CN109813998A - 一种数码设备接口潮湿检测电路及终端 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种数码设备接口潮湿检测电路及终端，用以降低检测数码设备接口是否潮湿的成本。所述数码设备接口潮湿检测电路，包括：分压模块、采样模块以及输出模块，其中，所述分压模块，连接于供电电源正极和所述供电电源负极之间，所述分压模块的中间节点与所述数码设备接口的待检测管脚相连接；所述采样模块，用于采集所述分压模块中间节点的电压，并将采集到的采样电压发送至所述输出模块；所述输出模块，与所述采样模块相连接，用于根据所述采样电压与预设参考电压的关系，输出用于表征所述数码设备接口是否潮湿的信号。
Description
技术领域
本发明涉及终端领域，尤其涉及一种数码设备接口潮湿检测电路及终端。
背景技术
数码设备接口在通信领域的应用十分广泛，现有的终端大多是通过数码设备接口进行数据传输和充电。由于终端中的数码设备接口大多处于裸露状态，没有很好的防水功能，因此，在使用数码设备充电时，若数码设备接口处于潮湿状态，则会对数码设备接口和终端造成损伤。
鉴于此，现有技术中提出了一些数码设备接口的潮湿检测方案，但是现有的数码设备接口潮湿检测方案，都是基于集成芯片或借助传感器实现的，成本较高。
发明内容
本发明实施例提供一种数码设备接口潮湿检测电路及终端，用以降低检测数码设备接口是否潮湿的成本。
第一方面，本发明实施例提供了一种数码设备接口潮湿检测电路，包括：分压模块、采样模块以及输出模块，其中，
分压模块，连接于供电电源正极和供电电源负极之间，分压模块的中间节点与数码设备接口的待检测管脚相连接；
采样模块，用于采集分压模块中间节点的电压，并将采集到的采样电压发送至输出模块；
输出模块，与采样模块相连接，用于根据采样电压与预设参考电压的关系，输出用于表征数码设备接口是否潮湿的信号。
在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述检测电路中，检测电路还包括：参考电源，用于提供预设参考电压。
在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述检测电路中，输出模块包括：比较模块，比较模块用于比对采样电压与预设参考电压，根据对比结果输出用于表征数码设备接口是否潮湿的信号。
在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述检测电路中，比较模块包括：电压比较器或者MOS管。
在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述检测电路中，当比较模块包括电压比较器时，电压比较器的正相输入端与参考电源连接，电压比较器的反相输入端与采样模块连接；或者
电压比较器的正相输入端与采样模块连接，电压比较器的反相输入端与参考电源连接。
在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述检测电路中，当比较模块包括MOS管时，MOS管的栅极与采样模块连接，MOS管的源极与参考电源连接；或者
MOS管的栅极与参考电源连接，MOS管的源极与采样模块连接，MOS管的漏极通过第三电阻组件与参考电源的负极连接，且MOS管的漏极与比较模块的输出端相连接。
在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述检测电路中，比较模块还包括：连接于MOS管栅极和源极之间的瞬态抑制二极管。
在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述检测电路中，比较模块还包括：反向连接于MOS管源极和漏极之间的二极管。
在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述检测电路中，待检测管脚包括接口的CC管脚。
第二方面，本发明实施例提供了一种终端，包括：数码设备接口、本发明实施例第一方面提供的数码设备接口潮湿检测电路、以及分别与数码设备接口和数码设备接口潮湿检测电路相连接的控制模块；其中，
控制模块，用于在确定数码设备接口潮湿检测电路的输出信号表征数码设备接口潮湿时，控制断开数码设备接口与终端的连接。
在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述终端中，该终端还包括：提示模块；其中，
提示模块，用于在确定数码设备接口潮湿检测电路的输出信号表征数码设备接口潮湿时，显示潮湿中断连接信息。
本发明实施例的有益效果如下：
本发明实施例提供的一种数码设备接口潮湿检测电路及终端，包括：分压模块、采样模块以及输出模块，其中，分压模块，连接于供电电源正极和供电电源负极之间，分压模块的中间节点与数码设备接口的待检测管脚相连接；采样模块，用于采集分压模块中间节点的电压，并将采集到的采样电压发送至输出模块；输出模块，与采样模块相连接，用于根据采样电压与预设参考电压的关系，输出用于表征数码设备接口是否潮湿的信号。
本发明实施例提供的数码设备接口潮湿检测方案，通过采样数码设备接口中待检测管脚处的电压，将采样得到的采样电压发送至输出模块，使得输出模块能够依据采样电压与预设参考电压的关系，输出表征数码设备接口是否潮湿的信号，与现有技术相比，不需要借助芯片或传感器即可检测数码设备接口是否潮湿，降低了检测数码设备接口是否潮湿的成本。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简要介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域的普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的数码设备接口潮湿检测电路的结构示意图；
图2为本发明实施例一中数码设备接口潮湿检测电路的结构示意图；
图3为本发明实施例一中另一数码设备接口潮湿检测电路的结构示意图；
图4为本发明实施例二中数码设备接口潮湿检测电路的结构示意图；
图5为本发明实施例二中另一数码设备接口潮湿检测电路的结构示意图。
具体实施方式
以下结合附图对本申请的实施例进行说明，应当理解，此处所描述的实施例仅用于说明和解释本申请，并不用于限定本申请。
需要说明的是，本发明实施例提供的数码设备接口潮湿检测方案，适用于各种类型的数码设备接口，可以包括但不限于：通用串口总线(Universal Serial Bus，USB)接口，闪电(Lightning Dock，DOCK)接口等。
下面结合说明书附图，对本发明实施例提供的数码设备接口潮湿检测电路及终端的具体实施方式进行说明。
本发明实施例提供了一种数码设备接口潮湿检测电路，用于检测数码设备接口是否潮湿，其结构如图1所示，包括：分压模块10、采样模块20以及输出模块30。
分压模块10，连接于供电电源正极和供电电源负极之间，分压模块10的中间节点与数码设备接口中的待检测管脚相连接，其中，分压模块10的中间节点是指分压模块10中多个分压电阻组件之间的连接点。
采样模块20，用于采集分压模块10中间节点的电压，并将采集到的采样电压发送至输出模块30。
输出模块30，与采样模块20相连接，用于根据采样电压与预设参考电压的关系，输出用于表征数码设备接口是否潮湿的信号。
在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的数码设备接口潮湿检测电路，还包括：参考电源40，用于提供预设参考电压。
需要说明的是，预设参考电压可以根据实际情况进行设置。例如，预设参考电压可以是1.8V，也可以是其它数值，本发明实施例对此不做限定。
在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的数码设备接口潮湿检测电路中，分压模块10包括：串联连接的第一电阻组件和第二电阻组件(未示出)，第一电阻组件的一端与供电电源正极相连，第二电阻组件的一端与供电电源负极相连。此种情况下，分压模块10的中间节点即为第一电阻组件的与第二电阻组件的连接点。
具体实施时，第一电阻组件可以包括多个串联和/或并联的电阻，第二电阻组件也可以包括多个串联和/或并联的电阻，本发明实施例对此不做限定。
其中，第一电阻组件和第二电阻组件的阻值可以相同，也可以不同，但是需要保证第二电阻组件的分压能够大于预设参考电压。例如，当第一电阻组件与第二电阻组件阻值相同时，预设参考电源为1.8v，与分压模块10连接的电源电压为4V。在本发明下述实施例中，以第一电阻组件和第二电阻组件的阻值相同进行说明。
具体实施时，待检测管脚可以是数码设备接口的CC管脚，也可以是数码设备接口的其它管脚，本发明实施例对此不做限定。本发明下述实施例中以CC管脚为例进行说明。
下面结合图1对本发明实施例提供的数码设备接口潮湿检测电路的工作原理进行说明。
当数码设备接口干燥时，供电电源通过第一电阻组件与第二电阻组件构成闭合回路，此时有电流流过第二电阻组件，第二电阻组件两端有电压差，第一电阻组件和第二电阻组件中间节点的电压大于参考电源40提供的预设参考电压。采样模块20采集分压模块10中间节点的电压，并将采集到的采样电压发送至输出模块30，输出模块30将采样电压与预设参考电压进行比较，由于采样电压大于预设参考电压，因此，输出模块30输出用于表征数码设备接口干燥的信号。
当数码设备接口潮湿时，即湿度大于预设阀值时，CC管脚通过水渍或水汽与数码设备接口的地管脚相连，此时分压模块10中的第二电阻组件被短路，供电电源通过第一电阻组件与地相连，第一电阻组件和第二电阻组件中间节点的电压为0，则采样模块20采集到的采样电压为0，采样模块20将采样电压发送给输出模块30后，输出模块30将采样电压与预设参考电压进行比较，由于采样电压为0，小于预设参考电压，因此输出模块30输出用于表征数码设备接口潮湿的信号。
需要说明的是，预设阀值可以根据实际情况进行设定，例如：预设阀值可以设置为湿度为40％，也可以设置为其它值，本发明实施例对此不做限定。
下面结合具体电路拓扑结构，对本发明实施例提供的数码设备接口潮湿检测电路进行详细说明。
本发明实施例中提到的数码设备接口潮湿检测电路，输出模块包括：比较模块，用于比对采样电压与预设参考电压，根据对比结果输出用于表征数码设备接口是否潮湿的信号。根据比较模块结构的不同，可以包括以下两种实施方案。
实施例一、比较模块包括金属-氧化物-半导体场效应晶体(Metal OxideSemiconductor，MOS)管。
其中，MOS管的栅极与采样模块连接，MOS管的源极与参考电源连接；或者MOS管的栅极与参考电源连接，MOS管的源极与采样模块连接。
下面对本发明实施例一提供的数码设备接口潮湿检测电路中，MOS管的栅极与源极的两种连接状态分别进行说明。
下面以P沟通增强型MOS管，且MOS管的栅极与采样模块连接，MOS管的源极与参考电源连接为例，如图2所示，本发明实施例提供的数码设备接口潮湿检测电路中，第一电阻组件11和第二电阻组件12串联连接组成分压模块10，数码设备接口的CC管脚与第二电阻组件12和第一电阻组件11的连接点相连，比较模块30包括MOS管31，其中，MOS管31的栅极与CC管脚连接，其电压与CC管脚与地之间的电压相同，MOS管31的源极与参考电源40相连，参考电源40为MOS管31的源极提供预设参考电压，MOS管31的漏极通过第三电阻组件34与参考电源负极相连，且MOS管31的漏极与比较模块30的输出端相连，该输出端输出用于表征数码设备接口是否潮湿的信号。
需要说明的是，第一电阻组件11可以包括多个串联和/或并联的电阻，第二电阻组件12也可以包括多个串联和/或并联的电阻，当然，第一电阻组件11和第二电阻组件12也可以是单个的电阻，本发明实施例对此不做限定。
其中，第一电阻组件11和第二电阻组件12的阻值可以相同，也可以不同，需要保证第二电阻组件12的分压能够大于预设参考电压。例如，当第一电阻组件11与第二电阻组件12阻值相同时，预设参考电源为1.8v，与分压模块10连接的供电电源电压为4V。本实施例中，以第一电阻组件11和第二电阻组件12的阻值相同为例进行说明。
在本发明实施例提供的数码设备接口潮湿检测电路中，比较模块30还包括：反向连接于MOS管31源极和漏极之间的寄生二极管32。
在本发明实施例提供的数码设备接口潮湿检测电路中，比较模块30还包括：连接于MOS管31栅极和源极之间的瞬态抑制(Transient Voltage Suppressor，TVS)二极管33，用于避免当电路出故障时，引起电流反向损坏MOS管31。
具体实施时，当数码设备接口干燥时，第一电阻组件11和第二电阻组件12与供电电源构成通路，此时有电流流过第二电阻组件12，故此时第二电阻组件12上有电压差，且第二电阻组件12上的电压大约为1/2供电电源电压，即此时MOS管31的栅极电压约为1/2供电电源电压，MOS管31的源极电压为预设参考电压，由于1/2供电电源电压大于预设参考电压，MOS管31截止，MOS管31的漏极输出低电平信号，其中，低电平信号表征数码设备接口干燥。
当数码设备接口潮湿时，即湿度大于预设阀值时，CC管脚通过水渍或水汽与数码设备接口中的地管脚相连，第二电阻组件12被短路，此时供电电源通过第一电阻组件11直接与地相连，故此时第二电阻组件12两端的电压为0，即MOS管31的栅极电压为0，MOS管31的源极电压为预设参考电压，由于MOS管31的栅极电压小于源极电压，MOS管31导通，MOS管31输出高电平信号，其中，高电平信号表征数码设备接口潮湿。
下面以P沟通增强型MOS管，且MOS管的栅极与参考电源连接，MOS管的源极与采样模块连接为例，如图3所示，本发明实施例提供的数码设备接口潮湿检测电路中，第一电阻组件11和第二电阻组件12串联连接组成分压模块10，数码设备接口的CC管脚与第二电阻组件12和第一电阻组件11的连接点相连，比较模块30包括MOS管31，其中，MOS管31的栅极与参考电源40相连，参考电源40为MOS管31的栅极提供预设参考电压，MOS管31的源极与CC管脚连接，其电压与CC管脚与地之间的电压相同，MOS管31的漏极通过第三电阻组件34与参考电源负极相连，且MOS管31的漏极与比较模块30的输出端相连，该输出端输出用于表征数码设备接口是否潮湿的信号。
需要说明的是，第一电阻组件11可以包括多个串联和/或并联的电阻，第二电阻组件12也可以包括多个串联和/或并联的电阻，当然，第一电阻组件11和第二电阻组件12也可以是单个的电阻，本发明实施例对此不做限定。
其中，第一电阻组件11和第二电阻组件12的阻值可以相同，也可以不同，需要保证第二电阻组件12的分压能够大于预设参考电压。例如，当第一电阻组件11与第二电阻组件12阻值相同时，预设参考电源为1.8v，与分压模块10连接的供电电源电压为4V。本实施例中，以第一电阻组件11和第二电阻组件12的阻值相同为例进行说明。
在本发明实施例提供的数码设备接口潮湿检测电路中，比较模块30还包括：反向连接于MOS管31源极和漏极之间的寄生二极管32。
在本发明实施例提供的数码设备接口潮湿检测电路中，比较模块30还包括：连接于MOS管31栅极和源极之间的瞬态抑制(Transient Voltage Suppressor，TVS)二极管33，用于避免当电路出故障时，引起电流反向损坏MOS管31。
具体实施时，当数码设备接口干燥时，第一电阻组件11和第二电阻组件12与供电电源构成通路，此时有电流流过第二电阻组件12，故此时第二电阻组件12上有电压差，且第二电阻组件12上的电压大约为1/2供电电源电压，即此时MOS管31的源极电压约为1/2供电电源电压，MOS管31的栅极电压为预设参考电压，由于1/2供电电源电压大于预设参考电压，MOS管31导通，MOS管31的漏极输出高电平信号，其中，高电平信号表征数码设备接口干燥。
当数码设备接口潮湿时，即湿度大于预设阀值时，CC管脚通过水渍或水汽与数码设备接口中的地管脚相连，第二电阻组件12被短路，此时供电电源通过第一电阻组件11直接与地相连，故此时第二电阻组件12两端的电压为0，即MOS管31的源极电压为0，MOS管31的栅极电压为预设参考电压，由于MOS管31的源极电压小于栅极电压，MOS管31截止，MOS管31的漏极输出低电平信号，其中，低电平信号表征数码设备接口潮湿。
需要说明的是，预设阀值可以根据实际情况进行设定，例如：预设阀值可以设置为湿度为40％，也可以设置为其它值，本发明实施例对此不做限定。
实施例二、比较模块包括电压比较器。
其中，电压比较器的正相输入端与参考电源连接，电压比较器的反相输入端与采样模块连接；或者电压比较器的正相输入端与采样模块连接，电压比较器的反相输入端与参考电源连接。
下面对本发明实施例二提供的数码设备接口潮湿检测电路中，电压比较器中正相输入端和反相输入端的两种连接状态分别进行说明。
下面以电压比较器的正相输入端与参考电源连接，电压比较器的反相输入端与采样模块连接为例，如图4所示，在本发明实施例提供的数码设备接口潮湿检测电路中，第一电阻组件11和第二电阻组件12串联连接组成分压模块10，数码设备接口的CC管脚与第二电阻组件12和第一电阻组件11的连接点相连，比较模块30包括电压比较器，其中，电压比较器的反相输入端与CC管脚连接，其电压与CC管脚与地之间的电压相同，电压比较器的正相输入端与参考电源40相连，参考电源40为电压比较器的正相输入端提供预设参考电压，电压比较器的输出端与比较模块30的输出端相连，该输出端输出用于表征数码设备接口是否潮湿的信号。
需要说明的是，第一电阻组件11可以包括多个串联和/或并联的电阻，第二电阻组件12也可以包括多个串联和/或并联的电阻，当然，第一电阻组件11和第二电阻组件12也可以是单个的电阻，本发明实施例对此不做限定。
需要说明的是，第一电阻组件11和第二电阻组件12的阻值可以相同，也可以不同，需要保证第二电阻组件12的分压能够大于预设参考电压。例如，当第一电阻组件11与第二电阻组件12阻值相同时，预设参考电源为1.8v，与分压模块10连接的供电电源电压为4V。本实施例中，以第一电阻组件11和第二电阻组件12的阻值相同为例进行说明。
具体实施时，当数码设备接口干燥时，第一电阻组件11和第二电阻组件12与供电电源构成通路，此时有电流流过第二电阻组件12，故此时第二电阻组件12上有电压差，且第二电阻组件12上的电压大约为1/2供电电源电压，即此时电压比较器的反相输入端的电压约为1/2供电源电压，电压比较器的正相输入端的电压为预设参考电压，由于1/2供电电源电压大于预设参考电压，即电压比较器的反相输入端电压大于正相输入端的电压，故电压比较器的输出端输出一个低电平信号，其中，低电平信号表征数码设备接口干燥。
当数码设备接口潮湿时，即湿度大于预设阀值时，CC管脚通过水渍或水汽与数码设备接口中的地管脚相连，第二电阻组件12被短路，此时供电电源通过第一电阻组件11直接与地相连，故此时第二电阻组件12两端的电压为0，电压比较器的反相输入端与第二电阻组件12相连，故电压比较器的反相输入端的电压为0，电压比较器的正相输入端的电压为预设参考电压，由于电压比较器的正相输入端电压大于反相输入端的电压，故电压比较器输出端输出一个高电平信号，其中，高电平信号表征数码设备接口潮湿。
需要说明的是，预设阀值可以根据实际情况进行设定，例如：预设阀值可以设置为湿度为40％，也可以设置为其它值，本发明实施例对此不做限定。
下面以电压比较器的正相输入端与采样模块连接，电压比较器的反相输入端与参考电源连接为例，如图5所示，在本发明实施例提供的数码设备接口潮湿检测电路中，第一电阻组件11和第二电阻组件12串联连接组成分压模块10，数码设备接口的CC管脚与第二电阻组件12和第一电阻组件11的连接点相连，比较模块30包括电压比较器，其中，电压比较器的正相输入端与CC管脚连接，其电压与CC管脚与地之间的电压相同，电压比较器的反相输入端与参考电源40相连，参考电源40为电压比较器的反相输入端提供预设参考电压，电压比较器的输出端与比较模块30的输出端相连，该输出端输出用于表征数码设备接口是否潮湿的信号。
需要说明的是，第一电阻组件11可以包括多个串联和/或并联的电阻，第二电阻组件12也可以包括多个串联和/或并联的电阻，当然，第一电阻组件11和第二电阻组件12也可以是单个的电阻，本发明实施例对此不做限定。
需要说明的是，第一电阻组件11和第二电阻组件12的阻值可以相同，也可以不同，需要保证第二电阻组件12的分压能够大于预设参考电压。例如，当第一电阻组件11与第二电阻组件12阻值相同时，预设参考电源为1.8v，与分压模块10连接的供电电源电压为4V。本实施例中，以第一电阻组件11和第二电阻组件12的阻值相同为例进行说明。
具体实施时，当数码设备接口干燥时，第一电阻组件11和第二电阻组件12与供电电源构成通路，此时有电流流过第二电阻组件12，故此时第二电阻组件12上有电压差，且第二电阻组件12上的电压大约为1/2供电电源电压，即此时电压比较器的正相输入端的电压约为1/2供电电源电压，电压比较器的反相输入端的电压为预设参考电压，由于1/2供电电源电压大于预设参考电压，即电压比较器的正相输入端电压大于反相输入端的电压，故电压比较器的输出端输出一个高电平信号，其中，高电平信号表征数码设备接口干燥。
当数码设备接口潮湿时，即湿度大于预设阀值时，CC管脚通过水渍或水汽与数码设备接口中的地管脚相连，第二电阻组件12被短路，此时供电电源通过第一电阻组件11直接与地相连，故此时第二电阻组件12两端的电压为0，电压比较器的正相输入端与第二电阻组件12相连，故电压比较器的正相输入端的电压为0，电压比较器的反相输入端的电压为预设参考电压，由于电压比较器的正相输入端电压小于反相输入端的电压，故电压比较器输出端输出一个低电平信号，其中，低电平信号表征数码设备接口潮湿。
需要说明的是，预设阀值可以根据实际情况进行设定，例如：预设阀值可以设置为湿度为40％，也可以设置为其它值，本发明实施例对此不做限定。
常用的电压比较器有过零电压比较器、具有滞回特性的过零比较器、滞回电压比较器，双限电压比较器，本发明实施例提供的数码设备接口潮湿检测电路可以采用上述电压比较器中的任一种来实现本发明中的电压比较器的功能。本发明实施例对此不做限定。
另外，结合上述实施例中的数码设备接口潮湿检测电路，本发明实施例可提供一种终端。该终端包括数码设备接口、本发明实施例提供的数码设备接口潮湿检测电路、以及分别与数码设备接口和数码设备接口潮湿检测电路相连接的控制模块；其中，
控制模块，用于在确定数码设备接口潮湿检测电路的输出信号表征数码设备接口潮湿时，控制断开数码设备接口与终端的连接。
在一种可能的实施方式中，该终端还包括：提示模块；其中，提示模块，用于在确定数码设备接口潮湿检测电路的输出信号表征数码设备接口潮湿时，显示潮湿中断连接信息。
显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。
Claims (11)
1.一种数码设备接口潮湿检测电路，其特征在于，包括：分压模块、采样模块以及输出模块，其中，
所述分压模块，连接于供电电源正极和所述供电电源负极之间，所述分压模块的中间节点与所述数码设备接口的待检测管脚相连接；
所述采样模块，用于采集所述分压模块中间节点的电压，并将采集到的采样电压发送至所述输出模块；
所述输出模块，与所述采样模块相连接，用于根据所述采样电压与预设参考电压的关系，输出用于表征所述数码设备接口是否潮湿的信号。
2.如权利要求1所述的检测电路，其特征在于，所述检测电路还包括：参考电源，用于提供所述预设参考电压。
3.如权利要求2所述的检测电路，其特征在于，所述输出模块包括：比较模块，所述比较模块用于比对所述采样电压与预设参考电压，根据对比结果输出用于表征所述数码设备接口是否潮湿的信号。
4.如权利要求3所述的检测电路，其特征在于，所述比较模块包括：电压比较器或者MOS管。
5.如权利要求4所述的检测电路，其特征在于，当所述比较模块包括电压比较器时，所述电压比较器的正相输入端与所述参考电源连接，所述电压比较器的反相输入端与所述采样模块连接；或者
所述电压比较器的正相输入端与所述采样模块连接，所述电压比较器的反相输入端与所述参考电源连接。
6.如权利要求4所述的检测电路，其特征在于，当所述比较模块包括MOS管时，所述MOS管的栅极与所述采样模块连接，所述MOS管的源极与所述参考电源连接；或者
所述MOS管的栅极与所述参考电源连接，所述MOS管的源极与所述采样模块连接，
所述MOS管的漏极通过第三电阻组件与所述参考电源的负极连接，且所述MOS管的漏极与所述比较模块的输出端相连接。
7.如权利要求6所述的检测电路，其特征在于，所述比较模块还包括：连接于所述MOS管栅极和源极之间的瞬态抑制二极管。
8.如权利要求6所述的检测电路，其特征在于，所述比较模块还包括：反向连接于所述MOS管源极和漏极之间的二极管。
9.如权利要求1-8中任一项所述的检测电路，其特征在于，所述待检测管脚包括所述数码设备接口的CC管脚。
10.一种终端，其特征在于，所述终端包括数码设备接口、如权利要求1-9任一项所述的数码设备接口潮湿检测电路、以及分别与所述数码设备接口和所述数码设备接口潮湿检测电路相连接的控制模块；其中，
所述控制模块，用于在确定所述数码设备接口潮湿检测电路的输出信号表征所述数码设备接口潮湿时，控制断开所述数码设备接口与所述终端的连接。
11.如权利要求10所述的终端，其特征在于，所述终端还包括：提示模块；其中，
所述提示模块，用于在确定所述数码设备接口潮湿检测电路的输出信号表征所述数码设备接口潮湿时，显示潮湿中断连接信息。
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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