CN109653739A - 一种用于校正气测录井影响因素的综合录井曲线处理方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种用于校正气测录井影响因素的综合录井曲线处理方法，包括：步骤一、采集所述录井信息，确定所述录井信息中待处理范围区间；步骤二、对所述待处理范围区间的曲线段进行背景值校正处理得到优化后的背景值线；步骤三、对所述曲线段所对应的全烃含气量进行校正处理得到优化后的录井曲线；以及对所述待处理范围区间的曲线段中的异常峰进行优化处理，得到优化后的录井曲线。

Description

一种用于校正气测录井影响因素的综合录井曲线处理方法

技术领域

本发明涉及录井技术领域，具体涉及一种用于校正气测录井影响因素的综合录井曲线处理方法。

背景技术

气测录井作为录井工程一个重要组成方面，他能直接测量出地下天然气中各个组成及其含量，在发现和评价油气层中发挥着不可替代的重要作用。但是对于气测录井的影响因素也是很多的，在发现和评价油气层上还有一定的局限性，解释成果还有不确定性，因此需要对气测录井影响因素进行深入分析，并加以校正。随着石油勘探研究工作的不断深入，在不同区块、不同构造和不同地层中发现了许多特征各异的油气层，这就使得油气层识别变得更加错综复杂。

因此，研究录井环境因素对气测录井的影响分析，通过综合录井曲线处理校正这些问题，有利于提高气测录井资料的应用价值。

发明内容

本发明设计开发了一种用于校正气测录井影响因素的综合录井曲线处理方法，本发明的目的是通过综合录井曲线的处理，消除储集层性质，钻井液性能、钻井参数等对气测录井数据的影响，放大数据特征。

本发明提供的技术方案为：

一种用于校正气测录井影响因素的综合录井曲线处理方法，包括如下步骤：

步骤一、采集所述录井信息，确定所述录井信息中待处理范围区间；

步骤二、对所述待处理范围区间的曲线段进行背景值校正处理得到优化后的背景值线；

步骤三、对所述曲线段所对应的全烃含气量进行校正处理得到优化后的录井曲线；以及

对所述待处理范围区间的曲线段中的异常峰进行优化处理，得到优化后的录井曲线。

优选的是，在所述步骤一中，所述待处理范围区间为钻井深度为500～4000m的录井数据曲线。

优选的是，在所述步骤二中，进行背景值校正处理的曲线段范围区间为钻井深度为3900～4000m所对应的录井曲线。

优选的是，在所述步骤二中，对所述背景值通过如下第一公式进行校正处理得到优化后的经验背景值A₁′，进而得到所述背景值线：

其中，式中，H为钻井深度，H₁为第一经验比对值，A₀为监测背景值，ζ₁为第一校正因子，K₁为第一校正常数，取值为68.5～71.8。

优选的是，K₁取值为70.67。

优选的是，在所述步骤二中，对所述背景值通过如下第二公式进行校正处理得到优化后的经验背景值A₁′，进而得到所述背景值线：

其中，式中，H为钻井深度，H₂为第二经验比对值，A₀为监测背景值，ζ₂为第二校正因子，K₂为第二校正常数，取值为107.5～110.8。

优选的是，K₂取值为109.4。

优选的是，在所述步骤三中，对所述全烃含气量通过全烃地面含气量指数I_gc进行校正处理，通过全烃地面含气量指数I_gc得到优化后的路径曲线：

式中，T_g为通过录井数据曲线监测得到的全烃含气量，Q为钻井液泵排量，t为钻时，d为钻头尺寸。

优选的是，在所述步骤三中，当钻井深度为750～2700m时，曲线段中的异常峰通过如下公式进行优化处理消除得到校正全烃含气量T_g′，进而得到优化后的录井曲线：

其中，

式中，T_{g_i}为通过录井数据曲线监测得到的第i个数据点的经验全烃含气量，H为钻井深度，H₀为标准深度经验比对值，T_{g_max}为录井数据曲线的最大监测值，T_{g_min}为录井数据曲线的最小监测值，P₁为第一经验常数，取值范围为3.12～3.23，P₂为第二经验常数，取值范围为190.8～191.9。

优选的是，P取值为3.18，R取值为191.4。

本发明与现有技术相比较所具有的有益效果：

1、通过对背景值进行校正，放大曲线特征，消除高全烃背景值给储层油气水解释带来的影响；

2、通过曲线校正计算，消除钻井工程参数对曲线气测值的影响；

3、通过对单根峰的校正，除接单根或钻遇高压油气层时产生的单根气的影响，避免在根据烃值阈值选取储集层时选取到错误的储集层。

附图说明

图1为本发明所述的实施例1中监测背景值下全烃值和校正背景值下全烃值。

图2为本发明所述的实施例2中井气测录井影响因素及校正值。

图3为本发明所述的实施例2中井气测录井影响因素及校正值。

图4为本发明所述的实施例3中单根峰异常全烃曲线示意图。

图5为本发明所述的实施例3中在单根峰影响下全烃曲线示意图。

图6为本发明所述的实施例3中将单根峰校正后全烃曲线示意图。

具体实施方式

下面结合附图对本发明做进一步的详细说明，以令本领域技术人员参照说明书文字能够据以实施。

本发明提供了一种用于校正气测录井影响因素的综合录井曲线处理方法，包括如下步骤：

步骤一、采集所述录井信息，确定所述录井信息中待处理范围区间；

步骤二、对所述待处理范围区间的曲线段进行背景值校正处理得到优化后的背景值线；

步骤三、对所述曲线段所对应的全烃含气量进行校正处理得到优化后的录井曲线，对所述待处理范围区间的曲线段中的异常峰进行优化处理，得到优化后的录井曲线。

实施例1

如图1所示，在另一种实施例中，本井在Es₂段底部钻遇高压油气层之后气测异常非常活跃，出现高后效、高单根峰、高背景值，由于在高压油气层处泥饼难以形成，油气一直源源不断地向井筒内侵入，直到完井背景值仍维持在10％～15％之间，高背景值的出现，在一定程度上给Es₂段的油层识别带来了困难，在钻至3905m后拉井壁，进一步激活上覆油气层，背景值再次升高，之后的实测全烃曲线呈波浪起伏状，波幅很小，虽能看出变化但不清晰；在3906～3944m井段全烃呈逐渐下降趋势，可以通过A号线为背景值线；在3945～3990m井段全烃呈逐渐上升趋势，可以通过B号线为背景值线，通过曲线计算分段扣除背景值；采用小比例绘出的校正全烃曲线起落分明，并且与储集层吻合较好；在3913～3950m井段解释了两个油层，四个差油层，对该段压裂后获日产油7.51t、水9.68m3；在本实施中，通过第一校正公式进一步的对A号背景曲线进行校正，得到校正后的背景曲线，第一校正公式其为：3900≤H＜3940；其中，式中，H为钻井深度，H₁为第一经验比对值，A₀为监测背景值，ζ₁为第一校正因子，K₁为第一校正常数，取值为68.5～71.8；作为一种优选，K₁取值为70.67；通过第二校正公式进一步的对B号背景曲线进行校正，得到校正后的背景曲线，第二校正公式其为：3940≤H≤4000；其中，式中，H为钻井深度，H₂为第二经验比对值，A₀为监测背景值，ζ₂为第二校正因子，K₂为第二校正常数，取值为107.5～110.8；作为一种优选，K₂取值为109.4。

实施例2

在常规钻井条件下，地层含气量的多少是通过气测全烃含量值的大小来表现的，钻头直径越大、机械钻速越快，单位深度和时间内破碎的岩屑就越多，进入钻井液的油气越多；反之，当钻头直径越小、钻速下降，单位深度和时间内破碎的岩屑减少，脱气器从钻井液中脱出的地层气也少；其次，就是泵排量的影响，在钻速一定的条件下，钻井液泵排量大，单位体积钻井液所含的油气量就相对减少，破碎的油气被冲淡，气测显示也就更低。

在正常钻进情况下，每钻进1m的地层所释放出来的全烃含量值基本上可以间接反映该1m地层的含气量，为了消除钻头直径、钻井液排量以及钻时等参数的不同导致的全烃值失真，这里使用全烃地面含气量校正公式来加以校正，它是一个表示气显示相对大小的指数，是指破碎单位体积岩石释放出的气体在地面所测量得到的体积指数，用I_gc表示：式中，T_g为通过录井数据曲线监测得到的全烃含气量，Q为钻井液泵排量，t为钻时，d为钻头尺寸；

在综合录井曲线处理中，可以通过计算I_gc的值，由于I_gc的值特征更明显，易于进行油气水解释。

如图2所示，I_gc曲线能更好地反映储集层的气体含量，对储集层的响应优于气测全烃曲线,从图上可以看出，该井在3400-3490m井段气测全烃最大值16.776％，最小值2.442％，基值在8.098％，气测全烃曲线异常变化幅度偏小；而I_gc曲线最大值146.646％，最小值9.233％，基值在40.401％，I_gc曲线异常变化幅度较大能更好地反映储集层的气体含量，更易于发现异常。

如图3所示，由于I_gc曲线的峰基比远远高于气测全烃曲线，对气测异常的识别效果要好于气测全烃曲线，从图上可以看出，该井在3870-3950m井段气测全烃最大值1.313％，最小值0.052％，基值0.369％，全烃曲线的峰基比3.56，比值偏小；而I_gc曲线最大值10.132％，最小值0.341％，基值1.527％，I_gc峰基比6.64，更加有利于对气测异常的识别。

实施例3

钻进过程中，当钻开高压油气层后，如果钻井液密度偏低，地层中的烷烃组分向井筒扩散的速度很快，尤其是在接单根或立柱时，短暂的钻井液静止时段，地层中的烷烃向井筒中的扩散量较多，接完单根或立柱重新开泵后，同样会出现全烃气测异常，通常被称为单根峰。

如图4所示，单根峰的主要表现特点是出现与消失迅速，同时从开泵到出现单根峰的时间基本等于一个迟到时间。一旦出现第一次单根峰，通常会出现第二次、第三次、第四次……，直到井筒内的钻井液柱压力与高压油气层压力基本平衡，单根峰将会消失，并且每次单根峰出现的时间间隔基本相同，大约与两次停泵的时间间隔相同。该类型异常在全烃录井曲线方面表现多为尖脉冲形式，上升与下降基本对称。

与油气显示异常对比，在出峰时间方面二者基本相似，但峰值持续时间具有明显区别，单根峰的全烃峰值持续时间较短。

如图5、图6所示，根据前文介绍，当钻井深度为750～2700m时，图5中的全烃异常具有单根峰特点，因此，不能认为该井具有多层的油气资源，通过如下公式进行优化处理消除得到校正全烃含气量T_g′，消除单根峰的影响，进而得到优化后的录井曲线：

其中，

式中，T_{g_i}为通过录井数据曲线监测得到的第i个数据点的经验全烃含气量，H为钻井深度，H₀为标准深度经验比对值，T_{g_max}为录井数据曲线的最大监测值，T_{g_min}为录井数据曲线的最小监测值，P₁为第一经验常数，取值范围为3.12～3.23，P₂为第二经验常数，取值范围为190.8～191.9；作为一种优选，P取值为3.18，R取值为191.4。

在另一种实施例中，在钻进阶段，深度为500～4000m时，由于要间断停止钻井液循环实施接单根或接立柱作业，使地层内流体有一个短暂的渗入和积聚的过程，当再度钻进时，全烃和色谱组成就出现一个峰值，此峰值则为接单根气，当遇到接单根产生明显的假值小尖峰时，通过中值曲线滤波的功能圆滑曲线，消除假值，再根据烃值选择储集层时就不会出现选到假值的情况了。

尽管本发明的实施方案已公开如上，但其并不仅仅限于说明书和实施方式中所列运用，它完全可以被适用于各种适合本发明的领域，对于熟悉本领域的人员而言，可容易地实现另外的修改，因此在不背离权利要求及等同范围所限定的一般概念下，本发明并不限于特定的细节和这里示出与描述的图例。

Claims (10)

1.一种用于校正气测录井影响因素的综合录井曲线处理方法，其特征在于，包括如下步骤：

步骤一、采集所述录井信息，确定所述录井信息中待处理范围区间；

步骤二、对所述待处理范围区间的曲线段进行背景值校正处理得到优化后的背景值线；

步骤三、对所述曲线段所对应的全烃含气量进行校正处理得到优化后的录井曲线；以及

对所述待处理范围区间的曲线段中的异常峰进行优化处理，得到优化后的录井曲线。

2.如权利要求1所述的用于校正气测录井影响因素的综合录井曲线处理方法，其特征在于，在所述步骤一中，所述待处理范围区间为钻井深度为500～4000m的录井数据曲线。

3.如权利要求1所述的用于校正气测录井影响因素的综合录井曲线处理方法，其特征在于，在所述步骤二中，进行背景值校正处理的曲线段范围区间为钻井深度为3900～4000m所对应的录井曲线。

4.如权利要求3所述的用于校正气测录井影响因素的综合录井曲线处理方法，其特征在于，在所述步骤二中，对所述背景值通过如下第一公式进行校正处理得到优化后的经验背景值A₁′，进而得到所述背景值线：

其中，式中，H为钻井深度，H₁为第一经验比对值，A₀为监测背景值，ζ₁为第一校正因子，K₁为第一校正常数，取值为68.5～71.8。

5.如权利要求4所述的用于校正气测录井影响因素的综合录井曲线处理方法，其特征在于，K₁取值为70.67。

6.如权利要求3所述的用于校正气测录井影响因素的综合录井曲线处理方法，其特征在于，在所述步骤二中，对所述背景值通过如下第二公式进行校正处理得到优化后的经验背景值A₁′，进而得到所述背景值线：

其中，式中，H为钻井深度，H₂为第二经验比对值，A₀为监测背景值，ζ₂为第二校正因子，K₂为第二校正常数，取值为107.5～110.8。

7.如权利要求4所述的用于校正气测录井影响因素的综合录井曲线处理方法，其特征在于，K₂取值为109.4。

8.如权利要求1所述的用于校正气测录井影响因素的综合录井曲线处理方法，其特征在于，在所述步骤三中，对所述全烃含气量通过全烃地面含气量指数I_gc进行校正处理，通过全烃地面含气量指数I_gc得到优化后的路径曲线：

式中，T_g为通过录井数据曲线监测得到的全烃含气量，Q为钻井液泵排量，t为钻时，d为钻头尺寸。

9.如权利要求1所述的用于校正气测录井影响因素的综合录井曲线处理方法，其特征在于，在所述步骤三中，当钻井深度为750～2700m时，曲线段中的异常峰通过如下公式进行优化处理消除得到校正全烃含气量T_g′，进而得到优化后的录井曲线：

其中，

式中，T_{g_i}为通过录井数据曲线监测得到的第i个数据点的经验全烃含气量，H为钻井深度，H₀为标准深度经验比对值，T_{g_max}为录井数据曲线的最大监测值，T_{g_min}为录井数据曲线的最小监测值，P₁为第一经验常数，取值范围为3.12～3.23，P₂为第二经验常数，取值范围为190.8～191.9。

10.如权利要求7所述的用于校正气测录井影响因素的综合录井曲线处理方法，其特征在于，P取值为3.18，R取值为191.4。