CN109584763A - 驱动电路和显示面板 - Google Patents

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CN109584763A CN201910020105.6A CN201910020105A CN109584763A CN 109584763 A CN109584763 A CN 109584763A CN 201910020105 A CN201910020105 A CN 201910020105A CN 109584763 A CN109584763 A CN 109584763A
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Abstract

本申请涉及一种驱动电路和显示面板。驱动电路包括驱动芯片、检测控制信号生成电路和反馈电路。检测控制信号生成电路的第一输入端与驱动芯片的电源电压输入端连接，第二输入端接地，用于当电源电压大于阈值电压时，通过其第一输入端接收电源电压，通过其第二输入端接收低电平电压信号，并根据电源电压和低电平电压信号生成检测控制信号。反馈电路的第一输入端与检测控制信号生成电路的输出端连接，第二输入端与驱动芯片的输出端连接，用于接收检测控制信号生成电路输出的检测控制信号以及驱动芯片提供的工作电压，根据检测控制信号以及工作电压生成反馈电压并输出给驱动芯片，以使驱动芯片根据反馈电压将工作电压调整至进行老化检测所需的电压。

Description

驱动电路和显示面板
技术领域
本申请涉及显示技术领域，尤其涉及一种驱动电路和显示面板。
背景技术
薄膜晶体管液晶显示(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display，TFT-LCD)面板是当前平板显示的主要产品之一，已经成为了现代信息科技产业和视讯产品中重要的显示平台。TFT-LCD显示面板工作过程中，主要通过印刷电路板上的驱动芯片提供电源和信号给显示区域，从而实现图像显示。
在生产过程中，在完成显示面板制作后一般还要进行老化检测。所述老化检测主要是用于检测是否存在液晶盒线缺陷、电子元件轻微损伤等问题，在用户使用过程中这些问题容易导致显示面板出现瑕疵，如断线、腐蚀等，严重影响产品的质量。但是，常规的老化检测设计无法满足客户对在老化检测过程中所使用的电压的多样性的需求。
发明内容
基于此，有必要针对目前无法满足客户对进行老化检测所需电压的多样性要求的问题，提供了一种驱动电路和显示面板。
本申请提供了一种驱动电路，包括：
驱动芯片，用于接收电源电压，并输出工作电压；
检测控制信号生成电路，所述检测控制信号生成电路的第一输入端与所述驱动芯片的电源电压输入端连接，所述检测控制信号生成电路的第二输入端接地，用于当所述电源电压大于阈值电压时，通过所述检测控制信号生成电路的第一输入端接收所述电源电压以及通过所述检测控制信号生成电路的第二输入端接收低电平电压信号，并根据所述电源电压和所述低电平电压信号生成用于进行老化检测的检测控制信号；以及
反馈电路，所述反馈电路的第一输入端与所述检测控制信号生成电路的输出端连接，所述反馈电路的第二输入端与所述驱动芯片的输出端连接，用于接收所述检测控制信号生成电路输出的检测控制信号以及所述驱动芯片提供的工作电压，根据所述检测控制信号以及所述工作电压生成反馈电压并输出给所述驱动芯片，以使所述驱动芯片根据所述反馈电压将所述工作电压调整至进行老化检测所需的电压。
本申请提供的一些实施例中，所述检测控制信号生成电路包括：
第一开关支路，所述第一开关支路的输入端与所述驱动芯片的电源电压输入端连接，当所述第一开关支路的输入端电压大于所述阈值电压时，所述第一开关支路导通；
触发支路，所述触发支路的第一输入端与所述第一开关支路的输出端连接，所述触发支路的第二输入端与所述反馈电路的第二输入端连接，用于当所述电源电压大于所述阈值电压时接收所述电源电压，并根据所述电源电压生成触发信号；以及
信号处理支路，所述信号处理支路的第一输入端与所述触发支路的输出端连接，所述信号处理支路的第二输入端接地，所述信号处理支路的输出端与所述触发支路的第二输入端以及所述反馈电路的第一输入端连接，用于对所述触发信号进行反向处理，生成并输出所述检测控制信号。
本申请提供的一些实施例中，所述反馈电路包括：
第二开关支路，所述第二开关支路的第一输入端和所述第二开关支路的第二输入端均与所述信号处理支路的输出端以及所述触发支路的第二输入端连接，所述第二开关支路的第三输入端和所述第二开关支路的第四输入端均与所驱动芯片的输出端连接，用于根据所述第二开关支路的第一输入端接收的检测控制信号控制所述第二开关支路的第三输入端接收所述驱动芯片提供的工作电压，以及根据所述第二开关支路的第二输入端接收的检测控制信号控制所述第二开关支路的第四输入端接收所述驱动芯片提供的工作电压；以及
调压支路，所述调压支路的第一输入端与第二开关支路的第一输出端连接，所述调压支路的第二输入端与所述第二开关支路的第二输出端连接，所述调压支路的输出端与所述驱动芯片的反馈电压输入端连接，用于接收所述第二开关支路的第一输出端或所述第二开关支路的第二输出端输出的工作电压，根据所述工作电压生成所述反馈电压并输出给所述驱动芯片。
本申请提供的一些实施例中，第一开关支路包括：
二极管，所述二极管的负极与所述驱动芯片的电源电压输入端连接，所述二极管的正极与所述触发支路的第一输入端连接。
本申请提供的一些实施例中，所述触发支路包括：
触发器，所述触发器的置位端与所述信号处理支路的输出端、所述第二开关支路的第一输入端和所述第二开关支路的第二输入端连接，所述触发器的触发端与所述二极管的正极连接，所述触发器的正向输出端与所述信号处理支路的输入端连接。
本申请提供的一些实施例中，所述信号处理支路包括：
反相器，所述反相器的输入端与所述触发器的正向输出端连接，所述反相器的输出端与所述触发器的置位端、所述第二开关支路的第一输入端和所述第二开关支路的第二输入端连接；以及
第一电阻，第一电阻的第一端与所述反相器的输出端、所述触发器的置位端、所述第二开关支路的第一输入端和所述第二开关支路的第二输入端连接，所述第一电阻的第二端接地。
本申请提供的一些实施例中，所述第二开关支路包括：
第一开关管，所述第一开关管的栅极与所述触发器的置位端、所述反相器的输出端和所述第一电阻连接，所述第一开关管的源极与所述驱动芯片的输出端连接，所述第一开关管的漏极与所述调压支路的第一输入端连接；以及
第二开关管，所述第二开关管的栅极与所述触发器的置位端、所述反相器的输出端和所述第一电阻连接，所述第二开关管的漏极与所述驱动芯片的输出端连接，所述第二开关管的源极与所述调压支路的第二输入端连接。
本申请提供的一些实施例中，所述调压支路包括：
第二电阻，所述第二电阻的第一端与所述第一开关管的漏极连接，所述第二电阻的第二端与第四电阻的第一端连接；
第三电阻，所述第三电阻的第一端与所述第二开关管的源极连接，所述第三电阻的第二端与所述第四电阻的第一端连接；以及
所述第四电阻，所述第四电阻的第一端与所述第二电阻的第二端以及所述第三电阻的第二端连接，所述第四电阻的第二端接地。
本申请提供的一些实施例中，所述第一开关管和所述第二开关管均为场效应管或三极管。
基于同一发明构思，本申请实施例还提供了一种显示面板，所述显示面板包括如上所述的驱动电路。
综上，本申请实施例提供了一种驱动电路和显示面板。所述驱动电路包括驱动芯片、检测控制信号生成电路和反馈电路。所述驱动芯片用于接收电源电压，并输出工作电压。所述检测控制信号生成电路的第一输入端与所述驱动芯片的电源电压输入端连接，所述检测控制信号生成电路的第二输入端接地，所述检测控制信号生成电路用于当所述电源电压大于阈值电压时，通过其第一输入端接收所述电源电压和通过其第二输入端接收低电平电压信号，并根据所述电源电压和所述低电平电压信号生成检测控制信号。所述反馈电路的第一输入端与所述检测控制信号生成电路的输出端连接，所述反馈电路的第二输入端与所述驱动芯片的输出端连接，所述反馈电路用于接收所述检测控制信号生成电路输出的检测控制信号以及所述驱动芯片提供的工作电压，根据所述检测控制信号以及所述工作电压生成反馈电压并输出给所述驱动芯片，以使所述驱动芯片根据所述反馈电压将所述工作电压调整至进行老化检测所需的电压。本申请提供的可进行老化检测的驱动电路中，当所述电源电压大于阈值电压时，可通过所述检测控制信号生成电路根据所述电源电压以及低电平电压信号生成用于进行老化检测的检测控制信号，以使所述反馈电路根据所述检测控制信号将所述驱动芯片输出的电压调整至进行老化检测所需的电压，便于在老化检测中按照实际需要升高电压以满足老化检测需要，满足老化检测过程中对进行老化检测电压所需的电压的多样性要求。
附图说明
图1为传统方案中显示面板的电气结构示意图；
图2为本申请实施例提供的一种驱动电路的电路结构示意图；
图3为本申请实施例提供的另一种驱动电路的电路结构示意图。
附图标号说明：
100 驱动芯片
200 检测控制信号生成电路
210 第一开关支路
220 触发支路
230 信号处理支路
300 反馈电路
310 第二开关支路
320 调压支路
D1 二极管
D2 触发器
D3 反相器
R1 第一电阻
R2 第二电阻
R3 第三电阻
R4 第四电阻
M1 第一开关管
M2 第二开关管
具体实施方式
为使本申请的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本申请的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本申请。但是本申请能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本申请内涵的情况下做类似改进，因此本申请不受下面公开的具体实施的限制。
TFT-LCD显示面板是当前平板显示的主要产品之一，已经成为了现代信息科技产业和视讯产品中重要的显示平台。请参见图1，TFT-LCD显示面板的主要驱动原理包括：系统主板将像素信号和控制信号等数据以及电源通过线材与印刷电路板(Printed CircuitBoard，PCB)上的连接器相连接，数据经过PCB板上的时序控制器(Timing Controller，TCON)集成电路处理后，经PCB板、通过源级薄膜驱动芯片(Source-Chip on Film,S-COF)和栅极薄膜驱动芯片(Gate-Chip on Film，G-COF)与显示区连接，从而使显示区获得所需的电源和数据，以实现图像显示。
但在生产过程中，显示面板容易出现液晶盒线缺陷、电子元件轻微损伤等问题，在用户使用过程中这些问题容易导致显示面板出现瑕疵，如断线、腐蚀等，严重影响产品的质量，因此在显示面板的制作工艺完成后需要进行老化检测以测试是否存在这些问题。但是，常规的老化检测设计已无法满足客户对在老化检测过程中所使用的电压的多样性的需求。
针对上述问题，本申请实施例提供了一种驱动电路。请参见图2，所述驱动电路包括驱动芯片100、检测控制信号生成电路200和反馈电路300。
可以理解，所述驱动芯片100用于接收电源电压，输出工作电压。
所述检测控制信号生成电路200的第一输入端与所述驱动芯片100的电源电压输入端连接，所述检测控制信号生成电路200的第二输入端接地，所述检测控制信号生成电路200用于当所述电源电压Vin大于阈值电压时，通过所述检测控制信号生成电路200的第一输入端接收所述电源电压Vin以及通过所述检测控制信号生成电路200的第二输入端接收低电平电压信号，并根据所述电源电压Vin和所述低电平电压信号生成用于进行老化检测的检测控制信号。
所述反馈电路300的第一输入端与所述检测控制信号生成电路200的输出端连接，所述反馈电路300的第二输入端与所述驱动芯片100的输出端连接，所述反馈电路300用于接收所述检测控制信号生成电路200输出的检测控制信号以及所述驱动芯片100提供的工作电压，根据所述检测控制信号以及所述工作电压生成反馈电压VFB并输出给所述驱动芯片100，以使所述驱动芯片100根据所述反馈电压VFB将所述工作电压调整至进行老化检测所需的电压。
本实施例中，当所述电源电压Vin大于阈值电压时，通过所述检测控制信号生成电路200根据所述电源电压Vin和所述低电平电压信号生成用于进行老化检测的检测控制信号，以使所述反馈电路300根据所述检测控制信号将所述驱动芯片100输出的电压调整至进行老化检测所需的电压，便于在老化检测中按照实际需要升高电压以满足老化检测需要，满足老化检测过程中对进行老化检测电压所需的电压的多样性要求。
本申请提供的一些实施例中，所述检测控制信号生成电路200包括第一开关支路210、触发支路220和信号处理支路230。
所述第一开关支路210的输入端与所述驱动芯片100的电源电压Vin输入端连接，当所述输入端电压大于所述阈值电压时，所述第一开关支路210导通。
所述触发支路220的第一输入端与所述第一开关支路210的输出端连接，所述触发支路220的第二输入端与所述反馈电路300的第二输入端连接，所述触发支路220用于当所述电源电压Vin大于所述阈值电压时，接收所述电源电压Vin，并根据所述电源电压Vin生成触发信号。
所述信号处理支路230的第一输入端与所述触发支路220的输出端连接，所述信号处理支路230的第二输入端接地，所述信号处理支路230的输出端与所述触发支路220的第二输入端以及所述反馈电路300的第一输入端连接，所述信号处理支路230用于对所述触发信号进行反向处理，生成并输出所述检测控制信号。
可以理解，在用户需要进行老化检测试验时，可通过增大电源电压Vin，使得所述第一开关支路210导通，所述触发支路220的第一输入端电压产生一个上升沿，所所述触发支路220被触发，从而根据所述触发支路220第二输入端的低电平电压信号生成触发信号，所述触发信号为所述低电平电压信号，所述信号处理支路230对所述触发信号进行反向处理，生成高电平的检测控制信号，以使所述反馈电路300根据所述检测控制信号生成检测反馈电压VFB，进而使得所述驱动芯片100根据所述检测反馈电压VFB将输出的工作电压调整为进行老化检测所需的电压。
本申请提供的一些实施例中，所述反馈电路300包括第二开关支路310和调压支路320。
所述第二开关支路310的第一输入端和所述第二开关支路310的第二输入端均与所述信号处理支路230的输出端以及所述触发支路220的第二输入端连接，所述第二开关支路310的第三输入端和所述第二开关支路310的第四输入端均与所驱动芯片100的输出端连接。所述第二开关支路310用于根据所述第二开关支路310的第一输入端接收的检测控制信号，控制所述第二开关支路310的第三输入端接收所述驱动芯片100提供的工作电压，以及据所述第二开关支路310的第二输入端接收的检测控制信号，控制所述第二开关支路310的第四输入端接收所述驱动芯片100提供的工作电压。
所述调压支路320的第一输入端与第二开关支路310的第一输出端连接，所述调压支路320的第二输入端与所述第二开关支路310的第二输出端连接，所述调压支路320的输出端与所述驱动芯片100的反馈电压输入端连接。所述调压支路320用于接收所述第二开关支路310的第一输出端或所述第二开关支路310的第二输出端输出的工作电压，根据所述工作电压生成所述反馈电压VFB并输出给所述驱动芯片100。
可以理解，本实施例中利用所述第二开关支路310的第一输入端接收的检测控制信号，控制所述第二开关支路310的第三输入端接收所述驱动芯片100提供的工作电压，以及据所述第二开关支路310的第二输入端接收的检测控制信号，控制所述第二开关支路310的第四输入端接收所述驱动芯片100提供的工作电压，可将所述工作电压提供给所述调压支路320不同的输入端，以使通过所述调压支路320生成电压值不同的反馈电压VFB。
本申请提供的一些实施例中，所述第一开关支路210包括二极管D1。所述二极管D1的负极与所述驱动芯片100的电源电压Vin输入端连接，所述二极管D1的正极与所述触发支路220的第一输入端连接。
本实施例中，所述阈值电压不小于所述二极管D1的反向击穿电压。当输入的电源电压Vin大于所述阈值电压时，所述二极管D1被击穿，通过所述二极管D1将所述电源电压Vin提供给所述触发支路220。所述阈值电压大于所述驱动电路正常工作时输入的电源电压Vin，同时低于所述驱动芯片100的极限耐压值，以避免在进行老化检测时，因输入的电源电压Vin值超过所述驱动芯片100的极限耐压值而导致所述驱动芯片100被烧毁。
此外所述二极管D1为反向击穿可恢复的二极管D1，以便于可利用所述驱动电路多次进行老化检测工艺。以及，在还有其它测试需求时，可通过先降低所述电源电压Vin，然后将电源电压Vin升高至大于所述阈值电压的方式，使所述二极管D1再次被击穿，进而再次触发所述触发支路220，以使所述驱动电路恢复至正常工作状态。
本申请提供的一些实施例中，所述触发支路220包括触发器D2。所述触发器D2的置位端与所述信号处理支路230的输出端、所述第二开关支路310的第一输入端和所述第二开关支路310的第二输入端连接，所述触发器D2的触发端与所述二极管D1的正极连接，所述触发器D2的正向输出端与所述信号处理支路230的输入端连接。
可以理解，所述触发器D2为上升沿触发器D2，即当所述触发的触发端检测到所述电源电压Vin的上升沿时，将其置位端的值赋给所述触发器D2的正向输出端。本实施例中，当需要进行老化检测时，所述电源电压Vin升高，所述二极管D1导通，所述触发器D2的触发端检测所述电源电压Vin的上升沿，所述触发器D2被触发，将其置位端的低电平信号赋值给其正向输出端，即通过其正向输出端输出低电平的触发信号。
本申请提供的一些实施例中，所述信号处理支路230包括反相器D3和第一电阻R1。
所述反相器D3的输入端与所述触发器D2的正向输出端连接，所述反相器D3的输出端与所述触发器D2的置位端、所述第二开关支路310的第一输入端和所述第二开关支路310的第二输入端连接。
所述第一电阻R1的第一端与所述反相器D3的输出端、所述触发器D2的置位端、所述第二开关支路310的第一输入端和所述第二开关支路310的第二输入端连接，所述的第一电阻R1的第二端接地。
可以理解，所述反相器D3对所述低电平的触发信号进行触发处理，得到高电平的检测控制信号，并通过其输出端输出给所述第二开关支路310的第一输入端和第二输入端，以控制所述第二开关支路310的导通。
本申请提供的一些实施例中，所述第二开关支路310包括第一开关管M1和第二开关管M2。
所述第一开关管M1的栅极与所述触发器D2的置位端、所述反相器D3的输出端和所述第一电阻R1的第一端连接，所述第一开关管M1的源极与所述驱动芯片100的输出端连接，所述第一开关管M1的漏极与所述调压支路的第一输入端连接。
所述第二开关管M2的栅极与所述触发器D2的置位端、所述反相器D3的输出端和所述第一电阻R1的第一端连接，所述第二开关管M2的漏极与所述驱动芯片100的输出端连接，所述第二开关管M2的源极与所述调压支路的第二输入端连接。
本实施例中，所述第一开关管M1为P型场效应管，第二开关管M2为N型场效应管。当所述检测控制信号为低电平时，所述第一开关管M1导通，所述第二开关管M2断开。通过所述第一开关管M1将所述工作电压提供给调压支路320的第一输入端，以使所述调压支路320根据所述根据其第一输入端输入的工作电压生成正常工作所需要的反馈电压VFB。当所述检测控制信号为低电平时，所述第一开关管M1断开，所述第二开关管M2导通，通过所述第二关管将所述工作电压提供给调压支路320的第二输入端，以使所述调压支路320根据所述根据其第二输入端输入的工作电压生成进行老化检测所需要的反馈电压VFB。进而，所述驱动芯片100根据所述正常工作所需要的反馈电压VFB生成正常工作所需的工作电压，以及根据所述老化检测所需要的反馈电压VFB将所述工作电压调整至进行老化检测所需的电压。
本申请提供的一些实施例中，所述调压支路320包括第二电阻R2、第三电阻R3和第四电阻R4。
所述第二电阻R2的第一端与所述第一开关管M1的漏极连接，所述第二电阻R2的第二端与第四电阻R4的第一端连接。
所述第三电阻R3的一端与所述第二开关管M2的源极连接，所述第三电阻R3的第二端与所述第四电阻R4的第一端连接。
所述第四电阻R4的第一端与所述第二电阻R2的第二端以及所述第三电阻R3的第二端连接，所述第四电阻R4的第二端接地。
可以理解，所述第二电阻R2和所述第四电阻R4形成一分压电路，所述第三电阻R3和所述第四电阻R4形成另一分压电路。假设所述驱动芯片100提供的工作电压为U，则通过所述第二电阻R2和所述第四电阻R4形成的分压电路生成的反馈电压VFB1＝U*R2/(R2+R4)，通过所述第三电阻R3和所述第四电阻R4形成的分压电路生成的反馈电压VFB2＝U*R3/(R3+R4)。因此，可通过不同的所述调节支路生成电压值不同的反馈电压，以使所述驱动芯片100根据不同的反馈电压VFB生成正常工作所需的电压以及进行老化检测所需的电压，以满足正常工作和进行老化检测的需要。本实施例中，R2＞R3，因此通过所述第二电阻R2和所述第四电阻R4形成的分压电路生成的反馈电压VFB1大于所述通过所述第三电阻R3和所述第四电阻R4形成的分压电路生成的反馈电压VFB2，即VFB1＞VFB2。所述驱动芯片100的反馈电压的阈值为1.25V，当所述驱动芯片100接收到的反馈电压VFB低于1.25V时，所述驱动芯片100则根据所述反馈电压VFB自动升高输出电压。其中，所述R2和R3的具体电阻值，应根据实际电路设计需要进行设置。
本申请提供的一些实施例中，所述第一开关管M1和所述第二开关管M2均为场效应管或三极管。可以理解，当所述第一开关管M1和所述第二开关管M2均为场效应管或三极管，便于进行电路设计。此外，还可以采用场效应管作为所述第一开关管M1，采用三极管作为所述第二开关管M2；或者采用三极管作为所述第一开关管M1，采用场效应管作为所述第二开关管M2。
本实施例中，所述第一开关管M1为P型场效应管，第二开关管M2为N型场效应管，所述触发器D2为上升沿触发器D2，所述驱动芯片100的反馈电压VFB的标准值为1.25V。
当所述驱动电路正常工作时，所述电源电压Vin低于所述二极管D1的反向击穿电压值，所述二极管D1断开，所述第一开关管M1的栅极和所述第二开关管M2的栅极均通过所述第一电阻R1接地，所述第一开关管M1导通，所述第二开关管M2断开，所述调节支路通过所述第二电阻R2和所述第四电阻R4形成的分压支路产生的反馈电压VFB1＝U*R2/(R2+R4)，所述驱动芯片100根据所述反馈电压VFB1生成正常工作所需的工作电压，所述驱动电路正常工作。
当进行老化检测时，所述电源电压Vin升高，升高后的电源电压Vin大于所述二极管D1的反向击穿电压，同时小于所述驱动芯片100的极限耐压值，所述二极管D1被击穿，通过所述二极管D1为所述触发器D2提供电源电压Vin，所述触发器D2的触发端检测电源电压Vin存在上升沿，所述触发器D2被触发，将其置位端的值赋给其正向输出端，即输出低电平的触发信号，所述反相器D3对所述触发信号进行反向处理，并输出高电平的检测控制信号，此时所述第一开关管M1断开，所述第二开关管M2导通，通过所述第三电阻R3和所述第四电阻R4形成的分压支路产生的反馈电压VFB2＝U*R3/(R3+R4)，由于R3＜R2，所述VFB2低于所述驱动芯片100的反馈电压的标准值1.25V，所述驱动芯片100则根据所述反馈电压VFB2自动调整其输出的工作电压，以使所述VFB2的值达到1.25V。
可见，本实施例中根据客户要求升高电源电压Vin即可将工作电压调整至进行老化检测所需的电压，以进行老化检测，以满足客户在老化测试工艺中对升高工作电压的要求，而无需增加其他额外结构或输入信号。
本申请提供的一些实施例中，请参见图3，所述检测控制信号生成电路200包括第一开关支路210和触发支路220。
所述第一开关支路210的输入端与所述驱动芯片100的电源电压Vin输入端连接，当所述输入端电压大于所述阈值电压时，所述第一开关支路210导通；
所述触发支路220的第一输入端与所述第一开关支路210的输出端连接，所述触发支路220的第二输入端与所述反馈电路300的第二输入端连接，所述触发支路220的第三输入端接地，用于当所述电源电压Vin大于所述阈值电压时接收所述电源电压Vin，并根据所述电源电压Vin生成并输出所述检测控制信号。
所述反馈电路300包括第二开关支路310和调压支路320。
所述第二开关支路310的第一输入端和所述第二开关支路310的第二输入端均与所述触发支路220的输出端连接，所述第二开关支路310的第三输入端和所述第二开关支路310的第四输入端均与所驱动芯片100的输出端连接，用于根据所述第二开关支路310的第一输入端接收的检测控制信号控制所述第二开关支路310的第三输入端接收所述驱动芯片100提供的工作电压，以及根据所述第二开关支路310的第二输入端接收的检测控制信号控制所述第二开关支路310的第四输入端接收所述驱动芯片100提供的工作电压。
所述调压支路320的第一输入端与第二开关支路310的第一输出端连接，所述调压支路320的第二输入端与所述第二开关支路310的第二输出端连接，输出端与所述驱动芯片100的反馈电压输入端连接，所述调压支路320用于接收所述第二开关支路310的第一输出端或所述第二开关支路310的第二输出端输出的工作电压，根据所述工作电压生成所述反馈电压VFB并输出给所述驱动芯片100。
第一开关支路210包括二极管D1，所述二极管D1的负极与所述驱动芯片100的电源电压Vin输入端连接，所述二极管D1的正极与所述触发支路220的第一输入端连接。
所述触发支路220包括触发器D2和第一电阻R1。所述触发器D2的置位端和负向输出端连接，且均与所述第二开关支路310的第一输入端和所述第二开关支路310的第二输入端连接，所述触发器D2的触发端与所述二极管D1的正极连接。
所述第一电阻R1的第一端与所述触发器D2的置位端、所述触发器D2的负向输出端、所述第二开关支路310的第一输入端和所述第二开关支路310的第二输入端连接，所述第一电阻R1的第二端接地。
所述第二开关支路310包括第一开关管M1和第二开关管M2。
所述第一开关管M1的栅极与所述触发器D2的置位端、所述触发器D2的负向输出端以及所述第一电阻R1的第一端连接，所述第一开关管M1的源极与所述驱动芯片100的输出端连接，所述第一开关管M1的漏极与所述调压支路的第一输入端连接。
第二开关管M2的栅极与所述触发器D2的置位端、所述触发器D2的负向输出端以及所述第一电阻R1的第一端连接，第二开关管M2的漏极与所述驱动芯片100的输出端连接，第二开关管M2的源极与所述调压支路的第二输入端连接。
所述调压支路包括第二电阻R2、第二电阻R2和第四电阻R4：
所述第二电阻R2的第一端与所述第一开关管M1的漏极连接，所述第二电阻R2的第二端与第四电阻R4的第一端连接。
所述第三电阻R3的第一端与所述第二开关管M2的源极连接，所述第三电阻R3的第二端与所述第四电阻R4的第一端连接。
所述第四电阻R4的第一端与所述第二电阻R2的第二端以及所述第三电阻R3的第二端连接，所述第四电阻R4的第二端接地。
本实施例中，所述二极管D1为反向击穿可恢复的二极管D1，其反向击穿电压小于或等于所述阈值电压，所述第一开关管M1为P型场效应管，第二开关管M2为N型场效应管，所述触发器D2为上升沿触发器D2，所述驱动芯片100的反馈电压VFB的标准值为1.25V。
当所述驱动电路正常工作时，所述电源电压Vin低于所述二极管D1的反向击穿电压值，所述二极管D1断开，所述第一开关管M1的栅极和所述第二开关管M2的栅极均通过所述第一电阻R1接地，所述第一开关管M1导通，所述第二开关管M2断开，所述调节支路通过所述第二电阻R2和所述第四电阻R4形成的分压支路产生的反馈电压VFB1＝U*R2/(R2+R4)，所述驱动芯片100根据所述反馈电压VFB1生成正常工作所需的工作电压，所述驱动电路正常工作。
当进行老化检测时，所述电源电压Vin升高，升高后的电源电压Vin大于所述二极管D1的反向击穿电压，同时小于所述驱动芯片100的极限耐压值，所述二极管D1被击穿，通过所述二极管D1为所述触发器D2提供电源电压Vin，所述触发器D2的触发端检测电源电压Vin存在上升沿，所述触发器D2被触发，将其置位端的值赋给其负向输出端，通过所述负向输出端输出高电平的检测控制信号，此时所述第一开关管M1断开，所述第二开关管M2导通，通过所述第三电阻R3和所述第四电阻R4形成的分压支路产生的反馈电压VFB2＝U*R3/(R3+R4)，由于R3＜R2，所述VFB2低于所述驱动芯片100的反馈电压的标准值1.25V，所述驱动芯片100则根据所述反馈电压VFB2自动调整其输出的工作电压，以使所述VFB2的值达到1.25V。
基于同一发明构思，本申请实施例还提供了一种显示面板，所述显示面板包括如上所述的驱动电路。
综上，本申请实施例提供了一种驱动电路和显示面板。所述驱动电路包括驱动芯片100、检测控制信号生成电路和反馈电路300。所述驱动芯片100用于接收电源电压Vin，并输出工作电压。所述检测控制信号生成电路200的第一输入端与所述驱动芯片100的电源电压Vin输入端连接，所述检测控制信号生成电路200的第二输入端接地，所述检测控制信号生成电路200用于当所述电源电压Vin大于阈值电压时，通过其第一输入端接收所述电源电压Vin和通过其第二输入端接收低电平电压信号，并根据所述电源电压Vin和所述低电平电压信号。所述反馈电路300的第一输入端与所述检测控制信号生成电路200的输出端连接，所述反馈电路300的第二输入端与所述驱动芯片100的输出端连接，所述反馈电路300用于接收所述检测控制信号生成电路200输出的检测控制信号以及所述驱动芯片100提供的工作电压，根据所述检测控制信号以及所述工作电压生成反馈电压VFB并输出给所述驱动芯片100，以使所述驱动芯片100根据所述反馈电压VFB将所述工作电压调整至进行老化检测所需的电压。本申请提供的可进行老化检测的驱动电路中，当所述电源电压Vin大于阈值电压时，可通过所述检测控制信号生成电路200根据所述电源电压Vin以及低电平电压信号生成用于进行老化检测的检测控制信号，以使所述反馈电路300根据所述检测控制信号将所述驱动芯片100输出的电压调整至进行老化检测所需的电压，便于在老化检测中按照实际需要升高电压以满足老化检测需要，满足老化检测过程中对进行老化检测电压所需的电压的多样性要求。
以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对申请专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种驱动电路，其特征在于，包括：
驱动芯片，用于接收电源电压，并输出工作电压；
检测控制信号生成电路，所述检测控制信号生成电路的第一输入端与所述驱动芯片的电源电压输入端连接，所述检测控制信号生成电路的第二输入端接地，用于当所述电源电压大于阈值电压时，通过所述检测控制信号生成电路的第一输入端接收所述电源电压以及通过所述检测控制信号生成电路的第二输入端接收低电平电压信号，并根据所述电源电压和所述低电平电压信号生成用于进行老化检测的检测控制信号；以及
反馈电路，所述反馈电路的第一输入端与所述检测控制信号生成电路的输出端连接，所述反馈电路的第二输入端与所述驱动芯片的输出端连接，用于接收所述检测控制信号生成电路输出的检测控制信号以及所述驱动芯片提供的工作电压，根据所述检测控制信号以及所述工作电压生成反馈电压并输出给所述驱动芯片，以使所述驱动芯片根据所述反馈电压将所述工作电压调整至进行老化检测所需的电压。
2.如权利要求1所述的驱动电路，其特征在于，所述检测控制信号生成电路包括：
第一开关支路，所述第一开关支路的输入端与所述驱动芯片的电源电压输入端连接，当所述第一开关支路的输入端电压大于所述阈值电压时，所述第一开关支路导通；
触发支路，所述触发支路的第一输入端与所述第一开关支路的输出端连接，所述触发支路的第二输入端与所述反馈电路的第二输入端连接，用于当所述电源电压大于所述阈值电压时接收所述电源电压，并根据所述电源电压生成触发信号；以及
信号处理支路，所述信号处理支路的第一输入端与所述触发支路的输出端连接，所述信号处理支路的第二输入端接地，所述信号处理支路的输出端与所述触发支路的第二输入端以及所述反馈电路的第一输入端连接，用于对所述触发信号进行反向处理，生成并输出所述检测控制信号。
3.如权利要求2所述的驱动电路，其特征在于，所述反馈电路包括：
第二开关支路，所述第二开关支路的第一输入端和所述第二开关支路的第二输入端均与所述信号处理支路的输出端以及所述触发支路的第二输入端连接，所述第二开关支路的第三输入端和所述第二开关支路的第四输入端均与所驱动芯片的输出端连接，用于根据所述第二开关支路的第一输入端接收的检测控制信号控制所述第二开关支路的第三输入端接收所述驱动芯片提供的工作电压，以及根据所述第二开关支路的第二输入端接收的检测控制信号控制所述第二开关支路的第四输入端接收所述驱动芯片提供的工作电压；以及
调压支路，所述调压支路的第一输入端与第二开关支路的第一输出端连接，所述调压支路的第二输入端与所述第二开关支路的第二输出端连接，所述调压支路的输出端与所述驱动芯片的反馈电压输入端连接，用于接收所述第二开关支路的第一输出端或所述第二开关支路的第二输出端输出的工作电压，根据所述工作电压生成所述反馈电压并输出给所述驱动芯片。
4.如权利要求3所述的驱动电路，其特征在于，第一开关支路包括：
二极管，所述二极管的负极与所述驱动芯片的电源电压输入端连接，所述二极管的正极与所述触发支路的第一输入端连接。
5.如权利要求4所述的驱动电路，其特征在于，所述触发支路包括：
触发器，所述触发器的置位端与所述信号处理支路的输出端、所述第二开关支路的第一输入端和所述第二开关支路的第二输入端连接，所述触发器的触发端与所述二极管的正极连接，所述触发器的正向输出端与所述信号处理支路的输入端连接。
6.如权利要求5所述的驱动电路，其特征在于，所述信号处理支路包括：
反相器，所述反相器的输入端与所述触发器的正向输出端连接，所述反相器的输出端与所述触发器的置位端、所述第二开关支路的第一输入端和所述第二开关支路的第二输入端连接；以及
第一电阻，所述第一电阻的第一端与所述反相器的输出端、所述触发器的置位端、所述第二开关支路的第一输入端和所述第二开关支路的第二输入端连接，所述第一电阻的第二端接地。
7.如权利要求6所述的驱动电路，其特征在于，所述第二开关支路包括：
第一开关管，所述第一开关管的栅极与所述触发器的置位端、所述反相器的输出端和所述第一电阻的第一端连接，所述第一开关管的源极与所述驱动芯片的输出端连接，所述第一开关管的漏极与所述调压支路的第一输入端连接；以及
第二开关管，所述第二开关管的栅极与所述触发器的置位端、所述反相器的输出端和所述第一电阻的第一端连接，所述第二开关管的漏极与所述驱动芯片的输出端连接，所述第二开关管的源极与所述调压支路的第二输入端连接。
8.如权利要求7所述的驱动电路，其特征在于，所述调压支路包括：
第二电阻，所述第二电阻的第一端与所述第一开关管的漏极连接，所述第二电阻的第二端与第四电阻的第一端连接；
第三电阻，所述第三电阻的第一端与所述第二开关管的源极连接，所述第三电阻的第二端与所述第四电阻的第一端连接；以及
所述第四电阻，所述第四电阻的第一端与所述第二电阻的第二端以及所述第三电阻的第二端连接，所述第四电阻的第二端接地。
9.如权利要求7或8所述的驱动电路，其特征在于，所述第一开关管和所述第二开关管均为场效应管或三极管。
10.一种显示面板，其特征在于，所述显示面板包括如权利要求1-9任一权项所述的驱动电路。
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