CN109765029A - 一种基于光纤光栅和f-p微腔的流场校测装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种基于光纤光栅和F‑P微腔的流场校测装置,包含测量耙1、传输光纤束2、光开关3、耦合器4、宽谱光源5和光信号处理器6。其中,测量耙1由多支压力探头7固定排列组成,压力探头7由腔本体8、光纤布拉格光栅9、F‑P腔固定凹槽10、F‑P真空腔11、进气孔12、膜片、复合介质膜14和准直管15组成。宽谱光源5发出的光通过耦合器4和光开关后,入射到每一个F‑P腔压力传感探头,该压力感应产生的干涉谱再次反射回光信号处理器6,经由光电信号转换和计算获得压力数值。该光纤式气流探针结构紧凑、无机械活动部件,为固定式气流流场校测装置,能够进行单点多目标参数的测量,适用于多种场合,尤其是风洞试验和飞行控制中的光纤传感集成系统。
Description
技术领域
本发明涉及一种气流测量装置,特别是一种基于光纤光栅和F-P微腔的流场校测装置。
背景技术
风洞的气流性能需要通过校测。通过气流传感器既可以定性也可以定量了解风洞气流品质。静压测量是风洞气流参数测量最主要的项目之一。压力探针是最早的流体测试手段之一。最早使用的是皮托静压管,是风洞测试领域中使用最为广泛的一项现有技术,现有的皮托静压管探针本体与传感器分离,需要用引压管,而它常用的动态压力传感器有应变式、电感式、电容式、压电式及半导体压阻式等,这些电学类传感器易受电磁干扰,对恶劣环境适应性差。随着光纤传感技术和光信号处理技术的发展,光纤传感器以其质轻、纤细、防腐蚀、抗电磁干扰、可链路多点环绕复用等特点备受传感监测领域的研究人员青睐。因此,能否利用光纤传感器的这些独特的优越性来应用于气流感知,是本领域亟待解决的技术问题。
发明内容
本发明所要解决的技术问题在于克服现有技术缺陷,提供一种体积小、结构牢固、反应速度快且测量精度高的感知与探头于一体的风洞流场校测装置。
一种基于光纤光栅和F-P微腔的流场校测装置,包括测量耙,测量耙依次连接有光开关、传输光纤束和耦合器,耦合器分别与宽谱光源和光信号处理器连接;
所述测量耙包括3支或3支以上的F-P压力传感探头;F-P压力传感探头的顶部上设有紧邻的腔体和F-P真空腔,腔体和F-P真空腔之间采用膜片隔开,膜片位于F-P真空腔的一侧上镀有反光的复合介质膜;所述腔体顶部通过进气孔与外界连通;
F-P压力传感探头的顶部上还设有光纤布拉格光栅,F-P真空腔正对复合介质膜的一面通过光纤连接到光纤布拉格光栅,光纤布拉格光栅四周由准直管固定位置;光纤布拉格光栅通过光纤连接到传输光纤束;
宽谱光源发出的光经过耦合器和传输光纤束进入各个F-P压力传感探头,光分别由于布拉格光栅和F-P真空腔形成FGB干涉和F-P干涉,再经过传输光纤束和耦合器进入光信号处理器,根据光信号处理器接收到的干涉光谱,计算出膜片所受压力,实现流场校测。
进一步的改进,所述的探头头部为圆锥形,端面为平面,进气孔直径为0.5~2mm。
进一步的改进,所述的F-P压力传感探头为直线型、L性或S型。
进一步的改进,所述复合介质膜反射率为30%。
进一步的改进,所述的复合介质膜为SiO2/Ta2O5薄膜、Si3N4/Ta2O5薄膜或SiO2/Ta2O5/Si3N4中的至少一种组合形态的多层薄膜。
与现有技术相比,本发明的压力探针基于光干涉原理开发,具有不受电磁环境干扰、对恶劣环境适应性强的优点。而且光纤传感器还有质轻、纤细、防腐蚀、可链路多点环绕复用的特点。
附图说明
参考随附的附图,本发明更多的目的、功能和优点将通过本发明实施方式的如下描述得以阐明,其中:
图1示出根据本发明的流场校测装置结构示意图;
图2示出探针结构组成示意图;
图3示出宽谱光源光谱图;
图4示出基于FBG与F-P腔的传感头光谱信号;
图5示出微腔探头随压力变化的光谱;
图6示出风洞截面稳定性测试应用实施例。
具体实施方式
流场校测装置整体如图1所示:包括测量耙1、传输光纤束2、光开关3、耦合器4、宽谱光源5和光信号处理器6。
测量耙1由多支F-P压力传感探头7固定排列组成,如图2所示,F-P压力传感探头7内包括壳体8、壳体8内通过准直管15和固定凹槽10分别固定有光纤布拉格光栅9和F-P真空腔11。F-P真空腔11和腔体13之间通过膜片隔开,膜片位于F-P真空腔的一侧上镀有反光的复合介质膜14;所述腔体顶部通过进气孔12与外界连通。宽谱光源发出的光经过耦合器和传输光纤束进入各个F-P压力传感探头,光分别由于布拉格光栅和F-P真空腔形成FGB 干涉和F-P干涉,再经过传输光纤束和耦合器进入光信号处理器。
由于膜片受到压力后发生形变,引起了F-P真空腔形状改变,造成F-P真空腔形成的干涉光谱也发生改变。因此根据接收到的干涉波谱可以测算膜片受到的压力。但是F-P真空腔的干涉还会受到温度的影响。而由于光纤布拉格光栅形成的干涉(FBG干涉)不受力的作用,FBG 的干涉光谱飘移认为是温度的影响,可以用于F-P腔温度交叉的解耦。通过对其进行温度标定可以获得FBG的温度灵敏度系数,关系曲线可以通过标定实验得到最小二乘拟合线性关系
Δλfbg=KT,fbgΔT+M
F-P光谱的飘移因温度和气流压力的同时作用引起:
Δλfp=KT,fpΔT+KP,fpΔP
通过分别定量地改变温度和压力可以标定出KT,fbg、KT,fp和KP,fp的值。
再将上述两式联立,就可以根据FBG和F-P光谱的漂移量,通过该方程组监测得到气流压力变化量。
通过测量耙不同点位置的压力值可以对气流场不同附面层进行校测。风洞截面稳定性测试应用如图6所示。
序号 | 型号/指标 | 参数 |
1 | 测量范围 | 0~20MPa压力范围 |
2 | 精确度 | ±0.3%F.S. |
3 | 分辨率 | ±20Pa |
4 | 测试原理 | 压力产生干涉谱飘移 |
5 | 适用场合 | 风洞等流场空间 |
6 | 测量介质 | 可流动介质、气体 |
7 | 传感器工作环境温度 | -35℃~65℃ |
Claims (5)
1.一种基于光纤光栅和F-P微腔的流场校测装置,包括测量耙,其特征在于,测量耙依次连接有光开关、传输光纤束和耦合器,耦合器分别与宽谱光源和光信号处理器连接;
所述测量耙包括3支或3支以上的F-P压力传感探头;F-P压力传感探头的顶部上设有紧邻的腔体和F-P真空腔,腔体和F-P真空腔之间采用膜片隔开,膜片位于F-P真空腔的一侧上镀有反光的复合介质膜;所述腔体顶部通过进气孔与外界连通;
F-P压力传感探头的顶部上还设有光纤布拉格光栅,F-P真空腔正对复合介质膜的一面通过光纤连接到光纤布拉格光栅,光纤布拉格光栅四周由准直管固定位置;光纤布拉格光栅通过光纤连接到光开关;
宽谱光源发出的光经过耦合器和传输光纤束进入各个F-P压力传感探头,光分别由于布拉格光栅和F-P真空腔形成FGB干涉和F-P干涉,再经过传输光纤束和耦合器进入光信号处理器,根据光信号处理器接收到的干涉光谱,计算出膜片所受压力,实现流场校测。
2.如权利要求1所述的一种基于光纤光栅和F-P微腔的流场校测装置,其特征在于:所述的探头头部为圆锥形,端面为平面,进气孔直径为0.5~2mm。
3.如权利要求1所述的一种基于光纤光栅和F-P微腔的流场校测装置,其特征在于:所述的F-P压力传感探头为直线型、L性或S型。
4.如权利要求1所述的一种基于光纤光栅和F-P微腔的流场校测装置,其特征在于:所述复合介质膜反射率为30%。
5.如权利要求1所述的一种基于光纤光栅和F-P微腔的流场校测装置,其特征在于:所述的复合介质膜为SiO2/Ta2O5薄膜、Si3N4/Ta2O5薄膜或SiO2/Ta2O5/Si3N4中的至少一种组合形态的多层薄膜。
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