CN109886872A - 安检设备及其图像检测方法 - Google Patents

安检设备及其图像检测方法 Download PDF

Info

Publication number
CN109886872A
CN109886872A CN201910024567.5A CN201910024567A CN109886872A CN 109886872 A CN109886872 A CN 109886872A CN 201910024567 A CN201910024567 A CN 201910024567A CN 109886872 A CN109886872 A CN 109886872A
Authority
CN
China
Prior art keywords
image
detection apparatus
safety detection
rays safety
resolution
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201910024567.5A
Other languages
English (en)
Other versions
CN109886872B (zh
Inventor
徐利民
祁春超
谭信辉
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shenzhen Zhongtou Huaxun Terahertz Technology Co ltd
Original Assignee
Shenzhen Huaxun Ark Terahertz Technology Co Ltd
Shenzhen Huaxun Ark Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shenzhen Huaxun Ark Terahertz Technology Co Ltd, Shenzhen Huaxun Ark Technology Co Ltd filed Critical Shenzhen Huaxun Ark Terahertz Technology Co Ltd
Priority to CN201910024567.5A priority Critical patent/CN109886872B/zh
Publication of CN109886872A publication Critical patent/CN109886872A/zh
Priority to PCT/CN2019/121756 priority patent/WO2020143352A1/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN109886872B publication Critical patent/CN109886872B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01VGEOPHYSICS; GRAVITATIONAL MEASUREMENTS; DETECTING MASSES OR OBJECTS; TAGS
    • G01V8/00Prospecting or detecting by optical means
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T3/00Geometric image transformations in the plane of the image
    • G06T3/40Scaling of whole images or parts thereof, e.g. expanding or contracting
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00Image analysis
    • G06T7/30Determination of transform parameters for the alignment of images, i.e. image registration
    • G06T7/33Determination of transform parameters for the alignment of images, i.e. image registration using feature-based methods

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • General Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Geophysics (AREA)
  • Emergency Alarm Devices (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Image Processing (AREA)

Abstract

本申请公开了一种安检设备及其图像检测方法,该检测方法包括:安检设备获取至少一幅三维扫描图像;安检设备对至少一幅三维扫描图像进行投影,以得到二维低分辨图像;安检设备对二维低分辨图像进行超分辨重构,以获得二维高分辨图像,其中超分辨重构包括反向迭代投影;安检设备显示二维高分辨图像。通过这种方式,本申请在不改变安检设备硬件情况下,提高了安检设备图像的分辨率,提升了安检设备对异物的检测识别率,同时降低了虚警率,提高了安检效率。

Description

安检设备及其图像检测方法
技术领域
本申请涉及图像处理领域,特别是涉及一种安检设备及其图像检测方法。
背景技术
目前,在人体安检领域,毫米波人体安检仪的应用越来越广泛了,毫米波安检仪通过雷达近场成像,系统通过人体或物品在毫米波段的发射、反射和散射等性能对被测人体或物体形成三维图像,隐匿的物品由于具有与人体不同的发射、反射和散射性质,在图像上会以不同于人体的形态展现出来。
但是,现有技术中,毫米波安检仪成像一般分辨率不高,且信噪比比较低,在安检过程中,容易忽略必要信息,所以提高安检毫米波安检仪成像分辨率非常重要。然而通过改善安检仪硬件来提高成像分辨率,成本又太高。
发明内容
本申请提供一种安检设备及其图像检测方法,以解决现有技术中毫米波安检仪分辨率不高、信噪比比较低的问题。
为解决上述技术问题,本申请提出一种应用于安检设备图像检测方法,该检测方法包括:安检设备获取至少一幅三维扫描图像;安检设备对至少一幅三维扫描图像进行投影,以得到二维低分辨图像;安检设备对二维低分辨图像进行超分辨重构,以获得二维高分辨图像,其中所述超分辨重构包括反向迭代投影;安检设备显示二维高分辨图像。
为解决上述技术问题,本申请提出一种安检设备,所述安检设备至少包括:扫描臂,存储器,处理器和显示器;其中,所述扫描臂对所述检测区进行扫描,并获取所述同一场景的三维扫描图像,存储至存储器中;所述处理器从所述存储器中提取所述三维扫描图像并进行多角度的投影处理以获得多幅所述低分辨二维图像,所述处理器对所述低分辨二维图像进行超分辨重构处理以获得高分辨二维图像,并将所述高分辨二维图像发送至所述显示器;所述显示器将所述高分辨二维图像显示在显示界面上。
本申请的有益效果是:区别于现有技术,本申请应用于安检设备图像检测方法包括:安检设备获取至少一幅三维扫描图像;安检设备对至少一幅三维扫描图像进行投影,以得到二维低分辨图像;安检设备对二维低分辨图像进行反向迭代投影重构,以获得二维高分辨图像;安检设备显示二维高分辨图像。通过这种方式,本申请在不改变安检设备硬件情况下,提高了安检设备图像的分辨率,提升了安检设备对异物的检测识别率,同时降低了虚警率,提高了安检效率。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本申请实施例中图像检测方法的流程示意图;
图2是图1实施例中安检设备的结构示意图;
图3是图1实施例中安检设备获取三维扫描图像的流程示意图;
图4是图1实施例中安检设备对三维扫描图像进行投影的流程示意图;
图5是图4实施例中低分辨图像之间的亚像素位移的流程示意图;
图6是图4实施例中安检设备对三维扫描图像进行投影的另一流程示意图;
图7是图6实施例中安检设备对二维图像进行图像配准的流程示意图;
图8是图7实施例中安检设备对二维图像进行反向投影迭代的流程示意图;
图9是图8实施例中反向投影算法的效果图;
图10是图1实施例中安检设备对二维图像进行超分辨重构的流程示意图;
图11是本申请实施例中案件设备的结构示意图。
具体实施方式
毫米波人体安检仪是人体安检领域的一种常用设备,在实际应用中,毫米波安检仪通过雷达近场成像,系统通过人体或物品在毫米波段的发射、反射和散射等性能对被测人体或物体形成三维图像,隐匿的物品由于具有与人体不同的发射、反射和散射性质,在图像上会以不同于人体的形态展现出来。而在现有技术中,毫米波安检仪成像一般分辨率不高,且信噪比比较低,通过改善安检仪硬件来提高成像分辨率的成本太高。
为解决现有技术中存在的问题,本申请提供一种应用于毫米波安检仪的图像检测方法,具体将一种超分辨图像处理技术应用于毫米波安检仪,以提高图像分辨率和信噪比,从而提高异物检测识别率。同时,本申请所采用的图像检测方法同样适用于基于太赫兹雷达阵列的无损检测成像。本申请中,安检设备通过对同一场景的多次扫描,获得多幅低分辨的雷达成像,再对多幅低分辨图像进行重构,得到高分辨图像。
为使本领域的技术人员更好地理解本申请的技术方案,下面结合附图和具体实施方式对发明所提供的一种应用于安检设备的图像检测方法做进一步详细描述。
参阅图1,图1是本申请实施例中图像检测方法的流程示意图。本实施例提供一种应用于安检设备的图像检测方法,该检测方法包括:
S101:安检设备获取至少一幅三维扫描图像;
在本实施例中,安检设备采用雷达近场成像方法,对检测区进行扫描,以得到至少一幅三维扫描图像;其中,安检设备绕检测区往复旋转多次以对检测区内同一场景进行扫描,获得所述同一场景的至少一幅所述三维图像。
S102:安检设备对至少一幅三维扫描图像进行投影,以得到二维低分辨图像;
在本实施例中,安检设备将扫描得到的至少一幅三维扫描图像存储,以将该三维扫描图像信息投影至二维平面上。
可选的是,安检设备可对同一场景只进行一次扫描,得到一幅三维图像,该三维图像投影至二维平面,得到一幅低分辨二维图像;安检设备对该低分辨二维图像进行旋转位移,通过图像配准,得到具备亚像素位移的多幅二维低分辨图像。
可选的是,安检设备可对同一场景进行多次扫描,得到多幅三维图像,其中,毫米波安检设备在多次往复扫描中,由于机械定位精度的误差和待检测人员人体的轻微移动,每一次雷达三维成像都不一样,因此该多幅三维图像投影至二维平面后,得到具备亚像素位移的多幅二维低分辨图像。
S103:安检设备对二维低分辨图像进行超分辨重构,以获得二维高分辨图像,其中所述超分辨重构包括反向迭代投影;
安检设备对存储的具有亚像素位移的二维低分辨图像进行超分辨重构处理,可通过以外三个流程:图像配准、插值和图像复原,其中,在图像复原过程中,可采用反向投影迭代算法。
S104:安检设备显示二维高分辨图像。
安检设备将经过反向投影迭代算法计算后得到的二维高分辨图像显示出来,以使安检人员可以对安检结果做出及时的人工判断;同时,得到的二维高分辨图像对于后续的基于深度学习的图像识别算法的准确率的提升也有帮助。
区别于现有技术,本实施例应用于安检设备图像检测方法包括:安检设备获取至少一幅三维扫描图像;安检设备对至少一幅三维扫描图像进行投影,以得到二维低分辨图像;安检设备对二维低分辨图像进行超分辨重构,以获得二维高分辨图像,其中包括反向迭代投影;安检设备显示二维高分辨图像。通过这种方式,本申请在不改变安检设备硬件情况下,提高了安检设备图像的分辨率,提升了安检设备对异物的检测识别率,同时降低了虚警率,提高了安检效率。
参阅图2和图3,图2是图1实施例中安检设备的结构示意图,图3是图1实施例中安检设备获取三维扫描图像的流程示意图。安检设备200获取至少一幅三维扫描图像的步骤包括:
S301:安检设备200的两个相对设置的扫描臂210环绕检测区旋转,以对同一场景进行至少一次扫描。
安检设备200可为圆柱形安检扫描仪,其中,安检设备200包括两个相对设置的扫描臂210以及检测区211,扫描臂210可绕检测区211旋转,对位于检测区211内的待测人员进行扫描。扫描臂210可绕检测区211往复旋转,进行多次扫描,以得到同一场景的多个三维扫描图像。
S302:扫描臂210绕检测区211旋转扫描,其中,单臂旋转的角度不小于120°,扫描覆盖角度不小于120°,以建立同一场景的至少一幅三维扫描图像。
扫描臂210绕检测区211旋转扫描时,安检设备210可同时记录旋转角度,其中,扫描臂210中的单臂绕检测需旋转不小于120°,以使扫描臂210覆盖的扫描角度不小于120°,以建立有效完整的三维扫描图像。
区别于现有技术,本实施例通过设置有两个相对设置的扫描臂,对同一场景进行至少一次扫描,同时,单臂扫描覆盖角度不小于120°,以使得所获得的三维扫描图像具有比较完整的信息,有利于后续对三维扫描图像进行图像配准和超分辨重构。
参阅图4,图4是图1实施例中安检设备对三维扫描图像进行投影的流程示意图。图4中引用了其他附图中的相关标号,该标号指代的流程图与其他附图中相同标号指代的流程一致。安检设备对至少一幅三维扫描图像进行投影得到多幅低分辨二维图像步骤包括:
S401:安检设备可将对同一场景进行多次扫描得到的多幅三维扫描图像投影成多幅低分辨二维图像。
安检设备通过扫描臂对检测区进行扫描,获得至少一幅三维扫描图像,并对至少一幅三维图像进行投影。其中,在本实施例中,安检设备对多幅扫描图像进行投影处理。
毫米波安检设备在多次往复扫描中,由于机械定位精度的误差和待检测人员人体的轻微移动,每一次雷达三维成像都不一样,因此获得的多幅三维图像投影至二维平面后,就能得到具备亚像素位移的多幅二维低分辨图像。
S402:安检设备还可将对同一场景的进行一次扫描后得的三维扫描图像投影成低分辨二维图像,低分辨二维图像进行旋转、微小位移,以得到多幅低分辨二维图像。
在本实施例中,安检设备还可以对一次扫描后得到的三维图像进行处理,其中,一次扫描后得到的三维图像投影后得到的低分辨二维图像,其旋转位移必须具有精度配准后,才能得到具备亚像素位移的多幅二维低分辨图像。
安检设备对进行精度配准后的具备亚像素位移的二维低分辨图像进行反向投影重构,得到高分辨的二维图像,并将其显示出来,以使安检人员能通过观察高分辨图像,提高工作效率。
参阅图5和图6,图5是图4实施例中低分辨图像之间的亚像素位移的流程示意图;图6是图4实施例中安检设备对三维扫描图像进行投影的另一流程示意图。图6中引用了其他附图中的相关标号,该标号指代的流程图与其他附图中相同标号指代的流程一致。安检设备对所述三维扫描图像进行投影得到多幅所述低分辨二维图像的步骤进一步包括:
S601:所述安检设备设置第一旋转角度和第一投影角度;
扫描臂绕检测区旋转,每旋转一个固定角度,安检设备将对应角度的三维扫描图像存储,并投影成二维低分辨图像,其中,该固定角度为第一旋转角度。
扫描臂绕检测区旋转,单臂旋转角度不小于120°,其中,安检设备设置有第一投影角度,当扫描臂转动角度在第一投影角度内时,扫描臂继续转动,对检测区进行扫描,同时,安检设备将扫描所得的三维图像信息投射至二维平面上,以获得二维低分辨图像;当扫描臂转动至第一投影角度,安检设备控制扫描臂停止扫描,或者,安检设备控制扫描臂进行往复扫描。
S602:安检设备的扫描臂旋转至在第一投影角度内,安检设备设置将对应的三维扫描图像正向投影至二维平面,以获得多幅二维低分辨图像。
可选的是,第一旋转角度可设置为10°,当扫描臂开始绕检测区旋转时,扫描臂每旋转10°,安检设备将扫描臂扫描所得的三维图像存储,并将三维图像信息正向透射至二维平面。
S603:安检设备对多幅低分辨二维图像进行图像配准,以满足多幅低分辨二维图像对同一场景具备亚像素位移。
安检设备根据图像配准算法精度,将三维扫描图像投影成多个低分辨二维图像。
参阅图7,图7是图6实施例中安检设备对二维图像进行图像配准的流程示意图。图7中引用了其他附图中的相关标号,该标号指代的流程图与其他附图中相同标号指代的流程一致。图像配准包括:
S701:安检设备设置有第一阈值;其中,第一阈值为满足亚像素位移条件的单像素的位移距离的最大平均误差平方和。
在本申请实施例中,安检设备采用基于灰度和模板的图像配准算法,对三维扫描图像进行图像配准处理,以获得具备亚像素位移的多幅二维低分辨图像,具体表现为,采用平均误差平方和算法。
S702:安检设备在对三维扫描图像进行投影时,控制至少两幅二维低分辨图像的对应像素点之间的位移的平均误差平方和小于第一阈值。
平均误差平方和算法具体实施为:在进行投影时,对两幅二维低分辨图像的对应像素点之间的最大位移进行设置,其中,设定任意两幅低分辨二维图像之间的对应像素点的位移的平均误差平方和小于第一阈值,从而保证了两幅低分辨图像的配准精度较高,即满足超分辨重构的亚像素位移条件。
参阅图8,图8是图7实施例中安检设备对二维图像进行反向投影迭代的流程示意图。安检设备对多幅二维低分辨图像进行反向投影算法处理,以得到二维高分辨图像。
在本实施例中,采用核心算法为反向迭代算法。
在本实施例中,先确定目标高分辨图像的像素大小,根据目标高分辨图像的像素大小要求,计算求得高分辨率图像经过模糊、位移、降采样得到的低分辨率图像。其中,模糊、位移和降采样的过程可以用矩阵W表示。
设定本申请实施例中获得的低分辨图像设定为x,计算得到的低分辨率图像设为y,噪声为n。每一幅计算得到的低分辨率的图像与本实施例中获得的低分辨图像之间的关系如式(1)。
yk=Wx+nk,1≤k≤p (1)
在毫米波成像系统中,W可以设定为一个二维分布的高斯函数或均值分布。
再者,将模拟计算得到的低分辨率图像与本实施例中获得的低分辨率图像之间误差不断投射到HR图像以达到修正效果。其中,迭代停止条件以y-Wx的差值达到一个可允许的范围内为止。用反向迭代算法对高分辨图像的估计表达式如下:
其中,hBP是反向投影核函数。
反向投影算法处理步骤包括:安检设备设定合适的反向投影核函数h,以对多幅二维低分辨图像进行反向投影算法处理;其中,安检设备设定反向投影核函数取值为全部元素为1的矩阵。
在理论上,反向投影核函数可任意获取,其核函数的选取影响迭代收敛速度,在本实施例中,选择合适的函数分布,即全部元素为1的矩阵,确保算法的响应速度要求。在其他实施例中,其核函数可设置为高斯分布。
参阅图9,图9是图8实施例中反向投影算法的效果图;其中,图a是原图,图b是四幅低分辨图像经过第一次反向投影迭代后的效果图,图c是经过超分辨重构后的效果图,从图中可见,经过反向投影算法所收敛的高分辨图像的分辨率和信噪比有了明显的改善,经过超分辨重构获得的高分辨图像的像素点数是原有低分辨图像像素的4倍。
图10是图1实施例中安检设备对二维图像进行超分辨重构的流程示意图;本申请实施例中,安检设备对具有亚像素位移的二维低分辨图像进行超分辨重构处理,可通过以外三个流程:图像配准、插值和图像复原,其中,在图像复原过程中,可采用反向投影迭代算法。
在本实施例中,安检设备扫描将所得的三维图像投影成具备亚像素位移的二维低分辨图像,并将该二维低分辨图像经过反向迭代投影,得到二维高分辨图像,其中,该二维高分辨图像的成像效果与扫描获得的低分辨图像的数量、重构算法以及目标高分辨图像的像素大小有关。
参阅图11,图11是本申请实施例中安检设备的结构示意图。本申请实施例提供一种安检设备200,安检设备至少包括:扫描臂210,存储器220,处理器230和显示器240;其中,扫描臂210对检测区进行扫描,并获取同一场景的三维扫描图像,存储至存储器220中;处理器230从存储器220中提取三维扫描图像并进行多角度的投影处理以获得多幅低分辨二维图像,处理器230对低分辨二维图像进行超分辨重构处理以获得高分辨二维图像,并将高分辨二维图像发送至显示器240;显示器240将高分辨二维图像显示在显示界面上。
区别于现有技术,本实施例中的安检设备200通过扫描臂210,存储器220,处理器230和显示器240的互相配合,经过图像配准,将通过扫描臂获得三维扫描图像投影成具备亚像素位移的二维低分辨图像,该二维低分辨图像经过反向迭代投影计算,变成二维高分辨图像;通过这种方式,安检设备无需通过改善安检仪硬件来提高分辨率和信噪比,降低了成本,同时,将超分辨图像处理技术应用于毫米波安检仪,图像分辨率和信噪比提高,从而提高异物检测识别率,降低了虚警率,大大提高了安检人员的工作效率。
以上所述仅为本申请的实施方式,并非因此限制本申请的专利范围,凡是利用本申请说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换,或直接或间接运用在其他相关的技术领域,均同理包括在本申请的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种应用于安检设备的图像检测方法,其特征在于,所述检测方法包括:
所述安检设备获取至少一幅三维扫描图像;
所述安检设备对所述至少一幅三维扫描图像进行投影,以得到二维低分辨图像;
所述安检设备对所述二维低分辨图像进行超分辨重构,以获得二维高分辨图像,其中超分辨重构包括反向迭代投影;
所述安检设备显示所述二维高分辨图像。
2.根据权利要求1所述的图像检测方法,其特征在于,所述安检设备获取至少一幅三维扫描图像的步骤包括:
所述安检设备的两个相对设置的扫描臂环绕检测区往复旋转,以对同一场景进行至少一次扫描。
3.根据权利要求2所述的图像检测方法,其特征在于,所述扫描臂绕所述检测区旋转时,单臂旋转的角度小于120°,扫描覆盖角度不小于120°,以建立所述同一场景的所述至少一幅三维扫描图像。
4.根据权利要求2所述的图像检测方法,其特征在于,所述安检设备对所述至少一幅三维扫描图像进行投影得到所述多幅低分辨二维图像步骤包括:
所述安检设备将对所述同一场景进行多次扫描得到的所述多幅三维扫描图像投影成多幅所述低分辨二维图像;或者,
所述安检设备将对所述同一场景的进行一次扫描后得到的三维扫描图像投影成所述低分辨二维图像,所述低分辨二维图像进行旋转、微小位移,以得到多幅所述低分辨二维图像。
5.根据权利要求4所述的图像检测方法,其特征在于,所述安检设备对所述三维扫描图像进行投影得到多幅所述低分辨二维图像的步骤进一步包括:
所述安检设备设置第一旋转角度和第一投影角度;
所述安检设备的所述扫描臂旋转至在第一投影阈限内,所述安检设备设置将所述三维扫描图像正向投影至二维平面,以获得多幅所述二维低分辨图像;
所述安检设备对多幅所述低分辨二维图像进行图像配准,以满足多幅所述低分辨二维图像对所述同一场景具备亚像素位移。
6.根据权利要求5所述的图像检测方法,其特征在于,所述图像配准包括:
所述安检设备设置有第一阈值;
所述安检设备在对所述三维扫描图像进行投影时,控制至少两幅所述二维低分辨图像的对应像素点之间的位移的平均误差平方和小于所述第一阈值;
其中,所述第一阈值为满足亚像素位移条件的单像素的位移距离的最大平均误差平方和。
7.权利要求6所述的图像检测方法,其特征在于,所述安检设备对多幅所述二维低分辨图像进行反向投影算法处理,以得到所述二维高分辨图像。
8.权利要求7述的图像检测方法,其特征在于,所述反向投影算法处理步骤包括:
所述安检设备设定合适的反向投影核函数h,以对多幅所述二维低分辨图像进行反向投影算法处理。
9.权利要求8的图像检测方法,其特征在于,所述反向投影核函数取值为全部元素为1的矩阵。
10.一种安检设备,其特征在于,所述安检设备至少包括:
扫描臂,存储器,处理器和显示器;
其中,所述扫描臂对检测区进行扫描,并获取同一场景的三维扫描图像,存储至所述存储器中;所述处理器从所述存储器中提取所述三维扫描图像并进行多角度的投影处理以获得多幅低分辨二维图像,所述处理器对所述低分辨二维图像进行超分辨重构处理以获得高分辨二维图像,并将所述高分辨二维图像发送至所述显示器;所述显示器将所述高分辨二维图像显示在显示界面上。
CN201910024567.5A 2019-01-10 2019-01-10 安检设备及其图像检测方法 Active CN109886872B (zh)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201910024567.5A CN109886872B (zh) 2019-01-10 2019-01-10 安检设备及其图像检测方法
PCT/CN2019/121756 WO2020143352A1 (zh) 2019-01-10 2019-11-28 安检设备及其图像检测方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201910024567.5A CN109886872B (zh) 2019-01-10 2019-01-10 安检设备及其图像检测方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN109886872A true CN109886872A (zh) 2019-06-14
CN109886872B CN109886872B (zh) 2023-05-16

Family

ID=66925858

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201910024567.5A Active CN109886872B (zh) 2019-01-10 2019-01-10 安检设备及其图像检测方法

Country Status (2)

Country Link
CN (1) CN109886872B (zh)
WO (1) WO2020143352A1 (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2020143352A1 (zh) * 2019-01-10 2020-07-16 深圳市华讯方舟太赫兹科技有限公司 安检设备及其图像检测方法

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102681023A (zh) * 2012-04-19 2012-09-19 首都师范大学 一种太赫兹波成像系统
CN103870836A (zh) * 2014-01-10 2014-06-18 浙江工业大学 基于凸集投影超分辨率重构的合成孔径雷达图像目标识别方法
CN104008539A (zh) * 2014-05-29 2014-08-27 西安理工大学 基于多尺度几何分析的图像超分辨率重建方法
WO2015154054A1 (en) * 2014-04-04 2015-10-08 Decision Sciences International Corporation Muon tomography imaging improvement using optimized limited angle data
CN105069748A (zh) * 2015-07-16 2015-11-18 哈尔滨工业大学 一种基于微小卫星物方扫描技术获取高分辨率图像的方法
CN105974486A (zh) * 2016-04-27 2016-09-28 华讯方舟科技有限公司 鞋内物品检测设备
CN107155096A (zh) * 2017-04-19 2017-09-12 清华大学 一种基于半误差反向投影的超分辨率重建方法及装置
CN108549112A (zh) * 2018-04-24 2018-09-18 貊大卫 一种高速实时x射线计算机断层扫描安检系统
CN108845367A (zh) * 2018-05-30 2018-11-20 深圳市华讯方舟太赫兹科技有限公司 一种安检系统以及安检方法
CN109116433A (zh) * 2018-09-03 2019-01-01 深圳市华讯方舟太赫兹科技有限公司 一种安检设备及其成像方法

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20030103212A1 (en) * 2001-08-03 2003-06-05 Volker Westphal Real-time imaging system and method
ES2643626T3 (es) * 2009-05-26 2017-11-23 Rapiscan Systems, Inc. Sistemas y métodos para formación de imágenes, adquisición de datos, transmisión de datos y distribución de datos para escáneres tomográficos de rayos X, de alta tasa de datos
CN102359971A (zh) * 2011-09-14 2012-02-22 上海英迈吉东影图像设备有限公司 一种实现单源多视角安全检查的方法及系统
CN107228867A (zh) * 2017-06-21 2017-10-03 同方威视技术股份有限公司 安检图像显示方法、设备和安检系统
CN109886872B (zh) * 2019-01-10 2023-05-16 深圳市重投华讯太赫兹科技有限公司 安检设备及其图像检测方法

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102681023A (zh) * 2012-04-19 2012-09-19 首都师范大学 一种太赫兹波成像系统
CN103870836A (zh) * 2014-01-10 2014-06-18 浙江工业大学 基于凸集投影超分辨率重构的合成孔径雷达图像目标识别方法
WO2015154054A1 (en) * 2014-04-04 2015-10-08 Decision Sciences International Corporation Muon tomography imaging improvement using optimized limited angle data
CN104008539A (zh) * 2014-05-29 2014-08-27 西安理工大学 基于多尺度几何分析的图像超分辨率重建方法
CN105069748A (zh) * 2015-07-16 2015-11-18 哈尔滨工业大学 一种基于微小卫星物方扫描技术获取高分辨率图像的方法
CN105974486A (zh) * 2016-04-27 2016-09-28 华讯方舟科技有限公司 鞋内物品检测设备
CN107155096A (zh) * 2017-04-19 2017-09-12 清华大学 一种基于半误差反向投影的超分辨率重建方法及装置
CN108549112A (zh) * 2018-04-24 2018-09-18 貊大卫 一种高速实时x射线计算机断层扫描安检系统
CN108845367A (zh) * 2018-05-30 2018-11-20 深圳市华讯方舟太赫兹科技有限公司 一种安检系统以及安检方法
CN109116433A (zh) * 2018-09-03 2019-01-01 深圳市华讯方舟太赫兹科技有限公司 一种安检设备及其成像方法

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
AGARWAL, SMRITI 等: "Non-invasive Concealed Weapon Detection and Identification using V band millimeter wave imaging radar system", 《NATIONAL CONFERENCE ON RECENT ADVANCES IN ELECTRONICS & COMPUTER ENGINEERING (RAECE)》 *
刘卫朝: "无源毫米波图像序列超分辨率重建方法研究", 《中国优秀硕士学位论文全文数据库 信息科技辑》 *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2020143352A1 (zh) * 2019-01-10 2020-07-16 深圳市华讯方舟太赫兹科技有限公司 安检设备及其图像检测方法

Also Published As

Publication number Publication date
WO2020143352A1 (zh) 2020-07-16
CN109886872B (zh) 2023-05-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8938111B2 (en) Computed tomography imaging process and system
US7950849B2 (en) Method and device for geometry analysis and calibration of volumetric imaging systems
Herráez et al. 3D modeling by means of videogrammetry and laser scanners for reverse engineering
US20060104410A1 (en) Methods, apparatus, and software to facilitate iterative reconstruction of images
WO2007076681A1 (fr) Systeme de scannage x-ct
EP3306309B1 (en) Image acquisition device, image acquisition method, and image correction program
CN110057847B (zh) Tr层析扫描投影重排方法及装置
CN100998512A (zh) 三维超声影像的重建方法
Bronnikov Virtual alignment of x-ray cone-beam tomography system using two calibration aperture measurements
CN105319225B (zh) 一种实现板状样品高分辨率大视野cl成像的扫描方法
CN107192726A (zh) 板壳物体快速高分辨三维锥束计算机层析成像方法及装置
CN107157505B (zh) 一种提高锥形束spect成像分辨率的方法
CN101825433B (zh) 扇束2d-ct扫描系统转台旋转中心偏移量的测量方法
Aberman et al. Dip transform for 3D shape reconstruction
CN109886872A (zh) 安检设备及其图像检测方法
CN102062740B (zh) 锥束ct扫描成像方法及系统
Schrapp et al. Artifact reduction in non-destructive testing by means of complementary data fusion of x-ray computed tomography and ultrasonic pulse-echo testing
US20060104408A1 (en) Methods, apparatus, and software to facilitate computing the elements of a forward projection matrix
CN109959933B (zh) 一种基于压缩感知的多基线圆迹合成孔径雷达成像方法
AU2019201125B2 (en) Geometric alignment, sample motion correction, and intensity normalization of computed tomography projections using pi-line optimization
Liu et al. Displacement field reconstruction in landslide physical modeling by using a terrain laser scanner–Part 1: Methodology, error analysis and validation
CN108663386B (zh) 基于特征纹理模板的锥束ct系统探测器角度偏差测量方法
Wang et al. Full Period Three-dimensional (3-D) Reconstruction Method for a Low Cost Singlelayer Lidar.
CN105321206A (zh) 一种适用于中子层析成像系统的旋转轴线偏摆角的误差补偿方法
Schindler Geometry and construction of straight lines in log-polar images

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
CB02 Change of applicant information

Address after: 518102 room 430, building 37, chentian Industrial Zone, Baotian 1st Road, Xixiang street, Bao'an District, Shenzhen City, Guangdong Province

Applicant after: Shenzhen Zhongtou Huaxun Terahertz Technology Co.,Ltd.

Applicant after: CHINA COMMUNICATION TECHNOLOGY Co.,Ltd.

Address before: 518102 room 430, building 37, chentian Industrial Zone, Baotian 1st Road, Xixiang street, Bao'an District, Shenzhen City, Guangdong Province

Applicant before: SHENZHEN CCT THZ TECHNOLOGY Co.,Ltd.

Applicant before: CHINA COMMUNICATION TECHNOLOGY Co.,Ltd.

CB02 Change of applicant information
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant
TR01 Transfer of patent right

Effective date of registration: 20230607

Address after: 518000 Shenzhen, Baoan District, Xixiang, Guangdong Xixiang street, thirty-seventh fields, 430 estate.

Patentee after: Shenzhen Zhongtou Huaxun Terahertz Technology Co.,Ltd.

Address before: 518102 room 430, building 37, chentian Industrial Zone, Baotian 1st Road, Xixiang street, Bao'an District, Shenzhen City, Guangdong Province

Patentee before: Shenzhen Zhongtou Huaxun Terahertz Technology Co.,Ltd.

Patentee before: CHINA COMMUNICATION TECHNOLOGY Co.,Ltd.

TR01 Transfer of patent right