CN110108449B - 一种光学模组测试系统及方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种光学模组测试系统及方法，包括入射光准直模组、测试平台、接收光准直模组、采集装置以及处理器终端；处理器终端，用于控制入射光准直模组和接收光准直模组进行方向调节，使入射光准直模组发射的光束在经过放置于测试平台上的待测光学模组后以预设入射角射入接收光准直模组，并控制接收光准直模组依次移动至与待测光学模组中每个滤光片的分别对应的位置处，以使接收光准直模组依次接收经过相应的滤光片传输的光束；采集装置，用于采集接收光准直模组接收到的光信号，得到与每个滤光片一一对应的光学信息；处理器终端，还用于依据各个光学信息得到与待测光学模组对应的测试结果，本发明能够实现对多滤光片光学模组的测试。

Description

一种光学模组测试系统及方法

技术领域

本发明实施例涉及光学技术领域，特别是涉及一种光学模组测试系统及方法。

背景技术

随着数据中心的高速发展，主流的通讯模块已从40G的模块升级为100G的模块或200G模块，在40G的模块中所有的光学模组中包括单个滤光片，而在100G或200G模块中所使用的光学模组中包括多个滤光片。光学模组产品生产完成后需要对光学模组的性能进行测试，以检验产品是否满足设计要求。但是，现有的光学模组测试系统只能测试单个滤光片的角度偏移和光功率损耗。不能实现对多滤光片光学模组的测试，如何对多滤光片光学模组进行测试成为本领域技术人员需要解决的问题。

发明内容

本发明实施例的目的是提供一种光学模组测试系统及方法，在使用过程中能够实现对多滤光片光学模组的测试。

为解决上述技术问题，本发明实施例提供了一种光学模组测试系统，包括入射光准直模组、测试平台、接收光准直模组、与所述接收光准直模组连接的采集装置以及与所述入射光准直模组的控制端、所述接收光准直模组的控制端及所述采集装置连接的处理器终端；其中：

所述处理器终端，用于控制所述入射光准直模组和所述接收光准直模组进行方向调节，使所述入射光准直模组发射的光束在经过放置于所述测试平台上的待测光学模组后以预设入射角射入所述接收光准直模组，并控制所述接收光准直模组依次移动至与所述待测光学模组中每个滤光片分别对应的位置处，以使所述接收光准直模组依次接收经过相应的滤光片传输的光束；

所述采集装置，用于采集所述接收光准直模组接收到的光信号，得到与每个所述滤光片一一对应的光学信息；

所述处理器终端，还用于依据各个所述光学信息得到与所述待测光学模组对应的测试结果。

可选的，所述入射光准直模组包括第一五维位移调节架、发射准直器和光源；其中：

所述发射准直器的输入端与所述光源连接，所述发射准直器的输出端发射的光束经过所述测试平台上的测试孔射入至所述待测光学模组的第一个滤光片上；

所述第一五维位移调节架的控制端与所述处理器终端连接，用于固定所述发射准直器，并在所述处理器终端的控制下对所述发射准直器的方向进行调节。

可选的，所述接收光准直模组包括第二五维位移调节架和接收准直器，其中：

所述第二五维位移调节架的控制端与所述处理器终端连接，用于固定所述接收准直器，并在所述处理器终端的控制下对所述接收准直器的方向和位置进行调节；

所述接收准直器的输入端用于接收所述待测光学模组中当前滤光片传输的光束，其输出端与所述采集装置连接。

可选的，所述采集装置包括分光器、光功率计和光谱分析仪；所述光学信息包括光功率及光谱信息。

可选的，所述控制所述入射光准直模组和所述接收光准直模组进行方向调节，使所述入射光准直模组发射的光束在经过放置于所述测试平台上的待测光学模组后以预设入射角射入所述接收光准直模组的过程为：

在将待测光学模组放置于所述测试平台上之前，对系统进行校准调节，并固定所述入射光准直模组的方向；

在将所述待测光学模组放置于所述测试平台后，对所述接收光准直模组进行方向和位置的调节，以使所述接收光准直模组移动至与待测光学模组中的第一个滤光片对应的位置处，且使所述入射光准直模组发射的光束经过所述第一个滤光片后以预设角度入射至所述接收光准直模组中。

可选的，所述对系统进行校准调节的过程为：

所述控制所述入射光准直模组和所述接收光准直模组进行方向调节，使所述入射光准直模组发射的光束经过所述测试平台上的测试孔后0度入射至所述接收光准直模组中，并使整个光路的光功率损耗最小。

可选的，所述待测光学模组包括四个滤光片。

可选的，所述预设角度为8度。

本发明实施例相应的提供了一种光学模组测试方法，应用于如上述所述的光学模组测试系统，所述方法包括：

控制所述入射光准直模组和所述接收光准直模组进行方向调节，使所述入射光准直模组发射的光束在经过放置于所述测试平台上的待测光学模组后以预设入射角射入所述接收光准直模组；

控制所述接收光准直模组依次移动至与所述待测光学模组中每个滤光片分别对应的位置处，以便控制所述采集装置依次采集与每个滤光片一一对应的光学信息；

根据各个所述光学信息得到与所述待测光学模组对应的测试结果。

可选的，所述控制所述入射光准直模组和所述接收光准直模组进行方向调节，使所述入射光准直模组发射的光束在经过放置于所述测试平台上的待测光学模组后以预设入射角射入所述接收光准直模组的过程为：

在将待测光学模组放置于所述测试平台上之前，对系统进行校准调节，并固定所述入射光准直模组的方向；

在将所述待测光学模组放置于所述测试平台后，对所述接收光准直模组进行方向和位置的调节，以使所述接收光准直模组移动至与待测光学模组中的第一个滤光片对应的位置处，且使所述入射光准直模组发射的光束经过所述第一个滤光片后以预设角度入射至所述接收光准直模组中。

本发明实施例提供了一种光学模组测试系统及方法，包括入射光准直模组、测试平台、接收光准直模组、与接收光准直模组连接的采集装置以及与入射光准直模组的控制端、接收光准直模组的控制端及采集装置连接的处理器终端；其中，处理器终端，用于控制入射光准直模组和接收光准直模组进行方向调节，使入射光准直模组发射的光束在经过放置于测试平台上的待测光学模组后以预设入射角射入接收光准直模组，并控制接收光准直模组依次移动至与待测光学模组中每个滤光片的分别对应的位置处，以使接收光准直模组依次接收经过相应的滤光片传输的光束；采集装置，用于采集接收光准直模组接收到的光信号，得到与每个滤光片一一对应的光学信息；处理器终端，还用于依据各个光学信息得到与待测光学模组对应的测试结果。

可见，本发明可以通过处理器终端控制入射光准直模组和接收光准直模组进行方向调节，并使入射光准直模组发射的光束经过放置在测试平台上的待测光学模组后以预设入射角入射至接收光准直模组中，通过对接收光准直模组的位置进行调节，能够使接收光准直模组依次与待测光学模组中的每个滤光片对齐，从而接收到经每个滤光片传输的光束，采集终端通过采集接收光准直模组接收到的光信号，能够得到与每个滤光片对应的光学信息，进而处理器终端可以根据各个光学信息得到与待测光学模组对应的测试结果，以实现对多滤光片光学模组的测试。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对现有技术和实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例提供的一种光学模组测试系统的结构框图；

图2为本发明实施例提供的另一种光学模组测试系统的结构框图；

图3本发明实施例提供的一种光学模组测试方法的流程示意图。

具体实施方式

本发明实施例提供了一种光学模组测试系统及方法，在使用过程中能够实现对多滤光片光学模组的测试。

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

请参照图1，图1为本发明实施例提供的一种光学模组测试系统的结构框图。

该光学模组测试系统，包括入射光准直模组1、测试平台2、接收光准直模组3、与接收光准直模组3连接的采集装置4以及与入射光准直模组1的控制端、接收光准直模组3的控制端及采集装置4连接的处理器终端5；其中：

处理器终端5，用于控制入射光准直模组1和接收光准直模组3进行方向调节，使入射光准直模组1发射的光束在经过放置于测试平台2上的待测光学模组6后以预设入射角射入接收光准直模组3，并控制接收光准直模组3依次移动至与待测光学模组6中每个滤光片61分别对应的位置处，以使接收光准直模组3依次接收经过相应的滤光片61传输的光束；

采集装置4，用于采集接收光准直模组3接收到的光信号，得到与每个滤光片61一一对应的光学信息；

处理器终端5，还用于依据各个光学信息得到与待测光学模组6对应的测试结果。

需要说明的是，本实施例中的入射光准直模组1、测试平台2、接收光准直模组3均可以固定在底座10上，并且本实施例中的待测光学模组6包括多个滤光片61，当需要对该待测光学模组6进行测试时，可以将该待测光学模组6放置在测试平台2上，其中，测试平台2上设有测试孔21，入射光准直模组1发射的光束能够通过测试平台2上的测试孔21入射至待测光学模组6上，并通过待测光学模组6上的相应滤光片61耦合至接收光准直模组3上。其中，由于待测光学模组6中包括多个滤光片61，所以需要对每个滤光片61的光学特征进行测试，从而才能够得到待测光学模组6的整体测试结果，并且不同数量滤光片61的待测光学模组6所要求的入射角不同，所以，本实施例中可以根据待测光学模组6中滤光片61的具体数量确定预设入射角的具体数值，例如，当待测光学模组6中包括4个滤光片61时，预设入射角为8°。

具体的，在将待测光学模组6放置在测试平台2上后，使待测光学模组6中的第一个滤光片61对准测试平台2上的测试孔21位置处，此时，控制接收光准直模组3移动至与第一个滤光片61对应的位置处，并对接收光准直模组3进行方向(也即角度)调节，使其接收到的入射光的入射角为预设入射角，此时，可以控制采集装置4采集接收光准直模组3接收到的光信号，得到与第一个滤光片61对应的光学信息(也即与第一路对应的光学信息)，然后，控制接收光准直模组3沿待测光学模组6中的各个滤光片61的排列方向(例如从右向左)进行移动(具体可以移动一个滤光片61的距离)，使接收光准直模组3由与第一个滤光片61对应的位置处移动至与下一个滤光片61对应的位置处，从而接收由第二个滤光片61进行耦合的光信号，并控制采集装置4采集接收光准直模组3接收到的光信号，得到与第二滤光片61对应的光学信息(也即与第二路对应的光学信息)，其中，第二个滤光片61耦合的光信号是入射光准直模组1发射的光束中的一部分光经过第一滤光片61后传输至第二滤光片61，然后再由第二滤光片61耦合至接收光准直模组3中；在采集完毕与第二滤光片61对应的光学信息后，在控制接收光准直模组3由与第二个滤光片61对应的位置处移动至与下一个滤光片61对应的位置处，从而接收由第三个滤光片61耦合的光信号，采集装置4采集到与第三个滤光片61对应的光信号，…直至接收光准直模组3移动至与最后一个滤光片61对应的位置处，并接收由最后一个滤光片61耦合的光信号，采集装置4采集接收光准直模组3接收到的光信号，得到与第四个滤光片61对应的光学信息。也即，例如待测光学模组6包括N个滤光片61，则采集装置4会采集到N个光学信息，处理器终端5可以根据该每个光学信息得到与每路对应的测试结果，也即得到与每个滤光片61对应的偏激角度和光功率损耗，然后再根据各个测试结果得到与待测光学模组6对应的测试结果，也即能够与整个待测光学模组6对应的偏转角度和光功率损耗，进一步与设计要求进行对比即可确定待测光学模组6是否满足设计要求。进一步的，上述处理器终端4在执行控制入射光准直模组1和接收光准直模组3进行方向调节，使入射光准直模组1发射的光束在经过放置于测试平台2上的待测光学模组6后以预设入射角射入接收光准直模组3步骤时的具体过程为：

在将待测光学模组6放置于测试平台2上之前，对系统进行校准调节，并固定入射光准直模组1的方向；

在将待测光学模组6放置于测试平台2后，对接收光准直模组3进行方向和位置的调节，以使接收光准直模组3移动至与待测光学模组6中的第一个滤光片61对应的位置处，且使入射光准直模组1发射的光束经过第一个滤光片61后以预设角度入射至接收光准直模组3中。

需要说明的是，在对待测光学模组6进行测试之前，需要对系统进行校准调节，其中，对系统进行校准调节的过程具体可以为：

控制入射光准直模组1和接收光准直模组3进行方向调节，使入射光准直模组1发射的光束经过测试平台2上的测试孔21后0度入射至接收光准直模组3中，并使整个光路的光功率损耗最小。

具体的，测试平台2上不放置待测光学模组6，然后通过处理器终端5控制入射光准直模组1和接收光准直模组3的方向进行调节，使入射光准直模组1和接收光准直模组3之间光路耦合，也即使入射光准直模组1发射的光束通过测试孔21后0°入射至接收光准直模组3中，并且使整个光路中光功率损耗最小，此时，固定入射光准直模组1的位置，完成校准，并且还需要对采集装置4进行归零设置。

需要说明的是，在完成系统的校准后，即可对待测光学模组6进行测试，在测试时将待测光学模组6放置于测试平台2上，此时只需要对接收光准直模组3进行调节即可，通过对接收光准直模组3的位置进行调节，使接收光准直模组3移动至与待测光学模组6中的第一个滤光片61对应的位置处，然后对接收光准直模组3的方向进行调节，使入射光准直模组1发射的光束经过第一个滤光片61后以预设角度入射至接收光准直模组3中。

进一步的，请参照图2，本实施例中的入射光准直模组1具体可以包括第一五维位移调节架11、发射准直器12和光源13；其中：

发射准直器12的输入端与光源13连接，发射准直器12的输出端发射的光束经过测试平台2上的测试孔21射入至待测光学模组6的第一个滤光片61上；

第一五维位移调节架11的控制端与处理器终端5连接，用于固定发射准直器12，并在处理器终端5的控制下对发射准直器12的方向进行调节。

具体的，本实施例中可以通过处理器终端5控制第一五维位移调节架11对发射准直器12的方向进行调节，并且将光源13发射的光束准直后射入测试孔21中，并通过测试孔21射入至待测光学模组6上。

更进一步的，接收光准直模组3包括第二五维位移调节架31和接收准直器32，其中：

第二五维位移调节架31的控制端与处理器终端5连接，用于固定接收准直器32，并在处理器终端5的控制下对接收准直器32的方向和位置进行调节；

接收准直器32的输入端用于接收待测光学模组6中当前滤光片61传输的光束，其输出端与采集装置4连接。

具体的，本实施例中可以通过处理器终端5控制第二五维位移调节架31对接收准直器32的方向和位置进行调节，也即，通过处理器终端5控制第一五维位移调节架11和第二五维位移调节架31分别对发射准直器12和接收准直器32的方向进行调节，从而完成系统校准，并且在校准完成后第一五维位移调节架11将发射准直器12进行固定，并控制通过处理器终端5控制第二五维位移调节架31对接收准直器32的方向进行调节，使发射准直器12经过待测光学模组6的传输后以预设入射角入射至接收准直器32中，并通过对接收准直器12的位置进行调节，从而使接收准直器32与待测光学模组6中的每个滤光片61的位置相对应，以使采集装置4采集到与每个滤光片61对应的光学信息。

更进一步的，采集装置4包括分光器41、光功率计42和光谱分析仪43；光学信息包括光功率及光谱信息。

需要说明的是，本实施例中可以通过光功率计42采集接收光准直模组3接收到的光信号的光功率，及通过光谱分析仪43采集接收光准直模组3接收到的光信号的光谱信息，以便处理器终端5根据光功率及光谱信息得到与相应的滤光片61对应的测试结果，进而得到与待测光学模组6对应的测试结果。

还需要说明的是，本实施例中的测试系统可以对包括四个滤光片61的待测光学模组6进行测试，并且在测试过程中，需要对接收光准直模组3的方向(也即角度)进行调节，使其接收到的入射光的入射角为8°。

当然，也可以对数量为其他具体数值的待测光学模组6进行测试，其中，预设入射角根据实际待测光学模组6中滤光片61的具体数量进行确定，本实施例不做具体限定。

可见，本发明可以通过处理器终端控制入射光准直模组和接收光准直模组进行方向调节，并使入射光准直模组发射的光束经过放置在测试平台上的待测光学模组后以预设入射角入射至接收光准直模组中，通过对接收光准直模组的位置进行调节，能够使接收光准直模组依次与待测光学模组中的每个滤光片对齐，从而接收到经每个滤光片传输的光束，采集终端通过采集接收光准直模组接收到的光信号，能够得到与每个滤光片对应的光学信息，进而处理器终端可以根据各个光学信息得到与待测光学模组对应的测试结果，以实现对多滤光片光学模组的测试。

相应的本发明实施例还公开了一种光学模组测试方法，该方法应用于如上述的光学模组测试系统，具体请参照3。在上述实施例的基础上：

该方法包括：

S201：控制入射光准直模组和接收光准直模组进行方向调节，使入射光准直模组发射的光束在经过放置于测试平台上的待测光学模组后以预设入射角射入接收光准直模组；

S202：控制接收光准直模组依次移动至与待测光学模组中每个滤光片分别对应的位置处，以便控制采集装置依次采集与每个滤光片一一对应的光学信息；

S203：根据各个光学信息得到与待测光学模组对应的测试结果。

可选的，控制入射光准直模组和接收光准直模组进行方向调节，使入射光准直模组发射的光束在经过放置于测试平台上的待测光学模组后以预设入射角射入接收光准直模组的过程为：

在将待测光学模组放置于测试平台上之前，对系统进行校准调节，并固定入射光准直模组的方向；

在将待测光学模组放置于测试平台后，对接收光准直模组进行方向和位置的调节，以使接收光准直模组移动至与待测光学模组中的第一个滤光片对应的位置处，且使入射光准直模组发射的光束经过第一个滤光片后以预设角度入射至接收光准直模组中。

需要说明的是，本实施例中所提供的光学模组测试方法具有与上述实施例中所提供的光学模组测试系统相同的有益效果，并且对于本实施例中所涉及到的光学模组测试系统的具体介绍请参照上述实施例，本申请在此不再赘述。

本说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。对于实施例公开的方法而言，由于其与实施例公开的系统相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见方法部分说明即可。

还需要说明的是，在本说明书中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其他实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

Claims (8)

1.一种光学模组测试系统，其特征在于，包括入射光准直模组、测试平台、接收光准直模组、与所述接收光准直模组连接的采集装置以及与所述入射光准直模组的控制端、所述接收光准直模组的控制端及所述采集装置连接的处理器终端；其中：

所述处理器终端，用于控制所述入射光准直模组和所述接收光准直模组进行方向调节，使所述入射光准直模组发射的光束在经过放置于所述测试平台上的待测光学模组后以预设入射角射入所述接收光准直模组，并控制所述接收光准直模组依次移动至与所述待测光学模组中每个滤光片分别对应的位置处，以使所述接收光准直模组依次接收经过相应的滤光片传输的光束；

所述采集装置，用于采集所述接收光准直模组接收到的光信号，得到与每个所述滤光片一一对应的光学信息；

所述处理器终端，还用于依据各个所述光学信息得到与所述待测光学模组对应的测试结果；其中：

所述入射光准直模组包括第一五维位移调节架、发射准直器和光源；其中：

所述发射准直器的输入端与所述光源连接，所述发射准直器的输出端发射的光束经过所述测试平台上的测试孔射入至所述待测光学模组的第一个滤光片上；

所述第一五维位移调节架的控制端与所述处理器终端连接，用于固定所述发射准直器，并在所述处理器终端的控制下对所述发射准直器的方向进行调节；

所述接收光准直模组包括第二五维位移调节架和接收准直器，其中：

所述第二五维位移调节架的控制端与所述处理器终端连接，用于固定所述接收准直器，并在所述处理器终端的控制下对所述接收准直器的方向和位置进行调节；

所述接收准直器的输入端用于接收所述待测光学模组中当前滤光片传输的光束，其输出端与所述采集装置连接。

2.根据权利要求1所述的光学模组测试系统，其特征在于，所述采集装置包括分光器、光功率计和光谱分析仪；所述光学信息包括光功率及光谱信息。

3.根据权利要求1至2任意一项所述的光学模组测试系统，其特征在于，所述控制所述入射光准直模组和所述接收光准直模组进行方向调节，使所述入射光准直模组发射的光束在经过放置于所述测试平台上的待测光学模组后以预设入射角射入所述接收光准直模组的过程为：

在将待测光学模组放置于所述测试平台上之前，对系统进行校准调节，并固定所述入射光准直模组的方向；

在将所述待测光学模组放置于所述测试平台后，对所述接收光准直模组进行方向和位置的调节，以使所述接收光准直模组移动至与待测光学模组中的第一个滤光片对应的位置处，且使所述入射光准直模组发射的光束经过所述第一个滤光片后以预设角度入射至所述接收光准直模组中。

4.根据权利要求3所述的光学模组测试系统，其特征在于，所述对系统进行校准调节的过程为：

所述控制所述入射光准直模组和所述接收光准直模组进行方向调节，使所述入射光准直模组发射的光束经过所述测试平台上的测试孔后0度入射至所述接收光准直模组中，并使整个光路的光功率损耗最小。

5.根据权利要求1所述的光学模组测试系统，其特征在于，所述待测光学模组包括四个滤光片。

6.根据权利要求3所述的光学模组测试系统，其特征在于，所述预设角度为8度。

7.一种光学模组测试方法，其特征在于，应用于如权利要求1至6任意一项所述的光学模组测试系统，所述方法包括：

控制所述入射光准直模组和所述接收光准直模组进行方向调节，使所述入射光准直模组发射的光束在经过放置于所述测试平台上的待测光学模组后以预设入射角射入所述接收光准直模组；

控制所述接收光准直模组依次移动至与所述待测光学模组中每个滤光片分别对应的位置处，以便控制所述采集装置依次采集与每个滤光片一一对应的光学信息；

根据各个所述光学信息得到与所述待测光学模组对应的测试结果。

8.根据权利要求7所述的光学模组测试方法，其特征在于，所述控制所述入射光准直模组和所述接收光准直模组进行方向调节，使所述入射光准直模组发射的光束在经过放置于所述测试平台上的待测光学模组后以预设入射角射入所述接收光准直模组的过程为：

在将待测光学模组放置于所述测试平台上之前，对系统进行校准调节，并固定所述入射光准直模组的方向；

在将所述待测光学模组放置于所述测试平台后，对所述接收光准直模组进行方向和位置的调节，以使所述接收光准直模组移动至与待测光学模组中的第一个滤光片对应的位置处，且使所述入射光准直模组发射的光束经过所述第一个滤光片后以预设角度入射至所述接收光准直模组中。

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