CN109341565A - 一种基于线激光法测量突跳式温控器触点深度的装置 - Google Patents

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CN109341565A
CN109341565A CN201811269448.8A CN201811269448A CN109341565A CN 109341565 A CN109341565 A CN 109341565A CN 201811269448 A CN201811269448 A CN 201811269448A CN 109341565 A CN109341565 A CN 109341565A
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何坚强
蒋善超
魏星
张春富
辅小荣
徐顺清
朱凤宇
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Yangcheng Institute of Technology
Yancheng Institute of Technology
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Yangcheng Institute of Technology
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    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/22—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring depth

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Abstract

本发明公开了一种基于线激光法测量突跳式温控器触点深度的装置，属于测量装置技术领域，包括计算机，计算机与PLC控制器、摄像机、线激光发射器分别相连，摄像机、线激光发射器均分别固定在支架上；PLC控制器与驱动装置和红外传感器分别相连，支架设置在传送带的两侧；红外传感器在传送带的两侧均有设置。本发明可以非接触测量微小物体的尺寸，这种方法不会对被测物体造成损坏；测量装置结构简单，设计合理，操作方便；红外传感器可以对被测物体进行准确定位，只需一幅图像即可测量，提高了测量效率；线激光法测量速度快，精度高，能够满足产品自动化检测的需求。

Description

一种基于线激光法测量突跳式温控器触点深度的装置
技术领域
本发明属于测量装置技术领域，具体涉及一种基于线激光法测量突跳式温控器触点深度的装置。
背景技术
突跳式温控器触点的深度对其内部双金属片工作状态有很重要的影响，触点太深会导致其内部双金属片受热无法发生形变；触点深度不够或者无触点时会导致双金属片形变过量，当温度降低时无法恢复原状。因此需要准确测量触点深度，确保温控器能够正常工作。
目前微小物体尺寸测量仍然采用人工接触性测量方式，这种方式不仅效率低，精度低，还会对被测物体造成损坏。
发明内容
发明目的：本发明的目的在于提供一种基于线激光法测量突跳式温控器触点深度的装置，测量速度快、精度高，更适合实时测量。
技术方案：为实现上述发明目的，本发明采用如下技术方案：
一种基于线激光法测量突跳式温控器触点深度的装置，包括计算机，计算机与PLC控制器、摄像机、线激光发射器分别相连，所述的摄像机、线激光发射器均分别固定在支架上；所述的PLC控制器与驱动装置和红外传感器分别相连，所述的支架设置在传送带的两侧；所述的红外传感器在传送带的两侧均有设置。
所述的红外传感器是一对红外发射与接收传感器，通过与PLC控制器之间通信控制驱动装置起停传送带。
所述的驱动装置包括变频器和交流电机，变频器选择的型号是AS2-ipm，交流电机驱动传送带将突跳式温控器从传送带起始端传送到支架下方，测量结束后再将突跳式温控器传送至传送带末端进行分拣。
所述的摄像机型号为MER-1070-10GC，分辨率为3840×2748。
所述的线激光发射器是波长为650nm，光扇角在30°到150°之间的线激光发射器。
所述的线激光发射器固定在支架上并与支架呈60°的夹角。
有益效果：与现有技术相比，本发明的一种基于线激光法测量突跳式温控器触点深度的装置可以非接触测量微小物体的尺寸，例如测量突跳式温控器触点深度，线激光照射在触点处，激光线会产生形变，根据激光线条形变量得到触点深度，这种方法不会对被测物体造成损坏；测量装置结构简单，设计合理，操作方便；红外传感器可以对被测物体进行准确定位，只需一幅图像即可测量，提高了测量效率；线激光法测量速度快，精度高，能够满足产品自动化检测的需求。
附图说明
图1为基于线激光法测量突跳式温控器触点深度的装置的结构示意图；
图2为基于线激光法测量突跳式温控器触点深度的装置的局部放大图。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施实例对本发明做进一步的说明。
如图1-2所示，附图标记为：计算机1、PLC控制器2、驱动装置3、摄像机4、线激光发射器5、红外传感器6、传送带7、支架8、突跳式温控器9。
一种基于线激光法测量突跳式温控器触点深度的装置，包括计算机1，计算机1与PLC控制器2、摄像机4、线激光发射器5分别相连，摄像机4和线激光发射器5均分别固定在支架8上；PLC控制器2与驱动装置3和红外传感器6分别相连。支架8设置在传送带7的两侧。红外传感器6在传送带7的两侧均有设置。
摄像机4型号为MER-1070-10GC，分辨率为3840×2748。
驱动装置3包括变频器和交流电机，变频器选择的型号是AS2-ipm，变频器通过改变电机工作电源频率来控制交流电机转动速度，交流电机用于驱动传送带7将突跳式温控器9从传送带7起始端传送到支架8下方，测量结束后再将突跳式温控器9传送至传送带7末端进行分拣。
线激光发射器5是波长为650nm，光扇角在30°到150°之间的线激光发射器，线激光发射器5固定在支架8上并与支架8呈30°到60°的夹角。
红外传感器6是一对红外发射与接收传感器，通过与PLC控制器2之间通信，从而控制驱动装置3起停传送带7。
工作过程：本专利采用对射式红外传感器6，发射端和接收端安装在支架8两侧，当两端没有突跳式温控器9时，红外线正常发射接收，电机正常运转；当突跳式温控器9被传送到支架下方时，红外传感器6发出的红外线被阻断，此时红外传感器6传送一个电信号给PLC控制器2，PLC控制器2控制驱动装置，停止电机的运转，这样突跳式温控器9就被精确的定位在支架8下方。该方法通过激光线在突跳式温控器9触点处产生的形变量来测量触点深度，由于每个突跳式温控器9触点位置相对固定，且每幅图像中有四个突跳式温控器9，这样拍一幅图像可以同时检测四个触点深度，提高了测量效率；对采集到的激光线条使用灰度重心法进行中心线提取，灰度重心法是一种亚像素精度的光带中心提取算法，通过快速计算图像中光线灰度分布的重心位置来提取激光线条中心，提高了测量的速度和精度，能够满足产品自动化检测的需求。

Claims (6)

1.一种基于线激光法测量突跳式温控器触点深度的装置，其特征在于：包括计算机(1)，计算机(1)与PLC控制器(2)、摄像机(4)、线激光发射器(5)分别相连，所述的摄像机(4)、线激光发射器(5)均分别固定在支架(8)上；所述的PLC控制器(2)与驱动装置(3)和红外传感器(6)分别相连，所述的支架(8)设置在传送带(7)的两侧；所述的红外传感器(6)在传送带(7)的两侧均有设置。
2.根据权利要求1所述的一种基于线激光法测量突跳式温控器触点深度的装置，其特征在于：所述的红外传感器(6)是一对红外发射与接收传感器，通过与PLC控制器(2)之间通信控制驱动装置(3)起停传送带(7)。
3.根据权利要求1所述的一种基于线激光法测量突跳式温控器触点深度的装置，其特征在于：所述的驱动装置(3)包括变频器和交流电机，变频器选择的型号是AS2-ipm，交流电机驱动传送带(7)将突跳式温控器(9)从传送带(7)起始端传送到支架(8)下方，测量结束后再将突跳式温控器(9)传送至传送带(7)末端进行分拣。
4.根据权利要求1所述的一种基于线激光法测量突跳式温控器触点深度的装置，其特征在于：所述的摄像机(4)型号为MER-1070-10GC，分辨率为3840×2748。
5.根据权利要求1所述的一种基于线激光法测量突跳式温控器触点深度的装置，其特征在于：所述的线激光发射器(5)是波长为650nm，光扇角在30°到150°之间的线激光发射器(5)。
6.根据权利要求1所述的一种基于线激光法测量突跳式温控器触点深度的装置，其特征在于：所述的线激光发射器(5)固定在支架(8)上并与支架(8)呈60°的夹角。
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