CN110059326B - 一种用于调试微波器件的仿真方法和仿真系统 - Google Patents

Abstract

本发明适用于微波器件调试技术领域，提供了一种用于调试微波器件的仿真方法和仿真系统，包括：根据待调试的微波器件和所述待调试的微波器件的第一调试指标，获取与所述第一调试指标对应的响应函数；获取基于所述响应函数确定的响应参数的值；基于所述第一调试指标和所述响应参数的值确定的第二调试指标，结束所述待调试的微波器件的调试。所述方法由于能为不同的微波器件提供不同的响应函数，以进行对不同微波器件调试的仿真，使得不用再利用微波器件实物进行调试学习，所以能够大大的降低学习成本。

Description

一种用于调试微波器件的仿真方法和仿真系统

技术领域

本发明属于微波器件调试技术领域，尤其涉及一种用于调试微波器件的仿真方法和仿真系统。

背景技术

微波器件是指工作在微波波段的器件，通过电路设计，可将不同的微波器件组合成各种有特定功能的微波电路。微波器件在生产过程中存在加工误差，在使用的过程中也会发生磨损，同时随着使用环境(温度、湿度等)的变化，导致微波器件不能达到原有的设计标准。故需要对微波器件进行调试以达到设计标准。

现有的调试方法是在微波器件中加入调谐部件，然后使用矢量网络分析仪对微波器件进行调试。

但是，现有的调试技术只能针对同一种微波器件进行，若是要进行多种不同的微波器件的调试学习，则需要用到多种微波器件，然后再分别利用矢量网络分析仪进行调试，成本较高。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例提供了一种用于调试微波器件的仿真方法和仿真系统，以解决现有技术中，采用微波器件实物来进行不同微波器件的调试学习导致的成本高的问题。

本发明实施例的第一方面提供了一种用于调试微波器件的仿真方法，包括：根据待调试的微波器件和所述待调试的微波器件的第一调试指标，获取与所述第一调试指标对应的响应函数；获取基于所述响应函数确定的响应参数的值；基于所述第一调试指标和所述响应参数的值确定的第二调试指标，结束所述待调试的微波器件的调试。

本发明实施例的第二方面提供了用于调试微波器件的仿真系统，包括：分析设备和仿真器；所述仿真器用于根据待调试的微波器件和所述待调试的微波器件的第一调试指标，获取与所述第一调试指标对应的响应函数，并将所述响应函数发送至所述分析设备；所述分析设备用于获取所述响应函数，并输出基于所述响应函数和仿真模式确定的响应参数的值信息；所述仿真器还用于获取基于所述值信息确定的响应参数的值，并基于所述第一调试指标和所述响应参数的值确定的第二调试指标，结束所述待调试的微波器件的调试。

本发明实施例与现有技术相比存在的有益效果是：

本发明实施例提供了一种用于调试微波器件的仿真方法和仿真系统，首先根据待调试的微波器件和所述待调试的微波器件的第一调试指标，获取与所述第一调试指标对应的响应函数；然后获取基于所述响应函数确定的响应参数的值；最后基于所述第一调试指标和所述响应参数的值确定的第二调试指标，结束所述待调试的微波器件的调试。由于本发明实施例提供的仿真方法能够为不同的微波器件提供不同的响应函数，以进行对不同微波器件调试的仿真，使得在学习调试不同微波器件的时候，不用再去获取不同的微波器件的实物，也不用再利用矢量网络分析仪对微波器件进行测量，因此，能够大大的降低对不同微波器件的调试的学习成本。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1示出了本发明实施例提供的一种用于调试微波器件的仿真方法的实现流程示意图；

图2示出了本发明另一实施例提供的一种用于调试微波器件的仿真方法的实现流程示意图；

图3示出了本发明另一实施例提供的一种用于调试微波器件的仿真方法的实现流程示意图；

图4示出了本发明另一实施例提供的一种用于调试微波器件的仿真方法的实现流程示意图；

图5示出了本发明实施例提供的一种用于调试微波器件的仿真系统的组成示意图；

图6示出了本发明实施例提供的一种用于调试微波器件的仿真系统的组成示意图；

图7示出了本发明实施例提供的一种用于调试微波器件的仿真系统的组成示意图；

图8示出了本发明实施例提供的一种用于调试微波器件的仿真系统的组成示意图。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

微波器件是指工作在微波波段的器件，微波器件按其功能可分为微波振荡器、功率放大器、混频器、检波器、微波天线、微波传输线等。通过电路设计，可将这些器件组合成各种有特定功能的微波电路。通常，工程师以传输损耗、回波损耗、中心频率和阻带衰减等标准指标来衡量一个微波器件的性能。

由于微波器件在生产过程中存在加工误差，在使用的过程中也会发生磨损，同时随着使用环境(温度、湿度)的变化，由此导致微波器件不能达到标准指标(即如上所述的设计标准)的要求。为了使微波器件能够达到标准指标的要求，需要对微波器件进行调试，绘制出利用不同响应参数得到的响应曲线或者响应函数的值，最后通过改变微波器件的响应参数，使其达到标准指标的要求。

在以下实施例所举的例子中，均以三段线阻抗匹配器为例进行说明。

实施例一

图1示出了本发明实施例一提供的一种用于调试微波器件的仿真方法的实现流程。本实施例中的用于调试微波器件的仿真方法的执行主体为具有实现本发明实施例所述的用于调试微波器件的仿真方法的设备，具体地，该设备采用的开发板，可以包括但不限于Arduino控制器。详述如下：

S101、根据待调试的微波器件和所述待调试的微波器件的第一调试指标，获取与所述第一调试指标对应的响应函数。

第一调试指标，指的是待调试微波器件需要达到的标准指标。一个微波器件可能有不同的响应函数，同时可以有一个或多个第一调试指标。

响应函数是用于反映响应参数和第二调试指标的关系的函数。其中，响应参数，指的是微波器件中，与调试指标相关的一个或一组参数，通过不断的修改响应参数的值，使得第二调试指标的值尽可能的接近第一调试指标，从而达到调试目的；第二调试指标，指的是在实际的仿真过程中，根据响应参数的实际值计算得到的调试指标。

基于第一调试指标和第二调试指标可以得到目标函数，通过目标函数可以判断不同响应参数得到的第二调试指标和的第一调试指标之间的差异，从而判断是否结束调试。

以三段线阻抗匹配器为例，假设现在要调试三段线阻抗匹配器的回波损耗，回波损耗指的是反射波功率与入射波功率的比例关系，则选择待调试的微波器件为：三段线阻抗匹配器；第一调试指标为满足标准指标的回波损耗的值。然后根据待调试的微波器件和所述待调试的微波器件的第一调试指标，获取与所述第一调试指标对应的响应函数：|S₁₁|＝f(L1，L2，L3)，其中，L1、L2、L3为一组响应参数，用以表示三段线阻抗匹配器的三段传输线长度；响应函数值|S₁₁|为第二调试指标，表示根据一组响应参数得到的实际回波损耗的值。

在本发明实施例中，在步骤S101之前，还包括：配置不同微波器件的一个或多个响应函数。

如上所述，由于一个微波器件可能包括一个第一调试指标或多个第一调试指标，相应地，在用于调试微波器件的仿真方法的设备中设置不同微波器件的一个或多个响应函数，以方便进行不同微波器件的不同第一调试指标的调试。

S102、获取基于所述响应函数确定的响应参数的值。

在用于调试微波器件的仿真方法的设备获取到响应函数之后，将获取到的响应函数或者响应函数的值发送到分析设备进行分析、判断，然后该分析设备再直接或间接地向用于调试微波器件的仿真方法的设备返回经过分析、判断后的响应参数的值，以使用于调试微波器件的仿真方法的设备获取到基于所述响应函数确定的响应参数的值。其中，分析设备包括但不限于电脑或服务器。分析设备存储了不同微波器件的一个或多个响应函数、与响应函数对应的响应参数、响应参数的取值范围、第一调试指标以及与响应函数对应的目标函数。由于不能保证通过设置的一个或一组响应参数的值就使得达到第一调试指标的要求，所以需要根据经验，在用于调试微波器件的仿真方法的设备上设置响应参数的取值范围，然后通过多次修改响应参数的值得到第二调试指标，以判断是否达到调试指标使得调试结束。

S103、基于所述第一调试指标和所述响应参数的值确定的第二调试指标，结束所述待调试的微波器件的调试。

在用于调试微波器件的仿真方法的设备获取到基于响应函数确定的响应参数的值以后，基于该值，计算第二调试指标，最后结合第一调试指标和第二调试指标进行判断，当第一调试指标和第二调试指标满足预设规则的时候，结束待调试的微波器件的调试。

其中，预设规则可以为：判断第二调试指标与第一调试指标的差异是否在预设范围内，若第二调试指标与第一调试指标的差异在预设范围内，结束待调试的微波器件的调试；若第二调试指标与第一调试指标的差异不在预设范围内，则将基于响应参数的值计算得到的响应函数发送至分析设备，以使分析设备根据计算得到的响应函数进行下一次的分析，并向用于调试微波器件的仿真方法的设备继续返回计算得到的响应参数的值，直至得到与第一调试指标差异在预设范围内的响应参数的值。

以三段线阻抗匹配器的回波损耗为例，此时的第一调试指标为一个值，因此，预设规则为：若第二调试指标与第一调试指标的差值在预设范围内，结束待调试的微波器件的调试；若第二调试指标与第一调试指标的差值不在预设范围内，则继续调试。

本发明实施例提供了一种用于调试微波器件的仿真方法，首先根据待调试的微波器件和所述待调试的微波器件的第一调试指标，获取与所述第一调试指标对应的响应函数；然后获取基于所述响应函数确定的响应参数的值；最后基于所述第一调试指标和所述响应参数的值确定的第二调试指标，结束所述待调试的微波器件的调试。由于本发明实施例提供的仿真方法能够为不同的微波器件提供不同的响应函数，以进行对不同微波器件调试的仿真，使得在学习调试不同微波器件的时候，不用再去获取不同的微波器件的实物，也不用再利用矢量网络分析仪对微波器件进行测量，因此，能够大大的降低对不同微波器件的调试的学习成本。

在本发明实施例中，不同的仿真模式对应的基于所述响应函数确定的响应参数的值的获取方式不同，用于调试微波器件的仿真方法的设备将基于调试人员选择的仿真模式利用不同的方式获取基于所述响应函数确定的响应参数的值。具体地，仿真模式包括：直连模式、电调模式、和机械模式。下面将通过实施例二至实施例四详细讲解三种模式对应的响应参数的值的获取方式。

实施例二

参照图2，图2是本发明实施例二提供的用于调试微波器件的仿真方法的实现流程示意图。本实施例与实施例一的区别在于S202。本实施例中的S201、S203与实施例一中的S101、S103相同，具体请参阅实施例一中S101、S103的相关描述，此处不赘述。

本发明实施例对应的仿真模式为直连模式，分析设备与用于调试微波器件的仿真方法的设备直接相连。具体如下：

S201、根据待调试的微波器件和所述待调试的微波器件的第一调试指标，获取与所述第一调试指标对应的响应函数。

S202、获取分析设备返回的基于所述响应函数确定的响应参数的值。

在这里，分析设备可以包括但不限于电脑或服务器。分析设备存储了不同微波器件的一个或多个响应函数、与响应函数对应的响应参数、响应参数的取值范围、第一调试指标以及与响应函数对应的目标函数。需要说明的是，本发明实施例的用于调试微波器件的仿真方法的设备可以通过USB模块与分析设备互连，以此实现用于调试微波器件的仿真方法的设备与分析设备的数据交换。

分析设备在接收到响应函数之后，基于该响应函数、分析设备中存储的与该响应函数对应的响应参数、响应参数的取值范围、第一调试指标以及与该响应函数对应的目标函数，在设置了迭代次数和初始参数之后，利用优化算法经过多次迭代得到目标函数的最优解，最后将与该最优解对应的响应参数的值发送至用于调试微波器件的仿真方法的设备，以使用于调试微波器件的仿真方法的设备能够获取到该分析设备返回的响应参数的值。

例如，分析设备首先接收用于调试微波器件的仿真方法的设备发送的三段线阻抗匹配器的响应函数|S₁₁|＝f(L1，L2，L3)，然后基于分析设备中存储的与该响应函数对应的响应参数：L1，L2，L3，响应参数的取值范围：L1、(1cm，3cm)；L2、(1cm，1.5cm)；L3、(1cm，2cm)，第一调试指标P，以及与该响应函数对应的目标函数：U(L1，L2，L3)＝max(|S₁₁|-P)，得到使目标函数达到最优的响应参数L1，L2，L3的值：L1＝1.5cm，L2＝1cm，L3＝1.1cm，然后将这组响应参数的值发送至用于调试微波器件的仿真方法的设备，以使用于调试微波器件的仿真方法的设备能够获取到该分析设备返回的响应参数的值：L1＝1.5cm，L2＝1cm，L3＝1.1cm。

在获取到响应参数的值以后，计算响应函数的值(即第二调试指标)，最后将计算得到的响应函数的值发送至分析设备，以使分析设备基于该计算得到的响应函数再次进行分析、计算，使用于调试微波器件的仿真方法的设备再次获取到响应参数的值，直至得到与第一调试指标差异满足预设规则的响应参数的值。

S203、基于所述第一调试指标和所述响应参数的值确定的第二调试指标，结束所述待调试的微波器件的调试

上述方案，通过将响应函数发送至分析设备，以使在分析设备端完成对响应函数的分析、计算，最后将分析结果，即响应参数的值返回到用于调试微波器件的仿真方法的设备，能够大大的减少用于调试微波器件的仿真方法的设备的计算量，同时，还能在分析设备端执行更多的操作，以及更多参数的设置，使得获得分析设备端给出的更精确的分析结果。

实施例三

参照图3，图3是本发明实施例三提供的用于调试微波器件的仿真方法的实现流程示意图。本实施例与实施例一的区别在于S302。本实施例中S301、S303与实施例一中的S101、S103相同，具体请参阅实施例一中S101、S103的相关描述，此处不赘述。

本发明实施例对应的仿真模式为电调模式，分析设备与稳压电源相连，稳压电源与用于调试微波器件的仿真方法的设备相连。具体如下：

S301、根据待调试的微波器件和所述待调试的微波器件的第一调试指标，获取与所述第一调试指标对应的响应函数。

用于调试微波器件的仿真方法的设备存储了不同微波器件的一个或多个响应函数、与响应函数对应的响应参数、响应参数的取值范围、第一调试指标以及与响应函数对应的目标函数。

S302、获取由分析设备控制的稳压电源输出的电压值；获取基于所述电压值确定的响应参数的值。

用于调试微波器件的仿真方法的设备与分析设备控制的稳压电源相连，即分析设备与稳压电源相连，稳压电源与用于调试微波器件的仿真方法的设备相连，使得用于调试微波器件的仿真方法的设备能够获取到稳压电压输出的电压值。

稳压电源的电压值与响应参数的值一一对应，不同的电压值对应不同的响应参数值。因此，可以通过获取到的稳压电源输出的电压值，确定响应参数的值。

在获取到响应参数的值以后，计算响应函数的值(即第二调试指标)，最后将计算得到的响应函数值发送至分析设备，以使分析设备基于该计算得到的响应函数值再次确定稳压电源的输出电压值，使用于调试微波器件的仿真方法的设备再次获取到稳压电源输出的电压值，确定响应参数的值，直至得到与第一调试指标差异满足预设规则的响应参数的值。

S303、基于所述第一调试指标和所述响应参数的值确定的第二调试指标，结束所述待调试的微波器件的调试。

上述方案，建立了稳压电源电压值与响应参数的值的对应关系，使得能够直接根据稳压电源的电压值确定响应参数的值。

实施例四

参照图4，图4是本发明实施例四提供的用于调试微波器件的仿真方法的实现流程示意图。本实施例与实施例一的区别在于S402。本实施例中S401、S403与实施例一中的S101、S103相同，具体请参阅实施例一中S101、S103的相关描述，此处不赘述。

本发明实施例对应的仿真模式为机械模式，分析设备与电机设备相连，电机设备与用于调试微波器件的仿真方法的设备相连。具体如下：

S401、根据待调试的微波器件和所述待调试的微波器件的第一调试指标，获取与所述第一调试指标对应的响应函数。

S402、获取用于执行所述仿真方法的设备的电位旋钮的位置信息；获取基于所述位置信息确定的响应参数的值。

在这里，电位旋钮所在的位置(即电位旋钮当前所处的角度)与响应参数的值一一对应，电位旋钮所在的位置不同，获取的响应参数的值不同。

可选的，电位旋钮的位置可以是调试人员手动旋转后的得到的位置，也可以是利用电机设备来调整的位置。

在本发明实施例中，获取用于调试微波器件的仿真方法的设备的电位旋钮的位置信息，然后基于该位置信息确定响应参数的值，并利用该获取到的响应参数的值计算响应函数的值，最后调试人员或者电机设备基于该计算得到的响应函数的值再次调整电位旋钮的位置，以使用于调试微波器件的仿真方法的设备能够再次基于该电位旋钮的位置信息获取到响应参数的值，直至得到与第一调试指标差异在预设范围内的响应参数的值。

S403、基于所述第一调试指标和所述响应参数的值确定的第二调试指标，结束所述待调试的微波器件的调试。

上述方案，由于可以通过电机或调试人员对电位旋钮进行机械控制，因此能够得到更加符合调试人员的需求的响应参数的值。

需要说明的是，上述方法实施例一至实施例四，在获取到响应参数的值以后，还可以将响应参数的值和基于该值得到的响应函数在用于调试微波器件的仿真方法的设备端的显示屏进行实时显示，方便调试人员查看。

实施例五

图5示出了本发明实施例提供的用于调试微波器件的仿真系统100，包括分析设备110和仿真器120；

所述仿真器120用于根据待调试的微波器件和所述待调试的微波器件的第一调试指标，获取与所述第一调试指标对应的响应函数，并将所述响应函数发送至所述分析设备110；

所述分析设备110用于获取所述响应函数，并输出基于所述响应函数和仿真模式确定的响应参数的值信息；

所述仿真器120还用于获取基于所述值信息确定的所述响应参数的值，并基于所述第一调试指标和所述响应参数的值确定的第二调试指标，结束所述待调试的微波器件的调试。

其中，仿真模式包括：直连模式、电调模式、和机械模式。

可选地，在本发明实施例中，响应函数的值信息包括但不限于响应函数的值或者与响应函数的值相关的指令等。与仿真模式相对应的，所述仿真器120可以通过以下三种方式获取到响应参数的值。

1、直连模式：分析设备与仿真器120的USB模块相连

在本实施例中，如图6所示，仿真器120还包括USB模块121，通过该USB模块121实现分析设备110与仿真器120的直连。在这种模式下，分析设备输出的基于所述响应函数和仿真模式确定的响应参数的值信息具体为响应参数的值，所述USB模块用于在所述分析设备输出基于所述响应函数和仿真模式确定的响应参数的值信息之后，接收所述分析设备110输出的响应参数的值，以使所述仿真器120的Arduino控制器127可以通过USB模块121直接获取到基于所述值信息确定的所述响应参数的值。

2、电调模式：稳压电源130与仿真器120相连

在本实施例中，如图7所示，仿真系统100还包括稳压电源130，仿真器120还包括电压转化模块123，所述稳压电源130用于在所述分析设备110输出基于所述响应函数和仿真模式确定的响应参数的值信息之后，接收所述分析设备110输出的值信息，并基于所述值信息，输出与所述值信息对应的电压值；所述电压转换模块123用于接收所述电压值，并基于所述电压值确定所述响应参数的值，以使仿真器120根据稳压电源123输出的电压值确定响应参数的值，使得所述仿真器120的Arduino控制器127可以通过电压转换模块123获取基于所述值信息确定的所述响应参数的值。

3、机械模式：电机140与仿真器120相连

在本实施例中，如图8所示，仿真系统100还包括电机140，仿真器120还包括电位旋钮124，所述电机140用于在所述分析设备110输出基于所述响应函数和仿真模式确定的响应参数的值信息之后，接收所述分析设备110发送的值信息，并基于所述值信息，控制所述电位旋钮124旋转至与所述值信息对应的位置，以使仿真器120根据电位旋钮124的位置信息确定响应参数的值，使得所述仿真器120的Arduino控制器127可以通过电位旋钮124获取基于所述值信息确定的所述响应参数的值。

如图6至8所示，本发明实施例提供的仿真系统还包括复位模块122、显示模块125和电源模块126。其中，复位模块122用于在出现数据错误或者其他系统错误的时候，对整个系统的数据进行复位；显示模块125用于显示需要显示的数据，例如，显示响应参数的值或响应函数；电源模块126，用于对Arduino控制器进行供电。

本发明实施例提供了一种用于调试微波器件的仿真系统，首先仿真器根据待调试的微波器件和所述待调试的微波器件的第一调试指标，获取与所述第一调试指标对应的响应函数，并将响应函数发送至分析设备；然后分析设备获取所述响应函数，并输出基于所述响应函数和仿真模式确定的响应参数的值信息，最后仿真器获取基于所述值信息确定的所述响应函数的值，并基于所述第一调试指标和所述响应参数的值确定的第二调试指标，结束所述待调试的微波器件的调试。由于本发明实施例提供的仿真系统能够为不同的微波器件提供不同的响应函数，以进行对不同微波器件调试的仿真，使得在学习调试不同微波器件的时候，不用再去获取不同的微波器件的实物，也不用再利用矢量网络分析仪对微波器件进行测量，因此，能够大大的降低对不同微波器件的调试的学习成本。

在本发明实施例中，所述仿真器120还用于在根据待调试的微波器件和所述待调试的微波器件的第一调试指标，获取与所述调试指标对应的响应函数之前，配置不同微波器件的一个或多个响应函数。

在本发明实施例中，所述仿真器120还用于若基于所述第一调试指标和所述第二调试指标确定的差异在预设范围内，结束所述待调试的微波器件的调试。

需要说明的是，本发明实施例五提出的用于调试微波器件的仿真系统与本发明方法实施例提出的用于调试微波器件的仿真方法基于相同的发明构思，系统实施例与方法实施例中的相应技术内容可互相适用，此处不再详述。

本领域普通技术人员可以意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、计算机软件或者二者的结合来实现，为了清楚地说明硬件和软件的可互换性，在上述说明中已经按照功能一般性地描述了各示例的组成及步骤。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本发明的范围。

所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为了描述的方便和简洁，上述描述的设备和单元的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。

在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以是两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。

所述集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分，或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(Read-Only Memory，ROM)、随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到各种等效的修改或替换，这些修改或替换都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以权利要求的保护范围为准。

Claims (9)

1.一种用于调试微波器件的仿真方法，其特征在于，包括：

根据待调试的微波器件和所述待调试的微波器件的第一调试指标，获取与所述第一调试指标对应的响应函数；

获取基于所述响应函数确定的响应参数的值；

基于所述第一调试指标和所述响应参数的值确定的第二调试指标，结束所述待调试的微波器件的调试；

其中，所述基于所述第一调试指标和所述响应参数的值确定的第二调试指标，结束所述待调试的微波器件的调试，包括：

若基于所述第一调试指标和所述第二调试指标确定的差异在预设范围内，结束所述待调试的微波器件的调试。

2.如权利要求1所述的仿真方法，其特征在于，在所述根据待调试的微波器件和所述待调试的微波器件的第一调试指标，获取与所述调试指标对应的响应函数之前，还包括：

配置不同微波器件的一个或多个响应函数。

3.如权利要求1所述的仿真方法，其特征在于，所述获取基于所述响应函数确定的响应参数的值，包括：

获取分析设备返回的基于所述响应函数确定的响应参数的值。

4.如权利要求1所述的仿真方法，其特征在于，所述获取基于响应函数确定的所述响应参数的值，包括：

获取由分析设备控制的稳压电源输出的电压值；

获取基于所述电压值确定的响应参数的值。

5.如权利要求1所述的仿真方法，其特征在于，所述获取基于响应函数确定的所述响应参数的值，包括：

获取用于执行所述仿真方法的设备的电位旋钮的位置信息；

获取基于所述位置信息确定的响应参数的值。

6.一种用于调试微波器件的仿真系统，其特征在于，包括分析设备和仿真器；

所述仿真器用于根据待调试的微波器件和所述待调试的微波器件的第一调试指标，获取与所述第一调试指标对应的响应函数，并将所述响应函数发送至所述分析设备；

所述分析设备用于获取所述响应函数，并输出基于所述响应函数和仿真模式确定的响应参数的值信息；

所述仿真器还用于获取基于所述值信息确定的所述响应参数的值，并基于所述第一调试指标和所述响应参数的值确定的第二调试指标，结束所述待调试的微波器件的调试；

其中，所述仿真器还用于基于所述第一调试指标和所述响应参数的值确定的第二调试指标，结束所述待调试的微波器件的调试，包括：

所述仿真器还用于若基于所述第一调试指标和所述第二调试指标确定的差异在预设范围内，结束所述待调试的微波器件的调试。

7.如权利要求6所述的仿真系统，其特征在于，所述输出基于所述响应函数和仿真模式确定的响应参数的值信息，包括：输出基于所述响应函数和仿真模式确定的响应参数的值；

所述仿真器包括USB模块，所述USB模块用于在所述分析设备输出基于所述响应函数和仿真模式确定的响应参数的值信息之后，接收所述分析设备输出的响应参数的值，以使所述仿真器获取基于所述值信息确定的所述响应参数的值。

8.如权利要求6所述的仿真系统，其特征在于，所述仿真系统还包括稳压电源，所述仿真器包括电压转化模块；

所述稳压电源用于在所述分析设备输出基于所述响应函数和仿真模式确定的响应参数的值信息之后，接收所述分析设备输出的值信息，并基于所述值信息，输出与所述值信息对应的电压值；

所述电压转换模块用于接收所述电压值，并基于所述电压值确定所述响应参数的值，以使所述仿真器获取基于所述值信息确定的所述响应参数的值。

9.如权利要求6所述的仿真系统，其特征在于，所述仿真系统还包括电机，所述仿真器还包括电位旋钮；

所述电机用于在所述分析设备输出基于所述响应函数和仿真模式确定的响应参数的值信息之后，接收所述分析设备发送的值信息，并基于所述值信息，控制所述电位旋钮旋转至与所述值信息对应的位置，以使所述仿真器获取基于所述值信息确定的所述响应参数的值。

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