CN109526004A - 一种窄带物联网序列测试方法及装置 - Google Patents
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Abstract
本发明实施例公开了一种窄带物联网序列测试方法及装置，方法包括：将窄带物联网各参数的发射信号的测试用例进行合并，得到至少一个测试序列；根据至少一个测试序列生成待测设备的待测序列参数和测试仪的配置序列参数；控制测试仪根据配置序列参数向所述待测设备发射预设波形信号，以使待测设备接收到预设波形信号后，根据待测序列参数依次执行所述至少一个测试序列进行测试。通过将窄带物联网的若干个测试用例进行合并生成测试序列，减少了通信次数，较大地提升窄带物联网的检定测试速度，提高生产效率；同时通过生成待测设备的待测序列参数和测试仪的配置序列参数，能够定量地完成窄带物联网指定数据量的数据采集和分析，减少了不确定性。
Description
技术领域
本发明实施例涉及通信技术领域，具体涉及一种窄带物联网序列测试方法及装置。
背景技术
物联网(Internet of Things，IOT)致力于万物互联，窄带物联网(Narrow BandInternet of Things,NB-IoT)应用的海量连接意味着海量模块的生产需求，必然需要减少单位模块的生产时间，以提高生产效率。NB-IOT更低的模块成本，意味着生产成本必须和模块成本匹配，相应的需要减少单位模块的生产成本。
基于蜂窝的NB-IoT成为万物互联网络的一个重要分支，NB-IoT构建于蜂窝网络，只消耗大约180KHz的带宽，可直接部署于GSM网络、UMTS网络或LTE网络，以降低部署成本、实现平滑升级。NB-IOT聚焦于低功耗广覆盖(LPWA)物联网市场，是一种可在全球范围内广泛应用的新兴技术。NB-IoT具备四大特点：一是广覆盖；二是具备支撑海量连接的能力，NB-IoT一个扇区能够支持10万个连接，支持低延时敏感度、超低的设备成本、低设备功耗和优化的网络架构；三是更低功耗，NB-IoT终端模块的待机时间可长达10年；四是更低的模块成本，企业预期的单个接连模块不超过5美元。
海量的连接意味着海量模块的生产需求。更低的模块成本，意味着生产成本必须和模块成本匹配。作为模块生产过程中的测试环节一直是个瓶颈，为了保证广覆盖、低功耗的特性达成，完成测试规范3GPP 36.521标定的RF一致性检测指标相关的入网测试认证，检定环节必不可少。目前的检定环节一般有两种方案：
方案一、信令综测
这种模式使用常规信令过程来对NB-IoT模块进行控制。NB-IoT模块工作在online模式，对真实的信令进行响应，工作在3GPP定义的测试模式(RMC)下。测试条件：PS测试必须需要测试SIM。由于在信令测试中需要SS提供小区完成系统广播、接入建链、信令切换的功能，此时测试仪器称之为Call-Box，即一个提供建Call能力的盒子。
参见图1，信令综测的一般流程为：
1)配置Call-Box，形成3GPP规定的标准Cell；
2)通过PC将DUT(Device Under Test，待测设备)设为Online模式或者DUT开机自动进入Online模式；
3)通过PC控制DUT定向搜索网络或者DUT自动搜索网络完成随机接入直到注册成功；
4)控制Call-Box呼叫DUT直到建立连接；
5)控制Call-Box发送信令调整DUT进入指定的测试环境(ARFCN)；
6)控制Call-Box发送功控消息调整DUT进入指定的测试环境(Power)；
7)控制Call-Box发送信令或系统消息调整DUT进入指定的NPUSCH(NarrowbandPhysical Uplink Shared Channel，窄带物理上行共享信道)配置(subcarrier spacing，format,resource units,subcarriers,repetitions)；
8)让仪表进行测量，并读取测量值；
9)重复步骤6)到8)，完成所有项目的测试；
10)重复步骤5)到9)，完成所有项目的测试；
11)将测量结果(Pass/Fail)写入无线设备。
方案二、非信令综测
这种模式使用测试模式的API命令来对NB-IoT模块进行控制。NB-IoT模块工作在专门开发的测试模式，响应API命令执行测试模式中的Lay1过程。此时测试仪器的作用是信号源+信号分析仪。
参见图2，非信令综测的一般流程为：
1)配置仪表(Call-Box/SG)，形成特定的测试Generator Source(3GPP/Special)；
2)通过PC将DUT设为Test模式；
3)通过PC控制DUT根据配置的Layer参数定向搜索网络，直到Call上或同步上，一般是Layer1过程；
4)控制仪表(Call-Box/SG)进行下行Frequency的Handover。PC控制DUT进入指定的测试ARFCN，仪表和DUT之间存在Layer 1control，确保同步保持；
5)PC控制DUT按照指定的Power、NPUSCH配置(subcarrier spacing，format,resource units,subcarriers,repetitions)发射NB-IoT的waveform；
6)控制仪表(Call-Box/SA)进行参数配置，让仪表进行测量，并读取测量值；DUT进行DL的测试(Sensibility/RSSI(received signal strength indication，接收信号强度指示))；
7)重复步骤5)到6)，完成所有项目的测试；
8)重复步骤4)到7)，完成所有项目的测试；
9)将测量结果(Pass/Fail)写入无线设备。
检定测试的目标是获得3GPP 36.521标定的在各种测试环境下的测试指标，来判定是否满足检定要求。但是，现有技术在建立测试环境的过程中浪费了大量时间，而且该时间不确定。
信令综测方案的问题：
1)建立测试环境依赖于随机接入、信令交互等过程，是测试仪表(系统模拟器)和DUT的双向交互过程，在极端情况下还有可能出现重传，导致时间不稳定。而且出现测试异常时，如掉话，还需要重新建立通话。而这个环节并不是射频一致性测试关注的重点，通常已在之前的协议一致性部分验证过。
2)在由信令交互和系统消息逐一完成测试环境的建立前提下，意味着所有的测试Case只能在特定的环境下一个一个执行，执行完一个case后必须更换测试环境才能进行下一个case；
3)在每个测试case中的信号采集和处理是对连续信号进行的，在信号不稳定的情况下会引入不确定性；
4)DUT在每个case中的发射信号的生成和测试仪表(系统模拟器)的小区内容存在关联性，导致在不同的测试仪表下生成的发射信号有可能不一致。
非信令综测方案建立测试环境是由控制端(如上位机PC)通过测试模式的指令进行的，是控制端和DUT之间的双向交互，但属于直接读写，不走复杂的控制过程。相比较于信令测试，已经大大节省了交互时间。但依然存在如下的问题：
1)由于测试环境依然是逐一建立的，意味着所有的测试Case只能在特定的环境下一个一个执行；
2)在每个测试case中的信号采集和处理是对连续信号进行的，在信号不稳定的情况下会引入不确定性。
发明内容
由于现有方法存在上述问题，本发明实施例提出一种窄带物联网序列测试方法及装置。
第一方面，本发明实施例提出一种窄带物联网序列测试方法，包括：
将窄带物联网各参数的发射信号的测试用例进行合并，得到至少一个测试序列；
根据所述至少一个测试序列生成待测设备的待测序列参数和测试仪的配置序列参数；
控制所述测试仪根据所述配置序列参数向所述待测设备发射预设波形信号，以使所述待测设备接收到所述预设波形信号后，根据所述待测序列参数依次执行所述至少一个测试序列进行测试。
可选地，所述方法还包括：
待所述测试仪接收到所述待测设备进行测试后的发射信号，控制所述测试仪根据所述配置序列参数将待分析数据进行存储和处理。
可选地，所述控制所述测试仪根据所述配置序列参数向所述待测设备发射预设波形信号，以使所述待测设备接收到所述预设波形信号后，根据所述待测序列参数依次执行所述至少一个测试序列进行测试，具体包括：
将每个测试序列划分为若干个分段，控制所述测试仪根据所述配置序列参数向所述待测设备发射预设波形信号，以使所述待测设备接收到所述预设波形信号后，根据所述待测序列参数依次执行所述至少一个测试序列的各个分段进行测试；
其中，每个分段均进行独立的发射测量。
可选地，所述待测设备对各个分段进行测试的触发模式包括单次触发模式和分段触发模式；
所述单次触发模式仅在第一个分段进行触发，用于UE上行信号定时精确的场景；
所述分段触发模式在每个分段进行触发，用于UE上行信号定时不稳定的场景。
第二方面，本发明实施例还提出一种窄带物联网序列测试装置，包括：
测试用例合并模块，用于将窄带物联网各参数的发射信号的测试用例进行合并，得到至少一个测试序列；
序列参数生成模块，用于根据所述至少一个测试序列生成待测设备的待测序列参数和测试仪的配置序列参数；
序列测试模块，用于控制所述测试仪根据所述配置序列参数向所述待测设备发射预设波形信号，以使所述待测设备接收到所述预设波形信号后，根据所述待测序列参数依次执行所述至少一个测试序列进行测试。
可选地，所述装置还包括：
数据处理模块，用于待所述测试仪接收到所述待测设备进行测试后的发射信号，控制所述测试仪根据所述配置序列参数将待分析数据进行存储和处理。
可选地，所述序列测试模块具体用于将每个测试序列划分为若干个分段，控制所述测试仪根据所述配置序列参数向所述待测设备发射预设波形信号，以使所述待测设备接收到所述预设波形信号后，根据所述待测序列参数依次执行所述至少一个测试序列的各个分段进行测试；
其中，每个分段均进行独立的发射测量。
可选地，所述待测设备对各个分段进行测试的触发模式包括单次触发模式和分段触发模式；
所述单次触发模式仅在第一个分段进行触发，用于UE上行信号定时精确的场景；
所述分段触发模式在每个分段进行触发，用于UE上行信号定时不稳定的场景。
第三方面，本发明实施例还提出一种电子设备，包括：
至少一个处理器；以及
与所述处理器通信连接的至少一个存储器，其中：
所述存储器存储有可被所述处理器执行的程序指令，所述处理器调用所述程序指令能够执行上述方法。
第四方面，本发明实施例还提出一种非暂态计算机可读存储介质，所述非暂态计算机可读存储介质存储计算机程序，所述计算机程序使所述计算机执行上述方法。
由上述技术方案可知，本发明实施例通过将窄带物联网的若干个测试用例进行合并生成测试序列，减少了通信次数，较大地提升窄带物联网的检定测试速度，提高生产效率；同时通过生成待测设备的待测序列参数和测试仪的配置序列参数，能够定量地完成窄带物联网指定数据量的数据采集和分析，减少了不确定性。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些图获得其他的附图。
图1为现有技术提供的一种窄带物联网信令综测的流程示意图；
图2为现有技术提供的一种窄带物联网非信令综测的流程示意图；
图3为本发明一实施例提供的一种窄带物联网序列测试方法的流程示意图；
图4为本发明一实施例提供的NB-IoT包含2个segment的序列示意图；
图5为本发明另一实施例提供的一种窄带物联网序列测试方法的流程示意图；
图6为本发明一实施例提供的一种窄带物联网序列测试方法的流程归纳示意图；
图7为本发明又一实施例提供的一种窄带物联网序列测试方法的流程示意图；
图8为本发明一实施例提供的一种窄带物联网序列测试装置的结构示意图；
图9为本发明一实施例提供的电子设备的逻辑框图。
具体实施方式
下面结合附图，对本发明的具体实施方式作进一步描述。以下实施例仅用于更加清楚地说明本发明的技术方案，而不能以此来限制本发明的保护范围。
图3示出了本实施例提供的一种窄带物联网序列测试方法的流程示意图，包括：
S301、将窄带物联网各参数的发射信号的测试用例进行合并，得到至少一个测试序列。
举例来说，可以将10个测试用例合并为1个测试序列，也可以将10个测试用例合并为3个测试用例。
S302、根据所述至少一个测试序列生成待测设备的待测序列参数和测试仪的配置序列参数。
具体地，为了使合并得到的测试序列能够进行测试，需要适应性生成待测设备的待测序列参数和测试仪的配置序列参数。
待测设备为需要进行测试的设备，测试仪为用来进行测试的设备。PC终端将窄带物联网的若干个测试用例以及窄带物联网各参数的发射信号进行合并，得到至少一个测试序列；并根据所述至少一个测试序列生成待测设备的待测序列参数和测试仪的配置序列参数。
S303、控制所述测试仪根据所述配置序列参数向所述待测设备发射预设波形信号，以使所述待测设备接收到所述预设波形信号后，根据所述待测序列参数依次执行所述至少一个测试序列进行测试。
本实施例将NB-IoT模块射频一致性测试环节的若干个Case的逐一测试过程改进为一个合并的序列进行一次测试，降低单次Case的测试不确定度，进行一次定量的数据采集和储存，后续进行数据处理来得到测试结果。该方法可以有效的提升NB-IoT模块的生产测试速度，能减少NB-IoT单位模块的成产时间，降低生产成本。
本实施例通过将窄带物联网的若干个测试用例进行合并生成测试序列，减少了通信次数，较大地提升窄带物联网的检定测试速度，提高生产效率；同时通过生成待测设备的待测序列参数和测试仪的配置序列参数，能够定量地完成窄带物联网指定数据量的数据采集和分析，减少了不确定性。
进一步地，在上述方法实施例的基础上，S303具体包括：
将每个测试序列划分为若干个分段，控制所述测试仪根据所述配置序列参数向所述待测设备发射预设波形信号，以使所述待测设备接收到所述预设波形信号后，根据所述待测序列参数依次执行所述至少一个测试序列的各个分段进行测试。
其中，每个分段均进行独立的发射测量。
所述待测设备对各个分段进行测试的触发模式包括单次触发模式和分段触发模式。
所述单次触发模式仅在第一个分段进行触发，用于UE上行信号定时精确的场景。
所述分段触发模式在每个分段进行触发，用于UE上行信号定时不稳定的场景。
具体来说，一个测试序列中包含若干个segment(分段)，每个segment由若干个NPUSCH slot组成。单个segment中的信号参数是不变的，相应的其对应的分析仪的参数是固定的。在每个segment中，进行一次独立的NPUSCH发射测量。
第一个segment中，NPUSCH发射信号必须在第一个slot打开。每个segment中进行测试时，可以选定部分的slot进行测试，一般的表示方法为offset(从segment头部开始偏移offset个slot开始测试)和statistic count(统计几个slot)。
举例来说，如图4所示为包含2个segment(分段)的List(序列)：前后两个segment的配置可以不同，segment的尾部slot用于切换，所以这些切换子帧不用于测量(即使测量，其结果也是不可靠的，仪表会将其抛弃)，两个分段均采用Format 1(形式1)，其中分段1包括1个单载波，1个射频单元，1个重复以及NPUSCH 16slot(窄带物理上行共享信道16个时隙)；而分段2包括12个单载波，1个射频单元，2个重复以及窄带物理上行共享信道4个时隙。
为适应不同的测试场景，需要实现两种trigger mode(触发模式),一种称之为“once”(单词触发),另二种称之为“segment”(分段触发)。
“once”：在list中第一个segment的头上trigger，其他segment的trigger标志被忽略。主要用于UE上行信号定时精确的场景。
“segment”：list中的每一个segment都可能trigger,根据segment的trigger标志进行trigger。segment的retrigger标志决定是否要等待trigger触发才启动测量，主要用于上行信号定时不稳定的场景。
进一步地，在上述方法实施例的基础上，所述方法还包括：
S304、待所述测试仪接收到所述待测设备进行测试后的发射信号，控制所述测试仪根据所述配置序列参数将待分析数据进行存储和处理。
具体的，图5示出了本实施例提供的一种窄带物联网序列测试方法的流程示意图，包括如下步骤：
A1、PC测试软件读取所有测试Case的参数，将其串联为1个或多个序列；
A2、通过PC将DUT设为Test模式；
A3、通过PC控制DUT配置1个序列参数，包括Tx和Rx；
A4、控制仪表配置序列参数，以序列的第一个DL Freq发射指定Level的waveform。同时配置仪表的接收机测试的Trig参数，可以选用IF Power，等待DUT的发射信号；
A5、DUT检测到仪表发射的waveform后，进行Layer1同步后，可以按照配置好的序列自动执行；
A6、仪表收到DUT的发射信号后，按照配置好的序列自动执行，把待分析的数据存储下来进行数据处理；
A7、从DUT侧获取接收机测试结果；
A8、从仪表侧获取发射机测试结果；
A9、存在多个序列时，重复步骤A2到A8，逐个执行不同的序列；
A10、将测量结果(Pass/Fail)写入无线设备；
该测试流程可以归纳为如图6所示的流程示意图，即：读取配置参数→配置参数到DUT/仪表→执行序列→获取测试结果。
和之前的NS(non-signaling，非信令)比较，本实施例提供的窄带物联网序列测试方法有以下特点：序列的长度是有限的，确定的。每个segment是定长的，如果仪表的数据处理能力受限，可以考虑先存储，后续再进行分析的方式；每个序列的执行，仅配置1次DUT和仪表，大大减少了交互次数；每个测试case对应于序列中的1个segment，测试case的更换采用定时更换的方式；必要时，可以增加一些专门用于状态转换的segment，确保测试case运行在一个确定状态。
下面结合图7，给出一个NB-IoT测试仪表实现的参考方案NB-loT NSFT List ModeMeasurement，即窄带物联网非信令测试列表模式的测量。
根据仪表的存储能力，确定下仪表能处理的单个序列的slot上限。测试仪中的核心子模块分工包括MCC(Motor Control Center，主控中心)，DSP(Digital SignalProcessing，数字信号处理)，FPGA(Field－Programmable Gate Array，现场可编程门阵列)3个部分。3个部分的职责分工如下：
一、MCC子系统：
在进入相应的测试选件时：MCC向DSP发送模式进入命令。
在启动List测试时：
a)进入配置RF的流程，从用户配置中组合频率、增益信息。配置OM和中频FPGA，配置相应的参数：Trig参数，UL的频率、增益列表。UL的Frequency和Ref Level切换位置，一般放到segment的尾部提前1～2个slot，相应的RF配置的dwell time可以由NPUSCH Format和slot个数计算得到。
b)将测试本身的参数，NPUSCH参数、测试项选择、统计次数通过配置List测试的消息发给PL，并通过启动List测试的消息通知PL进行测试使能。PL接收到参数之后，进行相关的参数计算。
c)获取PL上报的数据结果，并进行相应的处理和转换。
d)在UI上显示最后一个segment的测试结果。
二、DSP子系统：
接收主控下发的小区公共参数以及segment list的参数。
根据主控下载的segment list参数，计算出trigger on时间点，trigger门限下载给基带FPGA.计算FPGA对子帧的存储控制信息，包括doorbell总数，子帧存储标志，trigger标志，调制类测量标志、频谱类测量标志。
配置DSP_FPGA数据传输的SRIO寄存器。
计算所有segment的使用到的物理层参数，以及第一个segment的公共参数。
计算每一个segment的有效上行子帧个数,以及起始有效上行子帧的doorbell_start_index以及其DDR存储地址。
计算每一个segment的测量项，并根据测量项需求计算参数。给FPGA子系统配置参数。
以上4步完成之后，向MCC上报响应。
接收FPGA发送过来的doorbell，判决是否数据全部到位。
根据从MCC处获取的参数配置及测试项选择进入相应的测试项信号处理算法执行过程，每个segment顺序计算。
在收集完最后一个测量segment的所有测量结果时，向tde_proc进程发送测量完成消息，并将测量结果填入上报主控的buffer，上报给主控。
三、FPGA子系统：
在完成基本链路的前提下实现无线通信非信令测试功能。在进行NB-IoT测试时，完成对DSP计算所需数据存储。启动测试后，中频FPGA接收MCC以及DSP的控制命令，按照要求完成数据的存储，写入DDR中。同时DSP会启动数据读取的进程，FPGA接收到DSP要数的命令后，确认DDR中是否已经完成数据的存储，如果完成就将相应的数据读出，通过基带FPGA上报给DSP。
为了提升测试速度，尽可能对仪表内部的消息交互做精简处理。所需要的参数参照序测试的核心思想，减少配置次数，一次配置尽可能多的参数。可以考虑以segment为单位设计接口，也可以考虑以参数分类设计接口。
如下的方案为以参数分类设计接口。把所有的segment的相同参数组合后放入到一个消息接口中。
消息接口分为典型的4类：进入相应的Tech、配置测试参数、启动测试和终止测试。各接口进行交互的流程示意图如图7所示，与图5对应的实施例的交互过程类似，此处不再赘述。
本实施例在NB-IoT的生产检定过程中应用序列测试技术，合并NB-IoT的若干个测试Case为一个测试序列，可以将NB-IoT的不同参数的发射信号，例如expected power、frequency、NPUSCH配置(subcarrier spacing，format,resource units,subcarriers,repetitions)合并到一个测试序列中。NB-IoT测试序列中，每个segment为一个基本单元，segment内部的信号参数是不变的，对应于之前的不同的测试case。NB-IoT的测试序列中，可以将Tx部分和Rx部分合并到一个序列中，在序列中的不同segment中进行测试。在NB-IoT的生产检定过程中，由采集连续发射信号中的任意一段有用信号进行分析，调整为采集一段定长的发射信号的指定部分进行分析，减少数据采集的不确定性。能够定量的完成NB-IoT指定数据量的数据采集和分析，减少了不确定性；能够合并NB-IoT的若干个Tx/Rx测试Case为一个测试序列，减少了通信次数；能够较大的提升NB-IoT的检定测试速度，提高生产效率。
图8示出了本实施例提供的一种窄带物联网序列测试装置的结构示意图，所述装置包括：测试用例合并模块801、序列参数生成模块802和序列测试模块803，其中：
所述测试用例合并模块801用于将窄带物联网各参数的发射信号的测试用例进行合并，得到至少一个测试序列；
所述序列参数生成模块802用于根据所述至少一个测试序列生成待测设备的待测序列参数和测试仪的配置序列参数；
所述序列测试模块803用于控制所述测试仪根据所述配置序列参数向所述待测设备发射预设波形信号，以使所述待测设备接收到所述预设波形信号后，根据所述待测序列参数依次执行所述至少一个测试序列进行测试。
具体地，所述测试用例合并模块801将窄带物联网各参数的发射信号的测试用例进行合并，得到至少一个测试序列；所述序列参数生成模块802根据所述至少一个测试序列生成待测设备的待测序列参数和测试仪的配置序列参数；所述序列测试模块803控制所述测试仪根据所述配置序列参数向所述待测设备发射预设波形信号，以使所述待测设备接收到所述预设波形信号后，根据所述待测序列参数依次执行所述至少一个测试序列进行测试。
本实施例通过将窄带物联网的若干个测试用例进行合并生成测试序列，减少了通信次数，较大地提升窄带物联网的检定测试速度，提高生产效率；同时通过生成待测设备的待测序列参数和测试仪的配置序列参数，能够定量地完成窄带物联网指定数据量的数据采集和分析，减少了不确定性。
进一步地，在上述装置实施例的基础上，所述装置还包括：
数据处理模块，用于待所述测试仪接收到所述待测设备进行测试后的发射信号，控制所述测试仪根据所述配置序列参数将待分析数据进行存储和处理。
进一步地，在上述装置实施例的基础上，所述序列测试模块803具体用于将每个测试序列划分为若干个分段，控制所述测试仪根据所述配置序列参数向所述待测设备发射预设波形信号，以使所述待测设备接收到所述预设波形信号后，根据所述待测序列参数依次执行所述至少一个测试序列的各个分段进行测试；
其中，每个分段均进行独立的发射测量。
进一步地，在上述装置实施例的基础上，所述待测设备对各个分段进行测试的触发模式包括单次触发模式和分段触发模式；
所述单次触发模式仅在第一个分段进行触发，用于UE上行信号定时精确的场景；
所述分段触发模式在每个分段进行触发，用于UE上行信号定时不稳定的场景。
本实施例所述的窄带物联网序列测试装置可以用于执行上述方法实施例，其原理和技术效果类似，此处不再赘述。
参照图9，所述电子设备，包括：处理器(processor)901、存储器(memory)902和总线903；
其中，
所述处理器901和存储器902通过所述总线903完成相互间的通信；
所述处理器901用于调用所述存储器902中的程序指令，以执行上述各方法实施例所提供的方法。
本实施例公开一种计算机程序产品，所述计算机程序产品包括存储在非暂态计算机可读存储介质上的计算机程序，所述计算机程序包括程序指令，当所述程序指令被计算机执行时，计算机能够执行上述各方法实施例所提供的方法。
本实施例提供一种非暂态计算机可读存储介质，所述非暂态计算机可读存储介质存储计算机指令，所述计算机指令使所述计算机执行上述各方法实施例所提供的方法。
以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，其中所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。本领域普通技术人员在不付出创造性的劳动的情况下，即可以理解并实施。
通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到各实施方式可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件。基于这样的理解，上述技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品可以存储在计算机可读存储介质中，如ROM/RAM、磁碟、光盘等，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行各个实施例或者实施例的某些部分所述的方法。
应说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。
Claims (10)
1.一种窄带物联网序列测试方法，其特征在于，包括：
将窄带物联网各参数的发射信号的测试用例进行合并，得到至少一个测试序列；
根据所述至少一个测试序列生成待测设备的待测序列参数和测试仪的配置序列参数；
控制所述测试仪根据所述配置序列参数向所述待测设备发射预设波形信号，以使所述待测设备接收到所述预设波形信号后，根据所述待测序列参数依次执行所述至少一个测试序列进行测试。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
待所述测试仪接收到所述待测设备进行测试后的发射信号，控制所述测试仪根据所述配置序列参数将待分析数据进行存储和处理。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述控制所述测试仪根据所述配置序列参数向所述待测设备发射预设波形信号，以使所述待测设备接收到所述预设波形信号后，根据所述待测序列参数依次执行所述至少一个测试序列进行测试，具体包括：
将每个测试序列划分为若干个分段，控制所述测试仪根据所述配置序列参数向所述待测设备发射预设波形信号，以使所述待测设备接收到所述预设波形信号后，根据所述待测序列参数依次执行所述至少一个测试序列的各个分段进行测试；
其中，每个分段均进行独立的发射测量。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述待测设备对各个分段进行测试的触发模式包括单次触发模式和分段触发模式；
所述单次触发模式仅在第一个分段进行触发，用于UE上行信号定时精确的场景；
所述分段触发模式在每个分段进行触发，用于UE上行信号定时不稳定的场景。
5.一种窄带物联网序列测试装置，其特征在于，包括：
测试用例合并模块，用于将窄带物联网各参数的发射信号的测试用例进行合并，得到至少一个测试序列；
序列参数生成模块，用于根据所述至少一个测试序列生成待测设备的待测序列参数和测试仪的配置序列参数；
序列测试模块，用于控制所述测试仪根据所述配置序列参数向所述待测设备发射预设波形信号，以使所述待测设备接收到所述预设波形信号后，根据所述待测序列参数依次执行所述至少一个测试序列进行测试。
6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：
数据处理模块，用于待所述测试仪接收到所述待测设备进行测试后的发射信号，控制所述测试仪根据所述配置序列参数将待分析数据进行存储和处理。
7.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述序列测试模块具体用于将每个测试序列划分为若干个分段，控制所述测试仪根据所述配置序列参数向所述待测设备发射预设波形信号，以使所述待测设备接收到所述预设波形信号后，根据所述待测序列参数依次执行所述至少一个测试序列的各个分段进行测试；
其中，每个分段均进行独立的发射测量。
8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述待测设备对各个分段进行测试的触发模式包括单次触发模式和分段触发模式；
所述单次触发模式仅在第一个分段进行触发，用于UE上行信号定时精确的场景；
所述分段触发模式在每个分段进行触发，用于UE上行信号定时不稳定的场景。
9.一种电子设备，其特征在于，包括：
至少一个处理器；以及
与所述处理器通信连接的至少一个存储器，其中：
所述存储器存储有可被所述处理器执行的程序指令，所述处理器调用所述程序指令能够执行如权利要求1至4任一所述的方法。
10.一种非暂态计算机可读存储介质，其特征在于，所述非暂态计算机可读存储介质存储计算机程序，所述计算机程序使所述计算机执行如权利要求1至4任一所述的方法。
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