CN109560824A - 一种射频指标的测试系统 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种射频指标的测试系统，用于提高测试系统的测试效率。其中，射频指标的测试系统包括：射频插头，与待测的射频单元的射频天线端口连接，用于向所述射频天线端口输入上行射频信号，或者，接收所述射频天线端口发送的下行射频信号；其中，所述射频天线端口为所述待测的射频单元上的任意一个射频天线端口；支架，用于承载所述射频插头，并通过沿设定方向移动将所述射频插头在所述待测的射频单元的不同射频天线端口之间切换。

Description

一种射频指标的测试系统

技术领域

本发明涉及通信技术领域，特别涉及一种射频指标的测试系统。

背景技术

基站中的射频单元是所有无线通信系统中必不可少的部分，其性能优劣影响整个系统。在实际使用过程中，为了保证系统的稳定性，需要对射频单元进行射频测试。

请参见图1，图1是现有技术中的测试射频单元的测试系统。可见，目前的测试系统是通过多路射频开关来切换到射频单元包括的不同射频天线端口。多路射频开关与射频单元包括的多个射频天线端口通过线缆连接，每一路射频开关通过一根线缆与一个射频天线端口连接。在测试时，信号源提供射频信号，该射频信号经过线缆会有所损耗，因此，在对每个射频天线端口进行测试时，需要对该射频天线端口对应的射频线缆进行损耗校准，也就是补偿射频信号的损失。

但是，如果射频天线端口的数目较多，即连接射频天线端口的线缆较多。这样在测试时，每对一个射频天线端口进行测试，就需要进行一次线缆校准，校准工作量大，增加了测试系统的负担，导致测试效率较低。

发明内容

本发明实施例提供一种射频指标的测试系统，用于提高测试系统的测试效率。

为解决上述技术问题，本发明实施例提供了一种射频指标的测试系统，该测试系统包括：

射频插头，与待测的射频单元的射频天线端口连接，用于向所述射频天线端口输入上行射频信号，或者，接收所述射频天线端口发送的下行射频信号；其中，所述射频天线端口为所述待测的射频单元上的任意一个射频天线端口；

支架，用于承载所述射频插头，并通过沿设定方向移动将所述射频插头在所述待测的射频单元的不同射频天线端口之间切换。

可选的，所述支架包括：互相平行的两个导轨和横梁；所述横梁的两侧分别架设在所述两个导轨的上，所述射频插头设置在所述横梁上；

其中，所述待测的射频单元位于所述两个导轨之间，所述横梁沿所述两个导轨的方向移动，所述射频插头沿与所述两个导轨垂直的方向移动，将所述射频插头在所述待测的射频单元的不同射频天线端口之间切换。

可选的，进一步包括：

滑块，设置在所述横梁与所述两个导轨之间，用于在所述两个导轨上滑动带动所述横梁沿所述两个导轨水平移动。

可选的，还包括：

气缸，设置在所述横梁上，用于推动所述射频插头沿与所述两个导轨垂直的方向移动；

其中，所述气缸的活塞杆与所述射频插头相连，当所述气缸的活塞杆伸出时，推动所述射频插头向靠近所述两个导轨的方向移动。

可选的，还包括：

控制器，与所述支架连接，用于向所述支架发送控制信息，控制所述支架上的所述射频插头移动至待测的射频天线端口的上方，并控制所述射频插头插入所述待测的射频天线端口；其中，所述控制信息包括所述待测的射频单元包括的各个射频天线端口相对于所述待测的射频单元的坐标值。

可选的，所述控制器还用于：

控制所述射频插头拨出已测试的射频天线端口，并移动至其他待测的射频天线端口的上方。

可选的，还包括：

信号源，与所述射频插头连接，用于向与所述射频插头连接的所述射频天线端口提供所述上行射频信号；其中，所述上行射频信号用于检测所述射频天线端口的上行信号射频指标；

其中，所述待测的射频单元通过所述射频天线端口上接收所述上行射频信号，对所述上行射频信号进行处理，获得基带信号，并将所述基带信号传输给其他设备。

可选的，还包括：

频谱分析仪，与所述射频插头连接，用于接收与所述射频插头连接的射频天线端口发送的下行射频信号，并对接收的下行射频信号进行分析；其中，所述下行射频信号用于检测所述射频天线端口的下行信号射频指标；

其中，所述待测的射频单元将基带信号进行处理，获得所述下行射频信号，并将所述下行射频信号发送给所述射频天线端口。

可选的，所述控制器分别与所述信号源及所述频谱分析仪连接，还用于：

控制所述信号源开启，生成上行射频信号；或者，

控制所述频谱分析仪的开启，对接收的下行射频信号进行下行射频指标测试。

可选的，所述频谱分析仪进一步用于：

测试接收的所述下行射频信号的邻信道泄漏功率比ACLR和误差向量幅度EVM。

本发明实施例提供了一种射频指标的测试系统，该测试系统中的支架可以控制射频插头在待测的射频单元的不同射频天线端口之间切换，射频插头可以与待测的射频天线端口连接，向待测的射频天线端口输入上行射频信号，或者，接收待测的射频天线端口发送的下行射频信号，从而检测待测的射频天线端口的射频指标。由于射频插头可以连接射频天线端口，这就不需要为每个射频天线端口设置对应的连接线缆，每测试一个射频天线端口的射频指标时也就不需要进行线缆校准，从而减轻了测试系统的负担，提高了测试系统的测试效率。

附图说明

图1是现有技术中的测试系统的结构示意图；

图2为本发明实施例提供的测试系统的一种结构示意图；

图3为本发明实施例提供的支架的一种结构示意图；

图4为本发明实施例提供的支架的一种结构示意图；

图5为本发明实施例提供的测试系统的一种结构示意图；

图6为本发明实施例提供的测试系统的一种结构示意图；

图7为本发明实施例提供的测试系统的一种结构示意图。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。

目前，射频指标的测试系统中，每一路射频开关通过一根线缆与一个射频天线端口连接。在测试时，信号源提供射频信号，该射频信号经过线缆会有所损耗，因此，在对每个射频天线端口进行测试时，需要对该射频天线端口对应的射频线缆进行损耗校准，也就是补偿射频信号的损失。

但是，随着第五代移动通信(5th-Generation，5G)技术的发展，多天线成为一种趋势。远端射频单元(Radio Remote Unit，RRU)包括的射频天线端口的数目较多，例如32个、64个，甚至128个。射频天线端口的数目越多，对应的连接射频天线端口的线缆较多。这样在测试时，每对一个射频天线端口进行测试，就需要进行一次线缆校准，校准工作量大，增加了测试系统的负担，导致测试效率较低。而且，线缆与射频天线端口的连接是由人工实现的，工作人员在将线缆与射频天线端口连接时，由于射频天线端口较多也较容易接错，导致测试不准确，甚至错误。多个线缆与多个射频天线端口连接，即连接点较多。一旦测试系统遇到问题，由于连接点较多，工作人员也不容易定位问题。

鉴于此，本发明实施例提供一种新的射频指标的测试系统，该测试系统中的支架该测试系统中的支架可以控制射频插头在待测的射频单元的不同射频天线端口之间切换，射频插头可以与待测的射频天线端口连接。这样就不需要为每个射频天线端口设置对应的连接线缆，也就不需要进行线缆校准，从而减轻了测试系统的负担，提高了测试系统的测试效率。

下面将结合说明书附图对上述技术方案进行详细地说明。

请参见图2，本发明实施例提供一种射频指标的测试系统，该测试系统可以用于测试RRU包括的射频天线端口的射频指标。一个RRU可以包括多个射频天线端口。该测试系统包括射频插头21和支架22。其中，射频插头21可以设置在支架22上。支架22可以通过沿设定方向移动将其上的射频插头21在待测的RRU包括的不同射频天线端口之间切换。射频插头21可以与待测的RRU的射频天线端口连接，用于向射频天线端口输入上行射频信号，或者，接收射频天线端口发送的下行射频信号。

其中，上行射频信号可以用于检测射频天线端口的上行射频指标，下行射频信号可以用于检测射频天线端口的下行射频指标。射频天线端口可以为待测的RRU上的任意一个射频天线端口。当一个射频天线端口测试完毕后，测试系统可以通过支架22将射频插头21切换到另一个待测的射频天线端口。可见，本发明实施例中的测试系统只通过支架22和射频插头21就可以实现在不同的射频天线端口的切换，而不需要连接线缆，自然也就减少了线缆校准的工作量，从而提高了测试效率。

为了更好地理解，下面介绍支架22的具体结构。

请参见图3，支架22可以包括互相平行的两个导轨221和横梁222，横梁222的两侧分别架设在两个导轨221的上，射频插头21可以设置在横梁222上。在需要测试待测的RRU的射频天线端口时，可以将RRU置于两个导轨221之间，如图3所示。本发明实施例对射频天线端口的数量不作限制。图3以RRU包括8个射频天线端口001为例进行介绍支架22如何实现将射频插头21在RRU的不同射频天线端口001之间进行切换。

支架22的横梁222可以沿两个导轨221的方向移动，此时横梁222上的射频插头也随着横梁222的移动沿两个导轨221的方向移动，也就是移动至位于两个导轨221的RRU的正上方，也就是移动至RRU包括的射频天线端口001的正上方。此时射频插头21可以沿与两个导轨221垂直的方向移动，例如，沿与两个导轨221垂直的方向，靠近RRU的方向移动，这样射频插头21就可以插入射频天线端口001，实现与射频天线端口001的连接。当然，当测试完一个射频天线端口001时，射频插头21也可以沿与两个导轨221垂直的方向，远离RRU的方向移动，实现射频插头21从测试完的射频天线端口001拔出，从而实现将射频插头21在待测的RRU的不同射频天线端口001之间切换。

可能的实施方式中，支架22进一步可以包括滑块223，横梁222可以通过该滑块223实现在两个导轨21的方向上移动。其中，该滑块223可以设置在横梁222与两个导轨221之间，用于在两个导轨221上滑动带动横梁22沿两个导轨221水平移动。可能的实施方式中，两个导轨221可以是电动滑轨。由于图3是俯视图，滑块223实际上是不可见的，因此图3中用虚线进行示意。

可能的实施方式中，请参见图4，支架22进一步还可以包括气缸224，该气缸224可以设置在横梁222上，用于推动射频插头21沿与两个导轨221垂直的方向移动。其中，气缸224具有活塞杆，活塞杆与射频插头21可以相连，当活塞杆伸出时，推动射频插头21向靠近两个导轨221的方向移动，也就是向靠近RRU包括的射频天线端口001的方向移动。当活塞杆收缩时，拉动射频插头21向原来两个导轨221的方向移动，也就是向远离RRU包括的射频天线端口001的方向移动。

请参见图5，本发明实施例提供的射频指标的测试系统还可以包括控制器51，该控制器51可以是个人电脑PC，也可以是其他可能的控制设备。控制器51可以与支架22连接，用于向支架22发送控制信息，控制支架22上的射频插头21移动至待测的射频天线端口001的上方，并控制射频插头21插入待测的射频天线端口001。或者，该控制器51还可以控制射频插头21拨出已测试的射频天线端口001，并移动至其他待测的射频天线端口001的上方。

可能的实施方式中，控制信息可以包括待测的RRU包括的各个射频天线端口001相对于待测的RRU的坐标值。由于待测的RRU上的各个射频天线端口001的位置一般是固定的，所以事先可以获得各个射频天线端口001相对于RRU的坐标值。例如，请继续参见图4，假设两个导轨221的方向是X方向，横梁222的方向是Y方向，那么该坐标值可以包括射频天线端口001在X方向的位置坐标和在Y方向的位置坐标。本发明实施例中，RRU上的各个射频天线端口001的坐标值可以事先存储在控制器51上，也可以存储在其他设备上。控制器51获得各个射频天线端口001之后，要测试哪个射频天线端口001，就可以将携带该射频天线端口001的坐标值的控制信息发送给支架22，以使得支架22根据该射频天线端口001的坐标值控制横梁222上的射频插头移动至该射频天线端口001的上方，实现对待测的射频天线端口001的定位。

对应地，控制器51还可以将携带射频插头21移动距离和移动方向的控制信息发送给支架22，使得支架22上的气缸224可以根据控制信息中的射频插头21移动距离和移动方向，控制活塞杆的移动距离和移动方向，进而控制射频插头21的移动距离和移动方向，以使得射频插头21插入待测的射频天线端口001，或拨出已测试的射频天线端口001。

请参见图6，本发明实施例提供的射频指标的测试系统还可以包括信号源61，该信号源61可以与射频插头21连接，用于向与射频插头21连接的射频天线端口001提供上行射频信号，也就是用于检测射频天线端口001的上行信号射频指标的测试信号。信号源61还可以与控制器51连接，由控制器51控制信号源61开启，生成上行射频信号。在对待测的RRU的某个射频天线端口001进行上行射频指标测试时，待测的RRU通过该射频天线端口001接收信号源61提供的上行射频信号，并对上行射频信号进行处理，获得基带信号，将基带信号传输给其他设备。其他设备可以对接收的基带信号进行分析，从而获知该射频天线端口的上行射频指标是否满足要求。例如，可能的实施方式中，其他设备可以根据接收的基带信号计算块误码率(Block Error Ratio，BLER)，将计算获得的BLER与标准的BLER作对比，从而通过BLER确定该射频天线端口001的上行射频指标是否满足要求。

请参见图7，本发明实施例提供的射频指标的测试系统还可以包括频谱分析仪71，该频谱分析仪71可以与射频插头21连接，用于接收与射频插头21连接的射频天线端口001发送的下行射频信号，并对接收的下行射频信号进行分析。其中，下行射频信号可以用于检测射频天线端口001的下行信号射频指标。可能的实施方式中，频谱分析仪71还可以与控制器51连接，由控制器51控制频谱分析仪71开启，对接收的下行射频信号进行下行射频指标测试。其中，在对待测的RRU的某个射频天线端口001进行下行射频指标测试时，待测的RRU将基带信号进行处理，获得下行射频信号，并将下行射频信号发送给该射频天线端口001。

频谱分析仪71通过与该射频天线端口001连接的射频插头21接收下行射频信号，可以对接收的下行射频信号进行分析，以确定该射频天线端口001的下行射频指标是否满足要求。可能的实施方式中，频谱分析仪71可以测试接收的下行射频信号的邻信道泄漏功率比(Adjacent Channel Leakage Ratio，ACLR)和误差向量幅度(Error VectorMagnitude，EVM)。工作人员可以将频谱分析仪71测试获得的ACLR与标准的ACLR作对比，及将测试获得的EVM与标准的EVM作对比，从而通过确定该射频天线端口001的下行射频指标是否满足要求。

本发明实施例中，测试系统若确定待测的RRU包括的某个或某些射频天线端口001的上行射频指标和/或下行射频指标不满足规定的指标要求，可以对相应地射频天线端口001做故障标记，以反馈给维修人员定位故障。相较于现有技术中，多线缆导致的多连接点，工作人员较为容易定位问题。

由以上描述可以看出，通过本发明实施例提供的射频指标的测试系统实现了待测的RRU的各个射频天线端口001在测试接过程中，一次性测试了射频天线端口001的射频指标，通过射频插头21和支架22可以不需要为每个射频天线端口设置对应的连接线缆，尽量减少线缆校准的工作量，从而达到提高测试效率的技术效果。

显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (10)

1.一种射频指标的测试系统，其特征在于，包括：

射频插头，与待测的射频单元的射频天线端口连接，用于向所述射频天线端口输入上行射频信号，或者，接收所述射频天线端口发送的下行射频信号；其中，所述射频天线端口为所述待测的射频单元上的任意一个射频天线端口；

支架，用于承载所述射频插头，并通过沿设定方向移动将所述射频插头在所述待测的射频单元的不同射频天线端口之间切换。

2.如权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述支架包括：互相平行的两个导轨和横梁；所述横梁的两侧分别架设在所述两个导轨的上，所述射频插头设置在所述横梁上；

其中，所述待测的射频单元位于所述两个导轨之间，所述横梁沿所述两个导轨的方向移动，所述射频插头沿与所述两个导轨垂直的方向移动，将所述射频插头在所述待测的射频单元的不同射频天线端口之间切换。

3.如权利要求2所述的测试系统，其特征在于，进一步包括：

滑块，设置在所述横梁与所述两个导轨之间，用于在所述两个导轨上滑动带动所述横梁沿所述两个导轨水平移动。

4.如权利要求3所述的测试系统，其特征在于，还包括：

气缸，设置在所述横梁上，用于推动所述射频插头沿与所述两个导轨垂直的方向移动；

其中，所述气缸的活塞杆与所述射频插头相连，当所述气缸的活塞杆伸出时，推动所述射频插头向靠近所述两个导轨的方向移动。

5.如权利要求1-4任一所述的测试系统，其特征在于，还包括：

控制器，与所述支架连接，用于向所述支架发送控制信息，控制所述支架上的所述射频插头移动至待测的射频天线端口的上方，并控制所述射频插头插入所述待测的射频天线端口；其中，所述控制信息包括所述待测的射频单元包括的各个射频天线端口相对于所述待测的射频单元的坐标值。

6.如权利要去5所述的测试系统，其特征在于，所述控制器还用于：

控制所述射频插头拨出已测试的射频天线端口，并移动至其他待测的射频天线端口的上方。

7.如权利要求6所述的测试系统，其特征在于，还包括：

信号源，与所述射频插头连接，用于向与所述射频插头连接的所述射频天线端口提供所述上行射频信号；其中，所述上行射频信号用于检测所述射频天线端口的上行信号射频指标；

其中，所述待测的射频单元通过所述射频天线端口上接收所述上行射频信号，对所述上行射频信号进行处理，获得基带信号，并将所述基带信号传输给其他设备。

8.如权利要求7所述的测试系统，其特征在于，还包括：

频谱分析仪，与所述射频插头连接，用于接收与所述射频插头连接的射频天线端口发送的下行射频信号，并对接收的下行射频信号进行分析；其中，所述下行射频信号用于检测所述射频天线端口的下行信号射频指标；

其中，所述待测的射频单元将基带信号进行处理，获得所述下行射频信号，并将所述下行射频信号发送给所述射频天线端口。

9.如权利要求8所述的测试系统，其特征在于，所述控制器分别与所述信号源及所述频谱分析仪连接，还用于：

控制所述信号源开启，生成上行射频信号；或者，

控制所述频谱分析仪的开启，对接收的下行射频信号进行下行射频指标测试。

10.如权利要求9所述的测试系统，其特征在于，所述频谱分析仪进一步用于：

测试接收的所述下行射频信号的邻信道泄漏功率比ACLR和误差向量幅度EVM。