CN109828022A - 一种蒙皮的无损检测方法 - Google Patents
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Abstract
本发明属于航空检测领域，涉及一种蒙皮的无损检测方法。本发明主要包括平面或大曲率半径试件探伤用对比试样和一组不同厚度的聚氯乙烯膜片组成。检测时，在飞机蒙皮上通过涡流测厚仪测量蒙皮的漆层厚度，找出对应厚度的聚氯乙烯膜片覆盖在表面及近表面的缺陷对比试样上调整涡流仪器参数。本发明克服了传统检测除漆、重新喷漆等缺点。
Description
技术领域
本发明航空检测领域，特别针对飞机蒙皮的涡流检测，本发明设计能较大幅度地提高检测效率，操作简便。
背景技术
涡流检测是以电磁感应原理为基础的一种常规无损检测方法。它具有检测时，线圈不需接触工件，也无需耦合剂，检测速度快；对工件表面和近表面的缺陷，有很高的检出灵敏度，可对大小不同的缺陷进行评价。涡流检测独特的专长是其他无损检测方法所不可替代的。
涡流检测是飞机大修及D检中最有效的常用检测方法，而检修部位常常被漆层覆盖，这些覆盖层对涡流检测有影响，如果不去除，这直接关系到涡流检测结果的准确程度和飞机的飞行安全。研究检测时这些覆盖层如果不用去除，同时又可以保证检测结果的可靠性，不仅提高检测效率，同时可以为公司节约除漆、重新喷漆的费用。
设计用于零件专用的检测漆层铝试件的涡流对比试样，就是为了方便飞机铝合金漆层覆盖零件的检测，提高检测效率和质量。另外，节约除漆、重新喷漆的费用，同时减少重新喷漆造成的环境污染。
发明内容
本发明的目的是：克服了以往飞机大修及D检中检修部位常常被漆层覆盖。这种方法适用于各种涡流检测，基体非铁磁性导电材料，如常见的铝及铝合金、钛及钛合金、铜及铜合金以及奥氏体不锈钢，覆盖层为非导电的绝缘材料，如漆层、阳极氧化膜等。提供了一种便捷操作，灵活使用，无需去除覆盖层，直接进行检测，在一定条件下通用的检测方法。
本发明的技术方案是：提供一种蒙皮的无损检测方法，其中蒙皮的基体材质为铝、铝合金、钛、钛合金、铜、铜合金或奥氏体不锈钢，蒙皮漆层为非导电的绝缘材料，该方法包括如下步骤：
步骤一、检测飞机蒙皮上覆盖的绝缘材料层的厚度，并根据测量得到的绝缘材料层厚度选取同样厚度的聚氯乙烯膜片；
步骤二、将聚氯乙烯膜片覆盖在蒙皮基体试样上，并形成具有覆盖层的对比试样，其中蒙皮基体试样与蒙皮基体的材质完全相同；
步骤三、对覆盖层的对比试样进行涡流检测，检测结果作为参考值；
步骤四、对飞机蒙皮进行涡流检测，并与参考值进行对比，判断实际的蒙皮损伤情况。
进一步的，所述绝缘材料为漆层和/或阳极氧化膜。
进一步的，所述聚氯乙烯膜片为组件，其中包括多种厚度的聚氯乙烯膜片。
进一步的，所述多种厚度包括0.03mm、0.06mm、0.09mm、0.12mm。
进一步的，所述蒙皮基体试样为大曲率半径的曲面结构。
本发明的优点是：本发明提高了检测质量和检测效率；同时节约除漆、重新喷漆的费用，减少重新喷漆造成的环境污染。
附图说明
图1为本发明的聚氯乙烯膜片组件示意图；
图2为本发明的蒙皮基体试样示意图。
具体实施方式
下面对本发明做进一步详细说明。参见图1和2，提供一种蒙皮的无损检测方法，其中蒙皮的基体材质为铝、铝合金、钛、钛合金、铜、铜合金或奥氏体不锈钢，蒙皮漆层为非导电的绝缘材料，所述绝缘材料为漆层；该方法包括如下步骤：
步骤一、检测飞机蒙皮上覆盖的绝缘材料层的厚度，并根据测量得到的绝缘材料层厚度选取同样厚度的聚氯乙烯膜片；所述聚氯乙烯膜片为组件，其中包括多种厚度的聚氯乙烯膜片；
步骤二、将聚氯乙烯膜片覆盖在蒙皮基体试样上，并形成具有覆盖层的对比试样，其中蒙皮基体试样与蒙皮基体的材质完全相同；所述蒙皮基体试样为大曲率半径的曲面结构；
步骤三、对覆盖层的对比试样进行涡流检测，检测结果作为参考值；
步骤四、对飞机蒙皮进行涡流检测，并与参考值进行对比，判断实际的蒙皮损伤情况。
Claims (5)
1.一种蒙皮的无损检测方法，其中蒙皮的基体材质为铝、铝合金、钛、钛合金、铜、铜合金或奥氏体不锈钢，蒙皮漆层为非导电的绝缘材料，该方法包括如下步骤：
步骤一、检测飞机蒙皮上覆盖的绝缘材料层的厚度，并根据测量得到的绝缘材料层厚度选取同样厚度的聚氯乙烯膜片；
步骤二、将聚氯乙烯膜片覆盖在蒙皮基体试样上，并形成具有覆盖层的对比试样，其中蒙皮基体试样与蒙皮基体的材质完全相同；
步骤三、对覆盖层的对比试样进行涡流检测，检测结果作为参考值；
步骤四、对飞机蒙皮进行涡流检测，并与参考值进行对比，判断实际的蒙皮损伤情况。
2.如权利要求1所述的一种蒙皮的无损检测方法，其特征在于：所述绝缘材料为漆层和/或阳极氧化膜。
3.如权利要求2所述的一种蒙皮的无损检测方法，其特征在于：所述聚氯乙烯膜片为组件，其中包括多种厚度的聚氯乙烯膜片。
4.如权利要求2所述的一种蒙皮的无损检测方法，其特征在于：所述多种厚度包括0.03mm、0.06mm、0.09mm、0.12mm。
5.如权利要求1所述的一种蒙皮的无损检测方法，其特征在于：所述蒙皮基体试样为大曲率半径的曲面结构。
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2018
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