CN109521282A - 基于微波光学调制器的微波单量子探测器 - Google Patents
基于微波光学调制器的微波单量子探测器 Download PDFInfo
- Publication number
- CN109521282A CN109521282A CN201811368721.2A CN201811368721A CN109521282A CN 109521282 A CN109521282 A CN 109521282A CN 201811368721 A CN201811368721 A CN 201811368721A CN 109521282 A CN109521282 A CN 109521282A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- microwave
- signal
- photon
- detector
- laser
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 36
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 22
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract description 11
- 230000011664 signaling Effects 0.000 claims abstract description 10
- 230000003321 amplification Effects 0.000 claims abstract description 9
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 claims abstract description 9
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 18
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims description 6
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 5
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 claims description 4
- 238000006731 degradation reaction Methods 0.000 claims description 4
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 abstract description 16
- 238000001914 filtration Methods 0.000 abstract description 8
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 abstract description 4
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 abstract description 3
- 238000005057 refrigeration Methods 0.000 abstract description 3
- 230000004044 response Effects 0.000 description 5
- 239000002086 nanomaterial Substances 0.000 description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 230000002860 competitive effect Effects 0.000 description 2
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 2
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 2
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000010790 dilution Methods 0.000 description 1
- 239000012895 dilution Substances 0.000 description 1
- 230000002708 enhancing effect Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 230000035800 maturation Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000007781 pre-processing Methods 0.000 description 1
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R29/00—Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
- G01R29/08—Measuring electromagnetic field characteristics
- G01R29/0864—Measuring electromagnetic field characteristics characterised by constructional or functional features
- G01R29/0878—Sensors; antennas; probes; detectors
- G01R29/0885—Sensors; antennas; probes; detectors using optical probes, e.g. electro-optical, luminescent, glow discharge, or optical interferometers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R29/00—Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
- G01R29/08—Measuring electromagnetic field characteristics
- G01R29/0864—Measuring electromagnetic field characteristics characterised by constructional or functional features
- G01R29/0871—Complete apparatus or systems; circuits, e.g. receivers or amplifiers
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optical Modulation, Optical Deflection, Nonlinear Optics, Optical Demodulation, Optical Logic Elements (AREA)
Abstract
本发明提出一种基于微波光学调制器的微波单量子探测器，包括微波信号输入装置、低噪声放大器、微波滤波器、激光器、微波光子转换器、光学滤波器、光子可控衰减器和单光子探测器。本发明基于微波光学调制器，将微波信号上转换为光学信号，实现微波单量子探测。本发明基于微波光学调制器的微波单量子探测器，在微波信号输入装置处输入微波信号，微波信号经过放大滤波、电光转换，光子滤波，进入光子探测器，得到单光子信号，用于后端的信号处理，分析输入微波信号的电磁特性。本发明具有探测效率高、计数率高、暗计数低的特点，所有器件工作在室温下，无需专用的制冷设备，无需使用加工工艺难度大的微纳机构，实现方便。
Description
技术领域
本发明属于微波量子精密测量及量子雷达领域，具体为一种基于微波光学调制器的微波单量子探测器。
背景技术
微波单量子探测是量子精密测量领域急需的关键技术，国际上已有可实现技术，已有技术包括直接微波单量子探测和间接微波单量子探测。
直接微波量子探测采用极低温条件下，利用约瑟夫森结对单个微波量子的响应，实现微波单量子探测。该探测器工作温度是10mK的极低温，约瑟夫森结采用微米结构加工工艺实现。该方法可以直接探测微波单量子，是微波量子雷达技术具有竞争力的实现方式之一。
微波单量子探测器的间接实现方法，是在10mK的极低温条件下，采用微纳结构机械谐振腔，利用微波谐振和光学谐振机理，对微波单量子的动量产生耦合响应，将微波量子转换成光学单光子，再通过光学单光子探测器探测，实现微波单量子探测器。该方法是微波量子雷达技术另一种具有竞争力的实现方式。
现有技术第一种实现方法，即利用约瑟夫森结实现的直接微波单量子探测技术，在10mK极低温条件下，利用约瑟夫森结对微波单量子的响应，实现微波单量子探测。该探测器工作在10mK极低温的工作温度，极低温工作环境的构建需要使用稀释制冷技术的专用设备，技术复杂，造价昂贵。同时约瑟夫森结制造工艺复杂，实现难度大。
现有技术第二种实现方法，即通过微纳结构将微波单量子与光学单光子耦合实现的微波单量子间接探测方法，最大不足之处同样在于放置微波器件的10mK极低温环境，技术复杂，造价昂贵。同时机械腔转换机构为微纳结构，加工过程复杂，实现工艺难度大。
发明内容
本发明针对微波量子雷达信号特性和微波量子雷达发展需求，提出一种新的在常温环境下可以工作的微波单量子探测器实现方法，即基于微波光学调制器实现的微波单量子探测器，利用目前已有常规微波和光学器件的集成，实现微波单量子的探测，满足目前微波量子雷达的需求。
本发明采用微波信号放大滤波预处理技术、微波光学上转换技术、光学滤波技术和光学单光子探测技术相结合的方法，实现基于微波光学调制器的微波单量子探测器。
本发明的技术方案为：
所述一种基于微波光学调制器的微波单量子探测器，其特征在于：包括微波信号输入装置、低噪声放大器、微波滤波器、激光器、微波光子转换器、光学滤波器、光子可控衰减器和单光子探测器；
通过微波信号输入装置输入的微波信号经过低噪声放大器后输入微波滤波器，微波滤波器对放大的微波信号进行滤波，滤掉信号带外噪声和杂散；
微波滤波器滤波后的微波信号以及激光器产生的激光信号输入微波光子转换器；
微波光子转换器将微波信号调制到光学信号中，调制后的激光信号包括激光器输出的主载波和调制副载波，其中微波信号频谱搬移到激光信号的第一副载波上；
光学滤波器滤除掉微波光子转换器输出光学信号中的主载波信号和高次副载波信号，只留下第一副载波信号；
光学滤波器输出信号的信号强度经光子可控衰减器衰减到单光子探测器可以工作的强度；
单光子探测器对由微波量子转换来的光学光子进行单光子接收并进行记时。
进一步的优选方案，所述一种基于微波光学调制器的微波单量子探测器，其特征在于：光子可控衰减器的输出信号经过光子分束器等分为若干路，每一路输出信号通过光子可变延时器进行延时调节，消除各路之间的时间延迟误差后，分别输入各路的单光子探测器中，每一路单光子探测器对输入来的光学光子进行单光子探测并进行记时，实现多通道微波单量子探测并记时。
进一步的优选方案，所述一种基于微波光学调制器的微波单量子探测器，其特征在于：光子可变延时器通过噪声信号符合计数聚束峰方法调节延时量。
进一步的优选方案，所述一种基于微波光学调制器的微波单量子探测器，其特征在于：所述低噪声放大器将后继信号转换和处理过程引入的信噪比恶化控制在小于0.1dB范围内。
进一步的优选方案，所述一种基于微波光学调制器的微波单量子探测器，其特征在于：所述激光器选取波长1550nm，功率10～60mW，带宽MHz级的激光器。
进一步的优选方案，所述一种基于微波光学调制器的微波单量子探测器，其特征在于：所述光学滤波器为皮米级极窄线宽滤波器。
有益效果
本发明工作在常温条件下，基于微波光学调制器，将微波信号上转换为光学信号，实现微波单量子探测，可用于微波量子增强雷达领域，实现微波量子符合测量和微波量子数态分析等目的。本发明基于微波光学调制器的微波单量子探测器，在微波信号输入装置处输入微波信号，例如频率为10GHz的微波单载波信号，微波信号经过放大滤波、电光转换，光子滤波，进入光子探测器，得到单光子信号，用于后端的信号处理，分析输入微波信号的电磁特性。本发明微波信号可以是单载波信号，也可以是脉冲信号，或者任意形式(包括热噪声)微波信号。
本发明方法简单、实用性好、可以在常温下工作，基于微波光学调制器的微波单量子探测器工作频率为9.5GHz～10.5GHz，探测效率为60％，计数率为10MHz，暗计数为250，与工作在10mK极低温的约瑟夫森结微波单量子探测器和微纳结构微波单量子间接探测器相比，两者性能相当。
本发明的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。
附图说明
本发明的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：
图1：实施例1中基于微波光学调制器的双通道输出式微波单量子探测器的原理框图；
图2：实施例2中基于微波光学调制器的单通道输出式微波单量子探测器的原理框图；
图3：双通道输出式微波单量子探测器得到的微波单量子探测结果图；
图4：单通道输出式微波单量子探测器得到的微波单量子探测结果图。
具体实施方式
下面详细描述本发明的实施例，所述实施例是示例性的，旨在用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。
实施例1：
本实施例为双通道输出式微波单量子探测器，由微波信号输入装置(1)，高性能低噪声放大器(2)，微波滤波器(3)，激光器(6)，微波光子转换器(4)，光学滤波器(5)，光子可控衰减器(7)，光子分束器(8)，光子可变延时器(9)和单光子探测器(10)组成。
微波信号输入装置(1)用于输入量子雷达接收信号、信号源输入信号和/或噪声源输入信号。
高性能低噪声放大器(2)将后继信号转换和处理过程引入的信噪比恶化控制在小于0.1dB范围内。
微波滤波器(3)对放大的微波信号进行滤波，滤掉信号带外噪声和杂散。
微波滤波器(3)滤波后的微波信号以及激光器(6)产生的激光信号输入微波光子转换器(4)，其中激光器选取波长1550nm，功率10～60mW，带宽MHz级。微波光子转换器(4)采用调制频率为10GHz的微波光学调制器，实现将微波信号调制到光学信号中。根据调制信号理论和技术，调制后的激光信号包括激光器输出的主载波和调制副载波，其中微波信号频谱搬移到激光信号的第一副载波上。
光学滤波器(5)为皮米(pm)级极窄线宽滤波器，滤除掉微波光子转换器(4)输出的光学信号中的主载波信号和高次副载波信号，只留下第一副载波信号，该信号频谱特性和微波信号特性(除中心频率不同外)相同。
光子可控衰减器(7)用于衰减光学滤波器(5)输出的第一副载波信号，使信号强度衰减到单光子探测器可以工作的强度。
光子分束器(8)实现信号等分；由于光子分束器两路输出的时间延迟量存在误差，通过光子可变延时器(9)对光子分束器输出的两路信号进行延时调节，通过噪声信号符合计数聚束峰方法调节延时量，消除两路时间延迟误差。
单光子探测器(10)为两路独立的单光子探测器，对输入来的光学光子进行单光子探测并进行记时，实现双通道输出式微波单量子探测并记时。
光学分束器(8)可以是多通道分束器，包括二、三、四、五或者更多通道，通过光子分束器(8)实现信号等分。通过光子可变延时器(9)，对光子分束器(8)输出的每一路信号进行延时，确保输入到多路光子探测器(10)中的光子信号同时接收，实现多通道输出式微波单量子探测并记时。
本发明具体实施例1所实现的双通道输出式微波单量子探测器系统中，微波信号为单载波10GHz微波信号，经过放大滤波，电光转换，光子滤波，光学分束，进入双通道光子探测器，所得到的双通道输出式微波单量子探测结果如图3所示，图中实线为探测器通道1探测到的光子计数特性响应曲线，点画线为探测器通道2探测到的光子计数特性响应曲线，每一个脉冲代表探测器接收到一个光子。
实施例2：
本实施例为单通道输出式微波单量子探测器，由微波信号输入装置(1)，高性能低噪声放大器(2)，微波滤波器(3)，微波光子转换器(4)，激光器(6)，光学滤波器(5)，光子可控衰减器(7)，单光子探测器(10)组成。
微波信号输入装置(1)用于输入量子雷达接收信号、信号源输入信号或者噪声源输入信号.
高性能低噪声放大器(2)将后继信号转换和处理过程引入的信噪比恶化控制在小于0.1dB范围内.
微波滤波器(3)对放大的微波信号进行滤波，滤掉信号带外噪声和杂散；微波滤波器(3)滤波后的微波信号以及激光器(6)产生的激光信号输入微波光子转换器(4)，其中激光器选取波长1550nm，功率10～60mW，带宽MHz级。微波光子转换器(4)采用调制频率为10GHz的微波光学调制器，实现将微波信号调制到光学信号中。根据调制信号理论和技术，调制后的激光信号包括激光器输出的主载波和调制副载波，其中微波信号频谱搬移到激光信号的第一副载波上。
光学滤波器(5)为皮米(pm)级极窄线宽滤波器，滤除掉微波光子转换器(4)输出的光学信号中的主载波信号和高次副载波信号，只留下第一副载波信号，该信号频谱特性和微波信号特性(除中心频率不同外)相同。
光子可控衰减器(7)用于衰减光学滤波器(5)输出的副载波信号，使信号强度衰减到单光子探测器可以工作的强度。
单光子探测器(10)为单路单光子探测器，对由微波量子转换来的光学光子进行单光子接收并进行记时。
本发明具体实施例2所实现的单通道输出式微波单量子探测器系统中，微波信号为单载波10GHz微波信号，经过放大滤波，电光转换，光子滤波，进入单通道光子探测器，所得到的单通道输出式微波单量子探测结果如图4所示，图中每一个脉冲代表探测器接收到一个光子。
本发明提出的基于微波光学调制器的微波单量子探测器，所用元器件技术成熟，性能稳定。所发明的微波单量子探测器系统具有探测效率高、计数率高、暗计数低的特点，所有器件工作在室温下，无需专用的制冷设备，无需使用加工工艺难度大的微纳机构，实现方便。
尽管上面已经示出和描述了本发明的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本发明的限制，本领域的普通技术人员在不脱离本发明的原理和宗旨的情况下在本发明的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。
Claims (6)
1.一种基于微波光学调制器的微波单量子探测器，其特征在于：包括微波信号输入装置、低噪声放大器、微波滤波器、激光器、微波光子转换器、光学滤波器、光子可控衰减器和单光子探测器；
通过微波信号输入装置输入的微波信号经过低噪声放大器后输入微波滤波器，微波滤波器对放大的微波信号进行滤波，滤掉信号带外噪声和杂散；
微波滤波器滤波后的微波信号以及激光器产生的激光信号输入微波光子转换器；
微波光子转换器将微波信号调制到光学信号中，调制后的激光信号包括激光器输出的主载波和调制副载波，其中微波信号频谱搬移到激光信号的第一副载波上；
光学滤波器滤除掉微波光子转换器输出光学信号中的主载波信号和高次副载波信号，只留下第一副载波信号；
光学滤波器输出信号的信号强度经光子可控衰减器衰减到单光子探测器可以工作的强度；
单光子探测器对由微波量子转换来的光学光子进行单光子接收并进行记时。
2.根据权利要求1所述一种基于微波光学调制器的微波单量子探测器，其特征在于：光子可控衰减器的输出信号经过光子分束器等分为若干路，每一路输出信号通过光子可变延时器进行延时调节，消除各路之间的时间延迟误差后，分别输入各路的单光子探测器中，每一路单光子探测器对输入来的光学光子进行单光子探测并进行记时，实现多通道微波单量子探测并记时。
3.根据权利要求2所述一种基于微波光学调制器的微波单量子探测器，其特征在于：光子可变延时器通过噪声信号符合计数聚束峰方法调节延时量。
4.根据权利要求1所述一种基于微波光学调制器的微波单量子探测器，其特征在于：所述低噪声放大器将后继信号转换和处理过程引入的信噪比恶化控制在小于0.1dB范围内。
5.根据权利要求1所述一种基于微波光学调制器的微波单量子探测器，其特征在于：所述激光器选取波长1550nm，功率10～60mW，带宽MHz级的激光器。
6.根据权利要求1所述一种基于微波光学调制器的微波单量子探测器，其特征在于：所述光学滤波器为皮米级极窄线宽滤波器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201811368721.2A CN109521282A (zh) | 2018-11-16 | 2018-11-16 | 基于微波光学调制器的微波单量子探测器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201811368721.2A CN109521282A (zh) | 2018-11-16 | 2018-11-16 | 基于微波光学调制器的微波单量子探测器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN109521282A true CN109521282A (zh) | 2019-03-26 |
Family
ID=65778212
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201811368721.2A Pending CN109521282A (zh) | 2018-11-16 | 2018-11-16 | 基于微波光学调制器的微波单量子探测器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN109521282A (zh) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN110932791A (zh) * | 2019-11-16 | 2020-03-27 | 中国电子科技集团公司第三十九研究所 | 基于极窄带滤波与背越效应的单微波量子放大器 |
| CN111220854A (zh) * | 2019-11-16 | 2020-06-02 | 中国电子科技集团公司第三十九研究所 | 一种基于二阶相干性测量的单微波量子检验装置 |
| CN112786773A (zh) * | 2020-12-30 | 2021-05-11 | 北京无线电计量测试研究所 | 一种减少约瑟夫森结冻结磁通的方法及量子电压生成方法 |
| CN114184849A (zh) * | 2021-12-08 | 2022-03-15 | 北京航空航天大学 | 一种微波光子学接收天线 |
Citations (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102243107A (zh) * | 2011-04-20 | 2011-11-16 | 张强 | 高灵敏度上转换单光子探测系统 |
| CN104459360A (zh) * | 2014-12-18 | 2015-03-25 | 南京航空航天大学 | 基于微波光子混频技术的微波源相位噪声测试方法及装置 |
| CN104767562A (zh) * | 2015-04-02 | 2015-07-08 | 南京航空航天大学 | 一种基于微波光子技术的微波源相位噪声测量装置及方法 |
| CN105721062A (zh) * | 2016-03-01 | 2016-06-29 | 中国电子科技集团公司第五十四研究所 | 一种低杂散宽带的微波光子混频装置 |
| CN105978631A (zh) * | 2016-04-18 | 2016-09-28 | 大连理工大学 | 一种光子微波自干扰信号消除装置与方法 |
| US20170248832A1 (en) * | 2016-02-29 | 2017-08-31 | Ecole Polytechnique Federale De Lausanne (Epfl) | Microwave to Optical Conversion Device and Method for Converting a Microwave Photon to an Optical Photon |
| US20180003753A1 (en) * | 2016-06-30 | 2018-01-04 | International Business Machines Corporation | Read out of quantum states of microwave frequency qubits with optical frequency photons |
| CN108431687A (zh) * | 2015-12-17 | 2018-08-21 | 国际商业机器公司 | 采用机械元件和squid的量子相干微波至光学转换方案 |
| CN209542712U (zh) * | 2018-11-16 | 2019-10-25 | 中国电子科技集团公司第三十九研究所 | 基于微波光学调制器的微波单量子探测器 |
-
2018
- 2018-11-16 CN CN201811368721.2A patent/CN109521282A/zh active Pending
Patent Citations (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102243107A (zh) * | 2011-04-20 | 2011-11-16 | 张强 | 高灵敏度上转换单光子探测系统 |
| CN104459360A (zh) * | 2014-12-18 | 2015-03-25 | 南京航空航天大学 | 基于微波光子混频技术的微波源相位噪声测试方法及装置 |
| CN104767562A (zh) * | 2015-04-02 | 2015-07-08 | 南京航空航天大学 | 一种基于微波光子技术的微波源相位噪声测量装置及方法 |
| CN108431687A (zh) * | 2015-12-17 | 2018-08-21 | 国际商业机器公司 | 采用机械元件和squid的量子相干微波至光学转换方案 |
| US20170248832A1 (en) * | 2016-02-29 | 2017-08-31 | Ecole Polytechnique Federale De Lausanne (Epfl) | Microwave to Optical Conversion Device and Method for Converting a Microwave Photon to an Optical Photon |
| CN105721062A (zh) * | 2016-03-01 | 2016-06-29 | 中国电子科技集团公司第五十四研究所 | 一种低杂散宽带的微波光子混频装置 |
| CN105978631A (zh) * | 2016-04-18 | 2016-09-28 | 大连理工大学 | 一种光子微波自干扰信号消除装置与方法 |
| US20180003753A1 (en) * | 2016-06-30 | 2018-01-04 | International Business Machines Corporation | Read out of quantum states of microwave frequency qubits with optical frequency photons |
| CN209542712U (zh) * | 2018-11-16 | 2019-10-25 | 中国电子科技集团公司第三十九研究所 | 基于微波光学调制器的微波单量子探测器 |
Non-Patent Citations (3)
| Title |
|---|
| 严会玲 等: "基于单微波量子探测器的微波信号量子二阶相干性实验研究", 激光与光电子学进展, vol. 58, no. 10, pages 29 - 332 * |
| 李义民 等: "基于微波光子学的高功率微波测量", 强激光与粒子束, vol. 28, no. 03, pages 148 - 151 * |
| 李星沛;: "浅析微波光子学", 科技风, no. 24, pages 228 * |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN110932791A (zh) * | 2019-11-16 | 2020-03-27 | 中国电子科技集团公司第三十九研究所 | 基于极窄带滤波与背越效应的单微波量子放大器 |
| CN111220854A (zh) * | 2019-11-16 | 2020-06-02 | 中国电子科技集团公司第三十九研究所 | 一种基于二阶相干性测量的单微波量子检验装置 |
| CN111220854B (zh) * | 2019-11-16 | 2022-03-15 | 中国电子科技集团公司第三十九研究所 | 一种基于二阶相干性测量的单微波量子检验装置 |
| CN110932791B (zh) * | 2019-11-16 | 2022-08-09 | 中国电子科技集团公司第三十九研究所 | 基于极窄带滤波与背越效应的单微波量子放大器 |
| CN112786773A (zh) * | 2020-12-30 | 2021-05-11 | 北京无线电计量测试研究所 | 一种减少约瑟夫森结冻结磁通的方法及量子电压生成方法 |
| CN114184849A (zh) * | 2021-12-08 | 2022-03-15 | 北京航空航天大学 | 一种微波光子学接收天线 |
| CN114184849B (zh) * | 2021-12-08 | 2024-07-26 | 北京航空航天大学 | 一种微波光子学接收天线 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN109521282A (zh) | 基于微波光学调制器的微波单量子探测器 | |
| CN108287349B (zh) | 微波光子mimo雷达探测方法及微波光子mimo雷达系统 | |
| de Riedmatten et al. | Quantum interference with photon pairs created in spatially separated sources | |
| CN109298239B (zh) | 面向微波频谱测量的光子欠采样系统及方法 | |
| US20210385064A1 (en) | Method of real-time high-speed quantum random number generation based on chaos amplifying quantum noise | |
| CN111190160A (zh) | 微波光子多波段雷达探测方法及微波光子多波段雷达 | |
| CN106468834A (zh) | 基于双偏振调制器的微波光子移相器 | |
| CN109613335B (zh) | 一种基于循环移频的微波信号频率测量装置及方法 | |
| CN102904646B (zh) | 基于光梳的偏振复用信道化接收机 | |
| CN110221292B (zh) | 一种微波光子多波段雷达成像系统及方法 | |
| CN109375200B (zh) | 基于光子上变频的光载分布式雷达探测方法及装置 | |
| CN209542712U (zh) | 基于微波光学调制器的微波单量子探测器 | |
| CN105319798B (zh) | 采样率按2的任意幂次可重构的光学模数转换装置 | |
| US8861567B2 (en) | Method and apparatus for analyzing the spectrum of radio-frequency signals using a fiber optic recirculation loop | |
| CN104113378A (zh) | 半导体光放大器的可调谐微波信号源的装置与方法 | |
| CN109257105A (zh) | 宽带信号接收方法、装置及电子战接收机 | |
| Hao et al. | Coherent wideband microwave channelizer based on dual optical frequency combs | |
| CN110006541B (zh) | 一种微波量子关联检测装置及方法 | |
| Kasper et al. | An APD/FET optical receiver operating at 8 Gbit/s | |
| CN113055098B (zh) | 一种光通信波段的频域复用宣布式单光子源 | |
| CN112737673B (zh) | 一种噪声下瞬态微弱微波信号频谱光学检测方法及装置 | |
| CN210670099U (zh) | 单片硅基集成芯片及量子密钥分发系统 | |
| GB2466299A (en) | Single photon detection using variable delay component to cancel periodic signal variations | |
| Zheng et al. | Integrated four-channel all-fiber up-conversion single-photon-detector with adjustable efficiency and dark count | |
| CN105353210A (zh) | 一种高灵敏大带宽光子微波频率测量装置及方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination |