CN109787452A - Igbt并联均流电路、均流方法及电机 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了IGBT并联均流电路、均流方法及电机,IGBT并联均流电路,包括:IGBT工作组,IGBT工作组包含至少两个并联设置的分流支路,每个分流支路均设有至少一个IGBT单管,IGBT单管的门极和发射极之间存在寄生电容,IGBT单管的门极和发射极之间连接有与寄生电容并联的工作电容。本发明降低了IGBT单管并联损坏的概率,提高并联电路的可靠性。
Description
技术领域
本发明涉及IGBT电路技术领域,尤其涉及IGBT并联均流电路、均流方法及电机。
背景技术
现有的IGBT单管并联方案具有成本低、供应商选择多、散热结构设计多样化等优点,可通过拆装单个IGBT管改变客户需求的电流大小,更容易兼容相同电压平台的不同功率段产品。
但是IGBT单管并联方案也存在很多缺陷,由于每个IGBT单管的个体参数存在差异,门极和发射极之间寄生电容的不同会影响充电时间,若不采取有效的均流方法,并联使用时具有最低阈值电压Vge的IGBT单管最先打开,先导通的IGBT单管的阈值电压被钳位到米勒平台,因此其他单管无法马上导通,此时仅有最先开通的IGBT单管承受所有电流和开关损耗,极易出现损坏,电路可靠性比较差。
因此,如何设计提高可靠性的IGBT并联均流电路、均流方法及电机是业界亟待解决的技术问题。
发明内容
为了解决现有技术中存在IGBT并联电路易损坏的缺陷,本发明提出IGBT单管。
本发明采用的技术方案是,设计IGBT并联均流电路,包括:IGBT工作组,IGBT工作组包含至少两个并联设置的分流支路,每个分流支路均设有至少一个IGBT单管,IGBT单管的门极和发射极之间存在寄生电容,IGBT单管的门极和发射极之间连接有与寄生电容并联的工作电容。
优选的,工作电容的电容值大于与其并联的寄生电容。
优选的,工作电容的电容值为与其并联的寄生电容的100倍。
优选的,工作电容的位置靠近其所连接的IGBT单管的门极与发射极。
优选的,工作电容的两端通过直线布置的导线连接在IGBT单管上。
优选的,分流支路的数量为三个。
优选的,每个分流支路设有两个串联的IGBT单管。
本发明还提出了IGBT并联电路的均流方法,包括:通过在IGBT单管的门极和发射极之间增设工作电容,以使各分流支路的导通时间趋于一致。
本发明还提出了电机,包括上述的IGBT并联均流电路。
优选的,电机设有三相电路,三相电路中的每一相均设有IGBT并联均流电路,IGBT并联均流电路包括三组IGBT工作组,三相电路中的每一相各设有一组IGBT工作组。
与现有技术相比,本发明通过IGBT单管的门极和发射极之间增设工作电容,以使IGBT工作组中各分流支路的导通时间趋于一致,防止单个IGBT单管导通承受较大电流而导致过流损坏,提高并联电路的安全性和可靠性。
附图说明
下面结合实施例和附图对本发明进行详细说明,其中:
图1是本发明中IGBT并联均流电路的连接示意图;
图2是本发明中IGBT单管的Vge变化示意图。
具体实施方式
如图1所示,本发明提出的IGBT并联均流电路,包括:IGBT工作组,IGBT工作组包含至少两个并联设置的分流支路,在优选实施例中,分流支路的数量为三个。每个分流支路均设有至少一个IGBT单管,IGBT单管的门极和发射极之间存在寄生电容,IGBT单管的门极和发射极之间连接有与寄生电容并联的工作电容,工作电容的电容值比与其并联的寄生电容至少一个数量级,以减小工作组中各IGBT单管门极和发射极之间寄生电容的差异,Vge上升开启时间一致,即各分流支路的导通时间趋于一致,降低单个IGBT管导通发生过流损坏的概率,提高并联电路的可靠性。
以一组IGBT工作组进行举例,三个并联的IGBT单管分别为UT1管、UT2管、UT3管,三个并联的IGBT单管的寄生电容分别为Cge1、Cge2、Cge3,三个并联的IGBT单管的工作电容分别为C1、C2、C3,
从IGBT的datasheet(静态电气参数表)中查找数据可得到输入电容Cies,、输出电容Coes、逆导电容Cres的值。其中,Cres=Cgc(米勒电容),Cies=Cge+Cgc。
电容充电公式:
t:充电时间;
R:门极电阻,其中包括Rint+Rext +外加门极电阻,此处的外加门极电阻为串联在IGBT单管门极上的电阻;
C:IGBT单管门极与发射极之间的寄生电容Cge;
V1:最终可达到电压;
V0:初始电压;
Vt:t时刻电压值,此处的t时刻电压值为阈值电压。
假设:R值理想的一致,驱动的正负电源为15V,-8V,阈值开启电压为7V。在没有并联工作电容C1、C2、C3时, Cge1、Cge2、Cge3的分别为0.5C、C、1.5C。
将以上数值代入公式中,V1=15V,V0=-8V,Vt为t时刻到达阈值电压7V。Cge最小的UT1管先开启。根据公式得到UT1管、UT2管、UT3管的开启时间t分别为0.528RC、1.056 RC、1.584RC。如图2所示,UT1开通过程中,Vge电压上升的过程中,由于米勒电容Cge的米勒效应,Vge被嵌位到米勒平台,Vge会持续一段时间不在上升,直到米勒电容充满电,Vge继续上升到驱动电压的值,米勒平台为图2中椭圆圈出来的部分,在米勒平台这段时间另外两个管子无法达到阈值电压不能开通。
此时公式中的V1=7V,V0=-8V,假设t时刻UT2到达阈值电压6.5V,根据公式得UT2至少还需要Δt2=3.45RC+t3(米勒平台时间)之后才可以开启。如果UT1管在Δt2时间内未能承受住开通的所有电流,会过流过温损坏。
如果Cge1,Cge2,Cge3分别并联一个大的工作电容后,Cge1,Cge2,Cge3之间的差异可以忽略不计,虽然并联的电容值越大,那么UT1管、UT2管、UT3管的导通时间无限接近,但是开通时间的越长损耗越大,会严重影响IGBT的工作效率,根据推算工作电容的电容值在寄生电容Cge 的100倍左右为最佳,工作电容可采用nF陶瓷电容。
较优的,IGBT单管和工作电容等安装在PCB板上,工作电容的位置靠近其所连接的IGBT单管的门极与发射极,工作电容的两端通过PCB板上直线布置的导线连接在IGBT单管上,以保证导线长度尽量短且靠近门极与发射极,防止出现寄生电感,影响均流电路的使用效果。
在优选实施例中,每个分流支路设有两个串联的IGBT单管,每个IGBT单管的寄生电容均并联有工作电容,实际应用时筛选寄生电容Cge相差较小的IGBT单管作为一组并联,均流效果更好。
本发明还提出了电机,包括上述的IGBT并联均流电路,电机设有三相电路,IGBT并联均流电路包括三组IGBT工作组,三相电路中的每一相各设有一组IGBT工作组。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已,并不用以限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种IGBT并联均流电路,包括:IGBT工作组,所述IGBT工作组包含至少两个并联设置的分流支路,每个所述分流支路均设有至少一个IGBT单管,所述IGBT单管的门极和发射极之间存在寄生电容;
其特征在于,所述IGBT单管的门极和发射极之间连接有与所述寄生电容并联的工作电容。
2.如权利要求1所述的IGBT并联均流电路,其特征在于,所述工作电容的电容值大于与其并联的寄生电容。
3.如权利要求2所述的IGBT并联均流电路,其特征在于,所述工作电容的电容值为与其并联的寄生电容的100倍。
4.如权利要求1所述的IGBT并联均流电路,其特征在于,所述工作电容的位置靠近其所连接的所述IGBT单管的门极与发射极。
5.如权利要求4所述的IGBT并联均流电路,其特征在于,所述工作电容的两端通过直线布置的导线连接在所述IGBT单管上。
6.如权利要求1至5任一项所述的IGBT并联均流电路,其特征在于,所述分流支路的数量为三个。
7.如权利要求1至5任一项所述的IGBT并联均流电路,其特征在于,每个所述分流支路设有两个串联的IGBT单管。
8.一种IGBT并联电路的均流方法,所述IGBT并联电路包括:IGBT工作组,所述IGBT工作组包含至少两个并联设置的分流支路,每个所述分流支路均设有至少一个IGBT单管;
其特征在于,所述均流方法包括:通过在所述IGBT单管的门极和发射极之间增设工作电容,以使各分流支路的导通时间趋于一致。
9.一种电机,其特征在于,包括:如权利要求1至7任一项所述的IGBT并联均流电路。
10.如权利要求9所述的电机,其特征在于,所述电机设有三相电路,所述IGBT并联均流电路包括三组所述IGBT工作组,所述三相电路中的每一相各设有一组所述IGBT工作组。
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CN201910244425.XA CN109787452A (zh) | 2019-03-28 | 2019-03-28 | Igbt并联均流电路、均流方法及电机 |
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马龙昌等: "IGBT并联应用技术研究", 《大功率变流技术》 * |
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