CN110046069A

CN110046069A - 一种存储性能测试的方法、装置、设备及可读存储介质

Info

Publication number: CN110046069A
Application number: CN201910299746.XA
Authority: CN
Inventors: 刘清林; 张一罡
Original assignee: Suzhou Wave Intelligent Technology Co Ltd
Current assignee: Suzhou Wave Intelligent Technology Co Ltd
Priority date: 2019-04-15
Filing date: 2019-04-15
Publication date: 2019-07-23

Abstract

本发明公开了一种存储性能测试的方法，通过获取目标卷，读取目标卷的存储定义SD项和卷标识lun项，并根据存储定义SD项和卷标识lun项修改初始配置文件得到测试配置文件，再调用Vdbench软件根据测试配置文件执行对目标卷的测试，实现了利用Vdbench软件对存储性能进行自动测试，无需测试人员手动配置以及手动启动测试，避免人工配置造成的读取错误、编写错误，提高了存储性能测试的效率，减轻了测试人员的工作压力。本发明还公开一种存储性能测试的装置、设备及可读存储介质，具有上述有益效果。

Description

一种存储性能测试的方法、装置、设备及可读存储介质

技术领域

本发明涉及计算机性能测试技术领域，特别是涉及一种存储性能测试的方法、装置、设备及可读存储介质。

背景技术

Vdbench是一款应用广泛的存储性能测试工具，既支持块设备的性能测试，也支持文件系统性能测试。它能够生成I/O工作负载，用于验证数据完整性和度量直接附加和网络连接的存储的性能。例如，可以根据Vdbench运行所得的IOPS值作为校验性能的依据。

在Linux系统下使用Vdbench时，需要测试人员先修改配置文件，进行参数配置。而每次当存储环境发生变化，测试人员都要重新修改配置文件。如当磁盘标识发生改变，需要先查询服务器识别到的磁盘标识，然后将每个磁盘的标识填到配置文件中。当配置文件修改完成后，测试人员需要手动运行Vdbench，进行性能测试。可见，测试人员在应用Vdbench进行存储性能测试时，需要消耗大量时间在生成配置文件及启动Vdbench进行测试上，不仅容易配置错误，还给测试人员带来了大量的工作压力。

因此，如何提高存储性能测试的效率，减轻测试人员的工作压力，是本领域技术人员需要解决的技术问题。

发明内容

本发明的目的是提供一种存储性能测试的方法、装置、设备及可读存储介质，用于提高存储性能测试的效率，减轻测试人员的工作压力。

为解决上述技术问题，本发明提供一种存储性能测试的方法，包括：

获取目标卷；

读取所述目标卷的存储定义SD项和卷标识lun项，并根据所述存储定义SD项和所述卷标识lun项修改初始配置文件，得到测试配置文件；

调用Vdbench软件根据所述测试配置文件执行对所述目标卷的测试。

可选的，所述获取目标卷，具体包括：

识别目标存储系统中的全部卷；

根据预设的标识在全部所述卷中获取所述目标卷。

可选的，所述根据预设的标识在全部所述卷中获取所述目标卷，具体包括：

根据第一预设规则将所述标识生成正则表达式；

利用所述正则表达式在全部所述卷中获取所述目标卷。

可选的，所述标识具体为创建时间。

可选的，所述初始配置文件包括预设格式的配置命令、运行定义RD项和工作负载定义WD项。

可选的，还包括：

接收对所述运行定义RD项和所述工作负载定义WD项的设置。

可选的，还包括：

接收所述Vdbench软件对所述目标卷的测试结果；

根据第二预设规则分析所述测试结果，并将分析结果生成测试报告。

为解决上述技术问题，本发明还提供一种存储性能测试的装置，包括：

获取单元，用于获取目标卷；

配置单元，用于读取所述目标卷的存储定义SD项和卷标识lun项，并根据所述存储定义SD项和所述卷标识lun项修改初始配置文件，得到测试配置文件；

调用单元，用于调用Vdbench软件根据所述测试配置文件执行对所述目标卷的测试。

为解决上述技术问题，本发明还提供一种存储性能测试的设备，包括：

存储器，用于存储指令，所述指令包括上述任意一项所述存储性能测试的方法的步骤；

处理器，用于执行所述指令。

为解决上述技术问题，本发明还提供一种可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上述任意一项所述存储性能测试的方法的步骤。

本发明所提供的存储性能测试的方法，通过获取目标卷，读取目标卷的存储定义SD项和卷标识lun项，并根据存储定义SD项和卷标识lun项修改初始配置文件得到测试配置文件，再调用Vdbench软件根据测试配置文件执行对目标卷的测试，实现了利用Vdbench软件对存储性能进行自动测试，无需测试人员手动配置以及手动启动测试，避免人工配置造成的读取错误、编写错误，提高了存储性能测试的效率，减轻了测试人员的工作压力。本发明还提供一种存储性能测试的装置、设备及可读存储介质，具有上述有益效果，在此不再赘述。

附图说明

为了更清楚的说明本发明实施例或现有技术的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单的介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例一提供的一种存储性能测试的方法的流程图；

图2为本发明实施例二提供的一种存储性能测试的方法的流程图；

图3为本发明实施例三提供的一种存储性能测试的装置的结构示意图；

图4为本发明实施例四提供的一种存储性能测试的设备的结构示意图。

具体实施方式

本发明的核心是提供一种存储性能测试的方法、装置、设备及可读存储介质，用于提高存储性能测试的效率，减轻测试人员的工作压力。

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

实施例一

图1为本发明实施例一提供的一种存储性能测试的方法的流程图。如图1所示，存储性能测试的方法包括：

S10：获取目标卷。

在具体实施中，本发明实施例提供的方法可以通过编写shell脚本实现。测试人员通过存储控制器在目标存储系统中建立卷，创建服务器到卷的映射，再在服务器上，将编写好的shell脚本和Vdbench软件安装于同一目录下，运行shell脚本实现本发明实施例提供的方法。

目标卷即在一次存储性能测试中的具体测试对象，获取目标卷，具体可以包括：

识别目标存储系统中的全部卷；

根据预设的标识在全部卷中获取目标卷。

刷新目标存储系统即可获得目标存储系统中全部的卷，根据预设的标识在全部的卷中获取目标卷。其中，该标识可以为测试脚本中初始设定的标识，也可以为接收测试人员在后续测试过程中输入的标识。该标识可以为创建时间，如获取创建时间在某一时刻之后的卷。在测试人员对存储系统中新建立的卷进行测试时可以以创建时间为标识。

可选的，根据预设的标识在全部卷中获取目标卷，具体为：

根据第一预设规则将标识生成正则表达式；

利用正则表达式在全部卷中获取目标卷。

可以参考已有的正则表达式的生成方法将标识生成用于进行关键字检索的正则表达式，并利用该正则表达式在全部卷中获取目标卷。

S11：读取目标卷的存储定义SD项和卷标识lun项，并根据存储定义SD项和卷标识lun项修改初始配置文件，得到测试配置文件。

在实际应用中，目标存储系统中会记录各卷的存储定义SD(Store Definition)项和卷标识lun项，每个卷对应一个存储定义SD项。获取目标卷后，读取存储定义SD项和卷标识lun项，在初始配置文件中对存储定义SD项和卷标识lun项进行替换，生成测试配置文件。

为节省重复的工作，初始配置文件可以包括预设格式的配置命令、运行定义RD(Run Definition)项和工作负载定义WD(Work load Definition)项。

运行定义RD项预热时间warmup和运行时间elapsed，工作负载定义WD项包括要传输的数据大小xfersize、读写占比以rdpct和随机顺序占比seekpct，通常为存储性能测试中固定的参数，在不同的测试中可以采用相同的设置，而在初始配置文件中设置不同的运行定义RD项和工作负载定义WD项，Vdbench软件会生成不同的测试用例来执行。初始配置文件可以参考现有技术中Vdbench软件的配置文件。

进一步的，存储性能测试的方法还可以包括：

接收对运行定义RD项和工作负载定义WD项的设置。

在具体实施中，给测试人员提供直接修改运行定义RD项和工作负载定义WD项的窗口或路径，根据测试人员输入的参数完成对运行定义RD项和工作负载定义WD项的设置的更新。

S12：调用Vdbench软件根据测试配置文件执行对目标卷的测试。

调用Vdbench软件根据测试配置文件执行对目标卷的测试，可以包括每秒的输入输出量IOPS(Input/Output Per Second)测试、存储完整性测试等。

进一步的，存储性能测试的方法还可以包括：

生成日志文件记录并输出各测试用例的开始时间及执行结果。

现有技术中，在多个测试用例需要执行的情况下测试人员只能等Vdbench软件根据整个配置文件完成测试后才能得知各测试用例的测试结果，不方便进行实时监控。因此在本实施例中，在Vdbench软件执行测试时，可以应用测试脚本记录测试用例的开始执行时间，进一步可以在一个新的测试用例开始测试时打印开始时间，并在该测试用例结束测试时输出测试结果，以便测试人员在测试过程中更加高效地发现和定位问题。

本发明实施例提供的存储性能测试的方法，通过获取目标卷，读取目标卷的存储定义SD项和卷标识lun项，并根据存储定义SD项和卷标识lun项修改初始配置文件得到测试配置文件，再调用Vdbench软件根据测试配置文件执行对目标卷的测试，实现了利用Vdbench软件对存储性能进行自动测试，无需测试人员手动配置以及手动启动测试，避免人工配置造成的读取错误、编写错误，提高了存储性能测试的效率，减轻了测试人员的工作压力。

实施例二

图2为本发明实施例二提供的一种存储性能测试的方法的流程图。如图2所示，在上述实施例的基础上，在另一实施例中，存储性能测试的方法还包括：

S20：接收Vdbench软件对目标卷的测试结果。

S21：根据第二预设规则分析测试结果，并将分析结果生成测试报告。

在具体实施中，接收Vdbench软件对目标卷的测试结果，并以第二预设规则将测试数据转换为规范格式的数据，通过程序筛选有效数据，对数据进行制图、制表处理，以对数据的趋势等特征予以呈现。

本发明实施例提供的存储性能测试的方法，在上述实施例的基础上，还通过将Vdbench软件对目标卷的测试结果以第二预设规则进行分析并生成测试报告，替代了测试人员的基础分析工作，使得测试人员无需记录和计算数据，只需对测试报告进行进一步分析即可，进一步提高了测试的自动化性，减轻了测试人员的工作压力。

上文详述了存储性能测试的方法对应的各个实施例，在此基础上，本发明还公开了与上述方法对应的存储性能测试的装置。

实施例三

图3为本发明实施例三提供的一种存储性能测试的装置的结构示意图。如图3所示，存储性能测试的装置包括：

获取单元301，用于获取目标卷；

配置单元302，用于读取目标卷的存储定义SD项和卷标识lun项，并根据存储定义SD项和卷标识lun项修改初始配置文件，得到测试配置文件；

调用单元303，用于调用Vdbench软件根据测试配置文件执行对目标卷的测试。

进一步的，获取单元301具体包括：

识别子单元，用于识别目标存储系统中的全部卷；

获取子单元，用于根据预设的标识在全部卷中获取目标卷。

获取子单元具体包括：

命令生成子单元，用于根据第一预设规则将标识生成正则表达式；

搜索子单元，用于利用正则表达式在全部卷中获取目标卷。

可选的，初始配置文件包括预设格式的配置命令、运行定义RD项和工作负载定义WD项，存储性能测试的装置还包括：

第一接收单元，用于接收对运行定义RD项和工作负载定义WD项的设置。

可选的，存储性能测试的装置还包括：

第二接收单元，用于接收Vdbench软件对目标卷的测试结果；

分析单元，用于根据第二预设规则分析测试结果，并将分析结果生成测试报告。

由于装置部分的实施例与方法部分的实施例相互对应，因此装置部分的实施例请参见方法部分的实施例的描述，这里暂不赘述。

实施例四

图4为本发明实施例四提供的一种存储性能测试的设备的结构示意图。如图4所示，该存储性能测试的设备可因配置或性能不同而产生比较大的差异，可以包括一个或一个以上处理器(central processing units，CPU)410(例如，一个或一个以上处理器)和存储器420，一个或一个以上存储应用程序433或数据432的存储介质430(例如一个或一个以上海量存储设备)。其中，存储器420和存储介质430可以是短暂存储或持久存储。存储在存储介质430的程序可以包括一个或一个以上模块(图示没标出)，每个模块可以包括对计算装置中的一系列指令操作。更进一步地，处理器410可以设置为与存储介质430通信，在存储性能测试的设备400上执行存储介质430中的一系列指令操作。

存储性能测试的设备400还可以包括一个或一个以上电源440，一个或一个以上有线或无线网络接口450，一个或一个以上输入输出接口460，和/或，一个或一个以上操作系统431，例如Windows Server^TM，Mac OS X^TM，Unix^TM,Linux^TM，FreeBSD^TM等等。

上述图1至图2所描述的存储性能测试的方法中的步骤由存储性能测试的设备基于该图4所示的结构实现。

所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，上述描述的存储性能测试的设备及可读存储介质的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。

在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的方法、装置、设备及可读存储介质，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，模块的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个模块或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或模块的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。作为分离部件说明的模块可以是或者也可以不是物理上分开的，作为模块显示的部件可以是或者也可以不是物理模块，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络模块上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。

另外，在本申请各个实施例中的各功能模块可以集成在一个处理模块中，也可以是各个模块单独物理存在，也可以两个或两个以上模块集成在一个模块中。上述集成的模块既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能模块的形式实现。

集成的模块如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，功能调用装置，或者网络设备等)执行本申请各个实施例方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(Read-Only Memory，ROM)、随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

以上对本发明所提供的一种存储性能测试的方法、装置、设备及可读存储介质进行了详细介绍。说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。对于实施例公开的装置而言，由于其与实施例公开的方法相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见方法部分说明即可。应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以对本发明进行若干改进和修饰，这些改进和修饰也落入本发明权利要求的保护范围内。

还需要说明的是，在本说明书中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

Claims

1.一种存储性能测试的方法，其特征在于，包括：

获取目标卷；

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取目标卷，具体包括：

识别目标存储系统中的全部卷；

根据预设的标识在全部所述卷中获取所述目标卷。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据预设的标识在全部所述卷中获取所述目标卷，具体包括：

根据第一预设规则将所述标识生成正则表达式；

利用所述正则表达式在全部所述卷中获取所述目标卷。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述标识具体为创建时间。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述初始配置文件包括预设格式的配置命令、运行定义RD项和工作负载定义WD项。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，还包括：

接收对所述运行定义RD项和所述工作负载定义WD项的设置。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：

接收所述Vdbench软件对所述目标卷的测试结果；

8.一种存储性能测试的装置，其特征在于，包括：

获取单元，用于获取目标卷；

9.一种存储性能测试的设备，其特征在于，包括：

存储器，用于存储指令，所述指令包括权利要求1至7任意一项所述存储性能测试的方法的步骤；

处理器，用于执行所述指令。

10.一种可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任意一项所述存储性能测试的方法的步骤。