CN109900542A - 测试卡温育的自动封闭的腔体装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种测试卡温育的自动封闭的腔体装置，包括温育上板，温育底板，检测组件；温育上板与温育底板固定连接，温育上板与温育底板之间形成若干个供测试卡插入的温育腔体，温育腔体的内端为封闭端，外端为开口端；检测组件包括PCB板以及与PCB板固定连接且设于温育腔体内端的微动开关；开口端设有用于关闭开口端的舱门组件，舱门组件包括舱门本体，活动杆，以及套设在活动杆外的复位弹簧；舱门本体的外端与温育底板的边缘铰接，活动杆的底部与温育底板活动连接，在复位弹簧的作用下，活动杆抵接舱门本体内端的下表面使得舱门本体关闭温育腔体的开口端。它的优点是能够保持温育腔体内温度恒定且分布均匀，使测试卡的温育效果更加准确和充分。

Description

测试卡温育的自动封闭的腔体装置

技术领域

本发明涉及测试卡温育技术领域，尤其是一种测试卡温育的自动封闭的腔体装置。

背景技术

测试卡在加完样本后一般需要在特定的温度下进行温育处理，使样本与测试卡中的特定物质反应完全和充分，因此就需要一个专门的温育装置，现有的测试卡温育装置一般设置有多个温育腔体，通过加热或制冷在温育腔体内部为测试卡创造一个特定的温度环境以达到上述目的。

现有的测试卡温育装置的腔体采用是开放式腔体设计，即在腔体留有一个开放口作为测试卡的插入口。由于测试卡在温育时，腔体内需要保持一个恒温恒湿的环境，当腔体不封闭则会产生以下不利因素，如：1，腔体内部环境不断与外界环境发生热交换导致腔体内部温度分布不均匀；2，腔体内部热量容易耗散导致控温元器件需要长时间工作而使得整机功耗增加；3，在外界湿度较高以及腔体内部与外界环境存在温度差的情况下，开放式的腔体容易导致腔体内部产生冷凝水，导致腔体内部的测试卡中渗入冷凝水，进而导致测试卡后续的测试结果中产生偏差。

发明内容

本发明的目的是解决现有技术的不足，提供一种测试卡温育的自动封闭的腔体装置。

本发明的一种技术方案：

一种测试卡温育的自动封闭的腔体装置，包括温育上板，温育底板，用于检测测试卡卡到位的检测组件；温育上板与温育底板固定连接，温育上板与温育底板之间形成若干个供测试卡插入的温育腔体，温育腔体的内端为封闭端，外端为开口端；检测组件包括PCB板以及与PCB板固定连接且设于温育腔体内端的微动开关；开口端设有用于关闭开口端的舱门组件，舱门组件包括舱门本体，活动杆，以及套设在活动杆外的复位弹簧；舱门本体的外端与温育底板的边缘铰接，内端为自由端，活动杆的底部与温育底板活动连接，顶部与舱门本体内端的下表面抵接，在复位弹簧的作用下，活动杆抵接舱门本体内端的下表面使得舱门本体关闭温育腔体的开口端。

一种优选方案是所述活动杆的顶部设有球头部；所述温育底板的内表面设有容纳球头部的容纳槽，所述容纳槽的底部贯穿有活动孔，所述活动杆的底部活动穿过所述容纳槽和活动孔后与设有的组合螺钉固定连接，所述复位弹簧的顶部与球头部抵接，底部与容纳槽的底部抵接。

一种优选方案是温育腔体的开口端设有凸台，凸台上表面设有容纳舱门本体的容纳腔，容纳腔与容纳槽连通，舱门本体外端与容纳腔铰接，当外部测试卡插设在温育腔体内时，测试卡压紧舱门本体使得舱门本体容纳在容纳腔。

一种优选方案是所述组合螺钉包括螺钉本体、弹垫和垫片，所述螺钉本体依次穿过所述垫片、弹垫后与活动杆的底部固定连接。

一种优选方案所述温育底板的下表面设有容纳组合螺钉的容纳孔，所述容纳孔，容纳槽和活动孔依次连通，所述弹垫和垫片的外径分别大于活动孔的孔径。

一种优选方案是凸台的边缘设有倾斜向下的导向面，导向面位于远离温育腔体的内端。

综合上述技术方案，本发明的有益效果：温育腔体的开口端通过舱门组件能够自动封闭，阻止温育腔体内部与外界热交换，因此不论是在加热或降温时，相比现有的开放式温育腔体，本发明更容易达到目标温度且能够保持恒定温度，从而降低本发明的功耗，从而避免温控元器件的频繁启动，延长了温控元器件的使用寿命，降低故障率；相比现有的开放式温育腔体，本发明中的温育腔体内部温度分布均匀，从而使测试卡的温育效果更加准确和充分；舱门组件阻止外界水蒸气进入到温育腔体内，防止温育腔体内部产生冷凝水而导致测试卡后续测试产生偏差；舱门本体在测试卡插入温育腔体内时产生反向作用力，该反作用力可保持测试卡在腔体内部固定不滑脱，从而减少额外的固定装置，简化了温育装置的整体结构。

上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本发明的上述和其他目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举较佳实施例，并配合附图，详细说明如下。

附图说明

图1是本发明的局部剖视图一；

图2是图1中A的局部放大图；

图3是本发明的局部剖视图二；

图4是图3中B的局部放大图；

图5是本发明的爆炸图。

具体实施方式

为阐述本发明的思想及目的，下面将结合附图和具体实施例对本发明作进一步的说明。

如图1至图5所示，一种测试卡温育的自动封闭的腔体装置，包括温育上板011，温育底板012，用于检测测试卡061卡到位的检测组件0321；温育上板011与温育底板012固定连接，温育上板011与温育底板012之间形成若干个供测试卡061插入的温育腔体031，温育腔体031的内端为封闭端033，外端为开口端032；检测组件0321包括PCB板032以及与PCB板032固定连接且设于温育腔体031内端的微动开关031；开口端032设有用于关闭开口端032的舱门组件3412，舱门组件3412包括舱门本体013，活动杆014，以及套设在活动杆014外的复位弹簧021；舱门本体013的外端与温育底板012的边缘铰接，内端为自由端，活动杆014的底部与温育底板012活动连接，顶部与舱门本体013内端的下表面抵接，在复位弹簧021的作用下，活动杆014抵接舱门本体013内端的下表面使得舱门本体013关闭温育腔体031的开口端032。

如图1和图2所示，温育上板011与温育底板012固定，温育上板011与温育底板012之间形成若干温育腔体031，每个温育腔体031可供长条形的测试卡061插入，温育腔体031上下左右处于封闭状态，将检测组件0321固定在温育上板011与温育底板012的后端面，即温育腔体031的内端，使得温育腔体031的内端处于封闭状态，将舱门组件3412装入温育腔体031的前面，即舱门组件3412的外端，通过舱门组件3412来关闭或打开温育腔体031的开口端。

如图1和图2所示，当测试卡061未插入温育腔体031内时，在复位弹簧021的作用下，活动杆014推动舱门本体013使得舱门本体013关闭温育腔体031的开口端032，此时温育腔体031封闭使得温育腔体031内部环境与外界环境隔，阻止温育腔体031内部与外界的热交换，同时保持温育腔体031内部干燥，温育腔体031内部也能更快达到设定的温度且保持温育腔体031内温度稳定均匀。

如图3和图4所示，当长条形测试卡061加入样本后，为了使样本与长条形的测试卡061上的特定物质正常而充分的反应，因此需要插入至温育腔体031内，温育腔体031能为长条形测试卡061提供一个特定的恒温环境以保证长条形的测试卡061反应完全而充分。当测试卡061插入温育腔体031内时，测试卡061推动舱门本体013，舱门本体013压下活动杆014，使得复位弹簧021处于压缩状态，舱门本体013与测试卡061之间存在相互挤压的作用力，该相互作用力将测试卡061顶住固定，防止测试卡061滑脱而导致微动开关031检测不到测试卡061是否到位。

如图3和图4所示，舱门本体013在测试卡061的推动作用下打开，不需要额外使用电机驱动；测试卡061插入温育腔体内后，测试卡061与舱门本体013共同将温育腔体031封闭从而达到隔热隔湿的作用。

如图1至图4所示，检测组件0321包括微动开关031和PCB板032：微动开关031焊接在PCB板032上组成检测组件0321，检测组件0321用来检测长条形的测试卡061是否插入到指定位。微动开关031具有弹片结构，当长条形的测试卡061插入温育腔体031内并碰到微动开关031的弹片时，微动开关031的弹片发生形变，微动开关031的弹片形变使得长条形的测试卡061受到反向作用力。

如图1至图4所示，活动杆014的顶部设有球头部015，活动杆014和球头部015为一体式结构；温育底板012的内表面设有容纳球头部015的容纳槽041，容纳槽041的底部贯穿有活动孔，活动杆014的底部活动穿过容纳槽041和活动孔后与设有的组合螺钉固定连接，复位弹簧021的顶部与球头部015抵接，底部与容纳槽041的底部抵接。复位弹簧021套设在活动杆014外，且复位弹簧021的顶部与球头部015抵接，底部与容纳槽041的底部抵接，当长条形的测试卡061未插入温育腔体031内时，球头部015受复位弹簧021的作用力往上顶出，舱门本体013受球头部015顶出的作用力后绕温育底板012顺时针旋转，当舱门本体013继续旋转直到舱门本体013的另一端与温育上板011内表面接触后，温育上板011停止旋转并在弹簧021的作用力下保持此状态，此时温育腔体031处于封闭状态。当长条形的测试卡061插入温育腔体内时，长条形的测试卡061挤压舱门本体013，迫使舱门本体013克服球头向上顶出力后绕温育底板012逆时针旋转，此时复位弹簧021被迫压缩，球头部015被迫向下运动，当长条形的测试卡061插入温育腔体031内并触发微动开关031后，长条形测试卡061受到微动开关031的弹片反作用力而使得长条形的测试卡061有被弹出的趋势，此时由于复位弹簧021处于压缩状态，因此产生较大的反作用力作用于球头部015上，舱门本体013受到球头部015的反作用力后进而产生较大的顺时针翻转作用力，并将长条形的测试卡061顶住固定。此时长条形的测试卡061与舱门本体013共同将温育腔体031封闭，为长条形的测试卡061提供一个恒定均匀的温育环境。

如图1至图4所示，温育腔体031的开口端032设有凸台051，凸台051上表面设有容纳舱门本体013的容纳腔052，容纳腔052与容纳槽041连通，舱门本体013外端与容纳腔052铰接，当外部测试卡061插设在温育腔体031内时，测试卡061压紧舱门本体013使得舱门本体013容纳在容纳腔052。组合螺钉包括螺钉本体022、弹垫025和垫片023，螺钉本体022依次穿过垫片023、弹垫025后与活动杆014的底部固定连接。容纳腔052的深度大于等于舱门本体013的厚度，当测试卡061插入温育腔体031内后，测试卡061推动舱门本体013完全收纳在容纳腔052。

如图1至图4所示，温育底板012的下表面设有容纳垫片023和螺钉022的容纳孔024，容纳孔024，容纳槽041和活动孔依次连通，垫片023、弹垫025的外径分别大于活动孔的孔径。

凸台051的边缘设有倾斜向下的导向面053，导向面053位于远离温育腔体031的内端。

以上是本发明的具体实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也视为本发明的保护范围。

Claims (6)

1.一种测试卡温育的自动封闭的腔体装置，其特征在于，包括温育上板，温育底板，用于检测测试卡卡到位的检测组件；温育上板与温育底板固定连接，温育上板与温育底板之间形成若干个供测试卡插入的温育腔体，所述温育腔体的内端为封闭端，外端为开口端；所述检测组件包括PCB板以及与PCB板固定连接且设于温育腔体内端的微动开关；所述开口端设有用于关闭开口端的舱门组件，所述舱门组件包括舱门本体，活动杆，以及套设在活动杆外的复位弹簧；所述舱门本体的外端与温育底板的边缘铰接，内端为自由端，所述活动杆的底部与温育底板活动连接，顶部与舱门本体内端的下表面抵接，在复位弹簧的作用下，活动杆抵接舱门本体内端的下表面使得舱门本体关闭温育腔体的开口端。

2.根据权利要求1所述的测试卡温育的自动封闭的腔体装置，其特征在于，所述活动杆的顶部设有球头部；所述温育底板的内表面设有容纳球头部的容纳槽，所述容纳槽的底部贯穿有活动孔，所述活动杆的底部活动穿过所述容纳槽和活动孔后与设有的组合螺钉固定连接，所述复位弹簧的顶部与球头部抵接，底部与容纳槽的底部抵接。

3.根据权利要求2所述的测试卡温育的自动封闭的腔体装置，其特征在于，所述温育腔体的开口端设有凸台，所述凸台上表面设有容纳舱门本体的容纳腔，所述容纳腔与容纳槽连通，所述舱门本体外端与容纳腔铰接，当外部测试卡插设在温育腔体内时，测试卡压紧舱门本体使得舱门本体容纳在容纳腔。

4.根据权利要求3所述的测试卡温育的自动封闭的腔体装置，其特征在于，所述组合螺钉包括螺钉本体、弹垫和垫片，所述螺钉本体依次穿过所述垫片、弹垫后与活动杆的底部固定连接。

5.根据权利要求3所述的测试卡温育的自动封闭的腔体装置，其特征在于，所述温育底板的下表面设有容纳组合螺钉的容纳孔，所述容纳孔，容纳槽和活动孔依次连通，所述弹垫和垫片的外径分别大于活动孔的孔径。

6.根据权利要求3至5任意一项所述的测试卡温育的自动封闭的腔体装置，其特征在于，所述凸台的边缘设有倾斜向下的导向面，所述导向面位于远离所述温育腔体的内端。