CN110083510A - 边缘节点测试方法、电子设备、系统及介质 - Google Patents

边缘节点测试方法、电子设备、系统及介质 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种边缘节点测试方法、电子设备、系统及介质，所述方法包括：获取边缘节点的测试数据；从所述测试数据中确定启动测试时间段；获取当前时间；当所述当前时间处于所述启动测试时间段时，检测电子设备的状态参数；根据所述状态参数测试所述边缘节点。本发明能够在进行边缘节点测试时，结合状态参数，降低对节点上各个业务正常运行的影响，同时还能兼顾测试的准确性。

Description

边缘节点测试方法、电子设备、系统及介质
技术领域
本发明涉及测试技术领域，尤其涉及边缘节点测试方法、电子设备、系统及介质。
背景技术
在分布式计算中，边缘节点的存储性能对节点的可用性影响很大，因此，在衡量节点性能时，对节点的存储资源性能进行测试十分必要。
分布式云计算的边缘节点数量十分庞大，且节点运行状态及环境复杂，使用传统的多次测试取平均策略时，在不同运行状态下测得的节点存储性能差别巨大，因此，无法快速得出较准确的存储性能数据，这将严重影响到对边缘节点的可用性评估。
发明内容
本发明的主要目的在于提供边缘节点测试方法、电子设备、系统及介质，旨在解决进行边缘节点测试时，对节点上各个业务的正常运行造成影响，导致测试准确性较低的问题。
为实现上述目的，本发明提供一种边缘节点测试方法，所述方法包括：
获取边缘节点的测试数据；
从所述测试数据中确定启动测试时间段；
获取当前时间；
当所述当前时间处于所述启动测试时间段时，检测电子设备的状态参数；
根据所述状态参数测试所述边缘节点。
优选地，所述状态参数包括以下一种或者多种的组合：
启动状态、运行时间段、负载值、磁盘占用率、CPU占用率。
优选地，所述根据所述状态参数测试所述边缘节点包括：
当检测到所述电子设备首次启动及/或重启时，对所述边缘节点进行启动测试；或者
当所述电子设备运行于配置时间段时，对所述边缘节点进行低负载测试；或者
当所述电子设备不是首次启动及/或重启，且没有运行于所述配置时间段时，当检测到负载值小于或者等于第二配置值，磁盘占用率小于或者等于第三配置值，且CPU占用率小于或者等于第四配置值时，对所述边缘节点进行运行态测试；或者
在预设时间内，当检测到所述启动测试、所述低负载测试及所述运行态测试都测试失败时，对所述边缘节点进行强制测试。
优选地，在对所述边缘节点进行启动测试时，所述方法还包括：
检测所述启动测试的测试进度；
当检测到所述启动测试完成后，启动所述电子设备的待启动应用程序。
优选地，所述对所述边缘节点进行低负载测试包括：
关闭所述电子设备中负载值大于或者等于第一配置值的应用程序；
当检测到所述应用程序关闭后，测试所述边缘节点。
优选地，所述方法还包括：
当检测到所述启动测试及/或所述低负载测试测试成功时，保存当前测试数据作为所述边缘节点的测试数据；
为所述边缘节点配置所述启动测试时间段。
为实现上述目的，本发明进一步提供一种电子设备，所述电子设备包括：
存储器，存储至少一个指令；及
处理器，执行所述存储器中存储的指令以实现所述边缘节点测试方法。
优选地，所述电子设备为组成内容分发网络或者区块链网络的节点。
为实现上述目的，本发明进一步提供一种边缘节点测试系统，所述系统包括：
获取单元，用于获取边缘节点的测试数据；
确定单元，用于从所述测试数据中确定启动测试时间段；
所述获取单元，还用于获取当前时间；
检测单元，用于当所述当前时间处于所述启动测试时间段时，检测电子设备的状态参数；
测试单元，用于根据所述状态参数测试所述边缘节点。
优选地，所述状态参数包括以下一种或者多种的组合：
启动状态、运行时间段、负载值、磁盘占用率、CPU占用率。
优选地，所述测试单元根据所述状态参数测试所述边缘节点包括：
当检测到所述电子设备首次启动及/或重启时，对所述边缘节点进行启动测试；或者
当所述电子设备运行于配置时间段时，对所述边缘节点进行低负载测试；或者
当所述电子设备不是首次启动及/或重启，且没有运行于所述配置时间段时，当检测到负载值小于或者等于第二配置值，磁盘占用率小于或者等于第三配置值，且CPU占用率小于或者等于第四配置值时，对所述边缘节点进行运行态测试；或者
在预设时间内，当检测到所述启动测试、所述低负载测试及所述运行态测试都测试失败时，对所述边缘节点进行强制测试。
优选地，所述检测单元，还用于在对所述边缘节点进行启动测试时，检测所述启动测试的测试进度；
所述系统还包括：
启动单元，用于当检测到所述启动测试完成后，启动所述电子设备的待启动应用程序。
优选地，所述测试单元对所述边缘节点进行低负载测试包括：
关闭所述电子设备中负载值大于或者等于第一配置值的应用程序；
当检测到所述应用程序关闭后，测试所述边缘节点。
优选地，所述系统还包括：
保存单元，用于当检测到所述启动测试及/或所述低负载测试测试成功时，保存当前测试数据作为所述边缘节点的测试数据；
配置单元，用于为所述边缘节点配置所述启动测试时间段。
为实现上述目的，本发明进一步提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有边缘节点测试程序，所述边缘节点测试程序可被一个或者多个处理器执行，以实现所述的边缘节点测试方法。
为实现上述目的，本发明进一步提供一种计算机程序产品，包括计算机指令，当其在计算机上运行时，使得计算机可以执行所述边缘节点测试方法。
综上所述，本发明能够获取边缘节点的测试数据，并从所述测试数据中确定启动测试时间段，获取当前时间，并且当所述当前时间处于所述启动测试时间段时，检测电子设备的状态参数，避免进行多余的检测，再根据所述状态参数测试所述边缘节点，进而在进行边缘节点测试时，结合状态参数，降低对节点上各个业务正常运行的影响，同时还能兼顾测试的准确性。
附图说明
图1为本发明一实施例的流程示意图；
图2为本发明一实施例揭露的电子设备的内部结构示意图；
图3为本发明边缘节点测试系统的功能模块示意图；
本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
主要元件符号说明
电子设备 1
存储器 12
处理器 13
边缘节点测试系统 11
获取单元 110
确定单元 111
检测单元 112
测试单元 113
启动单元 114
保存单元 115
配置单元 116
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”、“第三”、“第四”等(如果存在)是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的实施例能够以除了在这里图示或描述的内容以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
需要说明的是，在本发明中涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本发明要求的保护范围之内。
本发明提供一种边缘节点测试方法。
参照图1，图1为本发明一实施例的流程示意图。根据不同的需求，该流程示意图中步骤的顺序可以改变，某些步骤可以省略。
所述边缘节点测试方法应用于一个或者多个电子设备中，所述电子设备是一种能够按照事先设定或存储的指令，自动进行数值计算和/或信息处理的设备，所述电子设备的硬件包括但不限于微处理器、专用集成电路(ApplicationSpecific Integrated Circuit，ASIC)、可编程门阵列(Field－Programmable GateArray，FPGA)、数字处理器(DigitalSignal Processor，DSP)、嵌入式设备等。
所述电子设备可以是任何一种可与用户进行人机交互的电子产品，例如，个人计算机、平板电脑、智能手机、个人数字助理(Personal Digital Assistant，PDA)、游戏机、交互式网络电视(Internet Protocol Television，IPTV)、智能式穿戴式设备等。
所述电子设备还可以包括网络设备和/或用户设备。其中，所述网络设备包括，但不限于单个网络服务器、多个网络服务器组成的服务器组或基于云计算(CloudComputing)的由大量主机或网络服务器构成的云。
所述电子设备所处的网络包括但不限于互联网、广域网、城域网、局域网、虚拟专用网络(Virtual Private Network，VPN)等。
在一实施例中，该方法包括：
S10，获取边缘节点的测试数据。
在本发明的至少一个实施例中，所述边缘节点也称CDN(ContentDeliveryNetwork，内容分发网络)节点、Cache(缓存)节点等。所述边缘节点是相对于网络的复杂结构而提出的一个概念，是距离最终用户接入具有较少的中间环节的网络节点，具备较好的响应能力和连接速度。
在本发明的至少一个实施例中，所述电子设备可以从中心节点上获取所述边缘节点的测试数据，本发明不限制。
具体地，所述测试数据中存储着对所述边缘节点进行测试的所有相关数据。
进一步地，所述测试数据可以包括，但不限于以下一种或者多种数据的组合：
所述边缘节点的测试结果、测试时间、启动测试时间段等。
S11，从所述测试数据中确定启动测试时间段。
在本发明的至少一个实施例中，所述电子设备在对所述边缘节点进行测试后，如果测试结果满足配置条件，将产生一段免测试时间，也就是说，所述测试结果在所述免测试时间内都是可用的。
例如：所述免测试时间可以为35天。
其中，所述测试结果满足配置条件，则表明所述测试结果是可信的，且较为全面。
相应地，所述启动测试时间段是指可以启动边缘节点测试的时间段。
可以理解的是，在所述免测试时间内，所述电子设备无需对所述边缘节点进行测试，则所述电子设备可以配置在所述免测试时间结束后，进入所述启动测试时间段。
例如：当在1月1日完成对边缘节点的测试后，由于所述免测试时间为30天，则所述电子设备可以配置所述启动测试时间段为：1月31日起的任意时间。
S12，获取当前时间。
在本发明的至少一个实施例中，可以获取所述电子设备的系统时间作为所述当前时间，或者从与所述电子设备相通信的任意电子装置上获取系统时间作为所述当前时间，本发明不限制。
S13，当所述当前时间处于所述启动测试时间段时，检测电子设备的状态参数。
在本发明的至少一个实施例中，所述电子设备对比所述当前时间与所述启动测试时间段。
具体地，当所述当前时间不处于所述启动测试时间段时，所述电子设备不执行任何操作。
通过上述实施方式，能够避免在所述边缘节点上进行多余的操作，给节点造成运行负担。
进一步地，当所述当前时间处于所述启动测试时间段时，检测所述电子设备的状态参数。
其中，所述状态参数包括以下一种或者多种的组合：
启动状态、运行时间段、负载值、磁盘占用率、CPU(Central ProcessingUnit，中央处理器)占用率等。
通过上述实施方式，能够在所述当前时间处于所述启动测试时间段时，再检测所述电子设备的状态参数，避免影响所述电子设备的正常运行。
S14，根据所述状态参数测试所述边缘节点。
在本发明的至少一个实施例中，所述电子设备根据所述状态参数测试所述边缘节点包括：
(1)当检测到所述电子设备首次启动及/或重启时，对所述边缘节点进行启动测试。
可以理解的是，当所述电子设备首次启动及/或重启时，所述边缘节点上的各项任务(即：各个应用程序)还没有启动，此时，所述电子设备对所述边缘节点进行启动测试，不仅测试结果准确，且不会对所述电子设备的正常运行产生影响。
进一步地，在对所述边缘节点进行启动测试时，所述方法还包括：
所述电子设备检测所述启动测试的测试进度，当检测到所述启动测试完成后，启动所述电子设备的待启动应用程序。
通过上述实施方式，只有在所述启动测试测试完成后，所述电子设备才会启动所述待启动应用程序，以免对测试过程造成影响，提高了系统的稳定性。
(2)当所述电子设备运行于配置时间段时，对所述边缘节点进行低负载测试。
可以理解的是，每个用户都有每个用户的使用习惯，因此，所述电子设备可以获取用户的使用习惯数据，并对所述使用习惯数据进行分析，得到所述配置时间段。
其中，在所述配置时间段，所述电子设备通常处于无操作状态，因此，即便对所述边缘节点进行测试，也不会影响用户的使用。
例如：所述电子设备解析所述使用习惯数据，确定所述用户在每天的12点至8点，通常不会对所述电子设备进行操作，则所述电子设备确定所述配置时间段为每天的12点至8点。
进一步地，所述电子设备对所述边缘节点进行低负载测试包括：
所述电子设备关闭所述电子设备中负载值大于或者等于第一配置值的应用程序，当检测到所述应用程序关闭后，所述电子设备测试所述边缘节点。
其中，所述第一配置值可以自定义配置，本发明不限制。
可以理解的是，所述负载值大于或者等于所述第一配置值的应用程序可以被作为高负载应用程序。所述电子设备关闭所有高负载应用程序后，再对所述边缘节点进行测试，从而降低高负载应用程序对测试结果的影响，提高测试的准确率。
(3)当所述电子设备不是首次启动及/或重启，且没有运行于所述配置时间段时，当检测到负载值小于或者等于第二配置值，磁盘占用率小于或者等于第三配置值，且CPU占用率小于或者等于第四配置值时，对所述边缘节点进行运行态测试。
其中，所述第二配置值、所述第三配置值及所述第四配置值可以根据所述电子设备的设备参数进行配置。
可以理解的是，所述负载值越低，所述磁盘占用率越小，且所述CPU占用率越小，则越有利于对所述边缘节点进行测试，测试效果则越好。而由于执行所述启动测试或者所述低负载测试后，能够得到较为准确的测试结果，则无需再执行所述运行态测试，因此，所述电子设备优先执行所述启动测试或者所述低负载测试，即在所述负载值小于或者等于第二配置值，所述磁盘占用率小于或者等于第三配置值，且所述CPU占用率小于或者等于第四配置值时，首先确定所述电子设备不是首次启动及/或重启，且不运行于所述配置时间段，再确定启动所述运行态测试。
(4)在预设时间内，当检测到所述启动测试、所述低负载测试及所述运行态测试都测试失败时，对所述边缘节点进行强制测试。
具体地，所述预设时间可以进行自定义配置，如：24小时等。
可以理解的是，由于所述强制测试不考虑所述电子设备的运行状态，测试效果不佳，且对所述电子设备的正常运行有一定影响，因此，所述强制测试的优先级最低。
进一步地，所述电子设备可以定期检测所述负载值、所述磁盘占用率及所述CPU占用率，并在所述运行态测试的测试失败次数达到预设次数(如：3次、4次)后，在所述预设时间内不再进行所述运行态测试，而执行所述强制测试。
需要说明的是，无论是所述启动测试、所述低负载测试、所述运行态测试，还是所述强制测试，所采用的测试手段是一致的。
具体地，所述电子设备可以采用FIO或IOZONE等测试工具进行边缘节点测试，本发明不限制。
在本发明的至少一个实施例中，所述方法还包括：
当检测到所述启动测试及/或所述低负载测试测试成功时，所述电子设备保存当前测试数据作为所述边缘节点的测试数据，并为所述边缘节点配置所述启动测试时间段。
可以理解的是，由于执行所述启动测试或者所述低负载测试后，能够得到较为准确的测试结果，因此，所述电子设备可以保存当前测试数据作为所述边缘节点的测试数据，即在所述免测试时间内，以所述测试数据作为标准数据。
进一步地，所述电子设备为所述边缘节点配置所述启动测试时间段，也就是说，在超过所述免测试时间后，所述测试数据不再能够作为所述标准数据，则所述电子设备可以在所述启动测试时间段内，启动下一轮测试，进而实现边缘节点测试的持续迭代，使测试效果更佳。
综上所述，本发明能够获取边缘节点的测试数据，并从所述测试数据中确定启动测试时间段，获取当前时间，并且当所述当前时间处于所述启动测试时间段时，检测电子设备的状态参数，避免进行多余的检测，再根据所述状态参数测试所述边缘节点，进而在进行边缘节点测试时，结合状态参数，降低对节点上各个业务正常运行的影响，同时还能兼顾测试的准确性。
参见图2，在本实施例中，所述电子设备1是一种能够按照事先设定或存储的指令，自动进行数值计算和/或信息处理的设备，其硬件包括但不限于微处理器、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)、可编程门阵列(Field－Programmable Gate Array，FPGA)、数字处理器(Digital Signal Processor，DSP)、嵌入式设备等。
所述电子设备1还可以是但不限于任何一种可与用户通过键盘、鼠标、遥控器、触摸板或声控设备等方式进行人机交互的电子产品，例如，个人计算机(Personal Computer，PC)、平板电脑、智能手机、个人数字助理(Personal Digital Assistant，PDA)、游戏机、交互式网络电视(Internet Protocol Television，IPTV)、智能式穿戴式设备、掌上电脑、便携计算机、智能路由器、矿机、网络存储设备终端设备、桌上型计算机、云端服务器等计算设备等。
所述电子设备1所处的网络包括但不限于互联网、广域网、城域网、局域网、虚拟专用网络(Virtual Private Network，VPN)等。
所述电子设备1可以是组成内容分发网络或者区块链网络的节点。
所述电子设备1可以包括存储器12、处理器13和总线，还可以包括存储在所述存储器12中并可在所述处理器13上运行的计算机程序，例如边缘节点测试程序。
本领域技术人员可以理解，所述示意图仅仅是电子设备1的示例，并不构成对电子设备1的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件，例如所述电子设备1还可以包括输入输出设备、网络接入设备等。
其中，存储器12至少包括一种类型的可读存储介质，所述可读存储介质包括闪存、移动硬盘、多媒体卡、卡型存储器(例如，SD或DX存储器等)、磁性存储器、磁盘、光盘等。存储器12在一些实施例中可以是电子设备1的内部存储单元，例如该电子设备1的移动硬盘。存储器12在另一些实施例中也可以是电子设备1的外部存储设备，例如电子设备1上配备的插接式移动硬盘，智能存储卡(Smart Media Card,SMC)，安全数字(Secure Digital,SD)卡，闪存卡(Flash Card)等。进一步地，存储器12还可以既包括电子设备1的内部存储单元也包括外部存储设备。存储器12不仅可以用于存储安装于电子设备1的应用软件及各类数据，例如边缘节点测试程序的代码等，还可以用于暂时地存储已经输出或者将要输出的数据。
处理器13在一些实施例中可以是一中央处理器(Central Processing Unit,CPU)、控制器、微控制器、微处理器或其他数据处理芯片，用于运行存储器12中存储的程序代码或处理数据，例如执行边缘节点测试程序等。
所述处理器13执行所述电子设备1的操作系统以及安装的各类应用程序。所述处理器13执行所述应用程序以实现上述各个边缘节点测试方法实施例中的步骤，例如图1所示的步骤S10、S11、S12、S13、S14。
或者，所述处理器13执行所述计算机程序时实现上述各装置实施例中各模块/单元的功能，例如：获取边缘节点的测试数据；从所述测试数据中确定启动测试时间段；获取当前时间；当所述当前时间处于所述启动测试时间段时，检测电子设备的状态参数；根据所述状态参数测试所述边缘节点。
该总线可以是外设部件互连标准(peripheral component interconnect，简称PCI)总线或扩展工业标准结构(extended industry standard architecture，简称EISA)总线等。该总线可以分为地址总线、数据总线、控制总线等。为便于表示，图2中仅用一根箭头表示，但并不表示仅有一根总线或一种类型的总线。
示例性的，所述计算机程序可以被分割成一个或多个模块/单元，所述一个或者多个模块/单元被存储在所述存储器12中，并由所述处理器13执行，以完成本发明。所述一个或多个模块/单元可以是能够完成特定功能的一系列计算机程序指令段，该指令段用于描述所述计算机程序在所述电子设备1中的执行过程。例如，所述计算机程序可以被分割成获取单元110、确定单元111、检测单元112、测试单元113、启动单元114、保存单元115及配置单元116。
进一步地，电子设备还可以包括网络接口，网络接口可选的可以包括有线接口和/或无线接口(如WI-FI接口、蓝牙接口等)，通常用于在该电子设备1与其他电子设备之间建立通信连接。
可选地，该电子设备1还可以包括用户接口，用户接口可以包括显示器(Display)、输入单元比如键盘(Keyboard)，可选的用户接口还可以包括标准的有线接口、无线接口。可选地，在一些实施例中，显示器可以是LED显示器、液晶显示器、触控式液晶显示器以及OLED(Organic Light-Emitting Diode，有机发光二极管)触摸器等。其中，显示器也可以适当的称为显示屏或显示单元，用于显示在电子设备1中处理的信息以及用于显示可视化的用户界面。
所述电子设备1集成的模块/单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明实现上述实施例方法中的全部或部分流程，也可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一计算机可读存储介质中，该计算机程序在被处理器执行时，可实现上述各个方法实施例的步骤。
其中，所述计算机程序包括计算机程序代码，所述计算机程序代码可以为源代码形式、对象代码形式、可执行文件或某些中间形式等。所述计算机可读介质可以包括：能够携带所述计算机程序代码的任何实体或装置、记录介质、U盘、移动硬盘、磁碟、光盘、计算机存储器、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM，Random AccessMemory)、电载波信号、电信信号以及软件分发介质等。需要说明的是，所述计算机可读介质包含的内容可以根据司法管辖区内立法和专利实践的要求进行适当的增减，例如在某些司法管辖区，根据立法和专利实践，计算机可读介质不包括电载波信号和电信信号。
图2仅示出了具有组件12-13，以及边缘节点测试程序的电子设备1，本领域技术人员可以理解的是，图2示出的结构并不构成对所述电子设备1的限定，可以包括比图示更少或者更多的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。
结合图1，所述电子设备1中的所述存储器12存储多个指令以实现一种边缘节点测试方法，所述处理器13可执行所述多个指令从而实现：获取边缘节点的测试数据；从所述测试数据中确定启动测试时间段；获取当前时间；当所述当前时间处于所述启动测试时间段时，检测电子设备的状态参数；根据所述状态参数测试所述边缘节点。
根据本发明优选实施例，所述状态参数包括以下一种或者多种的组合：
启动状态、运行时间段、负载值、磁盘占用率、CPU占用率。
根据本发明优选实施例，所述处理器13还执行多个指令包括：
当检测到所述电子设备首次启动及/或重启时，对所述边缘节点进行启动测试；或者
当所述电子设备运行于配置时间段时，对所述边缘节点进行低负载测试；或者
当所述电子设备不是首次启动及/或重启，且没有运行于所述配置时间段时，当检测到负载值小于或者等于第二配置值，磁盘占用率小于或者等于第三配置值，且CPU占用率小于或者等于第四配置值时，对所述边缘节点进行运行态测试；或者
在预设时间内，当检测到所述启动测试、所述低负载测试及所述运行态测试都测试失败时，对所述边缘节点进行强制测试。
根据本发明优选实施例，所述处理器13还执行多个指令包括：
检测所述启动测试的测试进度；
当检测到所述启动测试完成后，启动所述电子设备的待启动应用程序。
根据本发明优选实施例，所述处理器13还执行多个指令包括：
关闭所述电子设备中负载值大于或者等于第一配置值的应用程序；
当检测到所述应用程序关闭后，测试所述边缘节点。
根据本发明优选实施例，所述处理器13还执行多个指令包括：
当检测到所述启动测试及/或所述低负载测试测试成功时，保存当前测试数据作为所述边缘节点的测试数据；
为所述边缘节点配置所述启动测试时间段。
参照图3，为本发明边缘节点测试系统的功能模块示意图。所述边缘节点测试系统11包括获取单元110、确定单元111、检测单元112、测试单元113、启动单元114、保存单元115及配置单元116。本发明所称的模块/单元是指一种能够被处理器13所执行，并且能够完成固定功能的一系列计算机程序段，其存储在存储器12中。在本实施例中，关于各模块/单元的功能将在后续的实施例中详述。
获取单元110获取边缘节点的测试数据。
在本发明的至少一个实施例中，所述边缘节点也称CDN(ContentDeliveryNetwork，内容分发网络)节点、Cache(缓存)节点等。所述边缘节点是相对于网络的复杂结构而提出的一个概念，是距离最终用户接入具有较少的中间环节的网络节点，具备较好的响应能力和连接速度。
在本发明的至少一个实施例中，所述获取单元110可以从中心节点上获取所述边缘节点的测试数据，本发明不限制。
具体地，所述测试数据中存储着对所述边缘节点进行测试的所有相关数据。
进一步地，所述测试数据可以包括，但不限于以下一种或者多种数据的组合：
所述边缘节点的测试结果、测试时间、启动测试时间段等。
确定单元111从所述测试数据中确定启动测试时间段。
在本发明的至少一个实施例中，在对所述边缘节点进行测试后，如果测试结果满足配置条件，将产生一段免测试时间，也就是说，所述测试结果在所述免测试时间内都是可用的。
例如：所述免测试时间可以为35天。
其中，所述测试结果满足配置条件，则表明所述测试结果是可信的，且较为全面。
相应地，所述启动测试时间段是指可以启动边缘节点测试的时间段。
可以理解的是，在所述免测试时间内，无需对所述边缘节点进行测试，则可以配置在所述免测试时间结束后，进入所述启动测试时间段。
例如：当在1月1日完成对边缘节点的测试后，由于所述免测试时间为30天，则可以配置所述启动测试时间段为：1月31日起的任意时间。
所述获取单元110获取当前时间。
在本发明的至少一个实施例中，所述获取单元110可以获取电子设备的系统时间作为所述当前时间，或者从与所述电子设备相通信的任意电子装置上获取系统时间作为所述当前时间，本发明不限制。
当所述当前时间处于所述启动测试时间段时，检测单元112检测所述电子设备的状态参数。
在本发明的至少一个实施例中，所述检测单元112对比所述当前时间与所述启动测试时间段。
具体地，当所述当前时间不处于所述启动测试时间段时，所述检测单元112不执行任何操作。
通过上述实施方式，能够避免在所述边缘节点上进行多余的操作，给节点造成运行负担。
进一步地，当所述当前时间处于所述启动测试时间段时，所述检测单元112检测所述电子设备的状态参数。
其中，所述状态参数包括以下一种或者多种的组合：
启动状态、运行时间段、负载值、磁盘占用率、CPU(Central ProcessingUnit，中央处理器)占用率等。
通过上述实施方式，能够在所述当前时间处于所述启动测试时间段时，再检测所述电子设备的状态参数，避免影响所述电子设备的正常运行。
测试单元113根据所述状态参数测试所述边缘节点。
在本发明的至少一个实施例中，所述测试单元113根据所述状态参数测试所述边缘节点包括：
(1)当检测到所述电子设备首次启动及/或重启时，所述测试单元113对所述边缘节点进行启动测试。
可以理解的是，当所述电子设备首次启动及/或重启时，所述边缘节点上的各项任务(即：各个应用程序)还没有启动，此时，所述测试单元113对所述边缘节点进行启动测试，不仅测试结果准确，且不会对所述电子设备的正常运行产生影响。
进一步地，在所述测试单元113对所述边缘节点进行启动测试时，所述方法还包括：
所述检测单元112检测所述启动测试的测试进度，当检测到所述启动测试完成后，启动单元114启动所述电子设备的待启动应用程序。
通过上述实施方式，只有在所述启动测试测试完成后，所述启动单元114才会启动所述待启动应用程序，以免对测试过程造成影响，提高了系统的稳定性。
(2)当所述电子设备运行于配置时间段时，所述测试单元113对所述边缘节点进行低负载测试。
可以理解的是，每个用户都有每个用户的使用习惯，因此，可以获取用户的使用习惯数据，并对所述使用习惯数据进行分析，得到所述配置时间段。
其中，在所述配置时间段，所述电子设备通常处于无操作状态，因此，即便对所述边缘节点进行测试，也不会影响用户的使用。
例如：解析所述使用习惯数据，确定所述用户在每天的12点至8点，通常不会对所述电子设备进行操作，则确定所述配置时间段为每天的12点至8点。
进一步地，所述测试单元113对所述边缘节点进行低负载测试包括：
所述测试单元113关闭所述电子设备中负载值大于或者等于第一配置值的应用程序，当检测到所述应用程序关闭后，所述测试单元113测试所述边缘节点。
其中，所述第一配置值可以自定义配置，本发明不限制。
可以理解的是，所述负载值大于或者等于所述第一配置值的应用程序可以被作为高负载应用程序。所述测试单元113关闭所有高负载应用程序后，再对所述边缘节点进行测试，从而降低高负载应用程序对测试结果的影响，提高测试的准确率。
(3)当所述电子设备不是首次启动及/或重启，且没有运行于所述配置时间段时，当检测到负载值小于或者等于第二配置值，磁盘占用率小于或者等于第三配置值，且CPU占用率小于或者等于第四配置值时，所述测试单元113对所述边缘节点进行运行态测试。
其中，所述第二配置值、所述第三配置值及所述第四配置值可以根据所述电子设备的设备参数进行配置。
可以理解的是，所述负载值越低，所述磁盘占用率越小，且所述CPU占用率越小，则越有利于对所述边缘节点进行测试，测试效果则越好。而由于执行所述启动测试或者所述低负载测试后，能够得到较为准确的测试结果，则无需再执行所述运行态测试，因此，所述测试单元113优先执行所述启动测试或者所述低负载测试，即在所述负载值小于或者等于第二配置值，所述磁盘占用率小于或者等于第三配置值，且所述CPU占用率小于或者等于第四配置值时，首先确定所述电子设备不是首次启动及/或重启，且不运行于所述配置时间段，再确定启动所述运行态测试。
(4)在预设时间内，当检测到所述启动测试、所述低负载测试及所述运行态测试都测试失败时，所述测试单元113对所述边缘节点进行强制测试。
具体地，所述预设时间可以进行自定义配置，如：24小时等。
可以理解的是，由于所述强制测试不考虑所述电子设备的运行状态，测试效果不佳，且对所述电子设备的正常运行有一定影响，因此，所述强制测试的优先级最低。
进一步地，所述检测单元112可以定期检测所述负载值、所述磁盘占用率及所述CPU占用率，并在所述运行态测试的测试失败次数达到预设次数(如：3次、4次)后，在所述预设时间内不再进行所述运行态测试，而执行所述强制测试。
需要说明的是，无论是所述启动测试、所述低负载测试、所述运行态测试，还是所述强制测试，所采用的测试手段是一致的。
具体地，所述测试单元113可以采用FIO或IOZONE等测试工具进行边缘节点测试，本发明不限制。
在本发明的至少一个实施例中，所述方法还包括：
当检测到所述启动测试及/或所述低负载测试测试成功时，保存单元115保存当前测试数据作为所述边缘节点的测试数据，配置单元116为所述边缘节点配置所述启动测试时间段。
可以理解的是，由于执行所述启动测试或者所述低负载测试后，能够得到较为准确的测试结果，因此，所述保存单元115可以保存当前测试数据作为所述边缘节点的测试数据，即在所述免测试时间内，以所述测试数据作为标准数据。
进一步地，所述配置单元116为所述边缘节点配置所述启动测试时间段，也就是说，在超过所述免测试时间后，所述测试数据不再能够作为所述标准数据，则所述测试单元113可以在所述启动测试时间段内，启动下一轮测试，进而实现边缘节点测试的持续迭代，使测试效果更佳。
综上所述，本发明能够获取边缘节点的测试数据，并从所述测试数据中确定启动测试时间段，获取当前时间，并且当所述当前时间处于所述启动测试时间段时，检测电子设备的状态参数，避免进行多余的检测，再根据所述状态参数测试所述边缘节点，进而在进行边缘节点测试时，结合状态参数，降低对节点上各个业务正常运行的影响，同时还能兼顾测试的准确性。
在上述实施例中，可以全部或部分地通过软件、硬件、固件或者其任意组合来实现。当使用软件实现时，可以全部或部分地以计算机程序产品的形式实现。
所述计算机程序产品包括一个或多个计算机指令。在计算机上加载和执行所述计算机程序指令时，全部或部分地产生按照本发明实施例所述的流程或功能。所述计算机可以是通用计算机、专用计算机、计算机网络、或者其他可编程装置。所述计算机指令可以存储在计算机可读存储介质中，或者从一个计算机可读存储介质向另一计算机可读存储介质传输，例如，所述计算机指令可以从一个网站站点、计算机、服务器或数据中心通过有线(例如同轴电缆、光纤、数字用户线(DSL))或无线(例如红外、无线、微波等)方式向另一个网站站点、计算机、服务器或数据中心进行传输。所述计算机可读存储介质可以是计算机能够存储的任何可用介质或者是包含一个或多个可用介质集成的服务器、数据中心等数据存储设备。所述可用介质可以是磁性介质，(例如，软盘、移动硬盘、磁带)、光介质(例如，DVD)、或者半导体介质(例如固态移动硬盘Solid State Disk(SSD))等。
所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，上述描述的系统，装置和单元的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。
在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的系统，装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。
所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外，在本申请各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。
所述集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本申请各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动移动硬盘、只读存储器(ROM，Read-OnlyMemory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
需要说明的是，上述本发明实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。并且本文中的术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、装置、物品或者方法不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、装置、物品或者方法所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、装置、物品或者方法中还存在另外的相同要素。
以上仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种边缘节点测试方法，其特征在于，所述方法包括：
获取边缘节点的测试数据；
从所述测试数据中确定启动测试时间段；
获取当前时间；
当所述当前时间处于所述启动测试时间段时，检测电子设备的状态参数；
根据所述状态参数测试所述边缘节点。
2.如权利要求1所述的边缘节点测试方法，其特征在于，所述状态参数包括以下一种或者多种的组合：
启动状态、运行时间段、负载值、磁盘占用率、CPU占用率。
3.如权利要求1或2所述的边缘节点测试方法，其特征在于，所述根据所述状态参数测试所述边缘节点包括：
当检测到所述电子设备首次启动及/或重启时，对所述边缘节点进行启动测试；或者
当所述电子设备运行于配置时间段时，对所述边缘节点进行低负载测试；或者
当所述电子设备不是首次启动及/或重启，且没有运行于所述配置时间段时，当检测到负载值小于或者等于第二配置值，磁盘占用率小于或者等于第三配置值，且CPU占用率小于或者等于第四配置值时，对所述边缘节点进行运行态测试；或者
在预设时间内，当检测到所述启动测试、所述低负载测试及所述运行态测试都测试失败时，对所述边缘节点进行强制测试。
4.如权利要求3所述的边缘节点测试方法，其特征在于，在对所述边缘节点进行启动测试时，所述方法还包括：
检测所述启动测试的测试进度；
当检测到所述启动测试完成后，启动所述电子设备的待启动应用程序。
5.如权利要求3所述的边缘节点测试方法，其特征在于，所述对所述边缘节点进行低负载测试包括：
关闭所述电子设备中负载值大于或者等于第一配置值的应用程序；
当检测到所述应用程序关闭后，测试所述边缘节点。
6.如权利要求3所述的边缘节点测试方法，其特征在于，所述方法还包括：
当检测到所述启动测试及/或所述低负载测试测试成功时，保存当前测试数据作为所述边缘节点的测试数据；
为所述边缘节点配置所述启动测试时间段。
7.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：
存储器，存储至少一个指令；及
处理器，执行所述存储器中存储的指令以实现如权利要求1至6中任意一项所述的边缘节点测试方法。
8.根据权利要求7所述的电子设备，其特征在于，所述电子设备为组成内容分发网络或者区块链网络的节点。
9.一种边缘节点测试系统，其特征在于，所述系统包括：
获取单元，用于获取边缘节点的测试数据；
确定单元，用于从所述测试数据中确定启动测试时间段；
所述获取单元，还用于获取当前时间；
检测单元，用于当所述当前时间处于所述启动测试时间段时，检测电子设备的状态参数；
测试单元，用于根据所述状态参数测试所述边缘节点。
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有边缘节点测试程序，所述边缘节点测试程序可被一个或者多个处理器执行，以实现如权利要求1至6中任一项所述的边缘节点测试方法。
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