CN109856572B - 一种一维及二维高低频磁特性测量系统 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种一维及二维高低频磁特性测量系统，包括B‑H复合线圈、功率放大器、信号放大器、水冷电阻、电容箱、信号发生采集器、一维及二维高低频磁特性测量装置和测试平台；测量装置包括底板、上下磁轭夹板、上磁轭顶板、左磁轭夹板、右磁轭夹板、左侧前后夹板、右侧前后夹板、C形上磁轭、C形下磁轭、C形左磁轭、C形右磁轭、激励线圈和样品板；本装置的底板设置有滑轨，通过左磁轭夹板、右磁轭夹板、左侧前后夹板、右侧前后夹板以及C形左磁轭和C形右磁轭沿滑轨的滑动，并于适当位置固定，实现本装置能进行一维磁特性测量和二维磁特性测量并能自由转变，实现一体多用。

Description

一种一维及二维高低频磁特性测量系统

技术领域

本发明涉及磁特性测量领域，具体是一种一维及二维高低频磁特性测量系统。

背景技术

磁特性测量系统主要包括激磁系统、传感系统、数据处理系统以及磁特性测量装置。激磁系统是通过对磁轭的激磁处理，使待测样片中产生各种磁场；传感系统是通过附着在待测样片表面的B-H复合线圈进行电信号的采集，目前大多采集电压信号；数据处理系统是通过各种程序自动将测量数据生成磁滞回线，从而得到待测样品的磁特性和各种损耗。目前较为通用的磁特性测量装置为一维磁环磁特性测量和二维C型磁轭磁特性测量，主要是通过对缠绕在磁轭上的线圈通以各种形式电流来产生不同磁场，进而得到磁性材料的磁特性以及各种损耗。

传统的磁特性测量装置大多只能进行低频下(10kHz以下)的磁特性测量，这是由于采用硅钢片制作而成的磁轭作为磁路，在高频下，硅钢片的特性很差，发热严重，损耗很大，导致在激磁时不容易达到所需要的磁感应强度，使测量的磁特性准确性降低。目前二维磁特性测量装置是将激磁线圈缠绕到极头附近，这样激磁效果是最优的，但是如果在高频下进行激磁时，由于两个激磁线圈距离过近，会出现邻近效应以及分布电容的影响，导致激磁效果不理想，使被测材料的磁特性准确性降低。传统的磁特性测量装置只能用于单一的测量，即一维磁测量装置只能进行一维的磁特性测量，二维装置只能进行二维的磁特性测量，不具有“一体多用”的功能，同时存在换样难的问题。

发明内容

针对现有技术的不足，本发明拟解决的技术问题是，提供一种一维及二维高低频磁特性测量系统。

本发明解决所述技术问题的技术方案是，提供一种一维及二维高低频磁特性测量系统，包括B-H复合线圈、功率放大器、信号放大器、水冷电阻、电容箱、信号发生采集器和测试平台；所述信号发生采集器分别与测试平台、信号放大器和功率放大器连接；B-H复合线圈与信号放大器连接；水冷电阻分别与功率放大器的正极端和电容箱连接；其特征在于该测量系统还包括一维及二维高低频磁特性测量装置；

所述测量装置包括底板、上下磁轭夹板、上磁轭顶板、左磁轭夹板、右磁轭夹板、左侧前后夹板、右侧前后夹板、C形上磁轭、C形下磁轭、C形左磁轭、C形右磁轭、激励线圈和样品板；

所述C形上磁轭、C形下磁轭、C形左磁轭和C形右磁轭的相同位置上均缠绕有激磁线圈；激磁线圈的两端分别与电容箱和功率放大器的负极端连接；两个上下磁轭夹板固定于底板上；所述C形上磁轭和C形下磁轭的两条短边分别固定于两个上下磁轭夹板上；C形下磁轭的长边固定于底板上，C形上磁轭的长边固定于上磁轭顶板上；上磁轭顶板的左右两端分别与两个上下磁轭夹板固定连接；C形上磁轭和C形下磁轭的极头固定组合；样品板通过样品板支撑柱固定在底板上，位于极头的中心位置，用于放置B-H复合线圈和待测样品；

左磁轭夹板的前后两端分别与两个左侧前后夹板固定连接；C形左磁轭的两条短边分别固定于两个左侧前后夹板上，长边固定于左磁轭夹板上；右磁轭夹板的前后两端分别与两个右侧前后夹板固定连接；C形右磁轭的两条短边分别固定于两个右侧前后夹板上，长边固定于右磁轭夹板上；

底板上表面固定有滑轨；左磁轭夹板、右磁轭夹板、左侧前后夹板与右侧前后夹板的底部均具有滑槽，与底板上的滑轨配合实现自由滑动；进行二维磁特性测量时，左磁轭夹板与右磁轭夹板分别与各自的上下磁轭夹板接触；左磁轭夹板、右磁轭夹板、左侧前后夹板与右侧前后夹板固定在底板上；C形左磁轭和C形右磁轭的极头固定组合；需要进行一维磁特性测量时，C形左磁轭和C形右磁轭分开，并将左磁轭夹板、右磁轭夹板、左侧前后夹板和右侧前后夹板与底板分开；拖动左磁轭夹板、右磁轭夹板、左侧前后夹板、右侧前后夹板以及C形左磁轭和C形右磁轭沿滑轨分别向测量装置的左右两侧滑动，直至C形左磁轭和C形右磁轭各自的两条极头边的外侧均位于C形上磁轭和C形下磁轭的外侧，再将左磁轭夹板、右磁轭夹板、左侧前后夹板与右侧前后夹板固定在底板上。

与现有技术相比，本发明有益效果在于：

(1)本装置的底板设置有滑轨，通过左磁轭夹板、右磁轭夹板、左侧前后夹板、右侧前后夹板以及C形左磁轭和C形右磁轭沿滑轨的滑动，并于适当位置固定，实现本装置能进行一维磁特性测量和二维磁特性测量并能自由转变，实现一体多用。

(2)经过结构变形，在系统进行一维磁特性测量时，C形左磁轭和C形右磁轭不会对C形上磁轭和C形下磁轭的磁通产生影响，实现测量结果的准确。

(3)本装置解决了二维测量时换样难的问题。当需要更换二维测量的样品时，可将本装置先变形为一维测量装置，完成换样后，变形为二维测量装置再进行测量，不需要将整个测量装置拆除的复杂方式。

(4)在高频下，激磁线圈过于靠近会出现邻近效应以及分布电容的影响，所以将本系统将激磁线圈缠绕在磁轭的两条短边上而非极头位置。

(5)磁轭采用为纳米晶材料。纳米晶材料饱和磁导率较高，高频下铁心损耗较低，发热也较硅钢片少，高频下激磁效果比硅钢片好，所以本装置既可以实现对各种材料的低频磁特性的测量，也可以实现对各种材料的高频磁特性的测量。

附图说明

图1为本发明一种实施例的进行二维磁特性测量的装置整体结构示意图；

图2为本发明图1中去掉上磁轭顶板、左侧前后夹板和右侧前后夹板后的局部放大示意图；

图3为本发明一种实施例的进行一维磁特性测量的装置整体结构示意图；

图4为本发明图3的局部放大示意图；

图5为本发明一种实施例的底板俯视示意图；

图6为本发明一种实施例的底板仰视示意图；

图7为本发明一种实施例的C形上磁轭、C形下磁轭、C形左磁轭和C形右磁轭的空间位置示意图；

图8为本发明一种实施例的C形上磁轭、C形下磁轭、C形左磁轭和C形右磁轭的连接示意图；

图9为本发明一种实施例的左磁轭夹板和左侧前后夹板的连接示意图；

图10为本发明一种实施例的C形上磁轭和C形下磁轭的安装示意图；

图11为本发明一种实施例的上下磁轭夹板结构示意图；

图12为本发明一种实施例的上磁轭顶板结构示意图；

图13为本发明一种实施例的左磁轭夹板结构示意图；

图14为本发明一种实施例的样品板结构示意图；

图15为本发明一种实施例的极头夹结构示意图；

图16为本发明一种实施例的系统结构示意框图；

图中：1、底板；2、上下磁轭夹板；3、上磁轭顶板；4、左磁轭夹板；5、右磁轭夹板；6、左侧前后夹板；7、右侧前后夹板；8、地支架；9、磁轭夹；10、极头夹；11、出线孔；12、滑轨；13、进线孔；14、C形上磁轭；15、C形下磁轭；16、C形左磁轭；17、C形右磁轭；18、滑槽；19、垫板；20、极头夹公头；21、极头夹母头；22、凸出块；23、激磁线圈；24、样品板；25、样品板支撑柱；26、磁轭槽；27、线圈放置槽；28、滑轨档柱；29、测试平台；30、B-H复合线圈；31、功率放大器；32、信号放大器；33、水冷电阻；34、电容箱；35、信号发生采集器；

具体实施方式

下面给出本发明的具体实施例。具体实施例仅用于进一步详细说明本发明，不限制本申请权利要求的保护范围。

本发明提供了一种一维及二维高低频磁特性测量系统(简称测量系统，参见图1-16)，包括B-H复合线圈30、功率放大器31、信号放大器32、水冷电阻33、电容箱34、信号发生采集器35和测试平台29；所述信号发生采集器35分别与测试平台29、信号放大器32和功率放大器31连接；B-H复合线圈30与信号放大器32连接；水冷电阻33分别与功率放大器31的正极端和电容箱34连接；其特征在于该测量系统还包括一维及二维高低频磁特性测量装置(简称测量装置)；

所述测量装置包括底板1、上下磁轭夹板2、上磁轭顶板3、左磁轭夹板4、右磁轭夹板5、左侧前后夹板6、右侧前后夹板7、C形上磁轭14、C形下磁轭15、C形左磁轭16、C形右磁轭17、激励线圈23和样品板24；

所述C形上磁轭14、C形下磁轭15、C形左磁轭16和C形右磁轭17的相同位置上均缠绕有激磁线圈23，实现激磁线圈23的完全对称布置；激磁线圈23的两端分别与电容箱34和功率放大器31的负极端连接；两个上下磁轭夹板2固定于底板1上；所述C形上磁轭14和C形下磁轭15的两条短边均通过磁轭夹9和不导磁螺丝分别固定于两个上下磁轭夹板2上；C形下磁轭15的长边通过磁轭夹9和不导磁螺丝固定于底板1上，C形上磁轭14的长边通过磁轭夹9和不导磁螺丝固定于上磁轭顶板3上；上磁轭顶板3的左右两端分别与两个上下磁轭夹板2固定连接，用于保护磁轭；C形上磁轭14和C形下磁轭15的极头通过极头夹10固定组合成楔形；样品板支撑柱25(本实施例为四个)通过不导磁螺丝固定在底板1上，样品板24通过不导磁螺丝固定在样品板支撑柱25上；所述样品板24位于极头的中心位置，用于放置B-H复合线圈30和待测样品；

左磁轭夹板4的前后两端分别与两个左侧前后夹板6固定连接；C形左磁轭16的两条短边均通过磁轭夹9和不导磁螺丝分别固定于两个左侧前后夹板6上，长边通过磁轭夹9和不导磁螺丝固定于左磁轭夹板4上；右磁轭夹板5的前后两端分别与两个右侧前后夹板7固定连接；C形右磁轭17的两条短边均通过磁轭夹9和不导磁螺丝分别固定于两个右侧前后夹板7上，长边通过磁轭夹9和不导磁螺丝固定于右磁轭夹板5上；

底板1上表面固定有滑轨12；左磁轭夹板4、右磁轭夹板5、左侧前后夹板6与右侧前后夹板7的底部均具有滑槽18，与底板1上的滑轨12配合实现自由滑动，构成移动副；进行二维磁特性测量时，左磁轭夹板4与右磁轭夹板5分别与各自的上下磁轭夹板2接触；左磁轭夹板4、右磁轭夹板5、左侧前后夹板6与右侧前后夹板7通过不导磁螺丝固定在底板1上；C形左磁轭16和C形右磁轭17的极头通过极头夹10固定组合成楔形；需要进行一维磁特性测量时，将C形左磁轭16和C形右磁轭17上的极头夹10卸下，C形左磁轭16和C形右磁轭17分开，并将左磁轭夹板4、右磁轭夹板5、左侧前后夹板6和右侧前后夹板7与底板1连接的不导磁螺丝拧出，左磁轭夹板4、右磁轭夹板5、左侧前后夹板6和右侧前后夹板7与底板1分开；拖动左磁轭夹板4、右磁轭夹板5、左侧前后夹板6、右侧前后夹板7以及C形左磁轭16和C形右磁轭17沿滑轨12分别向测量装置的左右两侧滑动，直至C形左磁轭16和C形右磁轭17各自的两条极头边的外侧均位于C形上磁轭14和C形下磁轭15的外侧(即C形左磁轭16和C形右磁轭17与C形上磁轭14和C形下磁轭15在竖直面内不相交)，再通过不导磁螺丝将左磁轭夹板4、右磁轭夹板5、左侧前后夹板6与右侧前后夹板7固定在底板1上。

优选地，底板1上表面固定有滑轨档柱28；滑轨档柱28位于滑轨12的末端，用于定位和阻挡，防止左磁轭夹板4、右磁轭夹板5、左侧前后夹板6与右侧前后夹板7脱离滑轨12以及当左磁轭夹板4和右磁轭夹板5沿滑轨12滑动到达滑轨档柱28位置时即变为一维磁特性测量装置，起到定位作用。

C形上磁轭14、C形下磁轭15、C形左磁轭16和C形右磁轭17均采用纳米晶材料制成，日立Finemet系列的。C形上磁轭14、C形下磁轭15、C形左磁轭16和C形右磁轭17的每一条短边的相同位置上均缠绕有一个激磁线圈23。

该测量装置还包括地支架8；所述底板1的四个底角通过不导磁螺丝与四个地支架8固定连接，地支架8用于支撑和垫高底板1。

所述底板1开有激磁线圈出线孔11和激磁线圈进线孔13，中间开有磁轭槽26；进线孔13为四个长方形孔，出线孔11为六十四个圆孔，分别对称分布在底板1两侧，以使得激磁线圈23的引线位于底板1下方，方便美观。六十四个激磁线圈出线孔可以将激磁线圈23进行多部分多层次缠绕，在接线板上进行串并联，可以提供多种激磁策略，并减小在高频磁特性测量下进行电容匹配的难度。

上下磁轭夹板2开有磁轭槽26和线圈放置槽27，侧面开有小凹槽用于当测量装置由二维磁特性测量变为一维磁特性测量时C形左磁轭16和C形右磁轭17不被卡住而顺利拉出；

上磁轭顶板3开有磁轭槽26；

左磁轭夹板4与右磁轭夹板5的结构相同，底部开有滑槽18，顶部具有凸出的垫板19，内部开有磁轭槽26，下方具有凸出块22；凸出块22用来支撑C形磁轭，减小磁轭凸出部分的受力；进行二维磁特性测量时，左磁轭夹板4与右磁轭夹板5顶部的垫板19分别紧贴与其对应的各自的上下磁轭夹板2，防止上下磁轭夹板2在高频下振动，同时具有定位作用。

左侧前后夹板6和右侧前后夹板7的结构相同，内部开有磁轭槽26和线圈放置槽27，底部开有滑槽18。

磁轭槽26为长方体形状，用于放置磁轭，减小磁轭的振动；磁轭槽26的深度小于C形磁轭的厚度，使得C形磁轭没有完全嵌入测量装置内部，在测量装置外部留有一部分磁轭，防止在高频测量下，脆性的纳米晶C型磁轭拐角处的内部形成断裂，影响数据测量的准确性。

所述极头夹10由极头夹公头20和极头夹母头21构成，极头夹公头20和极头夹母头21通过不导磁螺丝固定连接；用于将两个磁轭的极头紧固，使得各个磁轭极头之间的缝隙相同，减小极头之间的气隙，提高激磁能力并保证良好的激磁效果。

样品板24分为三层，最上层用于放置B-H复合线圈30和待测样品，B-H复合线圈30放置于待测样品的中心位置；中层具有两个凹槽，用于卡住C形上磁轭14和C形下磁轭15形成的极头，防止极头在高频下振动以及受力弯曲；最下层用于与极头夹10紧贴，对极头夹10进行定位。

磁轭夹9用于防止在高频下四个C形磁轭的振动，减小对磁轭的磨损。

不导磁螺丝可采用304不锈钢圆柱头内六角螺钉。

B-H复合线圈30包括B探针和H传感线圈，用于测量待测样品的B和H电压信号；

功率放大器31的型号是INSPECTION CERTIFICATE PA100-52A，用于将信号发生采集器35发出的信号进行功率放大；

信号放大器32用于放大B和H电压信号；

水冷电阻33用于对测量系统进行保护，防止电流过大；

测量此频率下的激磁线圈23的电感，根据谐振公式计算出此时需要的电容，采用耐高压的电容箱34进行匹配，使得电压和电流同相位；电感电容箱34用于匹配激磁线圈23的电感；

信号发生采集器35采用型号为NI PXle-6368的NI采集卡，用于发出小信号以及采集B-H复合线圈30中所测量出的信号。

所述测试平台29采用安装有LabVIEW软件的电脑、计算机等上位机。用于控制信号发生采集器35输出信号以及采集信号。

本发明的工作原理和工作流程是：

(1)测量装置安装：

步骤一：将两个上下磁轭夹板2固定于底板1的左右两侧，将C形上磁轭14和C形下磁轭15放入上下磁轭夹板2中，用磁轭夹9将C形上磁轭14和C形下磁轭15固定在上下磁轭夹板2、上磁轭顶板3和底板1上，再固定上磁轭顶板3。将四个样品板支撑柱25和样品板24放置好后固定连接，并与底板1相连。C形上磁轭14和C形下磁轭15的极头通过极头夹10固定组合成楔形。

步骤二：将左磁轭夹板4的前后两端分别与两个左侧前后夹板6固定连接，右磁轭夹板5的前后两端分别与两个右侧前后夹板7固定连接；放入C形左磁轭16和C形右磁轭17并磁轭夹9固定连接。

步骤三：将步骤二得到的整体放在滑轨12上。

(2)测量装置安装完成后，进行磁特性测量：

需要进行二维磁特性测量时，左磁轭夹板4、右磁轭夹板5、左侧前后夹板6与右侧前后夹板7在滑轨12上滑动到使得左磁轭夹板4与右磁轭夹板5分别与各自的上下磁轭夹板2接触，左磁轭夹板4与右磁轭夹板5顶部的垫板19分别紧贴各自的上下磁轭夹板2；将左磁轭夹板4、右磁轭夹板5、左侧前后夹板6与右侧前后夹板7通过不导磁螺丝固定在底板1上；C形左磁轭16和C形右磁轭17的极头通过极头夹10固定组合成楔形，极头夹10表面紧贴样品板24；将待测样品放置于样品板24上，与各个极头均对齐、接触且位于各个极头的中心位置，B-H复合线圈30放置于待测样品的中心位置。

进行二维磁特性测量，测试平台29的LabVIEW软件控制信号发生采集器35输出一个小激磁信号(在进行低频测量时，该激磁信号为低频信号；进行高频测量时，该激磁信号为高频信号)到功率放大器31中进行放大，从功率放大器31的正极端输出信号经过水冷电阻33和电容箱34加载到激磁线圈23上，通过四个C形磁轭对待测样片进行磁化，使待测样片内部形成磁场，再从激磁线圈23的另一端输出到功率放大器31的负极端。采集信号时，通过贴附在待测样品表面的B-H复合线圈30采集待测样品的B和H电压信号，经过信号放大器32将信号放大后回到信号发生采集器35，利用测试平台29的LabVIEW软件控制信号发生采集器35将信号采出，通过对电压信号进行处理，生成样品的B-H曲线，得到待测样品的磁通密度和磁场强度。

需要进行一维磁特性测量时，将C形左磁轭16和C形右磁轭17上的极头夹10卸下，C形左磁轭16和C形右磁轭17分开，并将左磁轭夹板4、右磁轭夹板5、左侧前后夹板6和右侧前后夹板7与底板1连接的不导磁螺丝拧出，左磁轭夹板4、右磁轭夹板5、左侧前后夹板6和右侧前后夹板7与底板1分开；拖动左磁轭夹板4、右磁轭夹板5、左侧前后夹板6、右侧前后夹板7以及C形左磁轭16和C形右磁轭17沿滑轨12分别向测量装置的左右两侧滑动，直至C形左磁轭16和C形右磁轭17各自的两条极头边的外侧均位于C形上磁轭14和C形下磁轭15的外侧，再通过不导磁螺丝将左磁轭夹板4、右磁轭夹板5、左侧前后夹板6与右侧前后夹板7固定在底板1上。再进行一维磁特性测量，将激励加载到C形上磁轭14和C形下磁轭15的激磁线圈23上，测量方法与二维磁特性测量相同。

本发明未述及之处适用于现有技术。

Claims (10)

1.一种一维及二维高低频磁特性测量系统，包括B-H复合线圈、功率放大器、信号放大器、水冷电阻、电容箱、信号发生采集器和测试平台；所述信号发生采集器分别与测试平台、信号放大器和功率放大器连接；B-H复合线圈与信号放大器连接；水冷电阻分别与功率放大器的正极端和电容箱连接；其特征在于该测量系统还包括一维及二维高低频磁特性测量装置；

所述测量装置包括底板、上下磁轭夹板、上磁轭顶板、左磁轭夹板、右磁轭夹板、左侧前后夹板、右侧前后夹板、C形上磁轭、C形下磁轭、C形左磁轭、C形右磁轭、激励线圈和样品板；

所述C形上磁轭、C形下磁轭、C形左磁轭和C形右磁轭的相同位置上均缠绕有激磁线圈；激磁线圈的两端分别与电容箱和功率放大器的负极端连接；两个上下磁轭夹板固定于底板上；所述C形上磁轭和C形下磁轭的两条短边分别固定于两个上下磁轭夹板上；C形下磁轭的长边固定于底板上，C形上磁轭的长边固定于上磁轭顶板上；上磁轭顶板的左右两端分别与两个上下磁轭夹板固定连接；C形上磁轭和C形下磁轭的极头固定组合；样品板通过样品板支撑柱固定在底板上，位于极头的中心位置，用于放置B-H复合线圈和待测样品；

左磁轭夹板的前后两端分别与两个左侧前后夹板固定连接；C形左磁轭的两条短边分别固定于两个左侧前后夹板上，长边固定于左磁轭夹板上；右磁轭夹板的前后两端分别与两个右侧前后夹板固定连接；C形右磁轭的两条短边分别固定于两个右侧前后夹板上，长边固定于右磁轭夹板上；

底板上表面固定有滑轨；左磁轭夹板、右磁轭夹板、左侧前后夹板与右侧前后夹板的底部均具有滑槽，与底板上的滑轨配合实现自由滑动；进行二维磁特性测量时，左磁轭夹板与右磁轭夹板分别与各自的上下磁轭夹板接触；左磁轭夹板、右磁轭夹板、左侧前后夹板与右侧前后夹板固定在底板上；C形左磁轭和C形右磁轭的极头固定组合；需要进行一维磁特性测量时，C形左磁轭和C形右磁轭分开，并将左磁轭夹板、右磁轭夹板、左侧前后夹板和右侧前后夹板与底板分开；拖动左磁轭夹板、右磁轭夹板、左侧前后夹板、右侧前后夹板以及C形左磁轭和C形右磁轭沿滑轨分别向测量装置的左右两侧滑动，直至C形左磁轭和C形右磁轭各自的两条极头边的外侧均位于C形上磁轭和C形下磁轭的外侧，再将左磁轭夹板、右磁轭夹板、左侧前后夹板与右侧前后夹板固定在底板上。

2.根据权利要求1所述的一维及二维高低频磁特性测量系统，其特征在于底板上表面固定有滑轨档柱；滑轨档柱位于滑轨的末端，用于定位和阻挡。

3.根据权利要求1所述的一维及二维高低频磁特性测量系统，其特征在于C形上磁轭、C形下磁轭、C形左磁轭和C形右磁轭均采用纳米晶材料制成；C形上磁轭、C形下磁轭、C形左磁轭和C形右磁轭的每一条短边的相同位置上均缠绕有一个激磁线圈。

4.根据权利要求1所述的一维及二维高低频磁特性测量系统，其特征在于该测量装置还包括地支架；所述底板的四个底角与四个地支架固定连接，地支架用于支撑和垫高底板。

5.根据权利要求1所述的一维及二维高低频磁特性测量系统，其特征在于所述底板开有激磁线圈出线孔和激磁线圈进线孔，中间开有磁轭槽；上磁轭顶板开有磁轭槽；上下磁轭夹板开有磁轭槽和线圈放置槽，侧面开有小凹槽用于当测量装置由二维磁特性测量变为一维磁特性测量时C形左磁轭和C形右磁轭不被卡住。

6.根据权利要求1所述的一维及二维高低频磁特性测量系统，其特征在于左磁轭夹板与右磁轭夹板的结构相同，底部开有滑槽，顶部具有凸出的垫板，内部开有磁轭槽，下方具有凸出块；凸出块用来支撑C形磁轭；进行二维磁特性测量时，左磁轭夹板与右磁轭夹板顶部的垫板分别紧贴各自的上下磁轭夹板。

7.根据权利要求1所述的一维及二维高低频磁特性测量系统，其特征在于左侧前后夹板和右侧前后夹板的结构相同，内部开有磁轭槽和线圈放置槽，底部开有滑槽。

8.根据权利要求5-7任一所述的一维及二维高低频磁特性测量系统，其特征在于磁轭槽的深度小于C形磁轭的厚度，使得C形磁轭在装置外部留有一部分磁轭。

9.根据权利要求1所述的一维及二维高低频磁特性测量系统，其特征在于极头夹由极头夹公头和极头夹母头构成，极头夹公头和极头夹母头固定连接，用于将两个磁轭的极头紧固，使得各个磁轭极头之间的缝隙相同。

10.根据权利要求1所述的一维及二维高低频磁特性测量系统，其特征在于样品板分为三层，最上层用于放置B-H复合线圈和待测样品，B-H复合线圈放置于待测样品的中心位置；中层具有两个凹槽，用于卡住C形上磁轭和C形下磁轭形成的极头；最下层用于与极头夹紧贴，对极头夹进行定位。