CN110058129A - 绝缘材料的耐漏电起痕性能测试方法和装置 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种绝缘材料的耐漏电起痕性能测试方法和装置，所述的耐漏电起痕性能测试方法包括：采用第一预设功率的红外激光对待测绝缘材料烧蚀第一预设时间；获取待测绝缘材料的第一烧蚀量；根据第一烧蚀量和预设耐漏电起痕性能等级表获取待测绝缘材料的耐漏电起痕性能等级。由此，可实现对绝缘材料的耐漏电起痕性能的简单、快速测量。

Description

绝缘材料的耐漏电起痕性能测试方法和装置

技术领域

本发明涉及绝缘性能测试技术领域，特别是涉及一种绝缘材料的耐漏电起痕性能测试方法和装置。

背景技术

户外使用的绝缘材料如复合绝缘子、涂覆了RTV(Room Temperature Vulcanized，室温硫化型)涂料的玻璃绝缘子等，在长时间运行后，表面会积累一定的污秽，潮湿天气时污秽受潮，在高电场作用下，污秽区域的泄漏电流比干净区域的泄漏电流要大许多，并且泄漏电流大的污秽区域会逐渐形成干区。干区的出现将导致绝缘材料表面电场严重畸变，并且干区由于等效电阻比较大，所以会承受大部分的电压，从而产生干区电弧，而干区电弧又会导致绝缘材料表面逐渐劣化并形成导电或部分导电的通道，最后导致闪络，因此耐漏电起痕性能是衡量绝缘材料电气性能的重要指标之一。

通常，绝缘材料会在干区电弧产生的热量、氧化反应以及紫外照射等因素的作用下发生分解，其中，干区电弧的热作用影响最大。基于此，传统的耐漏电起痕性能测试方法如ASTM-D2303标准里的斜面法，通过给两端加电压的绝缘材料试片滴上电解液，当电压足够高时，绝缘材料表面将出现干区电弧，从而可以加速模拟由干区电弧所导致的材料分解，然后在分解完成后进行测试。

上述耐漏电起痕性能测试方法需要进行样品预处理，配制电解液，给试片加上数小时的电压，控制水滴流量，最后再测量几个主要烧蚀孔洞的深度，以作为材料耐漏电起痕性能的指示，整个测试过程步骤繁多，测试复杂，而且国家标准GT/B 6553-2014中的斜面法也存在同样的问题。

发明内容

基于此，有必要针对传统的耐漏电起痕性能测试方法存在的测试步骤繁多、测试复杂的技术问题，提供一种绝缘材料的耐漏电起痕性能测试方法和装置。

一种绝缘材料的耐漏电起痕性能测试方法，包括：

采用第一预设功率的红外激光对待测绝缘材料烧蚀第一预设时间；

获取待测绝缘材料的第一烧蚀量；

根据第一烧蚀量和预设耐漏电起痕性能等级表获取待测绝缘材料的耐漏电起痕性能等级。

在其中一个实施例中，第一预设功率通过以下方式获取：

采用第二预设功率的红外激光对不同耐漏电起痕性能的样品进行烧蚀，并获取每个样品的第一表面最高温度；

判断所有样品中任意两个样品的第一表面最高温度之间的温度差值的绝对值是否均小于等于第一预设温度阈值；

如果否，则对第二预设功率进行调节，直至所有样品中任意两个样品的第一表面最高温度之间的温度差值的绝对值均小于等于第一预设温度阈值，以获得第一预设功率。

在其中一个实施例中，预设耐漏电起痕性能等级表通过以下方式获取：

采用斜面法对不同耐漏电起痕性能的样品进行测试，以获得每个样品的耐漏电起痕性能等级；

采用第一预设功率的红外激光对每个样品进行烧蚀，并获取每个样品的第二烧蚀量，直至第二烧蚀量满足预设烧蚀量阈值；

根据第二烧蚀量和每个样品的耐漏电起痕性能等级获取预设耐漏电起痕性能等级表。

在其中一个实施例中，当第二烧蚀量满足预设烧蚀量阈值时，对应的烧蚀时间为第一预设时间。

在其中一个实施例中，第一烧蚀量和第二烧蚀量包括：烧蚀深度、烧蚀半径、烧蚀体积和烧蚀质量中的一种或多种。

在其中一个实施例中，通过红外成像仪获取每个样品的第一表面最高温度。

在其中一个实施例中，在获取每个样品的第一表面最高温度之前，还对红外成像仪进行校正。

在其中一个实施例中，对红外成像仪进行校正，包括：

将相同耐漏电起痕性能的样品放置在第一预设温度的箱体中；

通过红外成像仪获取相同耐漏电起痕性能的样品的第二表面最高温度；

根据第二表面最高温度与第一预设温度之间的温度差值对红外成像仪的材料发射率参数进行调节，直至第二表面最高温度与第一预设温度之间的温度差值小于等于第二预设温度阈值。

在其中一个实施例中，红外激光为近红外连续激光，红外激光的波长为808nm或1064nm。

一种绝缘材料的耐漏电起痕性能测试装置，包括：

激光发射模块，用于发射红外激光至待测绝缘材料；

获取模块，用于获取待测绝缘材料的第一烧蚀量；

控制模块，控制模块与激光发射模块和获取模块分别电连接，控制模块用于控制激光发射模块采用第一预设功率的红外激光对待测绝缘材料烧蚀第一预设时间，并根据第一烧蚀量和预设耐漏电起痕性能等级表获取待测绝缘材料的耐漏电起痕性能等级。

上述绝缘材料的耐漏电起痕性能测试方法和装置，采用第一预设功率的红外激光对待测绝缘材料烧蚀第一预设时间，并获取待测绝缘材料的第一烧蚀量，以及根据第一烧蚀量和预设耐漏电起痕性能等级表获取待测绝缘材料的耐漏电起痕性能等级。由此，可实现对绝缘材料的耐漏电起痕性能的简单、快速测量。

附图说明

图1为一个实施例中绝缘材料的耐漏电起痕性能测试方法的流程图；

图2为一个实施例中红外激光对待测绝缘材料进行烧蚀的示意图；

图3为一个实施例中第一预设功率的获取流程图；

图4为一个实施例中预设耐漏电起痕性能等级表的获取流程图；

图5为一个实施例中对红外成像仪进行校正的流程图；

图6为一个实施例中绝缘材料的耐漏电起痕性能测试装置的方框示意图。

具体实施方式

为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本发明的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明。但是本发明能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本发明内涵的情况下做类似改进，因此本发明不受下面公开的具体实施的限制。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本发明。以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

图1为一个实施例中绝缘材料的耐漏电起痕性能测试方法的流程图，如图1所示，绝缘材料的耐漏电起痕性能测试方法包括：

步骤102，采用第一预设功率的红外激光对待测绝缘材料烧蚀第一预设时间。

具体地，当红外激光照射到待测绝缘材料(如硅橡胶材料)时，红外激光的光子能量不足以直接打断聚合物的原子键，但待测绝缘材料的分子在吸收了大量的光子能量后，会产生振动并产生大量的热，因此可以将红外激光聚焦到待测绝缘材料的表面进行烧蚀，以模拟干区电弧在烧蚀绝缘材料时的热过程。

其中，红外激光可以为连续红外激光，优选地，红外激光为近红外连续激光。在对红外激光进行选择时，其波长一般不能太短，因为当波长较短时，红外激光的光子能量会较强，较强的光子能量很可能直接与待测绝缘材料发生化学反应，从而影响测试，所以一般情况下，会选择波长为808nm或1064nm等波长较长的红外激光。

举例来说，当需要对某一待测绝缘材料进行耐漏电起痕性能测试时，可基于该材料选择波长为808nm的红外激光，然后通过相应的红外激光发射器发射频率一定的红外激光至待测绝缘材料的表面，以对待测绝缘材料进行烧蚀，直至烧蚀时间达到一定的时间，停止烧蚀。如图2所示，可在红外激光发射器与待测绝缘材料之间设置一个反射镜，通过反射镜进行路线改变和能量聚焦，具体可根据实际需要选择设置。

步骤104，获取待测绝缘材料的第一烧蚀量。

在一个实施例中，第一烧蚀量包括烧蚀深度、烧蚀半径、烧蚀体积和烧蚀质量中的一种或多种。

具体而言，在红外激光的照射下，待测绝缘材料的表面会形成一定的凹陷或者孔洞，该凹陷或者孔洞的特征直接反应了待测绝缘材料的烧蚀情况，所以通过获取该凹陷或者孔洞的特征能够获得待测绝缘材料的烧蚀量，例如，可通过获取凹陷或者孔洞的最大烧蚀深度和烧蚀半径，以作为待测绝缘材料的烧蚀量，记为第一烧蚀量。当然，也可以选择烧蚀质量或者其它参数或者组合以作为待测绝缘材料的烧蚀量，具体这里不做限制。

步骤106，根据第一烧蚀量和预设耐漏电起痕性能等级表获取待测绝缘材料的耐漏电起痕性能等级。

其中，预设耐漏电起痕性能等级表包括多个等级，每个等级对应不同的烧蚀量区间，例如，每个等级对应不同的烧蚀深度区间、烧蚀半径区间、烧蚀体积区间和烧蚀质量区间中的一种或多种。假设，每个等级对应有一个最大烧蚀深度区间、烧蚀半径区间、烧蚀体积区间和烧蚀质量区间，那么在获得第一烧蚀量如最大烧蚀深度和烧蚀半径后，可将最大烧蚀深度和烧蚀半径与预设耐漏电起痕性能等级表进行比对，以确定当前待测绝缘材料的耐漏电起痕性能等级。

本实施例中，采用第一预设功率的红外激光对待测绝缘材料烧蚀第一预设时间，并获取待测绝缘材料的第一烧蚀量，以及根据第一烧蚀量和预设耐漏电起痕性能等级表获取待测绝缘材料的耐漏电起痕性能等级。由此，可实现对绝缘材料的耐漏电起痕性能的简单、快速测量。

在一个实施例中，如图3所示，第一预设功率通过以下方式获取：

步骤302，采用第二预设功率的红外激光对不同耐漏电起痕性能的样品进行烧蚀，并获取每个样品的第一表面最高温度。

具体地，在对待测绝缘材料进行耐漏电起痕性能测试之前，需要对红外激光的功率即第一预设功率进行合理选择，在选择时，主要基于红外激光的总能量保持恒定原则，即在总能量恒定的条件下对第一预设功率进行选择。

其中，红外激光的总能量不能过高，其原因在于：由于红外激光的功率不同，使得红外激光烧蚀待测绝缘材料的过程不同，而本申请中的激光烧蚀是为了模拟干区电弧的烧蚀，如果总能量过高，将导致照射区的待测绝缘材料被快速加热、汽化，从而导致与干区电弧的烧蚀过程存在差异，同时难以保证不同耐漏电起痕性能的样品吸收了相同的能量，所以可基于待测绝缘材料的特性选择合适的总能量，进而根据该总能量对第一预设功率进行选择。

假设，基于待测绝缘材料的特性确定的红外激光的总能量为195W/s，而且通过上述分析可知，红外激光的功率也不能过高，基于此，可先选择一个稍微小一些的功率作为初始功率即第二预设功率，例如第二预设功率可以为6.5W，相应的时间即为烧蚀时间30s，然后通过红外激光发射器发射功率为6.5W的红外激光至不同耐漏电起痕性能的样品，以对不同耐漏电起痕性能的样品进行烧蚀，同时获取每个样品的表面最高温度，记为第一表面最高温度。

步骤304，判断所有样品中任意两个样品的第一表面最高温度之间的温度差值的绝对值是否均小于等于第一预设温度阈值，其中，第一预设温度阈值可根据实际情况进行标定。

具体地，可通过温度传感器等获取每个样品的第一表面最高温度，然后对获取的所有样品的第一表面最高温度进行比较判断，以确定所有样品中任意两个样品的第一表面最高温度之间的温度差值的绝对值是否均小于或等于第一预设温度阈值。例如，在获得每个样品的第一表面最高温度之后，可先获取第一表面最高温度的最大值和最小值，然后判断最大值与最小值之间的温度差值是否小于或等于第一预设温度阈值如1℃。

步骤306，如果否，则对第二预设功率进行调节，直至所有样品中任意两个样品的第一表面最高温度之间的温度差值的绝对值均小于等于第一预设温度阈值，以获得第一预设功率。

具体地，在通过红外激光发射器对每个样品进行烧蚀的过程中，实时获取并判断每个样品的第一表面最高温度，如果所有样品中存在两个样品的第一表面最高温度之间的温度差值的绝对值大于第一预设温度阈值如1℃，则对红外激光发射器的功率进行调节，并再次获取并判断每个样品的第一表面最高温度，如果仍存在两个样品的第一表面最高温度之间的温度差值的绝对值大于第一预设温度阈值如1℃，则继续对红外激光发射器的功率进行调节，直至所有样品中任意两个样品的第一表面最高温度之间的温度差值的绝对值均小于或等于第一预设温度阈值如1℃，不再对红外激光发射器的功率进行调节，并将此时的功率设定为第一预设功率，通过该第一预设功率对待测绝缘材料进行烧蚀。

本实施例中，通过在相同红外激光的照射下，对每个样品的表面温度进行测量，并根据测量结果对红外激光的功率进行实时调节，直至每个样品的表面温度均满足要求，以确保每个样品吸收了相同的能量，并将此时的红外激光的功率作为第一预设功率，这样可以保证在对待测绝缘材料进行烧蚀时，可以保证待测绝缘材料吸收了相同的能量，从而保证测量的准确度。可以理解的是，本实施例中的第一预设温度阈值也可以用比例来代替，例如，也可以通过判断所有样品中任意两个样品的第一表面最高温度之间的温度差值小于等于第一预设比例阈值如10％，以确定每个样品是否吸收了相同的能量。

在一个实施例中，如图4所示，预设耐漏电起痕性能等级表通过以下方式获取：

步骤402，采用斜面法对不同耐漏电起痕性能的样品进行测试，以获得每个样品的耐漏电起痕性能等级。

具体地，可以采用ASTM-D2303标准或者GT/B 6553-2014中的斜面法对不同耐漏电起痕性能的样品进行测试，以获得每个样品的耐漏电起痕性能等级，具体可依据标准进行测试，这里就不再赘述。

步骤404，采用第一预设功率的红外激光对每个样品进行烧蚀，并获取每个样品的第二烧蚀量，直至第二烧蚀量满足预设烧蚀量阈值。

在一个实施例中，第二烧蚀量包括：烧蚀深度、烧蚀半径、烧蚀体积和烧蚀质量中的一种或多种。

具体地，在通过斜面法获得每个样品的耐漏电起痕性能等级之后，采用红外激光发射器发射第一预设功率的红外激光至斜面法测试对应的每个样品，以对每个样品进行烧蚀。在红外激光的照射下，每个样品的表面会形成一定的凹陷或者孔洞，通过获取凹陷或者孔洞的最大烧蚀深度和烧蚀半径，以作为每个样品的烧蚀量，记为第二烧蚀量。当然，也可以选择烧蚀质量或者其它参数或者组合以作为每个样品的烧蚀量，具体这里不做限制。

在一个实施例中，当第二烧蚀量满足预设烧蚀量阈值时，对应的烧蚀时间为第一预设时间，其中，预设烧蚀量阈值是指在红外激光的照射下，在每个样品的表面所形成的凹陷或者孔洞能够方便测量，具体可根据实际情况进行标定，例如，当第二烧蚀量为最大烧蚀深度时，预设烧蚀量阈值可以为0.4-0.6mm；当第二烧蚀量为烧蚀半径时，预设烧蚀量阈值可以为0.5mm-1.5mm。

需要说明的是，该第一预设时间也是基于总能量恒定原则进行选择，但在此基础上可对其进行适当调整。例如，通过前述方式在获得第一预设功率之后，假设总能量为195W/s，基于总能量恒定原则，烧蚀时间为195/第一预设功率，然后根据第一预设功率和该烧蚀时间对每个样品进行烧蚀，当时间达到该烧蚀时间时，可先确定每个样品的表面是否形成有能够被测量的凹陷或者孔洞，如果有，则停止烧蚀，否则继续烧蚀，直至每个样品的表面形成的凹陷或者孔洞恰好能够被测量，停止烧蚀，并将该时间记为第一预设时间。

步骤406，根据第二烧蚀量和每个样品的耐漏电起痕性能等级获取预设耐漏电起痕性能等级表。

具体地，在获得第二烧蚀量如最大烧蚀深度和烧蚀半径之后，可与通过斜面法获得的每个样品的耐漏电起痕性能等级进行比对，以得到红外激光下不同耐漏电起痕性能等级对应的最大烧蚀深度区间和烧蚀半径区间，进而获得红外激光法对应的预设耐漏电起痕性能等级表。也就是说，利用斜面法对红外激光法对应的耐漏电起痕性能等级进行标定，并将标定结果设置成表格并存储，以在对待测绝缘材料进行测试时，基于该表格确定当前待测绝缘材料的等级，从而保证了测量结果的准确性和可靠性。

本实施例中，通过斜面法对红外激光法进行定标，可以保证红外激光法的测试结果有据可寻，保证了测试结果的准确性和可靠性。

在一个实施例中，通过红外成像仪获取每个样品的第一表面最高温度。也就是说，不仅可以通过温度传感器等获取每个样品的第一表面最高温度，也可以通过红外成像仪来获取，并且由于红外成像测温技术已经比较成熟，可以省去直接通过温度传感器进行测量导致的测试不准确等的问题，因而优选采用红外成像仪获取每个样品的第一表面最高温度。

在一个实施例中，在获取每个样品的第一表面最高温度之前，还对红外成像仪进行校正，以提高温度测试的准确度。

在一个实施例中，如图5所示，对红外成像仪进行校正包括：

步骤502，将相同耐漏电起痕性能的样品放置在第一预设温度的箱体中，其中，第一预设温度可根据实际需求进行设置，例如第一预设温度可以为30℃。

步骤504，通过红外成像仪获取相同耐漏电起痕性能的样品的第二表面最高温度。

步骤506，根据第二表面最高温度与第一预设温度之间的温度差值对红外成像仪的材料发射率参数进行调节，直至第二表面最高温度与第一预设温度之间的温度差值小于等于第二预设温度阈值。其中，第二预设温度阈值可根据实际情况进行标定，例如第二预设温度阈值可以为0.5℃。

具体地，可将相同耐漏电起痕性能的样品放置在用热电偶加热的、温度已知的热炉中，然后用红外成像仪测量该样品的表面最高温度，记为第二表面最高温度，并判断第二表面最高温度与第一预设温度是否相同或相近，如果不是，则对红外成像仪的材料发射率参数进行调节，直至第二表面最高温度与第一预设温度相同或相近，至此完成对红外成像仪的校正。需要说明的是，不同耐漏电起痕性能的样品对应不同的红外成像仪。

本实施例中，通过对红外成像仪进行校正，可以提高温度测试的准确度，进而提高整个测试的准确度。

在上述实施例中，如果将对待测绝缘材料的测试定义为正式测试阶段，将第一预设功率的获取定义为功率校准阶段，将预设耐漏电起痕性能等级表的获取定义为斜面法定标阶段，以及将对红外成像仪的校正定义为仪器校正阶段，那么在对待测绝缘材料进行测试时，可包括四个阶段，依次为：仪器校正阶段、功率校准阶段、斜面法定标阶段和正式测试阶段，其中，前三个阶段作为正式测试前的预备工作，而在正式测试时，直接进入正式测试阶段即可。

举例来说，假设需要对A类、B类待测绝缘材料进行测试，那么在正式测试前，需要获得相应的等级表，而在获取等级表时，基于时间节省以及测试准确度等的考虑，可以同时获得更多类绝缘材料的等级表，例如，可同时获得A类、B类、C类的等级表，并在获取的过程中，每类样品可以选择多个样品。例如，A类样品可以选择样品A1、样品A2和样品A3，B类样品可以选择样品B1、样品B2和样品B3，C类样品可以选择样品C1、样品C2和样品C3。

然后，针对A类样品、B类样品和C类样品分别选择一个红外成像仪，并对每个红外成像仪进行校正。例如，将样品A1、样品A2和样品A3同时放置在用热电偶加热的、温度已知的热炉中，并用相应的红外成像仪测量样品A1、样品A2和样品A3的温度(第二表面最高温度)，并在此过程中不断调整红外成像仪的材料发射率参数，直到红外成像仪的测量温度与已知温度(第一预设温度)相等或相近，至此完成对A类样品对应的红外成像仪的校正。采用同样的方式分别对B类、C类样品对应的红外成像仪进行校正，至此仪器校正阶段结束。

接着，选择合适波长的红外激光发射器，并在总能量保持恒定的条件下，选择合适的激光功率(第二预设功率)和烧蚀时间组合，例如，选择波长为808nm的连续红外激光发射器，并将激光功率设置为6.5W，烧蚀时间设置为30s。然后，通过选择的连续红外激光发射器发射激光功率为6.5W的红外激光至每个样品(包括样品A1、A2和A3、样品B1、B2和B3以及样品C1、C2和C3)的表面，以对每个样品进行烧蚀，同时利用每类样品对应的红外成像仪测量每个样品的温度(第一表面最高温度)，并根据每个样品的温度对连续红外激光发射器的激光功率进行调节，以确定所有样品的温度之间的偏差不大于10％，从而确保所有样品吸收了相同的能量，并将当前的激光功率作为连续红外激光发射器的激光功率(第一预设功率)。同时，对烧蚀时间进行调整，使得红外激光在耐漏电起痕性能最好的样品表面恰好能够烧蚀掉尺寸可测的孔洞，例如，烧蚀直径为2mm左右，最大烧蚀深度为0.5mm左右，并将此时的烧蚀时间作为连续红外激光发射器的烧蚀时间，至此功率校准阶段结束。

接着，根据GT/B 6553-2014中的斜面法分别对A类、B类和C类所有样品进行测试，以得到3种耐漏电起痕性能等级的多个样品。然后，利用功率校准阶段中确定的连续红外激光发射器以及确定的激光功率(第一预设功率)和烧蚀时间对A类、B类和C类所有样品进行烧蚀，烧蚀完毕后，测量每个样品对应的第二烧蚀量如最大烧蚀深度和烧蚀半径，并与斜面法得到的分级结果进行比对，以得到红外激光下，不同耐漏电起痕性能等级对应的烧蚀量区间如烧蚀深度区间和烧蚀半径区间，从而获得红外激光下的耐漏电起痕性能等级表。其中，烧蚀时间可以根据每个样品的表面是否形成有能够被测量的凹陷或者孔洞来调整，具体可根据红外激光在耐漏电起痕性能最好的样品表面恰好能够烧蚀掉尺寸可测的孔洞进行调整，并将调整后的烧蚀时间作为测试用烧蚀时间(第一预设时间)，至此斜面法定标阶段结束。

最后，利用功率校准阶段中确定的连续红外激光发射器和激光功率(第一预设功率)，以及斜面法定标阶段中确定的测试用烧蚀时间(第一预设时间)对A类待测绝缘材料进行烧蚀，并在烧蚀完成后，测量A类待测绝缘材料的第一烧蚀量如最大烧蚀深度和烧蚀半径，并根据斜面法定标阶段中获取的耐漏电起痕性能等级表确定第一烧蚀量所处烧蚀量区间，进而根据该烧蚀量区间确定A类待测绝缘材料的耐漏电起痕性能等级。采用同样的方式可以获得B类待测绝缘材料的耐漏电起痕性能等级，至此正式测试阶段结束。

后续，如果需要对C类待测绝缘材料的耐漏电起痕性能等级进行测试，由于C类对应的耐漏电起痕性能等级表已经确认，所以此时按照正式测试阶段的步骤直接测试即可，只有在有新类型的样品出现时，才执行前三个阶段。

通过上述实施例可以看出，采用红外激光对待测绝缘材料进行耐漏电起痕性能等级测试时，只需在正式测试前进行一次定标以获得相应的等级表，而在正式测试时，无需对待测绝缘材料进行预处理、电解液配置等，直接通过红外激光对待测绝缘材料进行烧蚀，并根据烧蚀量和等级表确定相应的等级即可，相较于传统的斜面法，测试过程简单、测试时间短且具有较高的准确性和可靠性，具有较高的实用价值。

在一个实施例中，如图6所示，提供了一种绝缘材料的耐漏电起痕性能测试装置，包括：激光发射模块110、获取模块120和控制模块130。

激光发射模块110用于发射红外激光至待测绝缘材料。

获取模块120用于获取待测绝缘材料的第一烧蚀量。

控制模块130与激光发射模块110和获取模块120分别电连接，控制模块130用于控制激光发射模块110采用第一预设功率的红外激光对待测绝缘材料烧蚀第一预设时间，并根据第一烧蚀量和预设耐漏电起痕性能等级表获取待测绝缘材料的耐漏电起痕性能等级。

关于绝缘材料的耐漏电起痕性能测试装置的具体限定可以参见上文中对于绝缘材料的耐漏电起痕性能测试方法的限定，在此不再赘述。上述绝缘材料的耐漏电起痕性能测试装置中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于计算机设备中的处理器中，也可以以软件形式存储于计算机设备中的存储器中，以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种绝缘材料的耐漏电起痕性能测试方法，其特征在于，所述的耐漏电起痕性能测试方法包括：

采用第一预设功率的红外激光对待测绝缘材料烧蚀第一预设时间；

获取所述待测绝缘材料的第一烧蚀量；

根据所述第一烧蚀量和预设耐漏电起痕性能等级表获取所述待测绝缘材料的耐漏电起痕性能等级。

2.根据权利要求1所述的耐漏电起痕性能测试方法，其特征在于，所述第一预设功率通过以下方式获取：

采用第二预设功率的所述红外激光对不同耐漏电起痕性能的样品进行烧蚀，并获取每个所述样品的第一表面最高温度；

判断所有所述样品中任意两个所述样品的第一表面最高温度之间的温度差值的绝对值是否均小于等于第一预设温度阈值；

如果否，则对所述第二预设功率进行调节，直至所有所述样品中任意两个所述样品的第一表面最高温度之间的温度差值的绝对值均小于等于所述第一预设温度阈值，以获得所述第一预设功率。

3.根据权利要求2所述的耐漏电起痕性能测试方法，其特征在于，所述预设耐漏电起痕性能等级表通过以下方式获取：

采用斜面法对所述不同耐漏电起痕性能的样品进行测试，以获得每个所述样品的耐漏电起痕性能等级；

采用所述第一预设功率的所述红外激光对每个所述样品进行烧蚀，并获取每个所述样品的第二烧蚀量，直至所述第二烧蚀量满足预设烧蚀量阈值；

根据所述第二烧蚀量和每个所述样品的耐漏电起痕性能等级获取所述预设耐漏电起痕性能等级表。

4.根据权利要求3所述的耐漏电起痕性能测试方法，其特征在于，当所述第二烧蚀量满足所述预设烧蚀量阈值时，对应的烧蚀时间为所述第一预设时间。

5.根据权利要求3所述的耐漏电起痕性能测试方法，其特征在于，所述第一烧蚀量和所述第二烧蚀量包括：烧蚀深度、烧蚀半径、烧蚀体积和烧蚀质量中的一种或多种。

6.根据权利要求2所述的耐漏电起痕性能测试方法，其特征在于，通过红外成像仪获取每个所述样品的所述第一表面最高温度。

7.根据权利要求6所述的耐漏电起痕性能测试方法，其特征在于，在获取每个所述样品的所述第一表面最高温度之前，还对所述红外成像仪进行校正。

8.根据权利要求7所述的耐漏电起痕性能测试方法，其特征在于，所述对所述红外成像仪进行校正，包括：

将相同耐漏电起痕性能的样品放置在第一预设温度的箱体中；

通过所述红外成像仪获取所述相同耐漏电起痕性能的样品的第二表面最高温度；

根据所述第二表面最高温度与所述第一预设温度之间的温度差值对所述红外成像仪的材料发射率参数进行调节，直至所述第二表面最高温度与所述第一预设温度之间的温度差值小于等于第二预设温度阈值。

9.根据权利要求1-8中任一项所述的耐漏电起痕性能测试方法，其特征在于，所述红外激光为近红外连续激光，所述红外激光的波长为808nm或1064nm。

10.一种绝缘材料的耐漏电起痕性能测试装置，其特征在于，所述的耐漏电起痕性能测试装置包括：

激光发射模块，用于发射红外激光至待测绝缘材料；

获取模块，用于获取所述待测绝缘材料的第一烧蚀量；

控制模块，所述控制模块与所述激光发射模块和所述获取模块分别电连接，所述控制模块用于控制所述激光发射模块采用第一预设功率的所述红外激光对所述待测绝缘材料烧蚀第一预设时间，并根据所述第一烧蚀量和预设耐漏电起痕性能等级表获取所述待测绝缘材料的耐漏电起痕性能等级。