CN109633513A - 一种设备电磁辐射试验暗室性能的确定方法及系统 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种设备电磁辐射试验暗室性能的确定方法及系统，包括：建立发射天线仿真模型；建立与每种使用的接收天线一一对应的接收天线仿真模型；基于所述发射天线仿真模型和任意一种接收天线仿真模型，确认对应使用的接收天线下的所述待确定的设备电磁辐射试验暗室的性能。本发明考虑了设备电磁辐射试验暗室中金属接地平板的影响，同时完全模拟设备电磁辐射试验布置情形，可以实现对设备电磁辐射试验暗室性能的有效分析，并且在设备电磁辐射试验中，对于不同测量频段，使用的测量天线不同，需要考虑实际试验过程中使用的天线类型，能够实现全频段范围内模拟被测设备。
Description
技术领域
本发明涉及电磁辐射试验仿真技术领域，更具体的，涉及一种设备电磁辐射试验暗室性能的确定方法及系统。
背景技术
在设备论证、设计、研制过程中，为了确保设备的电磁兼容性，常常依靠电磁兼容试验来对设备性能进行检验。电磁兼容试验中，电磁辐射试验占有重要地位，而辐射试验通常在电波暗室环境中进行。电波暗室实质上是内壁贴覆有射频吸波材料的电磁屏蔽室，一方面可以阻止暗室外部电磁场进入暗室内部影响其电磁场分布，另一方面可以防止暗室内部电磁场辐射出去影响外部电磁环境。
由于暗室性能的好坏会直接影响设备电磁辐射试验的结果，因此需要确认暗室性能是否满足使用要求。现有的暗室性能分析方法是在暗室一定区域内，采用两个天线分别作为发射天线与接收天线，其中发射天线与发射源连接，接收天线与接收设备连接，通过计算归一化场地衰减是否在规定限值范围内来评价暗室性能。然而，这种暗室性能分析方法通常是在暗室建造完成，同时暗室内测试系统及测试平台尚未完全安装的条件下进行的。而对于设备电磁辐射试验，上述方法不能准确模拟设备电磁辐射试验布置情形，从而影响对暗室性能的有效分析。
发明内容
有鉴于此，为了解决目前的暗室性能分析方法由于在在暗室建造完成，同时暗室内测试系统及测试平台尚未完全安装的条件下进行，对于设备电磁辐射试验，不能准确模拟设备电磁辐射试验布置情形，从而影响对暗室性能的有效分析的问题，本发明提供一种设备电磁辐射试验暗室性能的确定方法及系统，该方法及系统考虑了设备电磁辐射试验暗室中金属接地平板的影响，同时完全模拟设备电磁辐射试验布置情形，可以实现对设备电磁辐射试验暗室性能的有效分析，并且在设备电磁辐射试验中，对于不同测量频段，使用的测量天线不同，需要考虑实际试验过程中使用的天线类型，能够实现全频段范围内模拟被测设备。
在某些实施例中，一种设备电磁辐射试验暗室性能的确定方法，包括：
基于预先建立的金属接地平板仿真模型，通过将测试线缆放置于待确定的设备电磁辐射试验暗室的金属接地平板上，建立发射天线仿真模型；
基于待确定的设备电磁辐射试验暗室进行试验时使用的接收天线，建立与每种使用的接收天线一一对应的接收天线仿真模型；
基于所述发射天线仿真模型和任意一种接收天线仿真模型，确定对应使用的接收天线下的所述待确定的设备电磁辐射试验暗室的性能。
在某些实施例中，所述基于所述发射天线模型和任意一种接收天线模型，确定对应使用的接收天线下的所述待确定的设备电磁辐射试验暗室的性能，包括：
基于所述发射天线模型和任意一种接收天线模型，通过比对该暗室内表面贴附射频吸波材料时和该暗室内表面为理想吸波表面时的接收场强，确定对应使用的接收天线下的所述待确定的设备电磁辐射试验暗室的性能。
在某些实施例中，所述接收天线仿真模型包括：
拉杆天线仿真模型、双锥天线仿真模型、双脊喇叭天线仿真模型。
在某些实施例中，还包括：
根据设备电磁辐射试验配置要求，建立所述金属接地平板仿真模型。
在某些实施例中，通过将测试线缆放置于待确定的设备电磁辐射试验暗室的金属接地平板上，建立发射天线仿真模型，包括：
将测试线缆平行于所述金属接地平板放置，并且所述测试线缆位于所述金属接地平板上方预设距离；
在所述金属接地平板仿真模型上方进行测试线缆的仿真计算，建立发射天线仿真模型。
在某些实施例中，一种设备电磁辐射试验暗室性能的确定系统，包括：
发射天线仿真模型建立模块，基于预先建立的金属接地平板仿真模型，通过将测试线缆放置于待确定的设备电磁辐射试验暗室的金属接地平板上，建立发射天线仿真模型；
接收天线仿真模型建立模块，基于待确定的设备电磁辐射试验暗室进行试验时使用的接收天线，建立与每种使用的接收天线一一对应的接收天线仿真模型；
性能确定模块，基于所述发射天线仿真模型和任意一种接收天线仿真模型，确定对应使用的接收天线下的所述待确定的设备电磁辐射试验暗室的性能。
在某些实施例中，所述性能确定模块基于所述发射天线模型和任意一种接收天线模型，通过比对该暗室内表面贴附射频吸波材料时和该暗室内表面为理想吸波表面时的接收场强，确定对应使用的接收天线下的所述待确定的设备电磁辐射试验暗室的性能。
在某些实施例中，所述接收天线仿真模型包括：
拉杆天线仿真模型、双锥天线仿真模型、双脊喇叭天线仿真模型。
在某些实施例中，还包括：
金属接地平板仿真模型建立模块，根据设备电磁辐射试验配置要求，建立所述金属接地平板仿真模型。
在某些实施例中，所述发射天线仿真模型建立模块包括：
实物放置单元，将测试线缆平行于所述金属接地平板放置，并且所述测试线缆位于所述金属接地平板上方预设距离；
仿真计算单元，在所述金属接地平板仿真模型上方进行测试线缆的仿真计算，建立发射天线仿真模型。
本发明第三方面提供一种计算机设备，包括存储器、处理器以及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，
所述处理器执行所述程序时实现如上所述方法。
本发明第四方面提供一种计算机可读介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现如上所述方法。
本发明的有益效果如下：
本发明提供一种设备电磁辐射试验暗室性能的确定方法及系统，考虑了设备电磁辐射试验暗室中金属接地平板的影响，同时完全模拟设备电磁辐射试验布置情形，可以实现对设备电磁辐射试验暗室性能的有效分析，并且在设备电磁辐射试验中，对于不同测量频段，使用的测量天线不同，需要考虑实际试验过程中使用的天线类型，能够实现全频段范围内模拟被测设备。
附图说明
下面结合附图对本发明的具体实施方式作进一步详细的说明。
图1示出了本发明实施例中设备电磁辐射试验暗室性能仿真分析系统示意图。
图2示出了本发明实施例中金属接地平板仿真模型示意图。
图3示出了本发明实施例中发射天线仿真模型示意图。
图4a示出了本发明实施例中接收天线仿真模型示意图之一。
图4b示出了本发明实施例中接收天线仿真模型示意图之二。
图4c示出了本发明实施例中接收天线仿真模型示意图之三。
图5示出了本发明实施例中暗室内设备电磁辐射试验仿真示意图。
图6示出了本发明实施例中一种设备电磁辐射试验暗室性能的确定方法流程示意图。
图7示出了本发明实施例中图6中步骤S1的具体流程示意图。
图8示出了本发明实施例中一种设备电磁辐射试验暗室性能的确定系统的结构示意图。
图9示出了本发明实施例中图8的发射天线仿真模型建立模块100的具体结构示意图。
图10示出了适用于用来实现本发明实施例的终端设备的计算机设备的结构示意图。
具体实施方式
为了更清楚地说明本发明，下面结合优选实施例和附图对本发明做进一步的说明。附图中相似的部件以相同的附图标记进行表示。本领域技术人员应当理解，下面所具体描述的内容是说明性的而非限制性的，不应以此限制本发明的保护范围。
在附图中示出了根据本发明公开实施例的各种截面图。这些图并非是按比例绘制的，其中为了清楚表达的目的，放大了某些细节，并且可能省略了某些细节。图中所示出的各种区域、层的形状以及他们之间的相对大小、位置关系仅是示例性的，实际中可能由于制造公差或技术限制而有所偏差，并且本领域人员根据实际所需可以另外设计具有不同形状、大小、相对位置的区域/层。
为了解决目前的暗室性能分析方法由于在在暗室建造完成，同时暗室内测试系统及测试平台尚未完全安装的条件下进行，对于设备电磁辐射试验，不能准确模拟设备电磁辐射试验布置情形，从而影响对暗室性能的有效分析的问题，本发明提供一种设备电磁辐射试验暗室性能的确定方法、系统计算机设备及可读介质，该系统首先基于预先建立的金属接地平板仿真模型，通过将测试线缆放置于待确定的设备电磁辐射试验暗室的金属接地平板上，建立发射天线仿真模型；然后基于待确定的设备电磁辐射试验暗室进行试验时使用的接收天线，建立与每种使用的接收天线一一对应的接收天线仿真模型；最后基于所述发射天线仿真模型和任意一种接收天线仿真模型，进而确定对应使用的接收天线下的所述待确定的设备电磁辐射试验暗室的性能。考虑了设备电磁辐射试验暗室中金属接地平板的影响，同时完全模拟设备电磁辐射试验布置情形，可以实现对设备电磁辐射试验暗室性能的有效分析，并且在设备电磁辐射试验中，对于不同测量频段，使用的测量天线不同，需要考虑实际试验过程中使用的天线类型，能够实现全频段范围内模拟被测设备。
下面结合附图对本发明的方法、系统、计算机设备及可读介质进行详细说明。
本发明首先提供一种设备电磁辐射试验暗室性能的确定方法，如图6所示，该方法具体包括：
S1:基于预先建立的金属接地平板仿真模型，通过将测试线缆放置于待确定的设备电磁辐射试验暗室的金属接地平板上，建立发射天线仿真模型；
S2:基于待确定的设备电磁辐射试验暗室进行试验时使用的接收天线，建立与每种使用的接收天线一一对应的接收天线仿真模型；
S3:基于所述发射天线仿真模型和任意一种接收天线仿真模型，确定对应使用的接收天线下的所述待确定的设备电磁辐射试验暗室的性能。
在具体实施例中，如图1所示，步骤S1中，图1示出了本申请中设备电磁辐射试验暗室性能仿真分析系统示意图，可以知晓，在电波暗室中通过接收天线接收发射源通过发射天线发出的电磁波，通过位于控制室中的接收设备获取进行模拟仿真过程中的实物数据，进而进行仿真。如图2所示，根据设备电磁辐射试验配置要求，建立金属接地平板的仿真模型，其典型尺寸选择为2.5m×1m，材质为黄铜，厚度为1mm，金属接地平板通过接地带连接大地。
具体实施时，步骤S2中，如图3所示，在图2示出的金属接地平板模型上方，采用简易线缆结构，建立发射源与发射天线的仿真模型，其中线缆长度为2m，截面直径为2cm，线缆平行于接地平板放置且与平板前端距离为预设距离，例如10cm，距接地平板高度为5cm，在仿真时线缆一端采用离散激励端口，另一端接50Ω负载。
如图4a-图4c所示，分别建立不同频段接收天线模型，包括拉杆天线(图4a)、双锥天线(图4b)、双脊喇叭天线(图4c)的仿真模型，在仿真分析时，接收天线与线缆结构中心距离为1m。
在上述具体实施例中，步骤S3中，如图5所示，将发射端与接收端置于试验暗室内，设置暗室边界条件时分两种情形：一为除地面以外其余5个面设置为理想吸收边界，地面设置为理想电导体PEC的理想开阔试验场地；二为除地面以外其余5个面贴覆有射频吸波材料，地面设置为理想电导体PEC的暗室试验场地；在发射源与发射天线保持相同的情形下，分别计算两种边界条件下接收天线处接收场强值，通过比较二者差值来对暗室性能进行评价。即，步骤S3具体包括：基于所述发射天线模型和任意一种接收天线模型，通过比对该暗室内表面贴附射频吸波材料时和该暗室内表面为理想吸波表面时的接收场强，确定对应使用的接收天线下的所述待确定的设备电磁辐射试验暗室的性能。
此外，如图7所示，步骤S1包括：
S11:将测试线缆平行于所述金属接地平板放置，并且所述测试线缆位于所述金属接地平板上方预设距离；
S12:在所述金属接地平板仿真模型上方进行测试线缆的仿真计算，建立发射天线仿真模型。
现有的暗室性能分析方法中，通常在暗室的一定区域内，分别采用两个天线作为发射天线与接收天线，通过计算归一化场地衰减是否在规定限值范围内来评价暗室性能。首先，设备电磁辐射试验时，需要将发射源放置于金属接地平板上，而金属接地平板的存在会对暗室性能产生影响；其次，根据设备电磁辐射试验标准的要求，试验电缆长度2m，平行于接地平板前边界且与前边界距离10cm，同时离接地平板高度5cm；此外，在设备电磁辐射试验中，对于不同测量频段，使用的测量天线不同，需要考虑实际试验过程中使用的天线类型。目前的暗室性能分析方法并未考虑这些因素，不能准确模拟设备电磁辐射试验布置情形，从而影响对暗室性能的有效分析。本发明中采用的设备电磁辐射试验暗室性能仿真分析方法可有效地解决以上不足，该方法在完全满足设备电磁辐射试验配置要求的基础上，使用一个置于金属接地平板上方的简易线缆结构作为发射源和发射天线，接收天线采用设备电磁辐射试验中使用的天线类型。通过使用该仿真分析方法，不仅可以实现在全频段范围内模拟被测设备，考虑金属接地平板的影响，同时完全模拟设备电磁辐射试验布置情形，可以实现对设备电磁辐射试验暗室性能的有效分析。
本发明提供一种设备电磁辐射试验暗室性能的确定方法，考虑了设备电磁辐射试验暗室中金属接地平板的影响，同时完全模拟设备电磁辐射试验布置情形，可以实现对设备电磁辐射试验暗室性能的有效分析，并且在设备电磁辐射试验中，对于不同测量频段，使用的测量天线不同，需要考虑实际试验过程中使用的天线类型，能够实现全频段范围内模拟被测设备。
基于上述设备电磁辐射试验暗室性能的确定方法相同的技术构思，本申请提供一种设备电磁辐射试验暗室性能的确定系统，如图8所示，该系统具体包括：
发射天线仿真模型建立模块100，基于预先建立的金属接地平板仿真模型，通过将测试线缆放置于待确定的设备电磁辐射试验暗室的金属接地平板上，建立发射天线仿真模型；
接收天线仿真模型建立模块200，基于待确定的设备电磁辐射试验暗室进行试验时使用的接收天线，建立与每种使用的接收天线一一对应的接收天线仿真模型；
性能确定模块300，基于所述发射天线仿真模型和任意一种接收天线仿真模型，确定对应使用的接收天线下的所述待确定的设备电磁辐射试验暗室的性能。
与上述相同的，本发明提供一种设备电磁辐射试验暗室性能的确定系统，考虑了设备电磁辐射试验暗室中金属接地平板的影响，同时完全模拟设备电磁辐射试验布置情形，可以实现对设备电磁辐射试验暗室性能的有效分析，并且在设备电磁辐射试验中，对于不同测量频段，使用的测量天线不同，需要考虑实际试验过程中使用的天线类型，能够实现全频段范围内模拟被测设备。
在具体实施例中，如图2所示，根据设备电磁辐射试验配置要求，建立金属接地平板的仿真模型，其典型尺寸选择为2.5m×1m，材质为黄铜，厚度为1mm，金属接地平板通过接地带连接大地。如图3所示，在图2示出的金属接地平板模型上方，采用简易线缆结构，建立发射源与发射天线的仿真模型，其中线缆长度为2m，截面直径为2cm，线缆平行于接地平板放置且与平板前端距离为预设距离，例如10cm，距接地平板高度为5cm，在仿真时线缆一端采用离散激励端口，另一端接50Ω负载。
如图4a-图4c所示，分别建立不同频段接收天线模型，包括拉杆天线(图4a)、双锥天线(图4b)、双脊喇叭天线(图4c)的仿真模型，在仿真分析时，接收天线与线缆结构中心距离为1m。即所述接收天线仿真模型包括：拉杆天线仿真模型、双锥天线仿真模型、双脊喇叭天线仿真模型。
此外，本系统还包括：
金属接地平板仿真模型建立模块，根据设备电磁辐射试验配置要求，建立所述金属接地平板仿真模型。
进一步的，如图9所示，所述发射天线仿真模型建立模块100包括：
实物放置单元101，将测试线缆平行于所述金属接地平板放置，并且所述测试线缆位于所述金属接地平板上方预设距离；
仿真计算单元102，在所述金属接地平板仿真模型上方进行测试线缆的仿真计算，建立发射天线仿真模型。
如图5所示，将发射端与接收端置于试验暗室内，设置暗室边界条件时分两种情形：一为除地面以外其余5个面设置为理想吸收边界，地面设置为理想电导体PEC的理想开阔试验场地；二为除地面以外其余5个面贴覆有射频吸波材料，地面设置为理想电导体PEC的暗室试验场地；在发射源与发射天线保持相同的情形下，分别计算两种边界条件下接收天线处接收场强值，通过比较二者差值来对暗室性能进行评价。即，所述性能确定模块基于所述发射天线模型和任意一种接收天线模型，通过比对该暗室内表面贴附射频吸波材料时和该暗室内表面为理想吸波表面时的接收场强，确定对应使用的接收天线下的所述待确定的设备电磁辐射试验暗室的性能。
现有的暗室性能分析方法中，通常在暗室的一定区域内，分别采用两个天线作为发射天线与接收天线，通过计算归一化场地衰减是否在规定限值范围内来评价暗室性能。首先，设备电磁辐射试验时，需要将发射源放置于金属接地平板上，而金属接地平板的存在会对暗室性能产生影响；其次，根据设备电磁辐射试验标准的要求，试验电缆长度2m，平行于接地平板前边界且与前边界距离10cm，同时离接地平板高度5cm；此外，在设备电磁辐射试验中，对于不同测量频段，使用的测量天线不同，需要考虑实际试验过程中使用的天线类型。目前的暗室性能分析方法并未考虑这些因素，不能准确模拟设备电磁辐射试验布置情形，从而影响对暗室性能的有效分析。本发明中采用的设备电磁辐射试验暗室性能仿真分析方法可有效地解决以上不足，该方法在完全满足设备电磁辐射试验配置要求的基础上，使用一个置于金属接地平板上方的简易线缆结构作为发射源和发射天线，接收天线采用设备电磁辐射试验中使用的天线类型。通过使用该仿真分析方法，不仅可以实现在全频段范围内模拟被测设备，考虑金属接地平板的影响，同时完全模拟设备电磁辐射试验布置情形，可以实现对设备电磁辐射试验暗室性能的有效分析。
进一步的，本发明的一些具体实施例提供一种计算机设备，包括存储器、处理器以及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现如上所述的由终端执行的方法。
下面参考图5，其示出了适于用来实现本申请实施例的终端设备的计算机设备500的结构示意图。
如图5所示，计算机设备500包括中央处理单元(CPU)501，其可以根据存储在只读存储器(ROM)502中的程序或者从存储部分508加载到随机访问存储器(RAM))503中的程序而执行各种适当的工作和处理。在RAM503中，还存储有系统500操作所需的各种程序和数据。CPU501、ROM502、以及RAM503通过总线504彼此相连。输入/输出(I/O)接口505也连接至总线504。
以下部件连接至I/O接口505：包括键盘、鼠标等的输入部分506；包括诸如阴极射线管(CRT)、液晶显示器(LCD)等以及扬声器等的输出部分507；包括硬盘等的存储部分508；以及包括诸如LAN卡，调制解调器等的网络接口卡的通信部分509。通信部分509经由诸如因特网的网络执行通信处理。驱动器510也根据需要连接至I/O接口506。可拆卸介质511，诸如磁盘、光盘、磁光盘、半导体存储器等等，根据需要安装在驱动器510上，以便于从其上读出的计算机程序根据需要被安装如存储部分508。
特别地，根据本发明的实施例，上文参考流程图描述的过程可以被实现为计算机软件程序。例如，本发明的实施例包括一种计算机程序产品，其包括有形地包含在机器可读介质上的计算机程序，所述计算机程序包括用于执行流程图所示的方法的程序代码。在这样的实施例中，该计算机程序可以通过通信部分509从网络上被下载和安装，和/或从可拆卸介质511被安装。
附图中的流程图和框图，图示了按照本发明各种实施例的系统、方法和计算机程序产品的可能实现的体系架构、功能和操作。在这点上，流程图或框图中的每个方框可以代表一个模块、程序段、或代码的一部分，所述模块、程序段、或代码的一部分包含一个或多个用于实现规定的逻辑功能的可执行指令。也应当注意，在有些作为替换的实现中，方框中所标注的功能也可以以不同于附图中所标注的顺序发送。例如两个接连地表示的方框实际上可以基本并行地执行，他们有时也可以按相反的顺序执行，这依所涉及的功能而定。也要注意的是，框图和/或流程图中的每个方框、以及框图和/或流程图中的方框的组合，可以用执行规定的功能或操作的专用的基于硬件的系统来实现，或者可以用专用硬件与计算机指令的组合来实现。
显然，本发明的上述实施例仅仅是为清楚地说明本发明所作的举例，而并非是对本发明的实施方式的限定，对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动，这里无法对所有的实施方式予以穷举，凡是属于本发明的技术方案所引伸出的显而易见的变化或变动仍处于本发明的保护范围之列。
Claims (10)
1.一种设备电磁辐射试验暗室性能的确定方法，其特征在于，包括：
基于预先建立的金属接地平板仿真模型，通过将测试线缆放置于待确定的设备电磁辐射试验暗室的金属接地平板上，建立发射天线仿真模型；
基于待确定的设备电磁辐射试验暗室进行试验时使用的接收天线，建立与每种使用的接收天线一一对应的接收天线仿真模型；
基于所述发射天线仿真模型和任意一种接收天线仿真模型，确定对应使用的接收天线下的所述待确定的设备电磁辐射试验暗室的性能。
2.根据权利要求1所述的确定方法，其特征在于，所述基于所述发射天线模型和任意一种接收天线模型，确定对应使用的接收天线下的所述待确定的设备电磁辐射试验暗室的性能，包括：
基于所述发射天线模型和任意一种接收天线模型，通过比对该暗室内表面贴附射频吸波材料时和该暗室内表面为理想吸波表面时的接收场强，确定对应使用的接收天线下的所述待确定的设备电磁辐射试验暗室的性能。
3.根据权利要求1所述的确定方法，其特征在于，所述接收天线仿真模型包括：
拉杆天线仿真模型、双锥天线仿真模型、双脊喇叭天线仿真模型。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：
根据设备电磁辐射试验配置要求，建立所述金属接地平板仿真模型。
5.根据权利要求1所述的确定方法，其特征在于，通过将测试线缆放置于待确定的设备电磁辐射试验暗室的金属接地平板上，建立发射天线仿真模型，包括：
将测试线缆平行于所述金属接地平板放置，并且所述测试线缆位于所述金属接地平板上方预设距离；
在所述金属接地平板仿真模型上方进行测试线缆的仿真计算，建立发射天线仿真模型。
6.一种设备电磁辐射试验暗室性能的确定系统，其特征在于，包括：
发射天线仿真模型建立模块，基于预先建立的金属接地平板仿真模型，通过将测试线缆放置于待确定的设备电磁辐射试验暗室的金属接地平板上，建立发射天线仿真模型；
接收天线仿真模型建立模块，基于待确定的设备电磁辐射试验暗室进行试验时使用的接收天线，建立与每种使用的接收天线一一对应的接收天线仿真模型；
性能确定模块，基于所述发射天线仿真模型和任意一种接收天线仿真模型，确定对应使用的接收天线下的所述待确定的设备电磁辐射试验暗室的性能。
7.根据权利要求6所述的确定系统，其特征在于，所述性能确定模块基于所述发射天线模型和任意一种接收天线模型，通过比对该暗室内表面贴附射频吸波材料时和该暗室内表面为理想吸波表面时的接收场强，确定对应使用的接收天线下的所述待确定的设备电磁辐射试验暗室的性能。
8.根据权利要求6所述的确定系统，其特征在于，所述发射天线仿真模型建立模块包括：
实物放置单元，将测试线缆平行于所述金属接地平板放置，并且所述测试线缆位于所述金属接地平板上方预设距离；
仿真计算单元，在所述金属接地平板仿真模型上方进行测试线缆的仿真计算，建立发射天线仿真模型。
9.一种计算机设备，包括存储器、处理器以及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，
所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1-5任一项所述方法。
10.一种计算机可读介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，
该程序被处理器执行时实现如权利要求1-5任一项所述方法。
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