CN109579917A - 一种基于通讯设备生产的成品测量方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种基于通讯设备生产的成品测量方法,该方法包括以下步骤:步骤一,外观检测;步骤二,尺寸测量,使用游标卡尺对产品的外形尺寸进行测量;步骤三,通断测量;步骤四,稳定性测量,对产品分别进行电压/电流稳定性测试、温度环境稳定性测试与电磁环境稳定性测试;步骤五,信号强度测量,对产品的信号强度分别进行进行开阔性测试与穿透性测试;步骤六端口适应性测量。通过本发明的六大步骤,对产品的成品进行层层测量筛选,对产品的整体性能进行严格的把控,其对产品整体质量的控制水平得到有效的提高,并且避免了产品因过度检测而造成的损耗,同时为产品的下一步的研发提供了更有效的数据支撑。
Description
技术领域
本发明涉及通讯设备检测技术领域,具体为一种基于通讯设备生产的成品测量方法。
背景技术
通讯设备是一种用于信号发送、信号接收与信号传递的设备,通讯设备按照设备间是否需要通过线缆连接分为有线通讯设备与无线通讯设备,其中有线通讯设备是指通讯设备之间需要通过线缆进行连接,主要是利用架空线缆、同轴线缆、光纤、音频线缆等传输介质进行信息传输,有线通讯设备的优点是:抗干扰能力强、稳定性高、具备一定的保密性、传输速率快、带宽能够无限大,现有技术中的有线通讯设备主要是应用于解决工业现场的串口通讯、专业总线型的通讯、工业以太网的通讯以及各种通讯协议之间的转换设备;而无线通讯设备则不需要连接额外的线缆,它的原理是利用电磁波信号在自由空间中传播的特征进行信息交换,无线通讯设备的优点是:降低了环境的限制、具有一定的移动性、施工难度降低、成本低,无线通讯设备主要是无线AP、无线网桥、无线网卡、无线避雷器、天线等设备。
通讯设备的生产过程中,产品的成品测量是其中的一个非常重要的环节,而现有技术中的测量方法通常过于单一化,无法兼顾产品的整体性能,因此会因过度检测而造成一定的浪费,并且单一化的检测结果不能够为产品的后续研发提供更广的数据支持,为此,我们提出了一种基于通讯设备生产的成品测量方法。
发明内容
本发明要解决的技术问题是克服现有的缺陷,提供一种基于通讯设备生产的成品测量方法,可以有效解决背景技术中提出的现有技术中的测量方法通常过于单一化,无法兼顾产品的整体性能,因此会因过度检测而造成一定的浪费,并且单一化的检测结果不能够为产品的后续研发提供更广的数据支持的问题。
为实现上述目的,本发明提供如下技术方案:一种基于通讯设备生产的成品测量方法,该方法包括以下步骤:
步骤一,外观检测,将被测产品与标准样件在灯光下进行对比,观测产品的外形是否存在飞边、毛刺、凸起、凹陷、破损与划痕等缺陷,如无缺陷则进入下一步测量,如有缺陷则进入不合格品处理流程;
步骤二,尺寸测量,使用游标卡尺对产品的外形尺寸进行测量,并将测量结果与标准样件的外形尺寸进行对比,检测合格则进入下一步测量,如检测不合格则进入不合格品处理流程;
步骤三,通断测量,将产品与外接电源接通,观察产品的通断指示灯情况,如产品的通电正常则进入下一步测量,如测试不合格则进入不合格品处理流程;
步骤四,稳定性测量,对产品分别进行电压/电流稳定性测试、温度环境稳定性测试与电磁环境稳定性测试,其中,电压/电流稳定性测试的具体操作为:首先将产品的外接电源设定为恒定电压/何恒定电流,并观测产品的通信是否稳定,然后再将产品的外接电源设定为交替变换的高电压、低电压与高电流、低电流,并观测产品的通信是否稳定;温度环境稳定性测试的具体操作为:首先在常温环境下对观测产品的通信是否稳定,然后分别在高温环境与低温环境下观测产品的通信是否稳定;电磁环境稳定性测试的具体操作为:首先在无电磁干扰的环境下测试产品自身电磁辐射强度是否符合标准样件的电磁辐射强度要求,然后在电磁环境下观测产品的通信是否稳定;如测试合格则进入下一步测量,如测试不合格则进入不合格品处理流程;
步骤五,信号强度测量,对产品的信号强度分别进行进行开阔性测试与穿透性测试,并将被测产品的信号强度值与标准样件的信号强度值进行对比,如测试合格则进入下一步测量,如测试不合格则进入不合格品处理流程;
步骤六,端口适应性测量,将产品的外接端口与不同种类外接产品相同配对型号的端口进行连通测试,测量产品的外接端口的通断性能,如产品的外接端口能够良好的接通,则继续测量与被测产品的外接端口相接通的外接产品的通信性能,如测试合格则进入下一步测量,如测试不合格则进入不合格品处理流程。
优选的,所述不合格品处理流程为:针对不合格品的测量结果,将不合格的产品分为三个处理等级,第一等级为让步接收,即产品的测量结果与标准样件的要求相差较小,缺陷较小,无需修复,这种情况判定为让步接收,标记后直接进入下一步测量;第二等级为返修处理,即产品的测量结果与标准样件的要求有一定的差距,缺陷中等,可以维修,这种情况判定为返修处理;第三等级为报废处理,即产品的测量结果与标准样件的要去相差非常大,缺陷较大,无法修复,这种情况被判定为报废处理,其中,产品经返修处理后,进行返检,对产品的相关项进行重新测量,如测量合格则进入下一步骤,如测量不合格则进行报废处理。
优选的,所述步骤二中,如被测产品的外形尺寸在标准样件的尺寸公差范围内,则被测产品为合格品;如被测产品的外形尺寸大小超出标准样件的尺寸公差范围,且超差值小于公差范围值的5%,则被测产品为让步接收件;如被测产品的外形尺寸超出标准样件尺寸公差,且超差值在公差范围值的5%-10%内,且超差部分为可修复部分,则被测产品为返修件;如被测产品的外形尺寸超出标准样件尺寸公差,且超差值大于公差范围值的10%,则被测产品为报废件。
优选的,所述步骤四中,对产品的外接电源设定的恒定电压与恒定电流为标准样件的标定电压与标定电流,对产品的外接电源设定的高电压、低电压与高电流、低电流具体为:高电压=2倍标定电压,低电压=0.5倍标定电压,高电流=2倍标定电流,低电流=0.5倍标定电流。
优选的,所述步骤四中,常温环境的温度值设定为10℃-25℃,高温环境的温度设定为30℃-45℃,低温环境的温度设定为-15℃-0℃。
优选的,所述步骤四中,标准样件的电磁辐射强度要求为≤25μW/cm2,,电磁环境下的无线电干扰频率为0.15MHz-1000MHz,无线电干扰强度≤126dB,磁场干扰环境场强≤800A/m。
优选的,所述步骤五中,开阔性测试中的测试场地为直径1公里-5公里的开阔区域,测试点间隔距离为0.1公里-0.5公里;穿透性测试的测试间隔墙体厚度为1cm-10cm,间隔墙体材料依次为木板墙体、玻璃墙体、混净土墙体与钢板墙体。
优选的,所述步骤六中,所选外接产品为手机、电脑与电视等外接电子设备,外接产品的每个种类选5件进行测量,所测量的外接产品的通信性能包括信号的强度与信号的平稳度。
与现有技术相比,本发明的有益效果是:通过本发明的六大步骤,对产品的成品进行层层测量筛选,对产品的整体性能进行严格的把控,其对产品整体质量的控制水平得到有效的提高,并且避免了产品因过度检测而造成的损耗,同时为产品的下一步的研发提供了更有效的数据支撑。
附图说明
图1为本发明整体流程框图;
图2为不合格品处理流程框图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
请参阅图1-图2,本发明提供一种技术方案:一种基于通讯设备生产的成品测量方法,该方法包括以下步骤:
步骤一,外观检测,将被测产品与标准样件在灯光下进行对比,观测产品的外形是否存在飞边、毛刺、凸起、凹陷、破损与划痕等缺陷,如无缺陷则进入下一步测量,如有缺陷则进入不合格品处理流程;
步骤二,尺寸测量,使用游标卡尺对产品的外形尺寸进行测量,并将测量结果与标准样件的外形尺寸进行对比,检测合格则进入下一步测量,如检测不合格则进入不合格品处理流程;
步骤三,通断测量,将产品与外接电源接通,观察产品的通断指示灯情况,如产品的通电正常则进入下一步测量,如测试不合格则进入不合格品处理流程;
步骤四,稳定性测量,对产品分别进行电压/电流稳定性测试、温度环境稳定性测试与电磁环境稳定性测试,其中,电压/电流稳定性测试的具体操作为:首先将产品的外接电源设定为恒定电压/何恒定电流,并观测产品的通信是否稳定,然后再将产品的外接电源设定为交替变换的高电压、低电压与高电流、低电流,并观测产品的通信是否稳定;温度环境稳定性测试的具体操作为:首先在常温环境下对观测产品的通信是否稳定,然后分别在高温环境与低温环境下观测产品的通信是否稳定;电磁环境稳定性测试的具体操作为:首先在无电磁干扰的环境下测试产品自身电磁辐射强度是否符合标准样件的电磁辐射强度要求,然后在电磁环境下观测产品的通信是否稳定;如测试合格则进入下一步测量,如测试不合格则进入不合格品处理流程;
步骤五,信号强度测量,对产品的信号强度分别进行进行开阔性测试与穿透性测试,并将被测产品的信号强度值与标准样件的信号强度值进行对比,如测试合格则进入下一步测量,如测试不合格则进入不合格品处理流程;
步骤六,端口适应性测量,将产品的外接端口与不同种类外接产品相同配对型号的端口进行连通测试,测量产品的外接端口的通断性能,如产品的外接端口能够良好的接通,则继续测量与被测产品的外接端口相接通的外接产品的通信性能,如测试合格则进入下一步测量,如测试不合格则进入不合格品处理流程。
进一步的,所述不合格品处理流程为:针对不合格品的测量结果,将不合格的产品分为三个处理等级,第一等级为让步接收,即产品的测量结果与标准样件的要求相差较小,缺陷较小,无需修复,这种情况判定为让步接收,标记后直接进入下一步测量;第二等级为返修处理,即产品的测量结果与标准样件的要求有一定的差距,缺陷中等,可以维修,这种情况判定为返修处理;第三等级为报废处理,即产品的测量结果与标准样件的要去相差非常大,缺陷较大,无法修复,这种情况被判定为报废处理,其中,产品经返修处理后,进行返检,对产品的相关项进行重新测量,如测量合格则进入下一步骤,如测量不合格则进行报废处理,通过这种精细化的不合格品处理流程,将产品的不合格品进行分级处理,使产品的不合格品处理更加的合理化,进而降低了产品的过度损耗。
进一步的,所述步骤二中,如被测产品的外形尺寸在标准样件的尺寸公差范围内,则被测产品为合格品;如被测产品的外形尺寸大小超出标准样件的尺寸公差范围,且超差值小于公差范围值的5%,则被测产品为让步接收件;如被测产品的外形尺寸超出标准样件尺寸公差,且超差值在公差范围值的5%-10%内,且超差部分为可修复部分,则被测产品为返修件;如被测产品的外形尺寸超出标准样件尺寸公差,且超差值大于公差范围值的10%,则被测产品为报废件,通过这种设定可以进一步的提高对产品外形质量的把控。
进一步的,所述步骤四中,对产品的外接电源设定的恒定电压与恒定电流为标准样件的标定电压与标定电流,对产品的外接电源设定的高电压、低电压与高电流、低电流具体为:高电压=2倍标定电压,低电压=0.5倍标定电压,高电流=2倍标定电流,低电流=0.5倍标定电流,例如:现有技术中的通讯产品的常用电压/电流为12V/1A,则其对应测试的高电压为24V、低电压为6V、高电流为2A、低电流为0.5A,当通讯产品的电压/电流为24V/0.5A时,则其对应测试的高电压为48V、低电压为12V、高电流为1A、低电流为0.25A。
进一步的,所述步骤四中,常温环境的温度值设定为5℃-35℃,高温环境的温度设定为40℃-60℃,低温环境的温度设定为-25℃-0℃,例如:可将产品的环境温度测试值设定为常温20℃、高温50摄氏度、低温-15℃,也可将产品的环境温度测试值设定为常温5℃、高温40℃、低温-25℃,也可将产品的环境温度测试值设定为常温35℃、高温60℃、低温0℃。
进一步的,所述步骤四中,标准样件的电磁辐射强度要求为≤25μW/cm2,,电磁环境下的无线电干扰频率为0.15MHz-1000MHz,无线电干扰强度≤126dB,磁场干扰环境场强≤800A/m,例如:可将电磁环境设定为无线电干扰频率为0.15MHz、无线电干扰强度为6dB、磁场干扰环境场强为10A/m,也可将电磁环境设定为无线电干扰频率为150MHz、无线电干扰强度为30dB、磁场干扰环境场强为120A/m,也可将电磁环境设定为无线电干扰频率为650MHz、无线电干扰强度为108dB、磁场干扰环境场强为620A/m,通过这种测试,可以更精度的测量出产品的电磁辐射强度与抗电磁干扰能力,进而可以对产品的质量进行更加精准的把控。
进一步的,所述步骤五中,开阔性测试中的测试场地为直径1公里-5公里的开阔区域,测试点间隔距离为0.1公里-0.5公里;穿透性测试的测试间隔墙体厚度为1cm-10cm,间隔墙体材料依次为木板墙体、玻璃墙体、混净土墙体与钢板墙体,例如:当标准样件的信号有效传输距离为1公里时,可将开阔性测试的测试场地选定为直径1公里的开阔地带,测试点间距设定为0.1公里,可将穿透形测试的测试间隔墙体厚度设定为1cm;当标准样件的信号有效传输距离为3公里时,可将开阔性测试的测试场地选定为直径3公里的开阔地带,测试点间距设定为0.3公里,可将穿透形测试的测试间隔墙体厚度设定为5cm;当标准样件的信号有效传输距离为5公里时,可将开阔性测试的测试场地选定为直径5公里的开阔地带,测试点间距设定为0.5公里,可将穿透形测试的测试间隔墙体厚度设定为10cm,根据标准样件的有效传输距离对信号强度的测试场地、测试点间距与测试间隔墙体厚度进行合理化的设定,能有效的提高测量的精度,并且避免了因追求不必要的过高精度的而造成的浪费。
进一步的,所述步骤六中,所选外接产品为手机、电脑与电视等外接电子设备,外接产品的每个种类选5件进行测量,所测量的外接产品的通信性能包括信号的强度与信号的平稳度,例如:可选用市场上现有的手多款型号的手机,如小米、OPPO、ViVO、三星等,市场上现有的电脑,如联想、华硕、戴尔、惠普、三星等,市场现有的电视,如三星、索尼、海信、康佳、创维等,通过不同类外接产品的测量,可以更加准确的测量出产品的适用范围以及适用的产品方向,为产品的后续研发提供进一步的数据支持。
尽管已经示出和描述了本发明的实施例,对于本领域的普通技术人员而言,可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型,本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。
Claims (8)
1.一种基于通讯设备生产的成品测量方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:
步骤一,外观检测,将被测产品与标准样件在灯光下进行对比,观测产品的外形是否存在飞边、毛刺、凸起、凹陷、破损与划痕等缺陷,如无缺陷则进入下一步测量,如有缺陷则进入不合格品处理流程;
步骤二,尺寸测量,使用游标卡尺对产品的外形尺寸进行测量,并将测量结果与标准样件的外形尺寸进行对比,检测合格则进入下一步测量,如检测不合格则进入不合格品处理流程;
步骤三,通断测量,将产品与外接电源接通,观察产品的通断指示灯情况,如产品的通电正常则进入下一步测量,如测试不合格则进入不合格品处理流程;
步骤四,稳定性测量,对产品分别进行电压/电流稳定性测试、温度环境稳定性测试与电磁环境稳定性测试,其中,电压/电流稳定性测试的具体操作为:首先将产品的外接电源设定为恒定电压/何恒定电流,并观测产品的通信是否稳定,然后再将产品的外接电源设定为交替变换的高电压、低电压与高电流、低电流,并观测产品的通信是否稳定;温度环境稳定性测试的具体操作为:首先在常温环境下对观测产品的通信是否稳定,然后分别在高温环境与低温环境下观测产品的通信是否稳定;电磁环境稳定性测试的具体操作为:首先在无电磁干扰的环境下测试产品自身电磁辐射强度是否符合标准样件的电磁辐射强度要求,然后在电磁环境下观测产品的通信是否稳定;如测试合格则进入下一步测量,如测试不合格则进入不合格品处理流程;
步骤五,信号强度测量,对产品的信号强度分别进行进行开阔性测试与穿透性测试,并将被测产品的信号强度值与标准样件的信号强度值进行对比,如测试合格则进入下一步测量,如测试不合格则进入不合格品处理流程;
步骤六,端口适应性测量,将产品的外接端口与不同种类外接产品相同配对型号的端口进行连通测试,测量产品的外接端口的通断性能,如产品的外接端口能够良好的接通,则继续测量与被测产品的外接端口相接通的外接产品的通信性能,如测试合格则进入下一步测量,如测试不合格则进入不合格品处理流程。
2.根据权利要求1所述的一种基于通讯设备生产的成品测量方法,其特征在于:所述不合格品处理流程为:针对不合格品的测量结果,将不合格的产品分为三个处理等级,第一等级为让步接收,即产品的测量结果与标准样件的要求相差较小,缺陷较小,无需修复,这种情况判定为让步接收,标记后直接进入下一步测量;第二等级为返修处理,即产品的测量结果与标准样件的要求有一定的差距,缺陷中等,可以维修,这种情况判定为返修处理;第三等级为报废处理,即产品的测量结果与标准样件的要去相差非常大,缺陷较大,无法修复,这种情况被判定为报废处理,其中,产品经返修处理后,进行返检,对产品的相关项进行重新测量,如测量合格则进入下一步骤,如测量不合格则进行报废处理。
3.根据权利要求2所述的一种基于通讯设备生产的成品测量方法,其特征在于:所述步骤二中,如被测产品的外形尺寸在标准样件的尺寸公差范围内,则被测产品为合格品;如被测产品的外形尺寸大小超出标准样件的尺寸公差范围,且超差值小于公差范围值的5%,则被测产品为让步接收件;如被测产品的外形尺寸超出标准样件尺寸公差,且超差值在公差范围值的5%-10%内,且超差部分为可修复部分,则被测产品为返修件;如被测产品的外形尺寸超出标准样件尺寸公差,且超差值大于公差范围值的10%,则被测产品为报废件。
4.根据权利要求1所述的一种基于通讯设备生产的成品测量方法,其特征在于:所述步骤四中,对产品的外接电源设定的恒定电压与恒定电流为标准样件的标定电压与标定电流,对产品的外接电源设定的高电压、低电压与高电流、低电流具体为:高电压=2倍标定电压,低电压=0.5倍标定电压,高电流=2倍标定电流,低电流=0.5倍标定电流。
5.根据权利要求1所述的一种基于通讯设备生产的成品测量方法,其特征在于:所述步骤四中,常温环境的温度值设定为10℃-25℃,高温环境的温度设定为30℃-45℃,低温环境的温度设定为-15℃-0℃。
6.根据权利要求1所述的一种基于通讯设备生产的成品测量方法,其特征在于:所述步骤四中,标准样件的电磁辐射强度要求为≤25μW/cm2,,电磁环境下的无线电干扰频率为0.15MHz-1000MHz,无线电干扰强度≤126dB,磁场干扰环境场强≤800A/m。
7.根据权利要求1所述的一种基于通讯设备生产的成品测量方法,其特征在于:所述步骤五中,开阔性测试中的测试场地为直径1公里-5公里的开阔区域,测试点间隔距离为0.1公里-0.5公里;穿透性测试的测试间隔墙体厚度为1cm-10cm,间隔墙体材料依次为木板墙体、玻璃墙体、混净土墙体与钢板墙体。
8.根据权利要求1所述的一种基于通讯设备生产的成品测量方法,其特征在于:所述步骤六中,所选外接产品为手机、电脑与电视等外接电子设备,外接产品的每个种类选5件进行测量,所测量的外接产品的通信性能包括信号的强度与信号的平稳度。
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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PB01 | Publication | ||
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SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |
Application publication date: 20190405 |
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