CN109359642A - 影像更新方法及其光学感测装置 - Google Patents

影像更新方法及其光学感测装置 Download PDF

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Abstract

本发明提供一种影像更新方法及其光学感测装置。所述影像更新方法适用于光学感测装置中,且其包括如下步骤。首先,持续令光学感测装置撷取有关当前环境光下的样本影像,并且直到判断此样本影像符合均匀条件为止。其次,对此样本影像进行分析,以获得到有关此样本影像的平均测量值,并且判断此样本影像的平均测量值与指纹影像的平均测量值的绝对差值是否小于等于第一门槛值。若不是,则根据此两平均测量值的差值,调整光学感测装置的照光时间,并且返回到持续令光学感测装置撷取样本影像的步骤中。若是,则以此样本影像来更新光学感测装置中所已储存的参考影像。

Description

影像更新方法及其光学感测装置
技术领域
本发明是有关于一种影像更新方法及其光学感测装置,且特别是一种能够更新指纹辨识用的参考影像(reference image)的方法,以及使用其方法的光学感测装置。
背景技术
一般来说,光学式的指纹感测装置,即光学感测装置于进行指纹辨识时,会将所撷取到的指纹影像与一个参考影像进行比对,以产生出处理后的指纹影像,并藉此获得较佳的指纹显示品质。然而,现有技术是控制光学感测装置在固定的照光时间下,以感测环境光来产生此参考影像,且将此参考影像预先储存于光学感测装置中。因此,在现今感测器产品化的趋势下,使用者将不易自行对此参考影像进行更新,且当环境光改变或感测器能力衰落时,此参考影像却未能随之变更,以致于也使得处理后的指纹影像品质不佳。
发明内容
有鉴于此,本发明的目的在于提供一种能够更新指纹辨识用的参考影像的方法。为达上述目的,本发明实施例提供一种影像更新方法,所述影像更新方法适用于光学感测装置中。此光学感测装置会响应于触摸事件而来撷取到指纹影像,且此指纹影像具有第一平均测量值。所述影像更新方法包括如下步骤。首先,持续令光学感测装置撷取有关当前环境光下的样本影像(sample image),并且直到判断此样本影像符合一均匀条件为止。其次,对此样本影像进行分析,以获得到有关此样本影像的第二平均测量值,并且判断第二平均测量值与第一平均测量值的第一绝对差值是否小于等于第一门槛值。若不是,则根据第二平均测量值与第一平均测量值的第一差值,调整光学感测装置所撷取得到样本影像时的照光时间,并且返回到持续令光学感测装置撷取样本影像的步骤中。若是,则以此样本影像来更新光学感测装置中所已储存的参考影像。
本发明实施例另提供一种光学感测装置,所述光学感测装置包括控制电路、第一栅极驱动器、第二栅极驱动器及光学感测器阵列。控制电路用来提供重置信号及写入信号。第一及第二栅极驱动器耦接于控制电路,第一栅极驱动器用来接收重置信号,第二栅极驱动器则用来接收写入信号。光学感测器阵列耦接于第一与第二栅极驱动器间,且光学感测器阵列具有一指纹感测期间与一非指纹感测期间。于指纹感测期间,光学感测器阵列用来根据重置信号及写入信号产生指纹影像,且重置信号与写入信号的脉波时间差形成第一照光时间,于非指纹感测期间,光学感测器阵列则用来根据重置信号及写入信号产生非指纹影像,且重置信号与写入信号的脉波时间差形成第二照光时间。而所述第一照光时间却与第二照光时间实质上不相同。
优选地,所述光学感测器阵列于第一环境下的第一照光时间大于所述光学感测器阵列于第一环境下的第二照光时间,且所述光学感测器阵列于第二环境下的第一照光时间小于所述光学感测器阵列于第二环境下的第二照光时间。而第一环境的亮度大于第二环境的亮度。此外,所述光学感测器阵列于第一环境下的第二照光时间与所述光学感测器阵列于第二环境下的第二照光时间也不相同。
为使能更进一步了解本发明的特征及技术内容,请参阅以下有关本发明的详细说明与附图,但是此等说明与所附图式仅用来说明本发明,而非对本发明的权利范围作任何的限制。
附图说明
图1是本发明实施例所提供的影像更新方法的流程示意图。
图2是图1的影像更新方法中所根据样本影像的平均测量值与指纹影像的平均测量值的差值而调整照光时间的流程示意图。
图3是本发明另一实施例所提供的影像更新方法的流程示意图。
图4是图3的影像更新方法中所根据样本影像的平均测量值与指纹影像的平均测量值的差值而调整照光时间的流程示意图。
图5是本发明实施例所提供的亮度与电压间关系的示意图。
图6A是本发明实施例所提供启动执行图1或图3的影像更新方法的流程示意图。
图6B是本发明另一实施例所提供启动执行图1或图3的影像更新方法的流程示意图。
图7是本发明实施例所提供的光学感测装置的功能方块示意图。
图8是图7的光学感测装置的照光时间于一较佳实施例下的时序示意图。
图9是图7的光学感测装置的照光时间于另一较佳实施例下的时序示意图。
其中,附图标记:
S100~S150、S200~S220、S330、S400~S460、S600~S620、S610’:流程步骤
FPI:指纹影像
SI:样本影像
REFI:参考影像
FPI_Avg、SI_Avg、REFI_Avg:平均测量值
MAX_diff:第一门槛值
MIN_diff:第二门槛值
7:光学感测装置
700:控制电路
710、720:栅极驱动器
730:光学感测器阵列
STV_R:重置信号
STV_W:写入信号
Ptd:感测像素
G(1)~G(n):栅极线
SR[1]~SR[n]:移位暂存器
SR_R[1]~SR_R[n]、SR_W[1]~SR_W[n]:栅极驱动信号
T1:第一照光时间
T2:第二照光时间
具体实施方式
在下文中,将藉由图式说明本发明的各种实施例来详细描述本发明。然而,本发明概念可能以许多不同形式来体现,且不应解释为限于本文中所阐述的例示性实施例。此外,在图式中相同参考数字可用以表示类似的元件。
具体而言,本发明实施例所提供的影像更新方法,可以是适用于任何光学感测装置中。因此,本发明并不限制光学感测装置的具体实现方式,本技术领域中具有通常知识者应可依据实际需求或应用来进行相关设计。另外,根据现有技术可知,光学感测装置会响应于触摸事件而来撷取到指纹影像FPI,且在本实施例中,此指纹影像FPI则具有一平均测量值FPI_Avg。
详细地说,此指纹影像FPI内的每一像素便能以一测量值来作表示,且此测量值可例如是电压值、灰阶值、电量值或任何数字化型式值,但本发明皆不以此为限制。因此,在本实施例中,所述平均测量值FPI_Avg即可例如是指有关此指纹影像FPI内的多个像素的平均电压值;又或者是,在其他实施例中,平均测量值FPI_Avg也可例如是指有关此指纹影像FPI内的多个像素的平均灰阶值或平均电量值等。总而言之,本发明亦不限制平均测量值FPI_Avg的具体实现方式。另外,由于撷取指纹影像FPI的运作原理已为本技术领域中具有通常知识者所习知,因此有关其细部内容于此就不再多加赘述。
请参阅图1,图1是本发明实施例所提供的影像更新方法的流程示意图。首先,在步骤S100中,令光学感测装置撷取有关当前环境光下的一样本影像SI,并且在步骤S110中,判断此样本影像SI是否符合均匀条件。若符合,即继续执行步骤S120;若不符合,则返回执行步骤S100。也就是说,在步骤S100~S110中,本实施例会持续令光学感测装置撷取有关当前环境光下的样本影像SI,并且直到判断样本影像SI符合均匀条件为止。接着,在步骤S120中,对此样本影像SI进行分析,以获得到有关此样本影像SI的平均测量值SI_Avg。类似地,在本实施例中,所述平均测量值SI_Avg即可例如是指有关此样本影像SI内的多个像素的平均电压值,但本发明亦不以此为限制。
然后,在步骤S130中,判断平均测量值SI_Avg与平均测量值FPI_Avg的绝对差值(即,|SI_Avg-FPI_Avg|)是否小于等于第一门槛值MAX_diff。若不是,即执行步骤S140,在步骤S140中,则根据平均测量值SI_Avg与平均测量值FPI_Avg的差值(即,SI_Avg-FPI_Avg),调整光学感测装置所撷取得到样本影像SI时的照光时间,并且返回到执行步骤S100。若是,即执行步骤S150,在步骤S150中,则以此样本影像SI来更新光学感测装置中所已储存的参考影像REFI,即将此样本影像SI视为更新后的参考影像REFI。
从以上内容可知,本实施例的影像更新方法,可以是由具有多个指令的电脑程序产品来实现,且此电脑程序产品能为于网络上所传输的文件,或者被储存于非挥发性电脑可读取储存媒体中,但本发明皆不以此为限制。因此,当一处理器载入此电脑程序产品,并执行此电脑程序产品所包含的这些指令后,即可完成本实施例的影像更新方法。需要说明的是,上述处理器可以是直接整合在光学感测装置中,或是分开设置在光学感测装置以外的电子装置中,总而言之,本发明亦不限制上述处理器的具体实现方式。
在本实施例中,所谓的“判断此样本影像SI是否符合均匀条件”,指的就是有关判断此样本影像SI的一最大测量值与一最小测量值的比值百分率是否大于等于一均匀度门槛值百分率。而根据前述内容的教示可知,该最大测量值即可例如是指有关此样本影像SI内的多个像素的一最大电压值,且该最小测量值则可例如是指有关此样本影像SI内的多个像素的一最小电压值,但本发明亦不以此为限制。
举例来说,假如均匀度门槛值百分率为80%,且在此样本影像SI内的多个像素的最大电压值与最小电压值,即最大测量值与最小测量值分别为2.5伏特与2.1伏特的情况下,此时这两者的比值百分率便大于等于均匀度门槛值百分率(即,(2.1V/2.5V)*100%=84%≧80%),因此,本实施例则判定此样本影像SI符合均匀条件。反之,在此样本影像SI内的多个像素的最大电压值与最小电压值分别为2.7伏特与2.1伏特的情况下,此时这两者的比值百分率便不大于等于均匀度门槛值百分率,因此,本实施例则判定此样本影像SI不符合均匀条件。
应当理解的是,这里所谓的“不符合均匀条件的样本影像SI”,也就指的是对比已严重失真的样本影像SI。由于对比已严重失真的样本影像SI很难可作为指纹辨识用的参考影像REFI,因此,本实施例会重新撷取样本影像SI(即,返回执行步骤S100),并且直到判定样本影像SI能够符合均匀条件为止。需要说明的是,上述判断样本影像SI是否符合均匀条件的具体实现方式在此也仅只是举例,其并非用以限制本发明。换句话说,本技术领域中具有通常知识者应可依据实际需求或应用来进行不同均匀条件的判断设计。
另一方面,本发明亦不限制均匀度门槛值百分率或第一门槛值MAX_diff的具体数值,其可能视光学感测装置的目前处理能力而作调整。但一般来说,藉由实验数据可知,假如在参考影像REFI的平均测量值REFI_Avg与指纹影像FPI的平均测量值FPI_Avg的绝对差值落于一个特定范围内的情况下(即,|REFI_Avg-FPI_Avg|≦MAX_diff),此指纹影像FPI与此参考影像REFI所进行比对而产生的处理后影像将能具有较佳的指纹显示品质。因此,本实施例必须确保所撷取到的样本影像SI的平均测量值SI_Avg与指纹影像FPI的平均测量值FPI_Avg的绝对差值也同样落于该特定范围内(即,|SI_Avg-FPI_Avg|≤MAX_diff)。
举例来说,请参阅图5,图5是本发明实施例所提供的亮度与电压间关系的示意图。假如在第一门槛值MAX_diff为1伏特,且指纹影像FPI的平均电压值,即平均测量值FPI_Avg为2.1伏特的情况下,当此样本影像SI的平均电压值,即平均测量值SI_Avg为介于1.1~3.1伏特时,平均测量值SI_Avg与平均测量值FPI_Avg的绝对差值才能小于等于第一门槛值MAX_diff,因此,本实施例只会以平均测量值SI_Avg为介于1.1~3.1伏特的样本影像SI来更新参考影像REFI。反之,当此样本影像SI的平均测量值SI_Avg为不介于1.1~3.1伏特时,平均测量值SI_Avg与平均测量值FPI_Avg的绝对差值即不能小于等于第一门槛值MAX_diff,因此,本实施例则会藉由调整照光时间(即,执行步骤S140)来让后续所重新撷取到的样本影像SI能够满足以上需求。
应当理解的是,这里所谓的“照光时间”,也就指的是光学感测装置中的光学感测器阵列的照光时间。接着,以下为了更进一步说明关于根据平均测量值SI_Avg与平均测量值FPI_Avg的差值而调整照光时间的实现细节,本发明进一步提供其步骤S140的一种实施方式。请参阅图2,图2是图1的影像更新方法中所根据样本影像SI的平均测量值SI_Avg与指纹影像FPI的平均测量值FPI_Avg的差值而调整照光时间的流程示意图。其中,图2中部分与图1相同的流程步骤以相同的图号标示,故于此便不再多加详述其细节。
如图2所示,步骤S140更可包括步骤S200~S220。在步骤S200中,本实施例则判断平均测量值SI_Avg与平均测量值FPI_Avg的差值为正数值或负数值(即,>0或<0)。若为正数值时,即执行步骤S210,在步骤S210中,本实施例则增加光学感测装置所撷取得到样本影像SI时的照光时间。若为负数值时,即执行步骤S220,在步骤S220中,本实施例则减少光学感测装置所撷取得到样本影像SI时的照光时间。
举例来说,如图5所示,当样本影像SI的平均测量值SI_Avg与指纹影像FPI的平均测量值FPI_Avg的差值为正数值时,即就表示当前样本影像SI的平均测量值SI_Avg大于3.1伏特,也就表示当前样本影像SI的亮度较弱,所以本实施例则增加光学感测器阵列的照光时间,即执行步骤S210,以致于相对调亮样本影像SI,并且让样本影像SI的平均测量值SI_Avg能够落于1.1~3.1伏特间。反之,当样本影像SI的平均测量值SI_Avg与指纹影像FPI的平均测量值FPI_Avg的差值为负数值时,即就表示当前样本影像SI的平均测量值SI_Avg小于1.1伏特,也就表示当前样本影像SI的亮度较强,所以本实施例则减少光学感测器阵列的照光时间,即执行步骤S220,以致于相对调暗样本影像SI,并且让样本影像SI的平均测量值SI_Avg能够落于1.1~3.1伏特间。
需要说明的是,本发明并不限制所增加或减少照光时间时的具体范围,本技术领域中具有通常知识者应可依据实际需求或应用来进行相关设计。总而言之,本实施例则可藉由调整照光时间来让后续所重新撷取到的样本影像SI能够满足以上所有需求,并使得指纹影像FPI与更新成此样本影像SI的参考影像REFI所进行比对而产生的处理后影像将能够具有较佳的指纹显示品质。
另一方面,考量到有些光学感测装置可能无法处理负值,因此,请一并参阅图3,图3是本发明另一实施例所提供的影像更新方法的流程示意图。其中,图3中部分与图1相同的流程步骤以相同的图号标示,故于此便不再多加详述其细节。相较于图1的步骤S130,图3的步骤S330则判断平均测量值SI_Avg与平均测量值FPI_Avg的绝对差值是否大于等于第二门槛值MIN_diff,并且小于等于第一门槛值MAX_diff(即,MIN_diff≦|SI_Avg-FPI_Avg|≦MAX_diff)。
应当理解的是,本发明亦不限制第二门槛值MIN_diff的具体数值,其可能视光学感测装置的目前处理能力而作调整。举例来说,如图5所示,假如在第一门槛值MAX_diff与第二门槛值MIN_diff分别为1伏特与0.2伏特,且指纹影像FPI的平均测量值FPI_Avg为2.1伏特的情况下,当此样本影像SI的平均测量值SI_Avg为介于1.1~1.9伏特或2.3~3.1伏特时,平均测量值SI_Avg与平均测量值FPI_Avg的绝对差值才能大于等于第二门槛值MIN_diff,并且小于等于第一门槛值MAX_diff,因此,本实施例只会以平均测量值SI_Avg落于上述伏特范围内的样本影像SI来更新参考影像REFI。
类似地,以下为了更进一步说明关于根据平均测量值SI_Avg与平均测量值FPI_Avg的差值而调整照光时间的实现细节,本发明进一步提供其步骤S140的另一种实施方式。请参阅图4,图4是图3的影像更新方法中所根据样本影像SI的平均测量值SI_Avg与指纹影像FPI的平均测量值FPI_Avg的差值而调整照光时间的流程示意图。其中,图4中部分与图3相同的流程步骤以相同的图号标示,故于此便不再多加详述其细节。
如图4所示,步骤S140更可包括步骤S400~S460。在步骤S400中,本实施例则判断平均测量值SI_Avg与平均测量值FPI_Avg的绝对差值为大于第一门槛值MAX_diff或小于第二门槛值MIN_diff(即,>MAX_diff或<MIN_diff)。若为大于第一门槛值MAX_diff时,即执行步骤S410,若为小于第二门槛值MIN_diff,则执行步骤S420。
在步骤S410中,本实施例再判断平均测量值SI_Avg与平均测量值FPI_Avg的差值(即,SI_Avg-FPI_Avg)为正数值或负数值。若为正数值时,即执行步骤S430,在步骤S430中,本实施例则增加光学感测装置所撷取得到样本影像SI时的照光时间。若为负数值时,即执行步骤S440,在步骤S440中,本实施例则减少光学感测装置所撷取得到样本影像SI时的照光时间。
举例来说,如图5所示,当平均测量值SI_Avg与平均测量值FPI_Avg的绝对差值为大于第一门槛值MAX_diff,且平均测量值SI_Avg与平均测量值FPI_Avg的差值为正数值时,即就表示当前样本影像SI的平均测量值SI_Avg大于3.1伏特,也就表示当前样本影像SI的亮度较弱,所以本实施例则增加光学感测器阵列的照光时间,即执行步骤S430,以致于相对调亮样本影像SI,并且让样本影像SI的平均测量值SI_Avg能够落于2.3~3.1伏特间。反之,当平均测量值SI_Avg与平均测量值FPI_Avg的绝对差值为大于第一门槛值MAX_diff,且平均测量值SI_Avg与平均测量值FPI_Avg的差值为负数值时,即就表示当前样本影像SI的平均测量值SI_Avg小于1.1伏特,也就表示当前样本影像SI的亮度较强,所以本实施例则减少光学感测器阵列的照光时间,即执行步骤S440,以致于相对调暗样本影像SI,并且让样本影像SI的平均测量值SI_Avg能够落于1.1~1.9伏特间。
另外,在步骤S420中,本实施例则也再判断平均测量值SI_Avg与平均测量值FPI_Avg的差值(即,SI_Avg-FPI_Avg)为正数值或负数值。若为正数值时,即执行步骤S450,在步骤S450中,本实施例则减少光学感测装置所撷取得到样本影像SI时的照光时间。若为负数值时,即执行步骤S460,在步骤S460中,本实施例则增加光学感测装置所撷取得到样本影像SI时的照光时间。
举例来说,如图5所示,当平均测量值SI_Avg与平均测量值FPI_Avg的绝对差值为小于第二门槛值MIN_diff,且平均测量值SI_Avg与平均测量值FPI_Avg的差值为正数值时,即就表示当前样本影像SI的平均测量值SI_Avg小于2.3伏特,但却大于如平均测量值FPI_Avg的2.1伏特,所以本实施例则减少光学感测器阵列的照光时间,即执行步骤S450,以致于相对调暗样本影像SI,并且让样本影像SI的平均测量值SI_Avg能够落于2.3~3.1伏特间。反之,当平均测量值SI_Avg与平均测量值FPI_Avg的绝对差值为小于第二门槛值MIN_diff,且平均测量值SI_Avg与平均测量值FPI_Avg的差值为正数值时,即就表示当前样本影像SI的平均测量值SI_Avg大于1.9伏特,但却小于如平均测量值FPI_Avg的2.1伏特,所以本实施例则增加光学感测器阵列的照光时间,即执行步骤S460,以致于相对调亮样本影像SI,并且让样本影像SI的平均测量值SI_Avg能够落于1.1~1.9伏特间。由于详尽细节亦如同前述实施例所述,故于此就不再多加赘述。
进一步来说,本实施例可假设是在光学感测装置所撷取到每张指纹影像FPI时,即启动执行图1或图3的影像更新方法,但本发明并不以此为限制。举例来说,在同时考量到光学感测器阵列的感测能力尚未衰落,且在原参考影像REFI的平均测量值REFI_Avg与指纹影像FPI的平均测量值FPI_Avg的绝对差值仍落于该特定范围内的情况下,本发明将可无须在每次撷取到指纹影像FPI时,都浪费时间执行图1或图3的影像更新方法。因此,当这样的设计也延伸到本发明后,请一并参阅图6A,图6A是本发明实施例所提供启动执行图1或图3的影像更新方法的流程示意图。其中,图6A中部分与图1或图3相同的流程步骤以相同的图号标示,故于此便不再多加详述其细节。
于图6A的实施例中,步骤S100以前更可包括步骤S600~S620。值得注意的是,在光学感测装置所每次响应于触摸事件而撷取到指纹影像FPI时,即累计一计数值。因此,在步骤S600中,本实施例则可判断该计数值是否小于一预设值。若不是,才开始执行图1或图3的影像更新方法,也就是开始执行步骤S100。若是,则执行步骤S610,在步骤S610中,本实施例再进一步判断有关原参考影像REFI的平均测量值REFI_Avg与指纹影像FPI的平均测量值FPI_Avg的绝对差值是否小于等于第一门槛值MAX_diff,即判断原参考影像REFI的平均测量值REFI_Avg与指纹影像FEPI的平均测量值FPI_Avg的绝对差值是否仍落于该特定范围内。若又不是,也才开始执行图1或图3的影像更新方法。若是,则执行步骤S620,即直接停止执行图1或图3的影像更新方法。
详细地说,本实施例的计数值及预设值均可以次数或时间来作表示,但本发明并不以此为限制。因此,当计数值例如为1000次或100小时而超过预设值时,本实施例便能假定光学感测器阵列的感测能力有可能因频繁或长时间使用而产生衰落,所以本实施例将开始执行图1或图3的影像更新方法。又或者是,当撷取到指纹影像FPI的平均测量值FPI_Avg与原参考影像REFI的平均测量值REFI_Avg的绝对差值不落于该特定范围内时,本实施例也将开始执行图1或图3的影像更新方法。应当理解的是,在开始执行步骤S100时,本实施例也就会重置(Reset)计数值,以避免下次执行到步骤S600时的误判。
类似地,请一并参阅图6B,图6B是本发明另一实施例所提供启动执行图1或图3的影像更新方法的流程示意图。其中,图6B中部分与图6A相同的流程步骤以相同的图号标示,故于此便不再多加详述其细节。相较于图6A的步骤S610,在图6B的步骤S610’中,本实施例则判断平均测量值REFI_Avg与平均测量值FPI_Avg的绝对差值是否大于等于第二门槛值MIN_diff,并且小于等于第一门槛值MAX_diff。总而言之,上述所判断是否开始执行本实施例的影像更新方法的具体实现方式在此皆仅只是举例,其并非用以限制本发明,本技术领域中具有通常知识者应可依据实际需求或应用来进行相关设计。
另一方面,本发明进一步提供其光学感测装置的一种实施方式。请一并参阅图7,图7是本发明实施例所提供的光学感测装置的功能方块示意图。值得注意的是,下述光学感测装置7仅是上述影像更新方法的其中一种实现方式,其并非用以限制本发明。
如图7所示,光学感测装置7包括控制电路700、栅极驱动器710与720,以及光学感测器阵列730。在本实施例中,控制电路700即可例如为时序控制器或其他类似电路,但本发明亦不以此为限制。总而言之,控制电路700可用来提供一重置信号STV_R及一写入信号STV_W。另外,栅极驱动器710与720耦接于控制电路700,光学感测器阵列730则耦接于栅极驱动器710与720间,且栅极驱动器710用来接收重置信号STV_R,栅极驱动器720则用来接收写入信号STV_W。
详细来说,光学感测器阵列730具有多个感测像素Ptd及多条栅极线G(1)~G(n),其中n为任意正整数。栅极驱动器710与720则被配置于光学感测器阵列730的左右两侧,且栅极驱动器710与720各别具有多个移位暂存器,例如SR[1]~SR[n],而这些移位暂存器SR[1]~SR[n]分别耦接于栅极线G(1)~G(n)。根据现有技术可知,栅极驱动器710的移位暂存器SR[1]~SR[n]会先依据所收到的重置信号STV_R,来依序提供重置功能的栅极驱动信号SR_R[1]~SR_R[n]至栅极线G(1)~G(n),然后栅极驱动器720的移位暂存器SR[1]~SR[n]则会再依据所收到的写入信号STV_W,来依序提供写入功能的栅极驱动信号SR_W[1]~SR_W[n]至栅极线G(1)~G(n),藉此让光学感测器阵列730能够撷取到样本影像SI(或指纹影像FPI)。
因此,根据以上内容的教示,本技术领域中具有通常知识者应可以理解到,光学感测器阵列730的照光时间便会是由控制电路700所提供的重置信号STV_R及写入信号STV_W的脉波时间差而决定,并且在前述调整照光时间的步骤S140中,则是指改变控制电路700所提供写入信号STV_W的脉波的时间。举例来说,在要增加照光时间的情况下,本实施例是可使得控制电路700以延后提供写入信号STV_W的脉波,而在要减少照光时间的情况下,本实施例也就是可使得控制电路700以提前提供写入信号STV_W的脉波。总而言之,本发明并不限制控制电路700所提供写入信号STV_W的具体实现方式,本技术领域中具有通常知识者应可依据实际需求或应用来进行相关设计。
也就是说,相较于现有技术,本发明是可控制光学感测器阵列730在不同的照光时间下,以感测环境光来产生更新后的参考影像REFI,即样本影像SI。因此,在本实施例中,光学感测器阵列730具有一指纹感测期间与一非指纹感测期间。其中,于指纹感测期间,光学感测器阵列730用来根据重置信号STV_R及写入信号STV_W产生指纹影像FPI,且重置信号STV_R与写入信号STV_W的脉波时间差形成第一照光时间T1(请参阅图8及图9)。另外,于非指纹感测期间,光学感测器阵列730则用来根据重置信号STV_R及写入信号STV_W产生非指纹影像,且重置信号STV_R与写入信号STV_W的脉波时间差形成第二照光时间T2(请参阅图8及图9),而所述第一照光时间却与第二照光时间实质上不相同。可以理解的是,这里所谓的“非指纹影像”,也就能指的是前述实施例中的样本影像SI或参考影像REFI,但本发明并不以此为限制。
进一步来说,请一并参阅图8与图9,图8与图9将用以来解释本实施例的照光时间在不同环境下的变化。如图8所示,在第一环境为较亮时的情况下,于非指纹感测期间,本实施例是可使得控制电路700以提前提供写入信号STV_W的脉波,也就是控制光学感测器阵列730在缩短的照光时间下,以感测环境光来产生非指纹影像。因此,光学感测器阵列730于第一环境下的第一照光时间T1大于光学感测器阵列730于第一环境下的第二照光时间T2。
反之,如图9所示,在第二环境为较暗时的情况下,于非指纹感测期间,本实施例是可使得控制电路700以延后提供写入信号STV_W的脉波,也就是控制光学感测器阵列730在延长的照光时间下,以感测环境光来产生非指纹影像。因此,光学感测器阵列730于第二环境下的第一照光时间T1小于光学感测器阵列730于第二环境下的第二照光时间T2。应当理解的是,光学感测器阵列730于第一环境下的第二照光时间T2与光学感测器阵列730于第二环境下的第二照光时间T2也不相同。由于详尽细节亦如同前述实施例所述,故于此就不再多加赘述。
综上所述,本发明实施例所提供的影像更新方法及其光学感测装置,可以是随着时间或环境而来进行更新指纹辨识用的参考影像,藉此确保了指纹影像与更新后的参考影像所进行比对而产生的处理后影像将能具有较佳的指纹显示品质。
当然,本发明还可有其它多种实施例,在不背离本发明精神及其实质的情况下,熟悉本领域的技术人员当可根据本发明做出各种相应的改变和变形,但这些相应的改变和变形都应属于本发明所附的权利要求的保护范围。

Claims (19)

1.一种影像更新方法,其特征在于,适用于一光学感测装置中,其中该光学感测装置响应于一触摸事件而来撷取到一指纹影像,且该指纹影像具有一第一平均测量值,该影像更新方法包括:
持续令该光学感测装置撷取有关当前环境光下的一样本影像,并且直到判断该样本影像符合一均匀条件为止;
对该样本影像进行分析,以获得到有关该样本影像的一第二平均测量值,并且判断该第二平均测量值与该第一平均测量值的一第一绝对差值是否小于等于一第一门槛值;
若不是,则根据该第二平均测量值与该第一平均测量值的一第一差值,调整该光学感测装置所撷取得到该样本影像时的一照光时间,并且返回到持续令该光学感测装置撷取该样本影像的步骤中;以及
若是,则以该样本影像来更新该光学感测装置中所已储存的一参考影像。
2.如权利要求1所述的影像更新方法,其特征在于,符合该均匀条件是指有关该样本影像的一最大测量值与一最小测量值的比值百分率大于等于一均匀度门槛值百分率。
3.如权利要求2所述的影像更新方法,其特征在于,该第一平均测量值及该第二平均测量值是指分别有关该指纹影像及该样本影像内的多个像素的一平均电压值,且该最大测量值是指有关该样本影像内的该些像素的一最大电压值,该最小测量值则是指有关该样本影像内的该些像素的一最小电压值。
4.如权利要求2所述的影像更新方法,其特征在于,在根据该第一差值来调整该照光时间的步骤中,更包括:
判断该第一差值为一正数值或一负数值;
若为该正数值时,则增加该光学感测装置所撷取得到该样本影像时的该照光时间;以及
若为该负数值时,则减少该光学感测装置所撷取得到该样本影像时的该照光时间。
5.如权利要求2所述的影像更新方法,其特征在于,在判断该第一绝对差值是否小于等于该第一门槛值的步骤中,更包括:
判断该第一绝对差值是否大于等于一第二门槛值,并且小于等于该第一门槛值。
6.如权利要求5所述的影像更新方法,其特征在于,在根据该第一差值来调整该照光时间的步骤中,更包括:
判断该第一绝对差值为大于该第一门槛值或小于该第二门槛值,并且进一步判断该第一差值为一正数值或一负数值;
若该第一绝对差值为大于该第一门槛值,且该第一差值为该正数值时,则增加该光学感测装置所撷取得到该样本影像时的该照光时间;
若该第一绝对差值为大于该第一门槛值,且该第一差值为该负数值时,则减少该光学感测装置所撷取得到该样本影像时的该照光时间;
若该第一绝对差值为小于该第二门槛值,且该第一差值为该正数值时,则减少该光学感测装置所撷取得到该样本影像时的该照光时间;以及
若该第一绝对差值为小于该第一门槛值,且该第一差值为该负数值时,则增加该光学感测装置所撷取得到该样本影像时的该照光时间。
7.如权利要求1所述的影像更新方法,其特征在于,该照光时间由一控制电路所提供给该光学感测装置的一重置信号与一写入信号的脉波时间差而决定,并且在调整该照光时间的步骤中,则是指改变该控制电路所提供该写入信号的脉波的时间。
8.如权利要求4或6所述的影像更新方法,其特征在于,在该光学感测装置所响应于该触摸事件时,即累计一计数值,并且在持续令该光学感测装置撷取该样本影像的步骤前,该影像更新方法更包括:
判断该计数值是否小于一预设值;
若不是,则才开始执行持续令该光学感测装置撷取该样本影像的步骤;
若是,则再进一步判断有关该参考影像的一第三平均测量值与该第一平均测量值的一第二绝对差值是否小于等于该第一门槛值;
若又不是,则也才开始执行持续令该光学感测装置撷取该样本影像的步骤;以及
若是,则直接停止执行该影像更新方法。
9.如权利要求8所述的影像更新方法,其特征在于,在该光学感测装置所撷取得到该样本影像时,则重置该计数值。
10.如权利要求9所述的影像更新方法,其特征在于,在判断该第二绝对差值是否小于等于该第一门槛值的步骤中,更包括:
判断该第二绝对差值是否大于等于该第二门槛值,并且小于等于该第一门槛值。
11.一种光学感测装置,其特征在于,包括:
一控制电路,用来提供一重置信号及一写入信号;
一第一栅极驱动器,耦接于该控制电路,并且用来接收该重置信号;
一第二栅极驱动器,耦接于该控制电路,并且用来接收该写入信号;以及
一光学感测器阵列,耦接于该第一栅极驱动器与该第二栅极驱动器间,且该光学感测器阵列具有一指纹感测期间与一非指纹感测期间;
其中,于该指纹感测期间,该光学感测器阵列用来根据该重置信号及该写入信号产生一指纹影像,且该重置信号与该写入信号的脉波时间差形成一第一照光时间,于该非指纹感测期间,该光学感测器阵列则用来根据该重置信号及该写入信号产生一非指纹影像,且该重置信号与该写入信号的脉波时间差形成一第二照光时间,而该第一照光时间却与该第二照光时间实质上不相同。
12.如权利要求11所述的光学感测装置,其特征在于,该光学感测器阵列于一第一环境下的该第一照光时间大于该光学感测器阵列于该第一环境下的该第二照光时间。
13.如权利要求12所述的光学感测装置,其特征在于,该光学感测器阵列于一第二环境下的该第一照光时间小于该光学感测器阵列于该第二环境下的该第二照光时间。
14.如权利要求13所述的光学感测装置,其特征在于,该第一环境的亮度大于该第二环境的亮度。
15.一种光学感测装置,其特征在于,包括:
一控制电路,用来提供一重置信号及一写入信号;
一第一栅极驱动器,耦接于该控制电路,并且用来接收该重置信号;
一第二栅极驱动器,耦接于该控制电路,并且用来接收该写入信号;以及
一光学感测器阵列,耦接于该第一栅极驱动器与该第二栅极驱动器间,且该光学感测器阵列具有一指纹感测期间与一非指纹感测期间;
其中,于该非指纹感测期间,该光学感测器阵列用来根据该重置信号及该写入信号产生一非指纹影像,且该重置信号与该写入信号的脉波时间差形成一第二照光时间,而该光学感测器阵列于一第一环境下的该第二照光时间与该光学感测器阵列于一第二环境下的该第二照光时间不相同。
16.如权利要求15所述的光学感测装置,其特征在于,该第一环境的亮度大于该第二环境的亮度。
17.如权利要求16所述的光学感测装置,其特征在于,于该指纹感测期间,该光学感测器阵列则用来根据该重置信号及该写入信号产生一指纹影像,且该重置信号与该写入信号的脉波时间差形成一第一照光时间,而该第一照光时间却与该第二照光时间不相同。
18.如权利要求17所述的光学感测装置,其特征在于,该光学感测器阵列于该第一环境下的该第一照光时间大于该光学感测器阵列于该第一环境下的该第二照光时间。
19.如权利要求17所述的光学感测装置,其特征在于,该光学感测器阵列于该第二环境下的该第一照光时间小于该光学感测器阵列于该第二环境下的该第二照光时间。
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