh) 一种pcba板焊接夹具
WO2021243545A1 (zh) 一种电子零件安装装置
CN208476963U (zh) 一种电子元器件的智能测试终端
CN205067060U (zh) 一种显示器光学特性的自动化智能测试设备
CN108414921B (zh) 一种电子电路板测试检测装置
CN211250084U (zh) 一种集成电路板中的芯片夹取装置
CN207442989U (zh) 应用于视频设备的图像稳定系统
CN207094125U (zh) 一种一体式计算机
CN214375077U (zh) 汽车中控仪表盘通电测试治具
CN211178824U (zh) 一种防静电胶带生产用张力检测装置
CN212514889U (zh) 一种电子芯片检测装置
US10634276B2 (en) Mounting apparatus and electronic device using the same
CN209247609U (zh) 一种薄膜与基体结合力步进电机驱动伸缩连杆传动装置
CN213522766U (zh) 一种通讯设备集成电路gsm、wcdma、lte信号测试仪器
RU2645823C1 (ru) Емкостный дилатометр для работы в составе установки PPMS QD
CN208780734U (zh) 用于光组件的测试夹具
CN106646949B (zh) 点灯测试设备及点灯测试方法
CN206183279U (zh) 一种血液微量元素含量电子测量棒

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
RJ01 Rejection of invention patent application after publication
RJ01 Rejection of invention patent application after publication

Application publication date: 20190813