CN110044495B - 基于多光谱的温度测量系统及温度测量方法 - Google Patents
基于多光谱的温度测量系统及温度测量方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN110044495B CN110044495B CN201910355534.9A CN201910355534A CN110044495B CN 110044495 B CN110044495 B CN 110044495B CN 201910355534 A CN201910355534 A CN 201910355534A CN 110044495 B CN110044495 B CN 110044495B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- liquid crystal
- tunable filter
- crystal tunable
- temperature measurement
- optical fiber
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000009529 body temperature measurement Methods 0.000 title claims abstract description 47
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 24
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 claims abstract description 46
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims abstract description 33
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 19
- 230000003750 conditioning effect Effects 0.000 claims abstract description 11
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims abstract description 5
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 claims description 9
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 claims description 7
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 claims description 6
- 238000001429 visible spectrum Methods 0.000 claims description 4
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 230000001143 conditioned effect Effects 0.000 claims description 3
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 3
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 3
- 230000005855 radiation Effects 0.000 abstract description 7
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 abstract description 4
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 5
- 238000011160 research Methods 0.000 description 4
- 101001023705 Homo sapiens Nectin-4 Proteins 0.000 description 2
- 102100035486 Nectin-4 Human genes 0.000 description 2
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 2
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 2
- 238000004880 explosion Methods 0.000 description 2
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 238000012669 compression test Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 1
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 238000010801 machine learning Methods 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 238000004611 spectroscopical analysis Methods 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- 238000004861 thermometry Methods 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/02—Constructional details
- G01J5/08—Optical arrangements
- G01J5/0801—Means for wavelength selection or discrimination
- G01J5/0802—Optical filters
- G01J5/08021—Notch filters
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/10—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors
- G01J5/20—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors using resistors, thermistors or semiconductors sensitive to radiation, e.g. photoconductive devices
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02A—TECHNOLOGIES FOR ADAPTATION TO CLIMATE CHANGE
- Y02A90/00—Technologies having an indirect contribution to adaptation to climate change
- Y02A90/10—Information and communication technologies [ICT] supporting adaptation to climate change, e.g. for weather forecasting or climate simulation
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Radiation Pyrometers (AREA)
Abstract
本发明公开了一种基于多光谱的温度测量系统及温度测量方法，本系统包含依次设置的：光纤、衰减片、液晶可调谐滤光片、光电二极管、信号调理电路、A/D转换器以及处理器，处理器的信号输入端连接A/D转换器的输出端，控制信号输出端通过一D/A转换器连接至液晶可调谐滤光片的控制信号输入端用以改变液晶可调谐滤光片的波长通道。本发明针对待测物体的某一表面发出的热辐射，经由本发明设计的信号采集系统，可实现快速测量多个波长光谱信息，通过A/D转换后，计算获得该物体的温度值，从而实现多光谱的温度测量，测量结果准确，操作简单。
Description
技术领域
本发明涉及高温领域，更具体地说，涉及一种基于多光谱的温度测量系统及温度测量方法。
背景技术
为了满足高温物体温度场的测量需求，促进高温测量领域的发展，国内外的研究学者开始进行相关测温技术的研究。国外在多光谱辐射测温领域的研究起步较早，多波长高温计的研制及多光谱测温法的研究可追溯到上世纪50年代。1954年，Pyatt通过对二色光谱辐射高温计的研究，并通过对温度计亮度误差的分析，进而提出了多光谱测温的思想。1979年，Cashdollar研制出一种3波长红外高温计，用于测量粉尘爆炸的温度，通过实验验证此高温计测温上限可达2000K。同年，Svet等人研制出4波长光学光电高温计，利用辐射测温的方法实现金属表面的真温的测量，经过实验分析验证得出，装置的整体测量范围为300-3000K。Lyzenga和Ahrens成功研制出一台多波长光学高温计，并进行了冲击压缩试验研究，测量物体真温，测温上限可达8000K。1981年，Gardner及Jones等人以二色辐射温度计为基础，研制出6波长高温计。测温范围为1000-1600K，测量不确定度最高可达1％。1982年，欧共体Babelot及美国Ohse等人研制出一种新型的微秒亚微秒多波长高温计，采用了光导纤维束分光技术，主要用于脉冲加热技术的诊断分析。同年，Cashdollar在原3色高温计的基础上，通过更换滤光片的方法研制出6波长红外高温计，成功用于测量粉尘爆炸温度。1986年，Hiernaut等人研制了一台亚毫秒级的6波长辐射高温计用于高温领域测量，测温范围2000-5000K，可实现真温和发射率的同时测量，测温精度为0.5％。
然而现有的多光谱测量系统受到光路的限制，每次需用机械扫描方式测量多个波长相对应的数据，转换速度较慢。而实际应用过程中往往需要获得待测物体的温度，且针对不同的物体特性所需采样的波长也不相同。
发明内容
本发明要解决的技术问题在于，针对现有技术中的多光谱测量系统受到光路的限制，每次需用机械扫描方式测量多个波长相对应的数据，转换速度较慢，而实际应用过程中往往需要获得待测物体的温度，且针对不同的物体特性所需采样的波长也不相同的技术缺陷，提供了一种基于多光谱的温度测量系统及温度测量方法。
根据本发明的其中一方面，本发明解决其技术问题所采用基于多光谱的温度测量系统，包含依次设置的：
光纤，光纤的一端朝向被测物体，以使得被测物体发出光能够从所述一端进入光纤；
衰减片，设置于光纤的另一端处，以使得从光纤另一端出来的光能被衰减片衰减；
液晶可调谐滤光片，用于对经过衰减片衰减后的光进行进一步衰减，并只允许指定波长的光通过；
光电二极管，用于对液晶可调谐滤光片衰减后的光进行光电转换；
信号调理电路，信号调理电路的输入端连接所述光电二极管，用于对光电二极管转换得到电信号进行调理，使得调理后的信号大小处于后续电路的处理范围内；
A/D转换器，A/D转换器输入端连接信号调理电路的输出端；
处理器，处理器的信号输入端连接A/D转换器的输出端，控制信号输出端通过一D/A转换器连接至液晶可调谐滤光片的控制信号输入端用以改变液晶可调谐滤光片的波长通道；同时处理器，根据预设的规则，计算出被测物体的温度。
进一步地，在本发明的基于多光谱的温度测量系统中，光纤的所述另一端垂直于衰减片，且与衰减片抵接或者是间隔一定距离。
进一步地，在本发明的基于多光谱的温度测量系统中，还包括一个显示器，显示器连接至处理器，用于显示测量的温度。
进一步地，在本发明的基于多光谱的温度测量系统中，所述液晶可调谐滤光片选用perkinEime公司的VarispecTM液晶可调谐滤光片,具体型号为VIS/VISR、SNIR/NIRR、LNIR及XNIR中的一种。
进一步地，在本发明的基于多光谱的温度测量系统中，所述光电二极管为硅光电二极管。
进一步地，在本发明的基于多光谱的温度测量系统中，所述衰减片与所述液晶可调谐滤光片平行设置。
根据本发明的另一方面，本发明还提供了一种利用上述基于多光谱的温度测量系统的温度测量方法，包含如下步骤：
S1、将所述温度测量系统的光纤的一端朝向被测物体；
S2、处理器控制液晶可调谐滤光片每次处于一种波长通道，每处于一种波长通道时，控制器获取液晶可调谐滤光片采集的信号的幅值强度h(λ)；
S3、通过下式计算得到被测物体进入液晶可调谐滤光片的辐射能量：
其中，E(λ)、E0(λ)分别为单位时间内被测物体和光谱分布已知的标准光源进入液晶可调谐滤光片的辐射能量，h0为所述标准光源对应的信号幅度，τ(λ)为测量时电调谐滤波片的光谱透过率；
E0(λ)和h0的获取方式如下：
S1’、将所述温度测量系统的光纤的一端朝向所述标准光源；
S2’、处理器控制液晶可调谐滤光片每次处于一种波长通道，每处于一种波长通道时，控制器获取液晶可调谐滤光片采集的信号的幅值强度h0(λ)；其中，步骤S2与S2’中所采用的波长通道相同；
S3’、根据下述公式计算出E0(λ)：
E0(λ)＝I0(λ)*α*2π(1-cosθ)*Q；
其中，I0(λ)为标准光源的幅值强度，α为光纤窗口透过率，θ为光纤孔径角，Q为衰减片系数；
S4、根据下述公式计算出每种所述波长通道下的待测物体的幅值强度：
Iexp(λ)＝E(λ)/Q/α/2π(1-cosθ)；
S5、根据以下述公式为目标函数进行最小二乘法拟合，得出T和ε的最优解，并将T的最优解作为被测物体的温度：
其中，T为被测物体的真温，λ为所述波长通道对应的波长，beta为调整因子，χ2为平方误差的和，IPl(λ,T)为普朗克幅亮度，且：
式中，C1＝3.743x108W·μm/m2，C2＝1.4388x104μm·K，ε为灰体发射率。
进一步地，在本发明的温度测量方法，其特征在于，所述被测物体发出的光包含可见光谱，S2与S2’中所采用的波长通道数均为7个，对应的波长λ分别为400nm、450nm、500nm、550nm、600nm、650nm、700nm。
实施本发明的温度测量方法，具有以下有益效果：本发明针对待测物体的某一表面发出的热辐射，经由本发明设计的信号采集系统，可实现快速测量多个波长光谱信息，通过A/D转换后，采用优化的最小二乘法计算获得该物体的温度值，从而实现多光谱的温度测量，测量结果准确，操作简单。
附图说明
下面将结合附图及实施例对本发明作进一步说明，附图中：
图1是本发明基于多光谱的温度测量系统一实施例的原理图；
图2是本发明基于多光谱的温度测量系统测量与原始数据的拟合图；
图3是标准光源的幅值强度。
具体实施方式
为了对本发明的技术特征、目的和效果有更加清楚的理解，现对照附图详细说明本发明的具体实施方式。
参考图1，本实施例的基于多光谱的温度测量系统包含依次设置的：
光纤，光纤的一端朝向被测物体，以使得被测物体发出光能够从所述一端进入光纤；通过光纤可以使得光源所发出光只有少量光束进入光纤并被处理，避免光源的光源由于漫反射而被放大所导致的测量结果偏大；
衰减片，设置于光纤的另一端处，以使得从光纤另一端出来的光能被衰减片衰减；为了满足高温物体温度场的测量需求，通过衰减片，可以避免信号过大，导致后续测量单元的损坏或者测量不准；优选地，光纤的所述另一端垂直于衰减片，且与衰减片抵接或者是间隔一定距离；
液晶可调谐滤光片，用于对经过衰减片衰减后的光进行进一步衰减，并只允许指定波长的光通过；衰减片与所述液晶可调谐滤光片平行设置；
光电二极管，用于对液晶可调谐滤光片衰减后的光进行光电转换；光电二极管为硅光电二极管；
信号调理电路，信号调理电路的输入端连接所述光电二极管，用于对光电二极管转换得到电信号进行调理，使得调理后的信号大小处于后续电路的处理范围内；信号调理电路具有放大和滤波两个功能；
A/D转换器，A/D转换器输入端连接信号调理电路的输出端；
处理器，处理器的信号输入端连接A/D转换器的输出端，控制信号输出端通过一D/A转换器连接至液晶可调谐滤光片的控制信号输入端用以改变液晶可调谐滤光片的波长通道；
显示器，显示器连接至处理器，用于显示测量的温度。
本实施例测量的主要是具有可见光谱的被测物体，液晶可调谐滤光片选用perkinEime公司的VarispecTM液晶可调谐滤光片,具体型号为VIS/VISR、SNIR/NIRR、LNIR及XNIR中的一种。
根据本发明的另一方面，本发明还提供了一种利用上述基于多光谱的温度测量系统的温度测量方法，包含如下步骤：
S1、将所述温度测量系统的光纤的一端朝向被测物体；
S2、处理器控制液晶可调谐滤光片每次处于一种波长通道，每处于一种波长通道时，控制器获取液晶可调谐滤光片采集的信号的幅值强度h(λ)；
S3、通过下式计算得到被测物体进入液晶可调谐滤光片的辐射能量：
其中，E(λ)、E0(λ)分别为单位时间内被测物体和光谱分布已知的标准光源进入液晶可调谐滤光片的辐射能量，h0为所述标准光源对应的信号幅度，τ(λ)为测量时电调谐滤波片的光谱透过率；
E0(λ)和h0的获取方式如下：
S1’、将所述温度测量系统的光纤的一端朝向所述标准光源；
S2’、处理器控制液晶可调谐滤光片每次处于一种波长通道，每处于一种波长通道时，控制器获取液晶可调谐滤光片采集的信号的幅值强度h0(λ)；其中，步骤S2与S2’中所采用的波长通道相同；
S3’、根据下述公式计算出E0(λ)：
E0(λ)＝I0(λ)*α*2π(1-cosθ)*Q；
其中，I0(λ)为标准光源的幅值强度，α为光纤窗口透过率，θ为光纤孔径角，Q为衰减片系数；
S4、根据下述公式计算出每种所述波长通道下的待测物体的幅值强度：
Iexp(λ)＝E(λ)/Q/α/2π(1-cosθ)；
S5、根据以下述公式为目标函数进行最小二乘法拟合，得出T和ε的最优解，并将T的最优解作为被测物体的温度：
其中，T为被测物体的真温，λ为所述波长通道对应的波长，beta为调整因子，χ2为平方误差的和，IPl(λ,T)为普朗克幅亮度，且：
式中，C1＝3.743x108W·μm/m2，C2＝1.4388x104μm·K，ε为灰体发射率。
所谓最小二乘，其实也可以叫做最小平方和，其目的就是通过最小化误差的平方和，使得拟合对象无限接近目标对象。换句话说，最小二乘法可以用于对函数的拟合。它的主要思想就是求解未知参数，使得理论值与观测值之差(即误差，或者说残差)的平方和达到最小：
观测值yi就是我们的多组样本，理论值就是我们的假设拟合函数。目标函数也就是在机器学习中常说的损失函数E，目标是得到使目标函数最小化时候的参数。本发明该公式进行了优化，从而形成了本发明中上述平方误差的和χ2的公示。
进一步地，在本发明的温度测量方法，其特征在于，所述被测物体发出的光包含可见光谱，S2与S2’中所采用的波长通道数均为7个，对应的波长λ分别为400nm、450nm、500nm、550nm、600nm、650nm、700nm。
本发明采用了一标准光源作为被测物体进行测试，得出的拟合曲线如图2所示，图3为标准钨灯的Nr(λ)(相当于Iexp(λ))。
上面结合附图对本发明的实施例进行了描述，但是本发明并不局限于上述的具体实施方式，上述的具体实施方式仅仅是示意性的，而不是限制性的，本领域的普通技术人员在本发明的启示下，在不脱离本发明宗旨和权利要求所保护的范围情况下，还可做出很多形式，这些均属于本发明的保护之内。
Claims (6)
1.一种基于多光谱的温度测量系统的温度测量方法，其特征在于，采用一种基于多光谱的温度测量系统执行，一种基于多光谱的温度测量系统，包含依次设置的：
光纤，光纤的一端朝向被测物体，以使得被测物体发出光能够从所述一端进入光纤；
衰减片，设置于光纤的另一端处，以使得从光纤另一端出来的光能被衰减片衰减；
液晶可调谐滤光片，用于对经过衰减片衰减后的光进行进一步衰减，并只允许指定波长的光通过；
光电二极管，用于对液晶可调谐滤光片衰减后的光进行光电转换；
信号调理电路，信号调理电路的输入端连接所述光电二极管，用于对光电二极管转换得到电信号进行调理，使得调理后的信号大小处于后续电路的处理范围内；
A/D转换器，A/D转换器输入端连接信号调理电路的输出端；
处理器，处理器的信号输入端连接A/D转换器的输出端，控制信号输出端通过一D/A转换器连接至液晶可调谐滤光片的控制信号输入端用以改变液晶可调谐滤光片的波长通道；
包含如下步骤：
S1、将所述温度测量系统的光纤的一端朝向被测物体；
S2、处理器控制液晶可调谐滤光片每次处于一种波长通道，每处于一种波长通道时，控制器获取液晶可调谐滤光片采集的信号的幅值强度h(λ)；
S3、通过下式计算得到被测物体进入液晶可调谐滤光片的辐射能量：
其中，E(λ)、E0(λ)分别为单位时间内被测物体和光谱分布已知的标准光源进入液晶可调谐滤光片的辐射能量，h0为所述标准光源对应的信号幅度，τ(λ)为测量时电调谐滤波片的光谱透过率；
E0(λ)和h0的获取方式如下：
S1’、将所述温度测量系统的光纤的一端朝向所述标准光源；
S2’、处理器控制液晶可调谐滤光片每次处于一种波长通道，每处于一种波长通道时，控制器获取液晶可调谐滤光片采集的信号的幅值强度h0(λ)；其中，步骤S2与S2’中所采用的波长通道相同；
S3’、根据下述公式计算出E0(λ)：
E0(λ)＝I0(λ)*α*2π(1-cosθ)*Q；
其中，I0(λ)为标准光源的幅值强度，α为光纤窗口透过率，θ为光纤孔径角，Q为衰减片系数；
S4、根据下述公式计算出每种所述波长通道下的待测物体的幅值强度：
Iexp(λ)＝E(λ)/Q/α/2π(1-cosθ)；
S5、根据以下述公式为目标函数进行最小二乘法拟合，得出T和ε的最优解，并将T的最优解作为被测物体的温度：
其中，T为被测物体的真温，λ为所述波长通道对应的波长，beta为调整因子，χ2为平方误差的和，IPl(λ,T)为普朗克幅亮度，且：
式中，C1＝3.743x108W·μm/m2，C2＝1.4388x104μm·K，ε为灰体发射率。
2.根据权利要求1所述的一种基于多光谱的温度测量系统的温度测量方法，其特征在于，所述被测物体发出的光包含可见光谱，S2与S2’中所采用的波长通道数均为7个，对应的波长λ分别为400nm、450nm、500nm、550nm、600nm、650nm、700nm。
3.根据权利要求1所述的一种基于多光谱的温度测量系统的温度测量方法，其特征在于，光纤的所述另一端垂直于衰减片，且与衰减片抵接或者是间隔一定距离。
4.根据权利要求1所述的一种基于多光谱的温度测量系统的温度测量方法，其特征在于，还包括一个显示器，显示器连接至处理器，用于显示测量的温度。
5.根据权利要求1所述的一种基于多光谱的温度测量系统的温度测量方法，其特征在于，所述光电二极管为硅光电二极管。
6.根据权利要求1所述的一种基于多光谱的温度测量系统的温度测量方法，其特征在于，所述衰减片与所述液晶可调谐滤光片平行设置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201910355534.9A CN110044495B (zh) | 2019-04-25 | 2019-04-25 | 基于多光谱的温度测量系统及温度测量方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201910355534.9A CN110044495B (zh) | 2019-04-25 | 2019-04-25 | 基于多光谱的温度测量系统及温度测量方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN110044495A CN110044495A (zh) | 2019-07-23 |
| CN110044495B true CN110044495B (zh) | 2023-09-01 |
Family
ID=67280257
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201910355534.9A Active CN110044495B (zh) | 2019-04-25 | 2019-04-25 | 基于多光谱的温度测量系统及温度测量方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN110044495B (zh) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN111562019B (zh) * | 2020-04-08 | 2021-04-06 | 太原理工大学 | 一种多光谱辐射测温方法及系统 |
| CN113218515A (zh) * | 2021-06-02 | 2021-08-06 | 安徽淮光智能科技有限公司 | 一种红外多光谱温度校准仪 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1174986A (zh) * | 1996-08-23 | 1998-03-04 | 中国工程物理研究院流体物理研究所 | 熔质内部高温跟踪测量方法及装置 |
| CN106979832A (zh) * | 2017-03-22 | 2017-07-25 | 河南北方红阳机电有限公司 | 一种光纤分光测温系统及其测温方法 |
| CN209802517U (zh) * | 2019-04-25 | 2019-12-17 | 中国地质大学（武汉） | 基于多光谱的温度测量系统 |
-
2019
- 2019-04-25 CN CN201910355534.9A patent/CN110044495B/zh active Active
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1174986A (zh) * | 1996-08-23 | 1998-03-04 | 中国工程物理研究院流体物理研究所 | 熔质内部高温跟踪测量方法及装置 |
| CN106979832A (zh) * | 2017-03-22 | 2017-07-25 | 河南北方红阳机电有限公司 | 一种光纤分光测温系统及其测温方法 |
| CN209802517U (zh) * | 2019-04-25 | 2019-12-17 | 中国地质大学（武汉） | 基于多光谱的温度测量系统 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN110044495A (zh) | 2019-07-23 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5310260A (en) | Non-contact optical techniques for measuring surface conditions | |
| US5769540A (en) | Non-contact optical techniques for measuring surface conditions | |
| KR20100063112A (ko) | 운동하는 표본물질을 측정하는 분광기와 방법 | |
| Carlstrom et al. | A compact, low cost, seven channel polychromator for Thomson scattering measurements | |
| CN101504314B (zh) | 大气紫外辐射通量测量装置及其测量方法 | |
| CN110044495B (zh) | 基于多光谱的温度测量系统及温度测量方法 | |
| CN105115907A (zh) | 一种滤光片光谱透过率测量装置 | |
| CN103185707B (zh) | 光学材料高温透过率测试装置 | |
| CN109060731B (zh) | 红外光学系统光谱透过率测试装置及方法 | |
| US9310249B2 (en) | Spectrophotometer for the automated optical characterization of solar collector tubes and method for the operation thereof | |
| CN105806491A (zh) | 一种三波长二维温度场测量装置及方法 | |
| JP4324693B2 (ja) | 光検出器の分光応答度測定装置、その測定方法及び光源の分光放射照度校正方法 | |
| CN112197866A (zh) | 一种非接触式定点测量的测温系统及方法 | |
| US20200292453A1 (en) | Fluorescence photometer and observation method | |
| CN209802517U (zh) | 基于多光谱的温度测量系统 | |
| WO2018217220A1 (en) | Detector for low temperature transmission pyrometry | |
| CN101893509A (zh) | 一种测量大数值孔径显微物镜调制传递函数的装置及方法 | |
| CN109668636B (zh) | 一种成像式光谱辐射接收和分光一体化装置 | |
| CN105333962B (zh) | 一种修正双波段测温误差的温度测量方法及系统 | |
| RU2366909C1 (ru) | Многоканальное устройство для измерения пирометрических характеристик | |
| CN113418613A (zh) | 一种基于多光谱比色的高温瞬态测量系统和方法 | |
| RU2727340C1 (ru) | Способ измерения действительной температуры и спектральной излучательной способности объекта | |
| CN113588115B (zh) | 一种基于多光谱比色的温度测量方法 | |
| CN210802694U (zh) | 一种自反射式红外发射率及温度测量装置 | |
| KR101484695B1 (ko) | 광파이버와 분광장치를 연결하는 연결장치 및 열간 슬래브의 청정도 측정 시스템 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |