CN110058151A - 一种键盘功能测试方法 - Google Patents

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王小卫
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Chicony Electronics Suzhou Co Ltd
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
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    • G01R31/327—Testing of circuit interrupters, switches or circuit-breakers
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Abstract

本发明涉及键盘测试领域，尤其涉及一种键盘功能测试方法，包括以下步骤：a、将功能测试仪分别连接待测键盘、条码枪和电脑,在键盘的背面贴条码；b、利用功能测试仪测量键盘的LED灯的阻抗；c、利用功能测试仪测量键盘的按键没有按下时，即微短路时的阻抗；d、按下键盘，利用功能测试仪测量按下键盘按键时的阻抗；e、将步骤b、c、d中测量的阻抗和键盘正常时的标准阻抗对比，检测键盘是否正常；f、将测量出的结果存储到电脑中，通过条码枪扫描键盘上的条码查看键盘的测量数据和结果，测量按键和LED灯的阻抗符不符合要求，从而判断按键、LED灯的好坏，较为方便，便于键盘的后续使用和处理，整个测试实现高效化、智能化。

Description

一种键盘功能测试方法
技术领域
本发明涉及键盘测试领域，尤其涉及一种键盘功能测试方法。
背景技术
键盘加工之后通常需要对键盘的功能进行测试，主要通过测量按键的阻抗和LED灯来判断键盘的功能是否正常，目前测量按键的阻抗是通过硬件设定一个阀值,不方便修改，测试不方便。并且当前使用的检测设备不能够直接连接条码枪,无法直观的在电脑上实现测试结果和产品的自动匹配，使得测试结果分析较为麻烦。
发明内容
本发明的目的是克服现有技术存在的缺陷，提供一种方便测试的键盘功能测试方法。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：一种键盘功能测试方法，包括以下步骤：
a、将功能测试仪分别连接待测键盘、条码枪和电脑,在键盘的背面贴条码；
b、利用功能测试仪测量键盘的LED灯的阻抗；
c、利用功能测试仪测量键盘的按键没有按下时，即微短路时的阻抗；
d、按下键盘，利用功能测试仪测量按下键盘按键时的阻抗；
e、将步骤b、c、d中测量的阻抗和键盘正常时的标准阻抗对比，检测键盘是否正常；
f、将测量出的结果存储到电脑中，通过条码枪扫描键盘上的条码查看键盘的测量数据和结果。
功能测试仪中采用了具有21路AD采集通道的芯片，对键盘矩阵图上的16路纵向线路上的采样电阻进行连续采样，获取电压值，并通过公式转换成阻抗值，因此获取阻抗，通过软件设定标准阻抗，进行拦截。
通过设置继电器切换电路，实现步骤c和步骤d测量的交替进行。
有益效果：本申请通过功能测试仪测量每个按键和按键上的LED灯的阻抗，传输到电脑中，电脑将测得的阻抗和标准阻抗相比较，即测量按键和LED灯的阻抗符不符合要求，从而判断按键、LED灯的好坏，每个键盘的背面都贴有条码，即键盘身份ID，测试完毕，会把键盘的所有数据绑定到对应的条码上，上传到服务器，操作者可以通过搜索条码ID，来获取键盘的数据等信息，较为方便，便于键盘的后续使用和处理，整个测试实现高效化、智能化。
附图说明
图1是本发明的系统流程图；
具体实施方式
下面结合图1，对本发明作进一步的描述。
一种键盘功能测试方法，包括以下步骤：
a、将功能测试仪分别连接待测键盘、条码枪和电脑,在键盘的背面贴条码；
b、利用功能测试仪测量键盘的LED灯的阻抗；
c、利用功能测试仪测量键盘的按键没有按下时，即微短路时的阻抗；
d、按下键盘，利用功能测试仪测量按下键盘按键时的阻抗；
e、将步骤b、c、d中测量的阻抗和键盘正常时的标准阻抗对比，检测键盘是否正常；
f、将测量出的结果存储到电脑中，通过条码枪扫描键盘上的条码查看键盘的测量数据和结果。
参考图1，本申请通过功能测试仪测量每个按键和按键上的LED灯的阻抗，传输到电脑中，电脑将测得的阻抗和标准阻抗相比较，即测量按键和LED灯的阻抗符不符合要求，从而判断按键、LED灯的好坏，每个键盘的背面都贴有条码，即键盘身份ID，测试完毕，会把键盘的所有数据绑定到对应的条码上，上传到服务器，操作者可以通过搜索条码ID，来获取键盘的数据等信息，较为方便，便于键盘的后续使用和处理，整个测试实现高效化、智能化。
进一步的，功能测试仪中采用了具有21路AD采集通道的芯片，对键盘矩阵图上的16路纵向线路上的采样电阻进行连续采样，获取电压值，并通过公式转换成阻抗值，因此获取阻抗，通过软件设定标准阻抗，进行拦截。
更进一步的，通过设置继电器切换电路，实现步骤c和步骤d测量的交替进行。
应当理解，以上所描述的具体实施例仅用于解释本发明，并不用于限定本发明。由本发明的精神所引伸出的显而易见的变化或变动仍处于本发明的保护范围之中。

Claims (3)

1.一种键盘功能测试方法，包括以下步骤：
a、将功能测试仪分别连接待测键盘、条码枪和电脑,在键盘的背面贴条码；
b、利用功能测试仪测量键盘的LED灯的阻抗；
c、利用功能测试仪测量键盘的按键没有按下时，即微短路时的阻抗；
d、按下键盘，利用功能测试仪测量按下键盘按键时的阻抗；
e、将步骤b、c、d中测量的阻抗和键盘正常时的标准阻抗对比，检测键盘是否正常；
f、将测量出的结果存储到电脑中，通过条码枪扫描键盘上的条码查看键盘的测量数据和结果。
2.根据权利要求1所述的键盘功能测试方法，其特征在于：功能测试仪中采用了具有21路AD采集通道的芯片，对键盘矩阵图上的16路纵向线路上的采样电阻进行连续采样，获取电压值，并通过公式转换成阻抗值，因此获取阻抗，通过软件设定标准阻抗，进行拦截。
3.根据权利要求1所述的键盘功能测试方法，其特征在于：通过设置继电器切换电路，实现步骤c和步骤d测量的交替进行。
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