CN109446013B - 存储设备测试方法、存储设备测试系统及存储介质 - Google Patents

存储设备测试方法、存储设备测试系统及存储介质 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种存储设备测试方法、存储设备测试系统及存储介质，该方法应用于存储设备测试系统中，存储设备测试系统包括测试设备及与测试设备连接的连接器，连接器用于连接待测试的多个存储设备，存储设备测试方法包括以下步骤：测试设备的测试程序向连接器发送测试信号，以与测试板上的多个存储设备依次连接进行测试；测试设备的过滤驱动程序监控连接器向测试程序反馈的测试异常信号；当过滤驱动程序监控到连接器反馈的测试异常信号时，跳过测试程序的异常设备处理动作，以转入对下一存储设备进行测试。本发明实现了提高多存储设备的测试效率的目的。

Description

存储设备测试方法、存储设备测试系统及存储介质
技术领域
本发明涉及存储设备测试技术领域，尤其涉及一种存储设备测试方法、存储设备测试系统及存储介质。
背景技术
目前U盘及类似设备在工厂贴片或绑线，一般是多个设备连板的，工厂需要通过测试来检测贴片或绑线是否没有问题，一般会利用HUB接上这个连板上的所有设备，再通过PC软件检测出哪些设备有问题。当某一个设备有异常时，操作系统会反复尝试访问设备验证故障，时间很长，导致其它正常设备要在这个异常设备访问结束时才上盘检测，效率相当低下。
发明内容
本发明的主要目的在于提供一种存储设备测试方法，旨在提高多存储设备的测试效率。
为实现上述目的，本发明提供一种存储设备测试方法，用于存储设备测试系统，所述存储设备测试系统包括测试设备及与所述测试设备连接的连接器，所述连接器用于连接待测试的多个存储设备，所述存储设备测试方法包括以下步骤：
测试设备的测试程序向所述连接器发送测试信号，以与测试板上的多个存储设备依次连接进行测试；
测试设备的过滤驱动程序监控连接器向所述测试程序反馈的测试异常信号；
当所述过滤驱动程序监控到连接器反馈的测试异常信号时，跳过所述测试程序的异常设备处理动作，以转入对下一存储设备进行测试。
可选地，所述跳过所述测试程序的异常设备处理动作包括：
控制所述连接器切断当前测试的存储设备与所述测试程序的测试连接。
可选地，所述跳过所述测试程序的异常设备处理动作包括：
减少测试设备与当前测试的存储设备之间握手协议协定的故障重试次数。
可选地，所述减少测试设备与当前测试的存储设备之间握手协议协定的故障重试次数包括：
将测试设备与当前测试的存储设备之间握手协议协定的故障重试次数设定为零次。
可选地，所述跳过所述测试程序的异常设备处理动作包括：
缩短测试设备与当前测试的存储设备之间握手协议协定的测试时间。
可选地，所述缩短测试设备与当前测试的存储设备之间握手协议协定的测试时间包括：
将测试设备与当前测试的存储设备之间握手协议协定的测试时间设定为零。
可选地，所述当所述过滤驱动程序监控到连接器反馈的测试异常信号时，跳过所述测试程序的异常设备处理动作，以转入对下一存储设备进行测试还包括：
过滤驱动程序对当前测试的存储设备进行异常标识。
为实现上述目的，本发明还提供一种存储设备测试系统，所述存储设备测试系统包括测试设备及与所述测试设备连接的连接器，所述连接器用于连接待测试的多个存储设备；其中，
所述测试设备包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的存储设备测试程序，所述存储设备测试程序被所述处理器执行时实现如下步骤：
测试设备的测试程序向所述连接器发送测试信号，以与测试板上的多个存储设备依次连接进行测试；
测试设备的过滤驱动程序监控连接器向所述测试程序反馈的测试异常信号；
当所述过滤驱动程序监控到连接器反馈的测试异常信号时，跳过所述测试程序的异常设备处理动作，以转入对下一存储设备进行测试。
为实现上述目的，本发明还提供一种存储介质，所述存储介质上存储有存储设备测试程序，所述存储设备测试程序被处理器执行时实现如下步骤：
测试设备的测试程序向所述连接器发送测试信号，以与测试板上的多个存储设备依次连接进行测试；
测试设备的过滤驱动程序监控连接器向所述测试程序反馈的测试异常信号；
当所述过滤驱动程序监控到连接器反馈的测试异常信号时，跳过所述测试程序的异常设备处理动作，以转入对下一存储设备进行测试。
本申请技术方案中，当需要对测试板上的多个存储设备进行测试时，所述测试设备的测试程序向通过连接器对测试板上的多个存储设备依次发送测试信号，以进行测试；测试设备的过滤驱动程序监控连接器向所述测试程序反馈的测试异常信号；当所述过滤驱动程序监控到连接器反馈的测试异常信号时，跳过所述测试程序的异常设备处理动作，以转入对下一存储设备进行测试。如此，直接转入对下一存储设备进行测试，即可节省异常设备处理动作带来的时间的等待，提高了测试效率。
附图说明
图1为本发明存储设备测试系统一实施例的功能模块示意图；
图2为本发明存储设备测试方法一实施例的流程示意图。
本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
本发明提供一种存储设备测试方法，用于存储设备测试系统，所述存储设备测试系统包括测试设备100及与所述测试设备100连接的连接器200，所述连接器200用于连接待测试的多个存储设备300，为了方便生产与测试，一般地，在一块电路板上制造多个存储设备300及测试需要的一些辅助线路，并形成一块整的测试板。其中，测试设备100可以是PC系统(计算机)或者是专用于存储设备300测试的机器。连接器200可为HUB集线器或者其他类型连接器200。需要测试时，通过连接器200可以将测试设备100与测试板上的多个存储设备300连接。
请参阅图2，在一实施例中，所述存储设备300测试方法包括以下步骤：
步骤S10、测试设备100的测试程序向所述连接器发送测试信号，以与测试板上的多个存储设备300依次连接进行测试；
步骤S20、测试设备100的过滤驱动程序监控连接器向所述测试程序反馈的测试异常信号；
步骤S30、当所述过滤驱动程序监控到连接器反馈的测试异常信号时，跳过所述测试程序的异常设备处理动作，以转入对下一存储设备300进行测试。
需要说明的是，测试时，测试设备100与存储设备300之间通过握手协议连接，例如USB协议。具体地，当将待测试的存储设备300与连接器连接后，连接器会向测试设备100发送连接请求，测试设备100通过连接器反馈连接指令给存储设备300，以建立连接，此时测试设备100的测试程序即可向存储设备300发送测试信号，以进行测试。根据USB协议，测试设备100的测试程序对多个存储设备300的测试流程是按照预先设定的次序，对多个存储设备300依次进行测试，即测试完一个测试下一个，如果出现异常故障，则会向测试程序反馈故障信号，测试程序则根据故障信号执行预设的故障处理机制，一般是多次重测以检验故障是否真实存在，并且，在该机制下，测试程序是在存储设备300的测试时间结束才进行一下个测试，造成测试效率不高。为提高测试效率，本实施例中，在测试设备100中配置过滤驱动程序，用以监控连接器向所述测试程序反馈的测试异常信号，当所述过滤驱动程序监控到连接器反馈的测试异常信号时，跳过所述测试程序的异常设备处理动作，以转入对下一存储设备300进行测试。跳过所述测试程序的异常设备处理动作的方式有很多，例如，可以是控制所述连接器切断当前测试的存储设备300与所述测试程序的测试连接。根据USB协议，测试设备100(PC系统)在设备正常连接的情况下出现故障时，故障重测次数和异常等待时间都是固定的，我们通过过滤驱动程序，快速侦测到异常，向连接器200(HUB)发送控制信号，关闭该连接器200上对应的异常存储设备300的连接点，这时测试设备100发现该存储设备300已经中断，转而测试下一个存储设备300。跳过所述测试程序的异常设备处理动作还是可以是减少测试设备100与当前测试的存储设备300之间握手协议协定的故障重试次数，或者，缩短测试设备100与当前测试的存储设备300之间握手协议协定的测试时间，又或者是，既减少测试设备100与当前测试的存储设备300之间握手协议协定的故障重试次数，又缩短测试设备100与当前测试的存储设备300之间握手协议协定的测试时间。需要说明的是，由于故障重测次数和异常等待时间都是固定的，减少当前测试的存储设备300的故障重试次数，或者，缩短当前测试的存储设备300的测试时间都可以减少等待异常处理的时间，快速转入对下一存储设备300进行测试。如此，当监控到一正在测试的存储设备300出现异常时，通过跳过异常设备处理动作，直接转入对下一存储设备300进行测试，即可节省异常设备处理动作带来的时间的等待，提高了测试效率。
在一实施例中，为了尽可能的减少等待异常处理的时间，所述减少当前测试的存储设备300的故障重试次数具体为将测试设备100与当前测试的存储设备300之间握手协议协定的故障重试次数设定为零次，即将当前测试的存储设备300的故障重试次数修改为零次。这样测试设备100的测试程序识别到故障重试次数位零时，认为重复测试验证完成，会自动转入对下一存储设备300进行测试。
在一实施例中，为了尽可能的减少等待异常处理的时间，所述缩短当前测试的存储设备300的测试时间具体为将测试设备100与当前测试的存储设备300之间握手协议协定的测试时间设定为零，即将当前测试的存储设备300的测试时间修改为零。这样测试设备100的测试程序识别到测试时间为零时，认为测试已经结束，会自动转入对下一存储设备300进行测试。
在一实施例中，所述当所述过滤驱动程序监控到连接器反馈的测试异常信号时，跳过所述测试程序的异常设备处理动作，以转入对下一存储设备300进行测试还包括：
过滤驱动程序对当前测试的存储设备300进行异常标识。
当监控到当前测试的存储设备300向测试设备100反馈测试异常信号时，对当前测试的存储设备300进行异常标识，如此，便自动记录下了异常的存储设备300，无需人工记忆或者增加故障检测提示功能，可在对测试板上的所有存储设备300测试完后，方便对测试板上的异常存储设备300进行挑选，以便于维修。
本发明还提供一种存储设备300的测试系统，用于对测试板上的多个存储设备300进行测试。
参照图1，在一实施例中，所述存储设备300测试系统包括测试设备100及与所述测试设备100连接的连接器200，所述连接器200用于连接待测试的多个存储设备300，为了方便生产与测试，一般地，在一块电路板上制造多个存储设备300及测试需要的一些辅助线路，并形成一块整的测试板。其中，测试设备100可以是PC系统(计算机)或者是专用于存储设备300测试的机器。连接器200可为HUB集线器或者其他类型连接器200。需要测试时，通过连接器200可以将测试设备100与测试板上的多个存储设备300连接。
其中，所述测试设备100包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的存储设备300测试程序，所述存储设备300测试程序被所述处理器执行时实现上述各实施例所述的存储设备300测试方法的步骤，具体参照上述实现，此处不再赘述。
此外，本发明还提供一种存储介质，该存储介质为计算机可读存储介质，所述存储介质上存储有存储设备300测试程序，所述存储设备300测试程序被处理器执行时实现上述各实施例所述的存储设备300测试方法的步骤，具体参照上述实现，此处不再赘述。
需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者系统不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者系统所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者系统中还存在另外的相同要素。
上述本发明实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。
通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到上述实施例方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在如上所述的一个存储设备300测试系统(如ROM/RAM、磁碟、光盘)中，包括若干指令用以使得一台终端设备(可以是手机，计算机，服务器，空调器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述的方法。
以上仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (9)

1.一种存储设备测试方法，用于存储设备测试系统，所述存储设备测试系统包括测试设备及与所述测试设备连接的连接器，所述连接器用于连接待测试的多个存储设备，其特征在于，所述存储设备测试方法包括以下步骤：
测试设备的测试程序向所述连接器发送测试信号，以与测试板上的多个存储设备依次连接进行测试；
测试设备的过滤驱动程序监控连接器向所述测试程序反馈的测试异常信号；
当所述过滤驱动程序监控到连接器反馈的测试异常信号时，跳过所述测试程序的异常设备处理动作，以转入对下一存储设备进行测试。
2.如权利要求1所述的存储设备测试方法，其特征在于，所述跳过所述测试程序的异常设备处理动作包括：
控制所述连接器切断当前测试的存储设备与所述测试程序的测试连接。
3.如权利要求1所述的存储设备测试方法，其特征在于，所述跳过所述测试程序的异常设备处理动作包括：
减少测试设备与当前测试的存储设备之间握手协议协定的故障重试次数。
4.如权利要求3所述的存储设备测试方法，其特征在于，所述减少测试设备与当前测试的存储设备之间握手协议协定的故障重试次数包括：
将测试设备与当前测试的存储设备之间握手协议协定的故障重试次数设定为零次。
5.如权利要求1所述的存储设备测试方法，其特征在于，所述跳过所述测试程序的异常设备处理动作包括：
缩短测试设备与当前测试的存储设备之间握手协议协定的测试时间。
6.如权利要求5所述的存储设备测试方法，其特征在于，所述缩短测试设备与当前测试的存储设备之间握手协议协定的测试时间包括：
将测试设备与当前测试的存储设备之间握手协议协定的测试时间设定为零。
7.如权利要求1所述的存储设备测试方法，其特征在于，所述当所述过滤驱动程序监控到连接器反馈的测试异常信号时，跳过所述测试程序的异常设备处理动作，以转入对下一存储设备进行测试还包括：
过滤驱动程序对当前测试的存储设备进行异常标识。
8.一种存储设备测试系统，其特征在于，所述存储设备测试系统包括测试设备及与所述测试设备连接的连接器，所述连接器用于连接待测试的多个存储设备；其中，
所述测试设备包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的存储设备测试程序，所述存储设备测试程序被所述处理器执行时实现如权利要求1至7中任一项所述的存储设备测试方法的步骤。
9.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质上存储有存储设备测试程序，所述存储设备测试程序被处理器执行时实现如权利要求1至7中任一项所述的存储设备测试方法的步骤。
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