CN109871219A - 一种摄像头的高低温烧录方法及系统 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种摄像头的高低温烧录方法及系统。该高低温烧录方法包括：步骤1：获取摄像头在不同拍摄温度下的解析力偏移量；步骤2：将拍摄温度和解析力偏移量一一对应后，烧录至摄像头内。该高低温烧录方法烧录出来的摄像头可在使用时纠正拍摄环境的高低温对解析力的影响。
Description
技术领域
本发明涉及摄像领域，尤其涉及一种摄像头的高低温烧录方法及系统。
背景技术
目前，摄像头已经广泛地应用于各种场所和环境中，其中就不乏一些高于常温的环境或低于常温的环境，对于这类应用于高低温环境中的摄像头，解析力会有所下降，影响到图像的质量。
发明内容
为了解决上述现有技术的不足，本发明提供一种摄像头的高低温烧录方法及系统，其烧录出来的摄像头可在使用时纠正拍摄环境的高低温对解析力的影响。
本发明所要解决的技术问题通过以下技术方案予以实现：
一种摄像头的高低温烧录方法，包括：
步骤1：获取摄像头在不同拍摄温度下的解析力偏移量；
步骤2：将拍摄温度和解析力偏移量一一对应后，烧录至摄像头内。
进一步地，在步骤2中，还将一计算机程序烧录至摄像头内，所述计算机程序被执行时，进行如下步骤：
S1：获取输入的拍摄温度；
S2：依据输入的拍摄温度，匹配对应的解析力偏移量；
S3；输出匹配到的解析力偏移量。
进一步地，步骤1包括：
步骤1.1：在不同拍摄温度下，将摄像头向解析力测试卡进行拍摄，获取不同拍摄温度下的解析力测试图像；
步骤1.2：依据解析力测试图像，计算出摄像头在不同拍摄温度下的解析力值；
步骤1.3：依据摄像头在常温和其他拍摄温度下的解析力值，计算出摄像头在不同拍摄温度下的解析力偏移量。
进一步地，解析力测试卡上具有若干黑白相间的测试线，摄像头的解析力值y=[2L*tan（θ/2）]/λ，其中L为摄像头到解析力测试卡的距离，θ为摄像头的视场角，λ为解析力测试图像中边缘清晰的测试线数量。
进一步地，摄像头的解析力偏移量△y=y0-y1，其中，y0为摄像头在常温下的解析力值，y1为摄像头在其他拍摄温度下的解析力值。
一种摄像头的高低温烧录系统，包括：
解析力测试装置，用于对摄像头在不同拍摄温度下进行解析力测试，获取摄像头在不同拍摄温度下的解析力偏移量；
烧录装置，用于将拍摄温度和解析力偏移量一一对应后，烧录至摄像头内。
进一步地，烧录装置，还用于将一计算机程序烧录至摄像头内，所述计算机程序被执行时，进行如下步骤：
S1：获取输入的拍摄温度；
S2：依据输入的拍摄温度，匹配对应的解析力偏移量；
S3；输出匹配到的解析力偏移量。
进一步地，解析力测试装置包括：
解析力测试卡，用于供摄像头在不同拍摄温度下进行拍摄，以获取不同拍摄温度下的解析力测试图像；
高低温测试箱，用于为摄像头模拟不同拍摄温度的测试环境；
计算模块，用于依据解析力测试图像，计算出摄像头在不同拍摄温度下的解析力值，然后再依据摄像头在常温和其他拍摄温度下的解析力值，计算出摄像头在不同拍摄温度下的解析力偏移量。
进一步地，解析力测试卡上具有若干黑白相间的测试线，计算模块计算的摄像头的解析力值y=[2L*tan（θ/2）]/λ，其中L为摄像头到解析力测试卡的距离，θ为摄像头的视场角，λ为解析力测试图像中边缘清晰的测试线数量。
进一步地，计算模块计算的摄像头的解析力偏移量△y=y0-y1，其中，y0为摄像头在常温下的解析力值，y1为摄像头在其他拍摄温度下的解析力值。
本发明具有如下有益效果：该高低温烧录方法通过在摄像头出厂前，对其在不同拍摄温度下的解析力偏移量烧录进行烧录，在终端上使用时，终端可通过调取摄像头内烧录的解析力偏移量对解析力进行校正，补偿摄像头在高低温下的解析力，提高图像的质量。
附图说明
图1为本发明提供的高低温烧录方法的步骤框图；
图2为本发明提供的高低温烧录系统的示意图；
图3为某一款解析力测试卡的示意图；
图4为本发明提供的摄像头内的计算机程序被执行时的步骤框图；
图5为本发明提供的摄像头的高低温拍摄方法的步骤框图；
图6为本发明提供的摄像头的高低温拍摄装置的原理框图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明进行详细的说明。
实施例一
如图1所示，一种摄像头的高低温烧录方法，包括：
步骤1：获取摄像头在不同拍摄温度下的解析力偏移量；
在该步骤1中，不同拍摄温度下，摄像头的解析力值会较正常值（25℃常温的解析力值）出现不同程度的偏移量。
具体的，该步骤1包括：
步骤1.1：在不同拍摄温度下，如图2所示，将摄像头向解析力测试卡进行拍摄，获取不同拍摄温度下的解析力测试图像；
在该步骤1.1中，解析力测试卡上具有若干黑白相间的测试线，其中一款解析力测试卡如图3所示，其测试线上的刻度值20、21、22、23、24分别代表2000、2100、2200、2300、2400，若解析力测试图像中测试线边缘清晰的临界位置在刻度值22处，则代表摄像头的解析力达到2000线的程度。
步骤1.2：依据解析力测试图像，计算出摄像头在不同拍摄温度下的解析力值；
在该步骤1.2中，摄像头的解析力值y=[2L*tan（θ/2）]/λ，其中L为摄像头到解析力测试卡的距离，θ为摄像头的视场角，λ为解析力测试图像中边缘清晰的测试线数量（λ=2000、2100、2200、2300、2400）。不同拍摄温度下，摄像头的解析力值y不相同。
步骤1.3：依据摄像头在常温和其他拍摄温度下的解析力值，计算出摄像头在不同拍摄温度下的解析力偏移量；
在该步骤1.3中，摄像头的解析力偏移量△y=y0-y1，其中，y0为摄像头在常温（25℃）下的解析力值，y1为摄像头在其他拍摄温度下的解析力值。某一款摄像头在不同拍摄温度（Tem）下的解析力偏移量（△y）如下表：
。
步骤2：将拍摄温度和解析力偏移量一一对应后，烧录至摄像头内。
在该步骤2中，拍摄温度和解析力偏移量之间的对应关系可烧录至摄像头里图像传感器的OTP内，也可烧录至摄像头里PCB上的外挂式存储器内。
另外，在该步骤2中，还将一计算机程序烧录至摄像头的OTP或外挂式存储器内，所述计算机程序被执行时，进行如下步骤：
S1：获取输入的拍摄温度；
S2：依据输入的拍摄温度，匹配对应的解析力偏移量；
S3；输出匹配到的解析力偏移量。
该高低温烧录方法通过在摄像头出厂前，对其在不同拍摄温度下的解析力偏移量烧录进行烧录，在终端上使用时，终端可通过调取摄像头内烧录的解析力偏移量对解析力进行校正，补偿摄像头在高低温下的解析力，提高图像的质量。
实施例二
一种摄像头的高低温烧录系统，包括：
解析力测试装置，用于对摄像头在不同拍摄温度下进行解析力测试，获取摄像头在不同拍摄温度下的解析力偏移量；
烧录装置，用于将拍摄温度和解析力偏移量一一对应后，烧录至摄像头内。
其中，如图2所示，解析力测试装置包括：
解析力测试卡，用于供摄像头在不同拍摄温度下进行拍摄，以获取不同拍摄温度下的解析力测试图像；
高低温测试箱，用于为摄像头模拟不同拍摄温度的测试环境；
计算模块，用于依据解析力测试图像，计算出摄像头在不同拍摄温度下的解析力值，然后再依据摄像头在常温和其他拍摄温度下的解析力值，计算出摄像头在不同拍摄温度下的解析力偏移量。
解析力测试卡上具有若干黑白相间的测试线，其中一款解析力测试卡如图3所示，其测试线上的刻度值20、21、22、23、24分别代表2000、2100、2200、2300、2400，若解析力测试图像中测试线边缘清晰的临界位置在刻度值22处，则代表摄像头的解析力达到2000线的程度。
计算模块计算的摄像头的解析力值y=[2L*tan（θ/2）]/λ，其中L为摄像头到解析力测试卡的距离，θ为摄像头的视场角，λ为解析力测试图像中边缘清晰的测试线数量（λ=2000、2100、2200、2300、2400）。不同拍摄温度下，摄像头的解析力值y不相同。
计算模块计算的摄像头的解析力偏移量△y=y0-y1，其中，y0为摄像头在常温（25℃）下的解析力值，y1为摄像头在其他拍摄温度下的解析力值。某一款摄像头在不同拍摄温度（Tem）下的解析力偏移量（△y）如下表：
。
计算模块优选但不限于为个人电脑。
烧录装置可以将拍摄温度和解析力偏移量之间的对应关系烧录至摄像头里图像传感器的OTP内，也可烧录至摄像头里PCB上的外挂式存储器内。
另外，烧录装置，还用于将一计算机程序烧录至摄像头的OTP或外挂式存储器内，所述计算机程序被执行时，进行如下步骤：
S1：获取输入的拍摄温度；
S2：依据输入的拍摄温度，匹配对应的解析力偏移量；
S3；输出匹配到的解析力偏移量。
该高低温烧录系统通过在摄像头出厂前，对其在不同拍摄温度下的解析力偏移量烧录进行烧录，在终端上使用时，终端可通过调取摄像头内烧录的解析力偏移量对解析力进行校正，补偿摄像头在高低温下的解析力，提高图像的质量。
实施例三
如图5所示，一种摄像头的高低温拍摄方法，包括：
步骤1：获取摄像头的拍摄温度；
在该步骤1中，可通过一温度传感器来获取拍摄环境的拍摄温度。
步骤2：将获取的拍摄温度输入至摄像头；
在该步骤2中，预设有多个温度范围，将获取的拍摄温度在预设的多个温度范围里进行对比，若获取的拍摄温度在某一温度范围内则输出该温度范围对应的拍摄温度，比如以10℃为区间大小，预设的温度范围有-50℃—-40℃、-40℃—-30℃、-30℃—-20℃、-20℃—-10℃、-10℃—0℃、0℃—10℃、10℃—20℃、20℃—30℃、30℃—40℃、40℃—50℃、50℃—60℃、60℃—70℃、70℃—80℃、80℃—90℃，若获取的拍摄温度为-12℃，则输出温度范围-20℃—-10℃对应的拍摄温度值-15℃，依次类推获得如下表：
。
步骤3：摄像头依据输入的拍摄温度，匹配对应的解析力偏移量；
在该步骤3中，摄像头里图像传感器的OTP内或者PCB上的外挂式存储器内烧录有拍摄温度和解析力偏移量的对应关系。某一款摄像头在不同拍摄温度（Tem）下的解析力偏移量（△y）如下表：
。
另外，摄像头里图像传感器的OTP内或者PCB上的外挂式存储器内还烧录有一计算机程序，所述计算机程序被执行时，如图4所示，进行如下步骤：
S1：获取输入的拍摄温度；
S2：依据输入的拍摄温度，匹配对应的解析力偏移量；
S3；输出匹配到的解析力偏移量。
步骤4：摄像头输出匹配到的解析力偏移量；
步骤5：依据解析力偏移量纠正摄像头的对焦位置。
该步骤5包括：
步骤5.1：计算出摄像头的原始对焦位置；
在该步骤5.1中，计算出摄像头在对焦过程中的MTF曲线，获得MTF最大值所对应的原始对焦位置。
步骤5.2：依据解析力偏移量对原始对焦位置进行纠正，得到纠正对焦位置；
在该步骤5.2中，纠正对焦位置S1=S0+a△y，其中S0为摄像头的原始对焦位置，△y为摄像头的解析力偏移量，a为解析力偏移量的转换系数，不同摄像头的转换系数不同，可在摄像头出厂前通过测试获得。
步骤5.3：将纠正对焦位置输出至摄像头进行对焦；
在该步骤5.3中，依据纠正对焦位置计算出对应的对焦驱动电流并输出至摄像头。
该高低温拍摄方法可依据拍摄环境的拍摄温度调取摄像头内烧录的解析力偏移量，来对摄像头的对焦位置进行纠正，以纠正拍摄环境的高低温对摄像头解析力的影响，提高图像的质量。
实施例四
如图6所示，一种摄像头的高低温拍摄装置，包括：
温度传感器，用于获取摄像头的拍摄温度；
摄像头，用于进行对焦拍摄，以及依据输入的拍摄温度匹配对应的解析力偏移量；
处理器，用于将温度传感器获取的拍摄温度输入至摄像头内匹配对应的解析力偏移量，然后依据匹配到的解析力偏移量纠正摄像头的对焦位置。
其中，处理器在将温度传感器获取的拍摄温度输入至摄像头内时，预设有多个温度范围，将获取的拍摄温度在预设的多个温度范围里进行对比，若获取的拍摄温度在某一温度范围内则输出该温度范围对应的拍摄温度，比如以10℃为区间大小，预设的温度范围有-50℃—-40℃、-40℃—-30℃、-30℃—-20℃、-20℃—-10℃、-10℃—0℃、0℃—10℃、10℃—20℃、20℃—30℃、30℃—40℃、40℃—50℃、50℃—60℃、60℃—70℃、70℃—80℃、80℃—90℃，若获取的拍摄温度为-12℃，则输出温度范围-20℃—-10℃对应的拍摄温度值-15℃，依次类推获得如下表：
。
其中，摄像头里图像传感器的OTP内或者PCB上的外挂式存储器内烧录有拍摄温度和解析力偏移量的对应关系。某一款摄像头在不同拍摄温度（Tem）下的解析力偏移量（△y）如下表：
。
另外，摄像头里图像传感器的OTP内或者PCB上的外挂式存储器内还烧录有一计算机程序，所述计算机程序被执行时，如图4所示，进行如下步骤：
S1：获取输入的拍摄温度；
S2：依据输入的拍摄温度，匹配对应的解析力偏移量；
S3；输出匹配到的解析力偏移量。
其中，处理器在依据匹配到的解析力偏移量纠正摄像头的对焦位置时，先计算出摄像头的原始对焦位置，再依据解析力偏移量对原始对焦位置进行纠正，得到纠正对焦位置，然后将纠正对焦位置输出至摄像头进行对焦。
具体的，处理器计算出摄像头在对焦过程中的MTF曲线，获得MTF最大值所对应的原始对焦位置，再计算纠正对焦位置S1=S0+a△y，其中S0为摄像头的原始对焦位置，△y为摄像头的解析力偏移量，a为解析力偏移量的转换系数，不同摄像头的转换系数不同，可在摄像头出厂前通过测试获得，然后将依据纠正对焦位置计算出对应的对焦驱动电流并输出至摄像头。
该高低温拍摄装置可依据拍摄环境的拍摄温度调取摄像头内烧录的解析力偏移量，来对摄像头的对焦位置进行纠正，以纠正拍摄环境的高低温对摄像头解析力的影响，提高图像的质量。
实施例五
一种摄像头，包括PCB和搭载在所述PCB上的图像传感器，以及音圈马达和光学镜头，所述光学镜头搭载在所述音圈马达内，与所述音圈马达一起装配在所述图像传感器的感光面上方；所述光学镜头由所述音圈马达带动进行对焦。
该摄像头里图像传感器的OTP内或者PCB上的外挂式存储器内烧录有拍摄温度和解析力偏移量的对应关系。某一款摄像头在不同拍摄温度（Tem）下的解析力偏移量（△y）如下表：
。
另外，该摄像头里图像传感器的OTP内或者PCB上的外挂式存储器内还烧录有一计算机程序，所述计算机程序被执行时，如图4所示，进行如下步骤：
S1：获取输入的拍摄温度；
S2：依据输入的拍摄温度，匹配对应的解析力偏移量；
S3；输出匹配到的解析力偏移量。
以上所述实施例仅表达了本发明的实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本发明专利范围的限制，但凡采用等同替换或等效变换的形式所获得的技术方案，均应落在本发明的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种摄像头的高低温烧录方法，其特征在于，包括：
步骤1：获取摄像头在不同拍摄温度下的解析力偏移量；
步骤2：将拍摄温度和解析力偏移量一一对应后，烧录至摄像头内。
2.根据权利要求1所述的摄像头的高低温烧录方法，其特征在于，在步骤2中，还将一计算机程序烧录至摄像头内，所述计算机程序被执行时，进行如下步骤：
S1：获取输入的拍摄温度；
S2：依据输入的拍摄温度，匹配对应的解析力偏移量；
S3；输出匹配到的解析力偏移量。
3.根据权利要求1所述的摄像头的高低温烧录方法，其特征在于，步骤1包括：
步骤1.1：在不同拍摄温度下，将摄像头向解析力测试卡进行拍摄，获取不同拍摄温度下的解析力测试图像；
步骤1.2：依据解析力测试图像，计算出摄像头在不同拍摄温度下的解析力值；
步骤1.3：依据摄像头在常温和其他拍摄温度下的解析力值，计算出摄像头在不同拍摄温度下的解析力偏移量。
4.根据权利要求3所述的摄像头的高低温烧录方法，其特征在于，解析力测试卡上具有若干黑白相间的测试线，摄像头的解析力值y=[2L*tan（θ/2）]/λ，其中L为摄像头到解析力测试卡的距离，θ为摄像头的视场角，λ为解析力测试图像中边缘清晰的测试线数量。
5.根据权利要求3或4所述的摄像头的高低温烧录方法，其特征在于，摄像头的解析力偏移量△y=y0-y1，其中，y0为摄像头在常温下的解析力值，y1为摄像头在其他拍摄温度下的解析力值。
6.一种摄像头的高低温烧录系统，其特征在于，包括：
解析力测试装置，用于对摄像头在不同拍摄温度下进行解析力测试，获取摄像头在不同拍摄温度下的解析力偏移量；
烧录装置，用于将拍摄温度和解析力偏移量一一对应后，烧录至摄像头内。
7.根据权利要求6所述的摄像头高低温烧录系统，其特征在于，烧录装置，还用于将一计算机程序烧录至摄像头内，所述计算机程序被执行时，进行如下步骤：
S1：获取输入的拍摄温度；
S2：依据输入的拍摄温度，匹配对应的解析力偏移量；
S3；输出匹配到的解析力偏移量。
8.根据权利要求6所述的摄像头的高低温烧录系统，其特征在于，解析力测试装置包括：
解析力测试卡，用于供摄像头在不同拍摄温度下进行拍摄，以获取不同拍摄温度下的解析力测试图像；
高低温测试箱，用于为摄像头模拟不同拍摄温度的测试环境；
计算模块，用于依据解析力测试图像，计算出摄像头在不同拍摄温度下的解析力值，然后再依据摄像头在常温和其他拍摄温度下的解析力值，计算出摄像头在不同拍摄温度下的解析力偏移量。
9.根据权利要求8所述的摄像头的高低温烧录系统，其特征在于，解析力测试卡上具有若干黑白相间的测试线，计算模块计算的摄像头的解析力值y=[2L*tan（θ/2）]/λ，其中L为摄像头到解析力测试卡的距离，θ为摄像头的视场角，λ为解析力测试图像中边缘清晰的测试线数量。
10.根据权利要求8或9所述的摄像头的高低温烧录系统，其特征在于，计算模块计算的摄像头的解析力偏移量△y=y0-y1，其中，y0为摄像头在常温下的解析力值，y1为摄像头在其他拍摄温度下的解析力值。
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| CN201910008964.3A CN109871219A (zh) | 2019-01-04 | 2019-01-04 | 一种摄像头的高低温烧录方法及系统 |
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| Publication Number | Publication Date |
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| CN109871219A true CN109871219A (zh) | 2019-06-11 |
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| CN201910008964.3A Pending CN109871219A (zh) | 2019-01-04 | 2019-01-04 | 一种摄像头的高低温烧录方法及系统 |
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