CN109363703B - Ct系统能谱不一致性的校正方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种CT系统能谱不一致性的校正方法，包括：利用测量的非均匀滤波片的透射值和不含非均匀滤波片的CT系统有效能谱进行非均匀滤波片厚度自适应估计，获得非均匀滤波片在每一个探测器单元位置处的等效厚度；根据物体的线衰减系数、厚度信息和非均匀滤波片在每一个探测器单元位置处的等效厚度，建立CT系统多色投影值与单色投影值的硬化函数关系，并依据硬化函数关系得到硬化校正查找表；以及根据每一个探测器单元的硬化校正查找表，校正该探测器的多色投影值至对应单色投影值。该校正方法消除了CT系统能谱不一致性，且不仅适用于静态的空间非均匀滤波片，还适用于对动态的时间非均匀滤波片的处理。
Description
技术领域
本公开属于图像处理技术领域，涉及一种CT系统能谱不一致性的校正方法。
背景技术
计算机断层成像(CT，Computerized Tomography)是使用X射线束和探测器扫描物体的某一截面(断层)，利用人体器官或组织对X射线的吸收系数不同的特性获得反映此截面物理或化学特性的投影数据集合，通过计算机运算获得截面上任意位置的参数值，并由此得到断层图像。
CT系统的主要部件包括：X射线源、探测器、以及旋转装置。在CT成像过程中，X射线源与探测器围绕物体做相对旋转运动，以此获得不同旋转角度下的CT数据，也称CT投影值，在CT成像中，X射线的衰减服从指数规律，CT投影值是间接获取的，通常需要“负对数”预处理。
CT系统中所采用的X射线源所产生的X射线光子是一个多色的宽能谱(Spectrum)，因此CT系统一般是一个多色系统(Polychromatic)。根据X射线与物质相互作用的机制，多色能谱会带来射线硬化效应，即X射线穿过物体时其低能X射线相对衰减较多、高能X射线相对衰减较少，从而使得X射线“变硬”了。射线硬化是CT系统的一个根本性物理难题，如果处理不当会使得CT图像产生各种伪影，如杯状伪影(cupping)、明暗阴影(Shading)、条纹状伪影(Streak)、以及环状伪影等。X射线能谱在探测器视野上的空间分布剧烈变化(强烈的不一致性)会导致环状伪影。图1是CT系统中可能影响能谱变化/分布的部件的示意图。参照图1所示，CT系统中的能谱随空间位置剧烈变化，一般是由于系统中加入了空间变化剧烈的滤波材料造成的，如图1中的空间非均匀的滤波片所示，在实际的部件中空间变化剧烈的滤波材料诸如为领结(Bowtie)滤波片、空间编码器(coding)、以及主束调制器(Primarymodulator)等。
因此，为了得到清晰的、不含各种伪影的CT断层图像，需要对由于空间非均匀滤波片带来的能谱不一致性进行校正。
根据系统设计的需要，有时候还会出现滤波片在扫描时间上不均匀的情况，也会带来能谱不一致性的问题。
发明内容
(一)要解决的技术问题
本公开提供了一种CT系统能谱不一致性的校正方法，以至少部分解决以上所提出的技术问题。
(二)技术方案
根据本公开的一个方面，提供了一种CT系统能谱不一致性的校正方法，包括：利用测量的非均匀滤波片的透射值和不含非均匀滤波片的CT系统有效能谱进行非均匀滤波片厚度自适应估计，获得非均匀滤波片在每一个探测器单元位置处的等效厚度；根据物体的线衰减系数、厚度信息和非均匀滤波片在每一个探测器单元位置处的等效厚度，建立CT系统多色投影值与单色投影值的硬化函数关系，并依据硬化函数关系得到硬化校正查找表；以及根据每一个探测器单元的硬化校正查找表，校正该探测器的多色投影值至对应单色投影值。
在本公开的一些实施例中，不含非均匀滤波片的CT系统有效能谱的获取过程包括：通过实际测量得到不含非均匀滤波片的CT系统有效能谱；或者通过建立不含非均匀滤波片的CT系统有效能谱的模型；以及根据该不含非均匀滤波片的CT系统已知滤波片的透射值数据对有效能谱的模型中获得的初始有效能谱进行优化，获得的优化后的有效能谱为不含非均匀滤波片的CT系统有效能谱。
在本公开的一些实施例中，不含非均匀滤波片的CT系统有效能谱的模型包含X光管能谱项、后脚跟效应补偿项、除了待求解的非均匀滤波片之外的其他本真滤波片的衰减项和探测器单元的能谱响应项，其中，X光管能谱项可通过蒙特卡洛模拟、半经验能谱计算工具、或者测量得到；根据CT系统有效能谱的模型得到的未经优化的有效能谱为初始有效能谱，该初始有效能谱通过模型进行求取或者作为一个整体直接通过蒙特卡洛模拟或者测量得到。该模型满足：
χ0(E)＝T(E)×H(E)×F(E)×Γ(E)
其中，χ0(E)表示CT系统未经优化的有效能谱，为初始有效能谱；T(E)表示X光管能谱项，可通过蒙特卡洛模拟、半经验能谱计算工具、或者测量得到；H(E)表示后脚跟效应补偿项，μw为钨的线衰减系数，Dw为钨的厚度；F(E)表示除了待求解的非均匀滤波片之外的其他本真滤波片的衰减项；Γ(E)表示探测器单元的能谱响应，μdet为探测器单元中晶体的线衰减系数，Ddet为探测器单元中晶体的厚度。
在本公开的一些实施例中，对有效能谱的模型中获得的初始有效能谱进行优化的方法为：最大期望估计。
在本公开的一些实施例中，非均匀滤波片的透射值为不含非均匀滤波片的CT系统有效能谱、非均匀滤波片的线衰减系数和非均匀滤波片在每一个探测器单元位置处的等效厚度的函数：其中，非均匀滤波片的线衰减系数和非均匀滤波片在每一个探测器单元位置处的等效厚度形成衰减项，不含非均匀滤波片的CT系统有效能谱作为衰减项在能量上的权重；利用非均匀滤波片的透射值、非均匀滤波片的线衰减系数和不含非均匀滤波片的CT系统有效能谱进行方程求解可得出非均匀滤波片在每一个探测器单元位置处的等效厚度。即：非均匀滤波片在每一个探测器单元位置处的等效厚度为如下方程的零根：
其中，G(Tm)为等效厚度的函数；m为非均匀滤波片的透射值；χ(E)为CT系统有效能谱；μm为非均匀滤波片的线衰减系数，为已知量；Tm为非均匀滤波片待求的等效厚度。
在本公开的一些实施例中，利用非均匀滤波片的透射值、非均匀滤波片的线衰减系数和不含非均匀滤波片的CT系统有效能谱进行方程求解采用的方法为牛顿迭代，即方程的零根的求解通过牛顿迭代过程来实现，该牛顿迭代过程满足：
在本公开的一些实施例中，根据物体的线衰减系数、厚度信息和非均匀滤波片在每一个探测器单元位置处的等效厚度，建立CT系统多色投影值与单色投影值的硬化函数关系，包括：根据非均匀滤波片在每一个探测器单元位置处的等效厚度，计算出整个CT系统中，每一个探测器单元包括非均匀滤波片之后的有效能谱；以及根据物体的线衰减系数、厚度信息和每一个探测器单元包括非均匀滤波片之后的有效能谱，建立CT系统多色投影值与单色投影值的硬化函数关系。
在本公开的一些实施例中，每一个探测器单元包括非均匀滤波片之后的有效能谱为每一个探测器单元的不含非均匀滤波片的CT系统有效能谱、物体的线衰减系数和非均匀滤波片在每一个探测器单元位置处的等效厚度的函数，其中，物体的线衰减系数和非均匀滤波片在每一个探测器单元位置处的等效厚度形成衰减项，每一个探测器单元的不含非均匀滤波片的CT系统有效能谱作为衰减项在能量上的权重。该每一个探测器单元的有效能谱满足：
其中，
为每一个探测器单元包括非均匀滤波片之后的有效能谱；χij(E)为每一个探测器单元的不含非均匀滤波片的CT系统有效能谱；μm(E)为物体的线衰减系数；Tm(i，j)为非均匀滤波片在每一个探测器单元位置处的等效厚度；f[Tm(i，j)]为等效厚度的函数；
硬化函数关系满足：
其中，gpol为物体多色投影值；
为每一个探测器单元包括非均匀滤波片之后的有效能谱；μo(E)为物体的线衰减系数；
为在一个等效能量
下物体的线衰减系数；gmon(L)为物体单色投影值；L为物体的厚度。
在本公开的一些实施例中，依据硬化函数关系得到硬化校正查找表，包括：选取一定范围内的物体厚度值(L′s)；选取等效能量
依据硬化函数关系计算每一个物体厚度值下的单色投影值gmon和多色投影值gpol；以及建立一个从多色投影值到单色投影值的映射关系，该映射关系即为硬化校正查找表；其中，从多色投影值到单色投影值的映射关系，可使用多项式拟合来实现。
在本公开的一些实施例中，在根据每一个探测器单元的硬化校正查找表，校正该探测器的多色投影值至对应单色投影值的步骤之后还包括：基于硬化校正后的单色投影值数据，经过解析或者迭代的图像重建过程得到物体的CT断层图像。
(三)有益效果
从上述技术方案可以看出，本公开提供的CT系统能谱不一致性的校正方法，具有以下有益效果：
(1)通过利用测量的非均匀滤波片的透射值和不含非均匀滤波片的CT系统有效能谱进行非均匀滤波片厚度自适应估计，获得非均匀滤波片在每一个探测器单元位置处的等效厚度；以及根据物体的线衰减系数、厚度信息和非均匀滤波片在每一个探测器单元位置处的等效厚度，建立CT系统多色投影值与单色投影值的硬化函数关系，并依据硬化函数关系得到硬化校正查找表；将每个探测器单元包含非均匀滤波片之后的能谱逐个通过等效厚度的自适应估计求得，将多色投影值映射转换为单色投影值，消除了CT系统能谱不一致性；
(2)由于该校正方法中对非均匀滤波片厚度的估计是自适应的，可以对每一个CT系统自适应处理，也可以对一个CT系统中的一个CT扫描单独处理，甚至是一个CT扫描中的每一个角度下的滤波片做处理；即，本校正方法不仅适用于空间上分布不均匀的滤波片的情形，也适用于在扫描时间上滤波片不均匀的情形，可应用于对动态领结(Bowtie)滤波片的处理中，对该情形，只需要计算每一个扫描时间点的滤波片在每个探测器单元上的厚度值即可，便能将一个二维的滤波片厚度的估计，变成了时间尺度上的三维的估计。
附图说明
图1为CT系统中可能影响能谱变化/分布的部件的示意图。
图2为根据本公开一实施例所示的CT系统能谱不一致性的校正方法的流程图。
图3为如图2所示的CT系统能谱不一致性的校正方法的操作步骤示意图。
图4为根据本公开一实施例所示的CT系统能谱不一致性的校正方法对主束调制器(Primary Modulator)的能谱不一致性进行处理前后的结果图。
具体实施方式
本公开提供了一种CT系统能谱不一致性的校正方法，该校正方法通过利用测量的非均匀滤波片的透射值和不含非均匀滤波片的CT系统有效能谱进行非均匀滤波片厚度自适应估计，获得非均匀滤波片在每一个探测器单元位置处的等效厚度；并根据物体的线衰减系数、厚度信息和非均匀滤波片在每一个探测器单元位置处的等效厚度，建立CT系统多色投影值与单色投影值的硬化函数关系，并依据硬化函数关系得到硬化校正查找表；将每个探测器单元包含非均匀滤波片之后的能谱逐个通过等效厚度的自适应估计求得，将多色投影值映射转换为单色投影值，消除了CT系统能谱不一致性，且该校正方法不仅适用于静态的空间非均匀滤波片，还适用于对动态的时间非均匀滤波片的处理。
为使本公开的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参照附图，对本公开进一步详细说明。
在本公开的第一个示例性实施例中，提供了一种CT系统能谱不一致性的校正方法。
图2为根据本公开一实施例所示的CT系统能谱不一致性的校正方法的流程图。图3为如图2所示的CT系统能谱不一致性的校正方法的操作步骤示意图。图3中的斜体字对应虚线框中的内容。
参照图2和图3所示，本公开的CT系统能谱不一致性的校正方法，包括：
步骤S21：建立不含非均匀滤波片的CT系统有效能谱的模型；
不含非均匀滤波片的CT系统有效能谱的模型包含X光管能谱项、后脚跟效应补偿项、除了待求解的非均匀滤波片之外的其他本真滤波片的衰减项和探测器单元的能谱响应项，其中，X光管能谱项可通过蒙特卡洛模拟、半经验能谱计算工具、或者测量得到；根据该CT系统有效能谱的模型得到的未经优化的有效能谱为初始有效能谱，该初始有效能谱通过模型进行求取或者作为一个整体直接通过蒙特卡洛模拟或者测量得到。
本实施例中，不含非均匀滤波片的CT系统有效能谱的模型满足如下表达式：
χ0(E)＝T(E)×H(E)×F(E)×Γ(E) (1)
其中，χ0(E)表示CT系统未经优化的有效能谱，为初始有效能谱；T(E)表示X光管能谱项，可通过蒙特卡洛模拟、半经验能谱计算工具、或者测量得到；H(E)表示后脚跟效应补偿项，μw为钨的线衰减系数，Dw为钨的厚度；F(E)表示除了待求解的非均匀滤波片之外的其他本真滤波片的衰减项；Γ(E)表示探测器单元的能谱响应，μdet为探测器单元中晶体的线衰减系数，Ddet为探测器单元中晶体的厚度。
这里的CT系统未经优化的有效能谱为初始有效能谱，与步骤S22中进行优化之后的不含非均匀滤波片的CT系统有效能谱对应。
本实施例中，CT系统的初始有效能谱χ0(E)除了根据上述公式(1)进行求取之外，还可以作为一个整体直接通过蒙特卡洛模拟或者测量得到。
步骤S22：根据该不含非均匀滤波片的CT系统已知滤波片的透射值数据对有效能谱的模型中获得的初始有效能谱进行优化，获得的优化后的有效能谱为不含非均匀滤波片的CT系统有效能谱；
步骤S21获得的初始有效能谱，往往是有一些误差的，这些误差可能给后续的计算带来客观的偏差。因此，可以通过一系列该CT系统上的实际已知材料样品的实验数据来优化初始有效能谱。
本实施例中，根据该CT系统已知滤波片的透射值数据利用最大期望估计(EM)来对初始有效能谱χ0(E)进行优化，获得优化后的有效能谱χ(E)，即为不含非均匀滤波片的CT系统有效能谱，但本公开的优化方法不局限于实施例所示，还可以是其他数据优化方法。
除了采用步骤S21和S22来得到不含非均匀滤波片的CT系统有效能谱之外，还可以通过实际测量得到不含非均匀滤波片的CT系统有效能谱。
步骤S23：利用测量的非均匀滤波片的透射值和不含非均匀滤波片的CT系统有效能谱进行非均匀滤波片厚度自适应估计，获得非均匀滤波片在每一个探测器单元位置处的等效厚度；
非均匀滤波片的透射值为不含非均匀滤波片的CT系统有效能谱、非均匀滤波片的线衰减系数和非均匀滤波片在每一个探测器单元位置处的等效厚度的函数，其中，非均匀滤波片的线衰减系数和非均匀滤波片在每一个探测器单元位置处的等效厚度形成衰减项，不含非均匀滤波片的CT系统有效能谱作为衰减项在能量上的权重，利用非均匀滤波片的透射值、非均匀滤波片的线衰减系数和不含非均匀滤波片的CT系统有效能谱进行方程求解可得出非均匀滤波片在每一个探测器单元位置处的等效厚度。可选的，利用非均匀滤波片的透射值、非均匀滤波片的线衰减系数和不含非均匀滤波片的CT系统有效能谱进行方程求解采用的方法为牛顿迭代，也可以采用其他的解析方法求解等效厚度。
本实施例中，非均匀滤波片在每一个探测器单元位置处的等效厚度为如下方程的零根：
其中，G(Tm)为等效厚度的函数；m为非均匀滤波片的透射值；χ(E)为不含非均匀滤波片的CT系统有效能谱；μm为非均匀滤波片的线衰减系数，为已知量；Tm为非均匀滤波片待求的等效厚度。
对上述方程(4)的求解可以通过下面的牛顿迭代过程来实现：
在实际计算迭代过程中，初始厚度可以设为0，经过2、3次迭代后即收敛。
步骤S24：根据物体的线衰减系数、厚度信息和非均匀滤波片在每一个探测器单元位置处的等效厚度，建立CT系统多色投影值与单色投影值的硬化函数关系，并依据硬化函数关系得到硬化校正查找表；
该步骤S24包括：根据非均匀滤波片在每一个探测器单元位置处的等效厚度，计算出整个CT系统中，每一个探测器单元包括非均匀滤波片之后的有效能谱；以及根据物体的线衰减系数、厚度信息和每一个探测器单元包括非均匀滤波片之后的有效能谱，建立CT系统多色投影值与单色投影值的硬化函数关系。
每一个探测器单元包括非均匀滤波片之后的有效能谱为每一个探测器单元的不含非均匀滤波片的CT系统有效能谱、物体的线衰减系数和非均匀滤波片在每一个探测器单元位置处的等效厚度的函数，其中，物体的线衰减系数和非均匀滤波片在每一个探测器单元位置处的等效厚度形成衰减项，每一个探测器单元的不含非均匀滤波片的CT系统有效能谱作为衰减项在能量上的权重。
本实施例中，根据步骤S23获得的非均匀滤波片在每一个探测器单元位置处的等效厚度，可以计算出整个CT系统中，每一个探测器单元包括非均匀滤波片之后的有效能谱，该有效能谱满足如下表达式：
其中，
为每一个探测器单元包括非均匀滤波片之后的有效能谱；χij(E)为每一个探测器单元的不含非均匀滤波片的CT系统有效能谱；μm(E)为物体的线衰减系数；Tm(i，j)为非均匀滤波片在每一个探测器单元位置处的等效厚度；f[Tm(i，j)]为等效厚度的函数。
其中，f[Tm(i，j)]可以为等效厚度或者等效厚度乘以一个系数或者关于等效厚度的其它函数，该函数根据实际情况可进行适应性设置。
需要说明的是，每一个探测器单元包括非均匀滤波片之后的有效能谱为每一个探测器单元的不含非均匀滤波片的CT系统有效能谱、物体的线衰减系数和非均匀滤波片在每一个探测器单元位置处的等效厚度的函数，此函数为根据实际情况进行具体设置的函数，还可以包括其他相关参数，本实施例仅作为举例，任何合理的函数形式均在本公开的保护范围之内。
基于公式(7)获得的每一个探测器单元包括非均匀滤波片之后的有效能谱建立CT系统多色投影值与单色投影值的硬化函数关系，对于单一物体来说，该物体的线衰减系数为μo(E)，厚度为L，该物体的能谱硬化函数通过对多色CT投影值的数学表达式来描述，目标单色投影值定义为在一个等效能量
下的被扫描物体的线衰减系数与厚度的乘积，该硬化函数关系满足如下表达式：
其中，gpol为物体多色投影值；
为每一个探测器单元包括非均匀滤波片之后的有效能谱；μo(E)为物体的线衰减系数；
为在一个等效能量
下物体的线衰减系数；gmon(L)为物体单色投影值；L为物体的厚度。
本实施例中，依据硬化函数关系得到硬化校正查找表的过程包括：
(a)选取一定范围内的物体厚度值(L′s)；
(b)选取等效能量
(c)利用公式(7)(8)(9)，计算每一个物体厚度值下的单色投影值gmon和多色投影值gpol；以及
(d)利用多项式拟合或者其他数值计算方法，建立一个从多色投影值到单色投影值的映射关系，该映射关系即为硬化校正查找表。
步骤S25：根据每一个探测器单元的硬化校正查找表，校正该探测器的多色投影值至对应单色投影值；
获得硬化校正查找表之后，对于特定探测器单元下的多色投影值，只需要根据该多色投影值查找对应单色投影值就完成了硬化校正的工作，即实现了“线性化”。由于该校正过程，已经包括了对逐个探测器单元对应能谱分别处理，因此CT系统能谱不一致性将会得以消除。
步骤S26：基于硬化校正后的单色投影值数据，经过解析或者迭代的图像重建过程得到物体的CT断层图像；
本实施例中，基于步骤S25得到的硬化校正后的单色投影值数据，即为硬化校正后的CT投影数据，经过解析或者迭代的图像重建过程得到物体的CT断层图像。
本实施例所示的CT系统能谱不一致性的校正方法不仅适用于静态的空间非均匀滤波片，还适用于对动态的时间非均匀滤波片的处理。
至此，本实施例的CT系统能谱不一致性的校正方法介绍完毕。
下面结合一应用实例来说明本公开的CT系统能谱不一致性的校正方法的有益效果。
图4为根据本公开一实施例所示的CT系统能谱不一致性的校正方法对主束调制器(Primary Modulator)的能谱不一致性进行处理前后的结果图。
在本公开的一个应用的实例中，利用本实施例所示的CT系统能谱不一致性的校正方法对主束调制器(Primary Modulator)的能谱不一致性进行处理，处理前后的对比结果参照图4所示。
图4中(a)、(b)、(c)为处理前的三种不同强度的铜调制器的图像重建结果，图4中(d)、(e)、(f)分别为与(a)、(b)、(c)一对应的进行能谱不一致校正后的图像重建结果，可见，经过校正后的CT图像几乎不存在环状伪影，因此利用本公开的CT系统能谱不一致性的校正方法对CT系统中由于空间变化剧烈的滤波材料引起的环状伪影实现了校正，提高了CT图像的清晰度。
另外，由于本公开的CT系统能谱不一致性的校正方法中对非均匀滤波片厚度的估计是自适应的，可以对每一个CT系统自适应处理，也可以对一个CT系统中的一个CT扫描单独处理，甚至是一个CT扫描中的每一个角度下的滤波片做处理；即，本校正方法也适用于在扫描时间上滤波片不均匀的情形，可应用于对动态领结(Bowtie)滤波片的处理中，对该情形，只需要计算每一个扫描时间点的滤波片在每个探测器单元上的厚度值即可，便能将一个二维的滤波片厚度的估计，变成了时间尺度上的三维的估计。
综上所述，本公开提供了一种CT系统能谱不一致性的校正方法，通过利用测量的非均匀滤波片的透射值和不含非均匀滤波片的CT系统有效能谱进行非均匀滤波片厚度自适应估计，获得非均匀滤波片在每一个探测器单元位置处的等效厚度；以及根据物体的线衰减系数、厚度信息和非均匀滤波片在每一个探测器单元位置处的等效厚度，建立CT系统多色投影值与单色投影值的硬化函数关系，并依据硬化函数关系得到硬化校正查找表；将每个探测器单元包含非均匀滤波片之后的能谱逐个通过等效厚度的自适应估计求得，将多色投影值映射转换为单色投影值，消除了CT系统能谱不一致性；且该校正方法不仅适用于静态的空间非均匀滤波片，还适用于对动态的时间非均匀滤波片的处理，即也适用于在扫描时间上滤波片不均匀的情形，可应用于对动态Bowtie滤波片的处理中，对该情形，只需要计算每一个扫描时间点的滤波片在每个探测器单元上的厚度值即可，其他实现步骤，基本保持不变，便能将一个二维的滤波片厚度的估计，变成了时间尺度上的三维的估计，极大拓宽了校正的范围和尺度。
当然，根据实际需要，本公开的CT系统能谱不一致性的校正方法还包含其他的常见方法和步骤，由于同本公开的创新之处无关，此处不再赘述。
此外，除非特别描述或必须依序发生的步骤，上述步骤的顺序并无限制于以上所列，且可根据所需设计而变化或重新安排。并且上述实施例可基于设计及可靠度的考虑，彼此混合搭配使用或与其他实施例混合搭配使用，即不同实施例中的技术特征可以自由组合形成更多的实施例。
以上所述的具体实施例，对本公开的目的、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明，所应理解的是，以上所述仅为本公开的具体实施例而已，并不用于限制本公开，凡在本公开的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本公开的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种CT系统能谱不一致性的校正方法，包括：
利用测量的非均匀滤波片的透射值和不含非均匀滤波片的CT系统有效能谱进行非均匀滤波片厚度自适应估计，获得非均匀滤波片在每一个探测器单元位置处的等效厚度；
根据物体的线衰减系数、厚度信息和非均匀滤波片在每一个探测器单元位置处的等效厚度，建立CT系统多色投影值与单色投影值的硬化函数关系，并依据硬化函数关系得到硬化校正查找表；以及
根据每一个探测器单元的硬化校正查找表，校正该探测器的多色投影值至对应单色投影值。
2.根据权利要求1所述的校正方法，其中，所述不含非均匀滤波片的CT系统有效能谱的获取过程包括：
通过实际测量得到不含非均匀滤波片的CT系统有效能谱；或者
通过建立不含非均匀滤波片的CT系统有效能谱的模型；以及
根据该不含非均匀滤波片的CT系统已知滤波片的透射值数据对有效能谱的模型中获得的初始有效能谱进行优化，获得的优化后的有效能谱为不含非均匀滤波片的CT系统有效能谱。
3.根据权利要求2所述的校正方法，其中，所述不含非均匀滤波片的CT系统有效能谱的模型包含X光管能谱项、后脚跟效应补偿项、除了待求解的非均匀滤波片之外的其他本真滤波片的衰减项和探测器单元的能谱响应项，其中，X光管能谱项可通过蒙特卡洛模拟、半经验能谱计算工具、或者测量得到；根据所述CT系统有效能谱的模型得到的未经优化的有效能谱为初始有效能谱，该初始有效能谱通过模型进行求取或者作为一个整体直接通过蒙特卡洛模拟或者测量得到。
4.根据权利要求2所述的校正方法，其中，所述对有效能谱的模型中获得的初始有效能谱进行优化的方法为：最大期望估计。
5.根据权利要求1所述的校正方法，其中，所述非均匀滤波片的透射值为不含非均匀滤波片的CT系统有效能谱、非均匀滤波片的线衰减系数和非均匀滤波片在每一个探测器单元位置处的等效厚度的函数：其中，非均匀滤波片的线衰减系数和非均匀滤波片在每一个探测器单元位置处的等效厚度形成衰减项，不含非均匀滤波片的CT系统有效能谱作为衰减项在能量上的权重；利用非均匀滤波片的透射值、非均匀滤波片的线衰减系数和不含非均匀滤波片的CT系统有效能谱进行方程求解可得出非均匀滤波片在每一个探测器单元位置处的等效厚度。
6.根据权利要求5所述的校正方法，其中，所述利用非均匀滤波片的透射值、非均匀滤波片的线衰减系数和不含非均匀滤波片的CT系统有效能谱进行方程求解采用的方法为牛顿迭代。
7.根据权利要求1所述的校正方法，其中，所述根据物体的线衰减系数、厚度信息和非均匀滤波片在每一个探测器单元位置处的等效厚度，建立CT系统多色投影值与单色投影值的硬化函数关系，包括：
根据非均匀滤波片在每一个探测器单元位置处的等效厚度，计算出整个CT系统中，每一个探测器单元包括非均匀滤波片之后的有效能谱；以及
根据物体的线衰减系数、厚度信息和每一个探测器单元包括非均匀滤波片之后的有效能谱，建立CT系统多色投影值与单色投影值的硬化函数关系。
8.根据权利要求7所述的校正方法，其中，所述每一个探测器单元包括非均匀滤波片之后的有效能谱为每一个探测器单元的不含非均匀滤波片的CT系统有效能谱、物体的线衰减系数和非均匀滤波片在每一个探测器单元位置处的等效厚度的函数，其中，物体的线衰减系数和非均匀滤波片在每一个探测器单元位置处的等效厚度形成衰减项，每一个探测器单元的不含非均匀滤波片的CT系统有效能谱作为衰减项在能量上的权重。
9.根据权利要求8所述的校正方法，其中，所述依据硬化函数关系得到硬化校正查找表，包括：
选取一定范围内的物体厚度值；
选取等效能量；
依据硬化函数关系计算每一个物体厚度值下的单色投影值和多色投影值；以及
建立一个从多色投影值到单色投影值的映射关系，该映射关系即为硬化校正查找表；
其中，从多色投影值到单色投影值的映射关系，可使用多项式拟合来实现。
10.根据权利要求1至9中任一项所述的校正方法，在所述根据每一个探测器单元的硬化校正查找表，校正该探测器的多色投影值至对应单色投影值的步骤之后还包括：
基于硬化校正后的单色投影值数据，经过解析或者迭代的图像重建过程得到物体的CT断层图像。
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Families Citing this family (4)
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Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1765324A (zh) * | 2004-09-03 | 2006-05-03 | 佳能株式会社 | 医疗信息处理器、摄影系统和吸收系数校准方法 |
| CN1879560A (zh) * | 2005-06-17 | 2006-12-20 | 西门子公司 | 用于计算机断层造影的装置和方法 |
| CN103134823A (zh) * | 2013-03-21 | 2013-06-05 | 重庆大学 | 一种基于卷积的x射线ct系统射束硬化校正方法 |
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Family Cites Families (1)
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|---|---|---|---|---|
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Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1765324A (zh) * | 2004-09-03 | 2006-05-03 | 佳能株式会社 | 医疗信息处理器、摄影系统和吸收系数校准方法 |
| CN1879560A (zh) * | 2005-06-17 | 2006-12-20 | 西门子公司 | 用于计算机断层造影的装置和方法 |
| CN103134823A (zh) * | 2013-03-21 | 2013-06-05 | 重庆大学 | 一种基于卷积的x射线ct系统射束硬化校正方法 |
| CN107567640A (zh) * | 2015-05-07 | 2018-01-09 | 皇家飞利浦有限公司 | 用于扫描暗场和相位对比成像的射束硬化校正 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN111707688A (zh) * | 2020-06-18 | 2020-09-25 | 清华大学 | 光子计数能谱ct成像中自适应能谱优化方法及其应用 |
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