CN109743030A - 一种功放调试系统及方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种功放调试系统及方法，用于解决现有技术存在功放调试效率低、耗时长的技术问题。系统包括GUI、工装模块、待调试功放模块以及上位机；其中，工装模块具有多类功放模块对应的栅压输出通道，GUI具有多类功放模块中每类功放模块对应的控制指令输入接口，待调试功放模块为多类功放模块中的任意一类功放模块；GUI用于接收用户针对待调试功放模块输入的控制指令，将控制指令发送给工装模块，以控制工装模块对待调试功放模块进行功能调试；工装模块用于响应GUI模块发送的控制指令，对待调试功放模块进行功能调试；上位机用于在工装模块对功放模块调试完毕后，运行待调试功放模块，确定调试结果。

Description

一种功放调试系统及方法

技术领域

本发明涉及射频技术领域，特别涉及一种功放调试系统及方法。

背景技术

随着移动通信的网络建设和客户需求的日益加大，直放站作为基站信号的延长，对于移动通信来说是一种不可或缺的存在，随着移动通信技术的不断发展，各种大功率、小功率的直放站系统层出不穷，这些设备在不断满足市场需求的同时也在不断地更新换代，性能要求不断提高。功放模块作为直放站设备的一个重要、关键的节点，在生产时对功放模块各个参数的配置以及在之后的实时监控是其中重要一环。

然而，在实际生产中，即便是同一原理图、同一PCB图纸、同一批次印刷板生产出的功放模块，在射频链路和功放性能方面也可能存在差别。在现有功放调试技术中，一套调试系统只能调试一种类型的功放模块，不具备兼容性，导致功放调试效率低、耗时长。

发明内容

本发明实施例提供一种功放调试系统及方法，用于解决现有技术存在功放调试效率低、耗时长的技术问题。

第一方面，本发明实施例提供一种功放调试系统，包括图形用户界面GUI、工装模块、待调试功放模块以及上位机；其中，所述工装模块具有多类功放模块对应的栅压输出通道，所述GUI具有所述多类功放模块中每类功放模块对应的控制指令输入接口，所述待调试功放模块为所述多类功放模块中的任意一类功放模块；

所述GUI用于：接收用户针对所述待调试功放模块输入的控制指令；将所述控制指令发送给所述工装模块，以控制所述工装模块对所述待调试功放模块进行功能调试；

所述工装模块用于：响应所述GUI模块发送的控制指令，对所述待调试功放模块进行功能调试；

所述上位机用于：在所述工装模块对所述功放模块调试完毕后，运行所述待调试功放模块，确定调试结果。

在本实施方式中，功放调试系统分为GUI、工装模块、待调试功放模块以及上位机四个模块，其中工装模块具有多类功放模块对应的栅压输出通道，GUI具有所述多类功放模块中每类功放模块对应的控制指令输入接口，使得该系统能够对多类功放模块进行调试，降低了模块间的耦合性，提高了各个模块的独立性，相较于现有技术一套系统只能调试一类功放模块的方式，本实施方式有效提高了功放调试的效率，减少了功放调试的时长。

可选的，所述GUI和所述工装模块之间通过RS485总线连接，并基于CSP3协议通信；所述工装模块和所述待调试功放模块之间、所述上位机和所述待调试功放模块之间通过SPI总线连接。

本实施方式中，GUI和工装模块之间通过RS485总线连接，工装模块和待调试功放模块之间、上位机和待调试功放模块之间通过SPI总线连接，便于拆卸，以对不同类型的功放模块进行调试，提高功放调试的效率。

可选的，所述GUI具体用于：

接收用户针对所述待调试功放模块输入的参数设置指令，并向所述工装模块发送所述参数设置指令；其中，所述参数设置指令用于控制所述工装模块对所述待调试功放模块的目标设置参数进行设置；

所述工装模块具体用于：响应所述参数设置指令，对所述待调试功放模块的目标设置参数进行设置。

本实施方式，可以通过向GUI输入的参数设置指令实现对待调试功放模块的参数设置，提高了功放调试的效率。

可选的，所述工装模块具体用于：

根据所述参数设置指令确定目标设置参数以及所述目标设置参数的值；

将所述目标设置参数以及所述目标设置参数的值对应地保存到所述工装模块的微控制单元MCU的随机存储器RAM；

使能所述待调试功放模块的数模转换DAC芯片，将所述目标设置参数的值写入所述待调试功放模块的DAC芯片。

本实施方式给出了工装模块响应GUI发送的参数设置指令对待调试功放模块进行参数设置的具体实施过程，提高了功放调试的效率。

可选的，所述工装模块还用于：将所述目标设置参数以及所述目标设置参数的值对应地保存到所述待调试功放模块的存储器EEPROM。

本实施方式，将已设置的目标设置参数以及目标设置参数的值对应地保存到待调试功放模块的EEPROM，可使得待调试功放模块在下一次上电或接入到上位机后，工装模块或者上位机从待调试功放模块的EEPROM中读取目标设置参数以及目标设置参数的值，并设置到待调试功放模块的DAC芯片中，免去重复配置的操作，进一步提高功放调试的效率。

可选的，所述工装模块具体用于：

对所述目标设置参数以及所述目标设置参数的值进行循环冗余校验码CRC校验；

在确定CRC校验通过之后，将所述目标设置参数以及所述目标设置参数的值对应地保存到所述待调试功放模块的EEPROM。

本实施方式在对目标设置参数以及目标设置参数的值进行CRC校验后，再将其存储到待调试功放模块的EEPROM，保证了数据的安全性和准确性。

可选的，所述工装模块还用于：

在检测到所述EEPROM芯片的原始区的数据被意外擦除或损坏时，将所述EEPROM芯片的备份区的数据复制到所述EEPROM芯片的原始区；

在检测到所述EEPROM芯片的备份区的数据被意外擦除或损坏时，将所述EEPROM芯片的原始区的数据复制到所述EEPROM芯片的备份区；

检测到所述EEPROM芯片的原始区和备份区数据均被意外擦除或损坏时，将工装模块MCU中原始数据写入原始区和备份区。

本实施方式采用原始区和备份区的方式对数据进行存储，保证了数据的安全性和准确性。

可选的，所述目标设置参数的类型包括以下几种中的至少一个：功放开关、功放保护、栅压手动控制、栅压斜率、输出功率控制ALC、ALC斜率、数控衰减ATT、自动增益控制(AGC斜率、告警门限、数据表、预失真功能开关以及预失真参数。

可选的，所述GUI具体用于：

接收用户针对所述待调试功放模块输入的参数查询指令，并向所述工装模块发送所述参数查询指令；其中，所述参数查询指令用于控制所述工装模块对所述待调试功放模块的目标查询参数进行查询；

所述工装模块具体用于：响应所述参数查询指令，确定所述待调试功放模块的目标查询参数的值，并将确定出的目标查询参数的值反馈给所述GUI。

本实施方式，可以通过向GUI输入的参数查询指令实现对待调试功放模块的参数查询，提高了功放调试的效率。

可选的，所述目标查询参数的类型包括以下几种中的至少一个：温度、输入功率、输出功率、反射功率、电流以及告警信息。

可选的，所述工装模块具体用于：

按照预设的周期对所述待调试功放模块的至少一个监控参数进行查询；

将所述至少一个监控参数中各个监控参数和各个监控参数的值以K-V键值对的形式保存到所述工装模块的MCU的RAM；

在接收到所述参数查询指令后，根据所述RAM保存的K-V键值对确定所述待调试功放模块的目标查询参数的值。

本实施方式，工装模块按照预设的周期对待调试功放模块的至少一个监控参数进行查询和保存，使得在接收到GUI发送的参数查询指令后，迅速确定并反馈目标查询参数的值，进一步提高了功放调试的效率。

可选的，所述工装模块还用于：

在每一次对所述待调试功放模块的至少一个监控参数进行查询之后，判断查询出的任一监控参数的值是否超过该监控参数的警告门限；

若为是，则发起警告，并执行功放保护操作。

本实施方式对功放模块的监控参数进行监控，在任一监控参数的值超过该监控参数的警告门限时，发起警告，并执行功放保护操作，保证了功放模块的安全性，减少意外损失。

可选的，所述监控参数的类型包括温度、输入功率、输出功率、反射功率以及电流中至少一项；

所述功放保护操作包括：切断所述待调试功放模块的栅压，和/或，关闭所述待调试功放模块。

本实施方式在任一监控参数的值超过该监控参数的警告门限时，通过切断待调试功放模块的栅压，和/或，关闭待调试功放模块的方式对功放模块进行保护，保证了功放模块的安全性，减少意外损失。

可选的，所述上位机具体用于：

从所述待调试功放模块的EEPROM中读取至少一个目标设置参数的值；

将所述至少一个目标设置参数的值写入所述待调试功放模块的DAC芯片；

运行所述待调试功放模块，确定调试结果。

本实施方式上位机通过读取EEPROM中存储的设置值对待调试功放模块的DAC芯片进行参数设置，提高了功放调试的效率；同时相较于上位机直接写入参数值的方式，本实施方式能够避免上位机对功放模块数据的破坏机率。

第二方面，本发明实施提供一种功放调试方法，应用于如本发明实施例第一方面所述的调试系统；所述方法包括：

通过GUI接收用户针对所述待调试功放模块输入的控制指令；

通过所述GUI向工装模块发送所述控制指令，以控制所述工装模块对所述待调试功放模块进行功能调试；

在所述工装模块对所述待调试功放模块调试完毕后，通过上位机运行所述待调试功放模块，确定调试结果。

可选的，通过GUI接收用户针对所述待调试功放模块输入的控制指令，包括：

通过GUI接收用户针对所述待调试功放模块输入的参数设置指令；

通过所述GUI向工装模块发送所述控制指令，以控制所述工装模块对所述待调试功放模块进行功能调试，包括：

通过所述GUI向工装模块发送所述参数设置指令，以控制所述工装模块对所述待调试功放模块的目标设置参数进行设置。

可选的，通过GUI接收用户针对所述待调试功放模块输入的控制指令，包括：

通过GUI接收用户针对所述待调试功放模块输入的参数查询指令；通过所述GUI向工装模块发送所述参数查询指令，以控制所述工装模块对所述待调试功放模块的目标查询参数进行查询。

可选的，通过上位机运行所述待调试功放模块，确定调试结果，包括：

从所述待调试功放模块的EEPROM中读取至少一个目标设置参数的值；

将所述至少一个目标设置参数的值写入所述待调试功放模块的DAC芯片；

运行所述待调试功放模块，确定调试结果。

第三方面，本发明实施例提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，当所述计算机指令在计算机上运行时，使得计算机执行本发明实施例第一方面所述的方法。

本发明实施例中提供的一个或多个技术方案，至少具有如下技术效果或优点：

本发明实施例技术方案中，功放调试系统分为GUI、工装模块、待调试功放模块以及上位机四个模块，其中工装模块具有多类功放模块对应的栅压输出通道，GUI具有所述多类功放模块中每类功放模块对应的控制指令输入接口，使得该系统能够对多类功放模块进行调试，降低了模块间的耦合性，提高了各个模块的独立性，相较于现有技术一套系统只能调试一类功放模块的方式，本发明实施例技术方案有效提高了功放调试的效率，减少了功放调试的时长。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简要介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域的普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例中功放调试系统的结构示意图；

图2为本发明实施例中功放调试方法的流程示意图；

图3为本发明实施例中GUI的工作流程示意图；

图4为本发明实施例中工装模块的工作流程示意图；

图5为本发明实施例中工装模块进行数据备份的流程示意图；

图6为本发明实施例中上位机的工作流程示意图。

具体实施方式

下面通过附图以及具体实施例对本发明技术方案做详细的说明，应当理解本发明实施例以及实施例中的具体特征是对本发明技术方案的详细的说明，而不是对本发明技术方案的限定，在不冲突的情况下，本发明实施例以及实施例中的技术特征可以相互组合。

需要理解的是，在本发明实施例的描述中，“第一”、“第二”等词汇，仅用于区分描述的目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性，也不能理解为指示或暗示顺序。在本发明实施例的描述中“多个”，是指两个或两个以上。

本发明实施例中的术语“和/或”，仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。另外，本文中字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。

本发明实施例提供一种功放调试系统及方法，用于解决现有技术存在功放调试效率低、耗时长的技术问题。

请参见图1，该功放调试系统包括图形用户界面(Graphical User Interface，GUI)11、工装模块12、待调试功放模块13以及上位机14；GUI11和工装模块12之间可通过RS485总线连接，并基于CSP3协议通信；工装模块12和待调试功放模块13之间、上位机14和待调试功放模块13之间可通过串行外设接口(Serial Peripheral Interface，SPI)总线连接。

下面，分别对该功放调试系统的GUI11、工装模块12、待调试功放模块13以及上位机14进行介绍：

GUI11可处理RS485协议(串行通讯标准)，具有多类功放模块中每类功放模块对应的控制指令输入接口，通过向工装模块12发送控制指令可实现对待调试功放模块13的各种参数的设置和/或查询。

工装模块12上接GUI11，下衔待调试功放模块2，主要完成对待调试功放模块2的控制、监控通信以及数据运算功能。具体可包括微控制单元(Microcontroller Unit，MCU)模块、RS485协议转换模块、SPI总线、两线式串行总线(Inter－Integrated Circuit，IIC)总线、各种接口，以及多种类型的功放模块对应的栅压输出通道。

待调试功放模块13完成信号功率放大的功能，待调试功放模块13为多类功放模块中的任意一类功放模块。一般的功放模块包括功率放大模块、输入输出功率检波模块、数模转换(Digital to analog converter，DAC)模块以及数据存储模块(如带电可擦可编程可读写存储器(Electrically Erasable Programmable read only memory，EEPROM)等。功放模块的数据存储模块能够存储表征功率放大模块输出功率的数据对表，这个数据表能够准确体现待调试功放模块13的输出功率检波模块输出的检测值和待调试功放模块13输出功率之间的对应关系。在具体实施时，一些复杂的功放模块还可能会存在预失真芯片、锁相环(Phase Locked Loop，PLL)等模块。

上位机14用于功放模块的实际装备和运行。上位机在功放模块接入后会自行读取待调试功放模块13的EEPROM中保存的设置数据作为初始数据，以实现调试功放模块3的正常运行。

接下来，对该系统进行功放调试的过程进行详细介绍。请参见图2，基于该功放调试系统的功放调试方法具体包括：

S21、通过GUI11接收用户针对所述待调试功放模块13输入的控制指令；

S22、通过所述GUI11向工装模块12发送所述控制指令，以控制所述工装模块12对所述待调试功放模块13进行功能调试；

S23、在所述工装模块12对所述待调试功放模块13调试完毕后，通过上位机14运行所述待调试功放模块13，确定调试结果。

在上述方案中，功放调试系统分为GUI、工装模块、待调试功放模块以及上位机四个模块，其中工装模块具有多类功放模块对应的栅压输出通道，GUI具有所述多类功放模块中每类功放模块对应的控制指令输入接口，使得该系统能够对多类功放模块进行调试，降低了模块间的耦合性，提高了各个模块的独立性，相较于现有技术一套系统只能调试一类功放模块的方式，本方案有效提高了功放调试的效率，减少了功放调试的时长。

作为一种可选的实施方式，在本发明实施例中，该控制指令具体可以为用户针对待调试功放模块13输入的参数设置指令。则该系统对待调试功放模块13的参数设置的过程具体可包括：

GUI11接收用户针对待调试功放模块13输入的参数设置指令，并向工装模块12发送参数设置指令；其中，参数设置指令用于控制工装模块12对待调试功放模块13的目标设置参数进行设置；

工装模块12响应参数设置指令，对待调试功放模块13的目标设置参数进行设置。

在具体实施过程中，工装模块12对待调试功放模块13的目标设置参数进行设置过程可包括：根据参数设置指令确定目标设置参数以及目标设置参数的值；将目标设置参数以及目标设置参数的值对应地保存到工装模块12的MCU的随机存取存储器(random accessmemory，RAM)；使能待调试功放模块13的DAC芯片，将目标设置参数的值写入待调试功放模块13的DAC芯片。

在具体实施过程中，目标设置参数的类型可包括功放开关、功放保护、栅压手动控制、栅压斜率、输出功率控制(automatic level control，ALC)、ALC斜率、数控衰减(dgitalattenuator，ATT)、自动增益控制(automatic gain control，AGC)斜率、告警门限、数据表、预失真功能开关以及预失真参数等，本发明实施例不做具体限制。例如，目标设置参数具体可以为数据表，具体可以是上载数据表、修改数据表、下载数据表等；其中，在上、下载数据表时，可通过使能功放模块的EEPROM芯片，将需要查询或保存的数据表通过SPI总线读出或写入芯片，完成后会发送操作结果(成功或失败原因)到GUI。

作为一种示例，请参见图3，GUI11执行的参数设置的过程可包括：发送联机指令与工装模块12实现正常通信；然后设置栅压参数、修改数据表；将该设置操作调制为CSP3协议数据；将该CSP3协议数据通过RS485总线发送给工装模块12；等待接收工装模块12返回的设置结果；解调工装模块12返回的CSP3协议数据，完成参数的设置。

作为一种示例，请参见图4，工装模块12执行的参数设置的过程可包括：接收到参数设置指令；解析CSP3协议数据；将需要进行设置的目标设置参数及其设置值通过SPI总线设置到功放模块13；将设置结果调制为CSP3协议数据；将调制后的CSP3协议数据通过RS485总线发送给GUI11。

本实施方式，可以通过向GUI输入的参数设置指令实现对待调试功放模块的参数设置，提高了功放调试的效率。

作为一种可选的实施方式，在本发明实施例中，为避免待调试功放模块13在下一次上电或接入到上位机后重复进行参数配置，工装模块12在完成上述参数设置过程后，还可以将目标设置参数以及目标设置参数的值对应地保存到待调试功放模块13的EEPROM中。

这样，待调试功放模块13在下一次上电或接入到上位机后，工装模块12或者上位机14就可以直接从待调试功放模块13的EEPROM中读取到目标设置参数以及目标设置参数的值，快速地将其设置到待调试功放模块13的DAC芯片中，进一步提高功放调试的效率。

相应的，上位机14具体用于：在所述工装模块12对所述待调试功放模块13调试完毕后，从待调试功放模块13的EEPROM中读取至少一个目标设置参数的值；将至少一个目标设置参数的值写入待调试功放模块13的DAC芯片；运行待调试功放模块13，确定调试结果。

作为一种示例，请参照图6，上位机14，通过SPI总线读取EEPROM中的数据，通过数据查找表来得到最终的ADC结果，将读取到的设置量设置到功放模块相应芯片，打开功放，让其正常运行。

本实施方式，将已设置的目标设置参数以及目标设置参数的值对应地保存到待调试功放模块的EEPROM，可使得待调试功放模块在下一次上电或接入到上位机后，工装模块或者上位机从待调试功放模块的EEPROM中读取目标设置参数以及目标设置参数的值，并设置到待调试功放模块的DAC芯片中，免去重复配置的操作，进一步提高功放调试的效率。

作为一种可选的实施方式，在本发明实施例中，为了保证数据的安全性和准确性，在将目标设置参数以及目标设置参数的值对应地保存到待调试功放模块13的EEPROM之前，可以先对目标设置参数以及目标设置参数的值进行CRC校验；只有在确定CRC校验通过之后，才将目标设置参数以及目标设置参数的值对应地保存到待调试功放模块13的EEPROM。

本实施方式在对目标设置参数以及目标设置参数的值进行CRC校验后，再将其存储到待调试功放模块的EEPROM，保证了数据的安全性和准确性。

作为一种可选的实施方式，在本发明实施例中，EEPROM芯片的存储区域可以分为原始区和备份区。工装模块12还用于：在检测到EEPROM芯片的原始区的数据被意外擦除或损坏时，将EEPROM芯片的备份区的数据复制到EEPROM芯片的原始区；在检测到EEPROM芯片的备份区的数据被意外擦除或损坏时，将EEPROM芯片的原始区的数据复制到EEPROM芯片的备份区；检测到所述EEPROM芯片的原始区和备份区数据均被意外擦除或损坏时，将工装模块12的MCU中的原始数据写入所述EEPROM芯片的原始区和备份区。

作为一种示例，请参见图5，首先，工装模块12对原始区的数据进行CRC校验；若原始区的数据校验通过，则将原始区的数据复制到备份区，否则进一步对备份区的数据进行CRC校验；若备份区的数据校验通过，则将备份区的数据复制到原始区，否则，将程序默认数据复制到原始区和备份区。

本实施方式采用原始区和备份区的方式对数据进行存储，保证了数据的安全性和准确性。

作为一种可选的实施方式，在本发明实施例中，该控制指令具体可以为用户针对待调试功放模块13输入的参数查询指令。则该系统对待调试功放模块13的参数查询的过程具体可包括：

GUI11接收用户针对待调试功放模块13输入的参数查询指令，并向工装模块12发送参数查询指令；其中，参数查询指令用于控制工装模块12对待调试功放模块13的目标查询参数进行查询；

工装模块12响应参数查询指令，确定待调试功放模块13的目标查询参数的值，并将确定出的目标查询参数的值反馈给GUI11。

在具体实施过程中，该目标查询参数的类型可以包括温度、输入功率、输出功率、反射功率、电流以及告警信息等，本发明实施例不做具体限制。

作为一种示例，请参见图3，GUI11执行的参数查询的过程可包括：GUI11发送联机指令，与工装模块12实现正常通信；发送功率值、温度值、告警量等采样命令；将查询量调制为CSP3协议数据，并通过RS485总线发送给工装模块12；等待接收工装模块12返回的查询结果；解调工装模块12返回的CSP3协议数据，获得并显示查询量。

作为一种示例，请参见图4，工装模块12执行的参数查询的过程可包括：解析GUI11发送的CSP3协议数据；将所查询的目标查询参数及其查询结果调制为CSP3协议数据；将该CSP3协议数据通过RS485总线发送给GUI11。

本实施方式，可以通过向GUI输入的参数查询指令实现对待调试功放模块的参数查询，提高了功放调试的效率。

作为一种可选的实施方式，在本发明实施例中，工装模块12还可以用于：按照预设的周期对待调试功放模块13的至少一个监控参数进行查询；将至少一个监控参数中各个监控参数和各个监控参数的值以K-V键值对的形式保存到工装模块12的MCU的RAM。

当RAM保存有监控参数的查询值时，工装模块12还可以直接根据RAM保存的K-V键值对确定待调试功放模块13的目标查询参数的值。

本实施方式，工装模块按照预设的周期对待调试功放模块的至少一个监控参数进行查询和保存，使得在接收到GUI发送的参数查询指令后，迅速确定并反馈目标查询参数的值，进一步提高了功放调试的效率。

作为一种可选的实施方式，在本发明实施例中，工装模块12还用于：在每一次对待调试功放模块13的至少一个监控参数进行查询之后，判断查询出的任一监控参数的值是否超过监控参数的警告门限；若为是，则发起警告，并执行功放保护操作。

在具体实施过程中，具体的监控参数的类型，本领域技术人员可以根据实际情况进行选择，例如监控参数可以包括温度、输入功率、输出功率、反射功率以及电流等，本发明实施例不做具体限制。

在具体实施过程中，功放保护操作可以包括：切断待调试功放模块13的栅压、关闭待调试功放模块13等，本发明实施例不做具体限制。

作为一种示例，请参照图4，工装模块12定时检测各个功率值、温度值等；定时将各个监控量与其告警门限对比，判断是否产生告警；在产生警告时，关断栅压、功放等，进行功放保护。

本实施方式对功放模块的监控参数进行监控，在任一监控参数的值超过该监控参数的警告门限时，发起警告，并执行功放保护操作，保证了功放模块的安全性，减少意外损失。

基于同一发明构思，本发明实施例还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，当所述计算机指令在计算机上运行时，使得计算机执行本发明实施例上述功放调试方法。

本领域内的技术人员应明白，本发明的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本发明可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本发明可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。

本发明是参照根据本发明实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。

显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (15)

1.一种功放调试系统，其特征在于，包括图形用户界面GUI、工装模块、待调试功放模块以及上位机；其中，所述工装模块具有多类功放模块对应的栅压输出通道，所述GUI具有所述多类功放模块中每类功放模块对应的控制指令输入接口，所述待调试功放模块为所述多类功放模块中的任意一类功放模块；

所述GUI用于：接收用户针对所述待调试功放模块输入的控制指令；将所述控制指令发送给所述工装模块，以控制所述工装模块对所述待调试功放模块进行功能调试；

所述工装模块用于：响应所述GUI模块发送的控制指令，对所述待调试功放模块进行功能调试；

所述上位机用于：在所述工装模块对所述功放模块调试完毕后，运行所述待调试功放模块，确定调试结果。

2.如权利要求1所述的系统，其特征在于，所述GUI和所述工装模块之间通过RS485总线连接，并基于CSP3协议通信；所述工装模块和所述待调试功放模块之间、所述上位机和所述待调试功放模块之间通过串行外设接口SPI总线连接。

3.如权利要求1或2所述的系统，其特征在于，所述GUI具体用于：

接收用户针对所述待调试功放模块输入的参数设置指令，并向所述工装模块发送所述参数设置指令；其中，所述参数设置指令用于控制所述工装模块对所述待调试功放模块的目标设置参数进行设置；

所述工装模块具体用于：响应所述参数设置指令，对所述待调试功放模块的目标设置参数进行设置。

4.如权利要求3所述的系统，其特征在于，所述工装模块具体用于：

根据所述参数设置指令确定目标设置参数以及所述目标设置参数的值；

将所述目标设置参数以及所述目标设置参数的值对应地保存到所述工装模块的微控制单元MCU的随机存储器RAM；

使能所述待调试功放模块的数模转换DAC芯片，将所述目标设置参数的值写入所述待调试功放模块的DAC芯片。

5.如权利要求4所述的系统，其特征在于，所述工装模块还用于：将所述目标设置参数以及所述目标设置参数的值对应地保存到所述待调试功放模块的带电可擦可编程可读写存储器EEPROM。

6.如权利要求5所述的系统，其特征在于，所述工装模块具体用于：

对所述目标设置参数以及所述目标设置参数的值进行循环冗余校验码CRC校验；

在确定CRC校验通过之后，将所述目标设置参数以及所述目标设置参数的值对应地保存到所述待调试功放模块的EEPROM。

7.如权利要求5所述的系统，其特征在于，所述工装模块还用于：

在检测到所述EEPROM芯片的原始区的数据被意外擦除或损坏时，将所述EEPROM芯片的备份区的数据复制到所述EEPROM芯片的原始区；

在检测到所述EEPROM芯片的备份区的数据被意外擦除或损坏时，将所述EEPROM芯片的原始区的数据复制到所述EEPROM芯片的备份区；

检测到所述EEPROM芯片的原始区和备份区数据均被意外擦除或损坏时，将工装模块MCU中原始数据写入原始区和备份区。

8.如权利要求4所述的系统，其特征在于，所述目标设置参数的类型包括以下几种中的至少一个：功放开关、功放保护、栅压手动控制、栅压斜率、输出功率控制ALC、ALC斜率、数控衰减ATT、自动增益控制(AGC斜率、告警门限、数据表、预失真功能开关以及预失真参数。

9.如权利要求1或2所述的系统，其特征在于，所述GUI具体用于：

接收用户针对所述待调试功放模块输入的参数查询指令，并向所述工装模块发送所述参数查询指令；其中，所述参数查询指令用于控制所述工装模块对所述待调试功放模块的目标查询参数进行查询；

所述工装模块具体用于：响应所述参数查询指令，确定所述待调试功放模块的目标查询参数的值，并将确定出的目标查询参数的值反馈给所述GUI。

10.如权利要求9所述的系统，其特征在于，所述目标查询参数的类型包括以下几种中的至少一个：温度、输入功率、输出功率、反射功率、电流以及告警信息。

11.如权利要求9所述的系统，其特征在于，所述工装模块具体用于：

按照预设的周期对所述待调试功放模块的至少一个监控参数进行查询；

将所述至少一个监控参数中各个监控参数和各个监控参数的值以K-V键值对的形式保存到所述工装模块的MCU的RAM；

在接收到所述参数查询指令后，根据所述RAM保存的K-V键值对确定所述待调试功放模块的目标查询参数的值。

12.如权利要求11所述的系统，其特征在于，所述工装模块还用于：

在每一次对所述待调试功放模块的至少一个监控参数进行查询之后，判断查询出的任一监控参数的值是否超过该监控参数的警告门限；

若为是，则发起警告，并执行功放保护操作；

其中，所述监控参数的类型包括温度、输入功率、输出功率、反射功率以及电流中至少一项；

所述功放保护操作包括：切断所述待调试功放模块的栅压，和/或，关闭所述待调试功放模块。

13.如权利要求1或2所述的系统，其特征在于，所述上位机具体用于：

从所述待调试功放模块的EEPROM中读取至少一个目标设置参数的值；

将所述至少一个目标设置参数的值写入所述待调试功放模块的DAC芯片；

运行所述待调试功放模块，确定调试结果。

14.一种功放调试方法，其特征在于，应用于如权利要求1-13任一项所述的调试系统；所述方法包括：

通过GUI接收用户针对所述待调试功放模块输入的控制指令；

通过所述GUI向工装模块发送所述控制指令，以控制所述工装模块对所述待调试功放模块进行功能调试；

在所述工装模块对所述待调试功放模块调试完毕后，通过上位机运行所述待调试功放模块，确定调试结果。

15.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，当所述计算机指令在计算机上运行时，使得计算机执行权利要求14所述的方法。